JPH0654548B2 - 光学式情報再生装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は例えば光ディスクメモリやディジタルオーデ
ィオディスク等の光ディスク装置における光学式情報記
録媒体（以下ディスクと呼ぶ）上に記録されている情報
を再生する光学式情報再生装置に関するものである。

［従来の技術］ 第１３図は、たとえば特開昭６０−２８０４４号公報に
示された従来の光学式情報再生装置の一例を示す図であ
る。図において、（１）は半導体レーザ、（２）は射出
光、（３）は第１のガラス基板、（４）はコリメート用
オフアクシスグレーディングレンズ、（５）は平行光
束、（６）は第２のガラス基板、（７）は収束用オフア
クシスグレーディングレンズ、（８）は１次回折光、
（９）はディスク、（１０）は情報記録面、（１１）は
光軸、（１２）は零次透過光、（１３）は非点収差用光
学用グレーディングレンズ、（１４）は４象限光検出器
である。

次に動作について説明する。半導体レーザ（１）からの
射出光（２）は、第１のガラス基板（３）の１部に形成
されたコリメート用オフアクシスグレーディングレンズ
（４）で集められ、この第１のガラス基板（３）面の法
線に対して数１０゜の角度をなす平行光束（５）となり
第２のガラス基板（６）の一部に形成された収束用オフ
アクシスグレーディングレンズ（７）へ入射する。

この収束用オフアクシスグレーディングレンズ（７）に
よる平行光束（５）の１次回折光（８）はディスク
（９）中の情報記録面（１０）上に焦点を結ぶ、この場
合、１次回折光（８）の光軸が情報記録面（１０）に対
して垂直になるように収束用オフアクシスグレーディン
グレンズ（７）が形成されている。

焦点におかれたピットの情報を含んだ１次回折光（８）
の反射光は再び収束用のオフアクシスグレーディングレ
ンズ（７）に向うが、この反射光のうち零次透過光（１
２）は単に透過光として後方へ進み、収束用オフアクシ
スグレーディングレンズ（７）への入射光である平行光
束（５）の光軸と異なる光軸（１１）を有することにな
る。

従って半導体レーザ（１）からの射出光（２）あるいは
平行光（５）と情報記録面（１０）からのピット情報を
含んだ零次透過光（１２）とを分離することができる。
このようにして得られた零次透過光（１２）からなる反
射光は第１のガラス基板（３）の一部に形成された、例
えば非点収差光学用グレーディングレンズ（１３）と、
例えば４象限光検出器（１４）からなる受光部光学系へ
進み、ここで記録情報信号、フォーカス誤差信号、トラ
ッキング誤差信号を検出する。

［発明が解決しようとする問題点］ 以上述べたような従来のこの種の光情報再生装置では以
下の様な問題点があった。

第１に、透過形のオフアクシスグレーディングレンズ２
枚と透過形のインライン形グレーディングレンズを用い
ているため光の利用効率が非常に低い。たとえば上記コ
リメータ用オフアクシスグレーディングレンズ（４）の
開口数は普通０．１程度なので１次回折光の回折効率は
比較的高く３０％位となるが、収束用オフアクシスグレ
ーディングレンズ（７）の１次回折光の回折効率は２１
％位しかない。また、上記非点収差光学用グレーディン
グレンズ（１３）の１次回折光の回折効率も３０％位し
かない。したがって、上記収束用オフアクシスグレーデ
ィングレンズの零次回折光の回折効率を５０％、上記デ
ィスクの反射率を１００％ととしても上記コリメータ用
オフアクシスグレーディングレンズ（３）から非点収差
光学用グレーディングレンズ（１３）に至るまでの光の
利用効率は０．９５％にしかならない。

第２に、収束用オフアクシスグレーディングレンズ
（７）においては、ディスク（９）の情報記録面（１
０）に記録されているピット情報を読み出すためには射
出側の開口数ＮＡとして０．４５〜０．５は必要であ
る。しかも入射光である上記平行光束（５）は上記収束
用オフアクシスグレーディングレンズの射出側光軸（１
１）に対して３０゜程度傾いているので等価的な回折角
度の最大値は５７゜にも達する。このため波長λが７８
０ｎｍの半導体レーザ光に対する最小格子間隔は０．８
２μｍ程度となり、矩形形状の回折格子としたときの格
子幅は０．４１μｍ程度となってましい、サブミクロン
の加工制度が要求されるという問題点がある。さらに、
回折効率を上げるためには格子形状をブレーズ化しなけ
ればならないが、格子間隔０．８２μｍで格子形状を三
角形状にするのは非常に難しい。

第３に、この第１３図の例では半導体レーザ（１）、第
１のガラス基板（３）、第２のガラス基板（６）および
４分割光検出器（１４）は一つの筐体（１５）に組込ま
れているので筐体（１５）がかなり大きくなる。オート
フォーカス、オートトラッキングを実現するためには上
記筐体（１５）全体を一体駆動しなければならない場合
もあり、こうしたときに駆動用アクチュエータの駆動重
量が大きくなってしまう。

第４に、情報記録面（１０）のピット情報を読み出す回
折限界の集光スポットを得るために上記収束用オフアク
シスグレーディングレンズ（７）の１次回折光を用いて
いるが、このレンズの開口数ＮＡは前記のように０．４
５〜０．５程度であり、その最小格子間隔は０．８２μ
ｍ程度になっている。このような高開口数のグレーディ
ングレンズでは光源である半導体レーザの波長の変化に
対して敏感であり、光源の波長変化によってレンズの焦
点距離や回折角度が大きく変化するとともに収差が大き
くなってしまう。

第５に、構成要素も多く、互いの位置関係を精度よく合
せなければならないので、組立が非常に難しい。

この発明は、このような問題点を解決するためになされ
たもので、部品点数が少なく構成が簡単なので小型化、
薄形化が可能であるとともに製造および調整が容易であ
り、したがって量産に適した安価でしかも特性の良好な
光学式情報再生装置を得ることを目的としている。

［問題点を解決するための手段］ この発明に係る光学式情報再生装置は、レーザ光線を半
導体レーザより射出し、この射出光を回折格子によって
３分割した後、反射形回折格子レンズ、対物レンズを介
し、光学式情報記録媒体上に集光して情報を含んだ反射
光を得、この反射光を上記対物レンズを介し、上記反射
形回折格子レンズに導き、ここで上記半導体レーザの設
置位置とは異なる位置に導びくととに上記反射形回折格
子レンズの同一平面上に設けた第１の反射形回折格子レ
ンズと第２の反射形回折格子レンズで２分割し、これを
６分割光検出器に導くようにしたものである。

［作用］ 半導体レーザより射出された射出光は回折格子によって
３分割され、反射形回折格子レンズに導かれる。そし
て、ここで反射された射出光は対物レンズにより、光学
式情報記録媒体上の３つのスポットに集光される。光学
式情報記録媒体にて反射された情報を含む反射光は上記
対物レンズによって上記反射形回折格子レンズに導びく
が、ここで、反射光の一部は回折され、半導体レーザと
は異なる方向に導びかれる。さらに、この反射形回折格
子レンズは同一面上に形成された第１の反射形回折格子
レンズと第２の反射形回折格子レンズの２つの部分から
なっているので反射光はここで２分割される。そして、
この２分割された反射光は６分割光検出器に導かれ、こ
こで情報が検知される。

このように単玉の対物レンズに従来の装置におけるコリ
メータ用オフアクシスグレーディングレンズ（４）と収
束用オフアクシスグレーディングレンズ（７）の両方の
作用を持たせ、かつ反射形回折格子レンズに従来の装置
における収束用オフアクシスグレーディングレンズ
（７）の入射光と反射光の分離作用と非点収差光学用グ
レーディングレンズ（１３）の作用を持たせたので、光
の集光効率が高く、回折格子のアスペクト比が大きくな
り、製造が容易であり、また部品点数が少なく、安価で
小型化できる。また、照射光路の回折角度変更要素が反
射光路用の回折角度変更要素から分離されているので、
オートフォーカス、オートトラッキングを行う場合に対
物レンズを移動するだけでよい。

［発明の実施例］ 以下図面を用いて、この発明の一実施例を説明する。第
１図はこの発明の一実施例を示す斜視図であり、第２図
（ａ）（ｂ）はこの平面図と側面図である。図示のよう
に、半導体レーザ（１）から対物レンズ（２１）に至る
光路の途中の回折格子（１６）と反射形回折格子レンズ
（２０）を配設する。さらに、６分割光検出器（２７）
を図示のように上記半導体レーザ（１）の設置位置とは
異なる位置に配設する。

次に動作を説明する。半導体レーザ（１）から発散され
た射出光（２）は上記回折格子（１６）によって零次回
折光（１７）と１次回折光（１８）および−１次回折光
（１９）に分割され、それぞれ反射形回折格子レンズ
（２０）に入射する。上記反射形回折格子レンズ（２
０）は第１図に示すＸＹ座標のＸ軸に沿って二つの部分
に分割された第１の反射形回折格子レンズ（２０ａ）と
第２の反射形回折格子レンズ（２０ｂ）とから成ってい
る。

さて、上記反射形回折格子レンズ（２０）に入射した上
記零次回折光（１７）、１次回折光（１８）および−１
次回折光（１９）のうち、上記反射形回折格子レンズ
（２０）の表面に刻まれた反射形の回折格子で回折され
ない零次回折光がそれぞれ対物レンズ（２１）に入射す
る。ここで、上記対物レンズ（２１）は半導体レーザ
（１）の発光点を物点とし、ディスク面上の点を像点と
するように設計されており、さらに物点が多少移動して
も収差の発生が小さくなるように設計されているので、
上記対物レンズ（２１）に入射した上記零次回折光（１
７）、１次回折光（１８）および−１次回折光（１９）
は上記対物レンズ（２１）により上記ディスク（９）上
の情報記録面（１０）にそれぞれほぼ回折限界の主集光
スポット（２２）、第１の副集光スポット（２３）、第
２の副集光スポット（２４）に集光される。第３図は情
報記録面（１０）上におけるピット（２９）と集光スポ
ットとの関係を示したものである。第１の副集光スポッ
ト（２３）と第２の副集光スポット（２４）は上記ピッ
ト（２９）の中心線（２８）に対して互いにピット（２
９）の逆の部分を照射するように配置してある。

情報記録面（１０）からのピット情報とフォーカス誤差
信号を得るための上記主集光スポット（２２）の反射光
は再び上記対物レンズ（２１）に入射し上記対物レンズ
（２１）により、上記半導体レーザ（１）の発光点を集
光点とする収束光に変換され、上記反射形回折格子レン
ズ（２０）に入射する。

上記反射形回折格子レンズ（２０）に入射した主集光ス
ポット（２２）からの収束光のうち、上記反射形回折格
子レンズ（２０）によって発生する零次回折光は光路を
曲げられたのち上記回折格子（１６）を通り、上記射出
光（２）を逆進する形で上記半導体レーザ（１）上に集
光されるが、上記反射形回折格子レンズ（２０）の１次
もしくは−１次回折光は上記第１の反射形回折格子レン
ズ（２０ａ）と第２の反射形回折格子レンズ（２０ｂ）
により２分割されたのちそれぞれ上記６分割光検出器
（２７）に集光する光束（２５ａ）（２６ｂ）に変換さ
れる。

次に、情報記録面（１０）からのトラック誤差信号を得
るための上記第１の副集光スポット（２３）と第２の副
集光スポット（２４）の反射光は同様に再び上記対物レ
ンズ（２１）に入射し上記対物レンズ（２１）により上
記半導体レーザ（１）の発光点から少しずれた所を集光
点とする収束光に変換され、上記反射形回折格子レンズ
（２０）に入射する。この入射光のうち、上記反射形回
折格子レンズ（２０）の１次もしくは−１次回折光は上
記第１の反射形回折格子レンズ（２０ａ）と第２の反射
形回折格子レンズ（２０ｂ）により２分割されたのちそ
れぞれ上記６分割光検出器（２７）に集光する光束（２
５ｂ）（２６ｂ）および光束（２５ｃ）（２６ｃ）に変
換される。

第２図（ｂ）に示すように、上記光束（２５ａ）（２５
ｂ）（２５ｃ）と光束（２６ａ）（２６ｂ）（２６ｃ）
は上記射出光（２）の光路とは重ならず、上記半導体レ
ーザ（１）から上記反射形回折格子レンズ（２０）に至
る光軸（３０）とそれぞれ零でない角度θ１、θ２をな
しているので情報記録面（１０）のピット情報を有する
反射光のみを上記６分割検出器（２７）に導くことがで
きる。第４図は上記６分割光検出器（２７）の形状と上
記光束（２５ａ）（２５ｂ）（２５ｃ）と光束（２６
ａ）（２６ｂ）（２６ｃ）との関係を示したものであ
る。上記６分割光検出器（２７）の受光面（ＰＤ１）
（ＰＤ２）（ＰＤ３）（ＰＤ４）（ＰＤ５）（ＰＤ６）
からの光電流の演算により情報信号、フォーカス誤差信
号およびトラック誤差記号を得ることができる。情報信
号は（ＰＤ１＋ＰＤ２＋ＰＤ３＋ＰＤ４）の演算によ
り、フォーカス誤差信号は（ＰＤ１＋ＰＤ３）−（ＰＤ
２＋ＰＤ４）の演算により、トラック誤差信号は（ＰＤ
５−ＰＤ６）の演算により得ることができる。

これについての詳細を以下に説明する。

上記第１の反射形回折格子レンズ（２０ａ）および第２
の回折格子レンズ（２０ｂ）に刻まれた格子パターン
は、半導体レーザ（１）と６分割光検出器（２７）と上
記反射形回折格子レンズ（２０ａ）（２０ｂ）の配設位
置関係と上記半導体レーザ（１）の射出光の波長および
収束光（２５）（２６）に付加する収差によってきまる
もので、正確には第１式で定義される位相差がπの偶数
倍あるいは奇数倍となる等位相曲線として表現される。

（０≦ｉ，ｊ≦１０） (1) 式において、λは上記半導体レーザ(1) の発振波
長、Φ_LDは上記半導体レーザ(1) を波源としたときの上
記反射形回折格子レンズ（２０）面上での位相、Φ_PDは
上記６分割光検出器（２７）の受光面（ＰＤ２）（ＰＤ
３）の中心もしくは受光面（ＰＤ１）（ＰＤ４）の中心
を波源とする上記反射形回折格子レンズ（２０）面上で
の位相、座標（Ｘ、Ｙ）は第１図に示す反射形回折格子
レンズ（２０）面上にとった座標である。受光面（ＰＤ
２）（ＰＤ３）の中心を波源とした場合は、上記第１の
反射形回折格子レンズの格子パターンが得られ、受光面
（ＰＤ１）（ＰＤ４）の中心を波源とした場合は、上記
第２の反射形回折格子レンズ（２０ｂ）の格子パターン
が得られる。いずれの場合も、第１式において第３項の
係数Ｃｉｊの値と次数ｉ、ｊを選択することにより種々
の収差を発生することができる。

たとえば、すべての係数を零としたとき、第５図に示す
ような格子パターンが得られる。なお、この図において
は図面作成の都合上格子パターンは６６本おきのものの
みを描いてある。このような格子パターンをもつ上記反
射形回折格子レンズ（２０）に第１図に示した構成で収
束光が入射したときには入射光は上記第１の反射形回折
格子レンズ（２０ａ）と第２の反射計回折格子レンズ
（２０ｂ）により２分割され、第１の反射形回折格子レ
ンズ（２０ａ）に入射した部分は光束（２５）となり、
第２の反射形回折格子レンズ（２０ｂ）に入射した部分
は光束（２６）となる。

そして、第１図において、上記６分割光検出器（２７）
を上記光束（２５）（２６）の集光位置に設置すること
により、以下で説明するごとくフォーカス誤差信号を得
ることができる。

第６図（ａ）（ｂ）（ｃ）は、上記対物レンズ（２１）
とディスク（９）との距離が変化したときの上記第１の
反射形回折格子レンズ（２０ａ）で回折される１次もし
くは−１次回折光である上記光束（２５ａ）の変化と上
記６分割光検出器（２７）の受光面（ＰＤ１）（ＰＤ
４）上でのスポットの変化を示したものである。第７図
は同様に、上記対物レンズ（２１）とディスク（９）と
の距離が変化したときの上記第２の反射形回折格子レン
ズ（２０ｂ）で回折される１次もしくは−１次回折光で
ある上記光束（２６ａ）の変化と上記６分割光検出器
（２７）の受光面（ＰＤ２）（ＰＤ３）上でのスポット
の変化を示したものである。

第６図（ｂ）に示すように、フォーカスずれが無いとき
には受光面（ＰＤ１）（ＰＤ４）上でのスポットは対象
でその出力は等しくなっている。次に上記ディスク
（９）が対物レンズ（２１）に近づいたときには第６図
（ａ）に示すように光束（２５ａ）は上記受光面（ＰＤ
１）（ＰＤ４）の設置位置より後方で集光するような光
束となっているが光線（３１）は位置および方向の変化
はしないので受光面（ＰＤ１）に入射するパワーが大き
くなる。逆に上記ディスク（９）が対物レンズ（２１）
より遠ざかったときには第６図（ｃ）に示すように光束
（２５ａ）は上記受光面（ＰＤ１）（ＰＤ４）の設置位
置より手前で集光するような光束になるので、この場合
には上記受光面（ＰＤ４）に入射するパワーの方が上記
受光面（ＰＤ１）に入射するパワーより大きくなる。

したがって、上記受光面（ＰＤ１）からの光電流出力と
上記受光面（ＰＤ４）からの光電流出力との差を演算す
れば上記ディスク（９）の移動量に応じたフォーカス誤
差信号を得ることができる。

第７図は、第２の反射形回折格子レンズ（２０ｂ）で回
折された光束に（２５ｂ）についての場合であるが、こ
の場合も上記受光面（ＰＤ２）からの光電流出力と上記
受光面（ＰＤ３）からの光電流出力との差を演算すれば
前述の場合と同様に上記ディスク移動量に応じたフォー
カス誤差信号を得ることができる。

そこで上記光束（２５ａ）と光束（２５ｂ）で得られる
フォーカス誤差信号の和をこの装置のフォーカス誤差信
号とすることができる。この事情を説明したものが第８
図である。ここで、（３３）は差動増幅器であり、前述
のようにフォーカス誤差信号を（ＰＤ１＋ＰＤ３）−
（ＰＤ２＋ＰＤ４）の演算により上記差動増幅器（３
３）の出力として得ることができる。この演算よって得
られたディスク移動量と、フォーカス誤差信号の関係の
一例を第９図に示す。

次に、トラッキング誤差信号は、たとえば特公昭５３−
１３１２３号などに示されている公知のツインビーム法
と同様の方法により得ることができる。トラックずれが
有る場合には上記６分割光検出器上の受光面（ＰＤ５）
もしくは受光面（ＰＤ６）上の集光スポット（２５ｂ）
（２６ｂ）と集光スポット（２５ｃ）（２６ｃ）のパワ
ーに変化が生じる。このため上記受講面（ＰＤ５）の光
電流出力と受光面（ＰＤ６）の光電流出力との差を差動
増幅器（３４）で演算すれば正もしくは負の信号が出力
される。トラックずれが無い場合には上記差動増幅器
（３４）の出力は零である。

次に本発明による装置では上記半導体レーザ（１）の発
振波長が温度変化等により変化したときでも上記フォー
カス誤差信号およびトラック誤差信号にもオフセットが
生じないという利点があることを説明する。ＧａＡｓ等
の半導体レーザの発振波長は温度により０．２０mm／℃
程度変化するので、たとえば周囲温度が５０℃変化する
と、１０mm発振波長が変化することになる。この波長変
化量は、本発明装置のように回折光学素子を用いている
場合には無視できない量である。第１１図は上記半導体
レーザ（１）の発振波長が変化したときの上記反射形回
折格子レンズ（２０）における入射光の回折角度の変化
の様子と上記６分割光検出量（２７）上における集光ス
ポットと変化の様子を示したものであり、第１２図は主
光線の上記半導体レーザ（１）の発振波長が変化したと
きの波長変化量に対する上記６分割光検出器（２７）上
での位置変化量ΔＸの一例を示したものである。

まず第１１図を説明する。反射形回折格子レンズ（２
０）に入射する主光線について、上記半導体レーザ
（１）の発振波長λと上記反射形回折格子レンズ（２
０）の上記主光線に対する格子周期と回折角度θとの間
には第２式 ｄｓｉｎθ＝λ （２） の関係が成り立つ。ここで、波長がλからλ＋Δλへと
変化したとすると回折角度の増加分Δθは、第２式を微
分することにより ｄｃｏｓθΔθ＝Δλ （３） と第（３）式により求めることができる。すなわち、 の関係が成り立つ。第１１図において、上記反射形回折
格子レンズ（２０）と上記６分割光検出器（２７）との
距離をＲとし、上記半導体レーザ（１）の発振波長がΔ
λだけ変化したときの上記６分割光検出器（２７）上に
おける主光線の移動は第１１図に示したＸ軸にほぼ平行
に生じ、発振波長が長くなったときには、上記光束（２
５）の主光線は点Ｆ１から点Ｆ１へ移動し、上記光束
（２６）の主光線は点Ｆ２から点Ｆ２へと移動し、短く
なったときにはそれぞれ点Ｆ１と点Ｆ２へと移動する。
すなわち、第１１図に示した上記６分割光検出器（２
７）と分割線ｌに沿って移動することになるので受光面
（ＰＤ１）の光電流と受光面（ＰＤ４）と光電流とは等
しく、集光スポットが点Ｆ１から点Ｆ１もしくは点Ｆ１
へ移動しても差信号であるフォーカス誤差信号にはオフ
セットを生じることはない。次に、上記半導体レーザ
（１）の発振波長が変化したときでも集光スポット（２
５ｂ）（２５ｃ）はそれぞれ受光面（ＰＤ５）と受光面
（ＰＤ６）上で上記分割線ｌと平行に移動するだけであ
るのでその差信号であるトラック誤差信号にオフセット
を生じることはない。主光線の上記６分割光検出器（２
７）上における移動量をΔＸとすると、第５式のように
なる。

すなわち、移動量ΔＸは波長変化量Δλに比例すること
がわかる。波長変化量Δλと主光線の位置変化量ΔＸと
の関係の一例を示したものが第１２図である。

以上の説明のように、上記半導体レーザ（１）の発振波
長が変化しても上記６分割光検出器（２７）上の集光ス
ポットは上記分割線ｌに沿って移動することになり、フ
ォーカス誤差信号、トラッキング誤差信号ともオフセッ
トおよび感度低下を生じることはない。

このように、光学式情報記録媒体上への照射光が反射形
回折格子レンズ（２０）における零次回折光となるよう
にすれば、半導体レーザ（１）の波長変動によって焦点
距離や回折角度が大きく変化してしまうという欠点も解
消できる。

なお、対物レンズをプラスチック等を用いた非球面レン
ズとすることにより、単玉のレンズとすることができ、
射出成形等により大量生産が可能である。

さらに、反射形回折格子レンズを射出成形と金属膜の蒸
着等により製作すれば高精度でかつ大量生産が可能であ
る。

［発明の効果］ 以上のように、この発明によれば次のような効果が得ら
れる。

単玉の対物レンズに従来の装置におけるコリメータ
用オフアクシスグレーディングレンズと収束用オフアク
シスグレーディングレンズの両方の作用を持たせ、かつ
反射形回折格子レンズに従来の装置における収束用オフ
アクシスグレーディングレンズの入射光と反射光の分離
作用と非点収差光学用グレーディングレンズおよび反射
鏡の作用を持たせたので、光の集光効率が高く、回折格
子のアスペクト比が大きくなく、製造が容易であり、部
品点数が少なく、安価、小型化、薄型化できる。

反射形回折格子レンズの最小格子間隔は２μｍ程で
あり、通常のＬＳＩ等の製造で用いられる微細加工技術
を応用したプロセスで容易に得られ、高精度のものを大
量にかつ安価に製作できる。

上述の機能分担により、照射光路の回折角度変更要
素が反射光路用の回折角度変更要素から分離され、オー
トフォーカスオートトラッキングを行う場合に単玉の対
物レンズを移動するだけでよい。このため、駆動重量が
小さくできる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例を示す斜視図、第２図は第
１図に示したこの発明の一実施例を示す平面図と側面
図、第３図はディスク面上のピットと集光スポットの関
係を示す図、第４図は６分割光検出器のパターンと集光
スポットの関係を示す図、第５図は格子パターンの例を
示す図、第６図と第７図はディスク移動時の回折光の光
束の変化を示す図、第８図はフォーカス誤差信号を得る
ための結線図、第９図はフォーカス誤差信号の一例、第
１０図はトラ誤差信号を得るための結線図、第１１図は
波長変化に伴う回折角度の変化を説明するための図、第
１２図は主光線の位置変化と波長変化量との関係の一例
を示す図、第１３図は従来の装置の一例を示す図であ
る。 図において、（１）は半導体レーザ、（２）は射出光、
（３）は第１のガラス基板、（４）はコリメート用オフ
アクシスグレーディングレンズ、（５）は平行光束、
（６）は第２のガラス板、（７）は収束用オフアクシス
グレーディングレンズ、（８）は１次回折光、（９）は
ディスク、（１０）は情報記録面、（１１）は光軸、
（１２）は零次透過光、（１３）非点収差用グレーディ
ングレンズ、（１４）は４象限光検出器、（１５）は筐
体、（１６）は回折格子、（１７）は零次回折光、（１
８）は１次回折光、（１９）は−１次回折光、（２０）
は反射形回折格子レンズ、（２０ａ）は第１の反射形回
折格子レンズ、（２０ｂ）は第２の反射形回折格子レン
ズ、（２１）は対物レンズ、（２２）は主集光スポッ
ト、（２３）は第１の副集光スポット、（２４）は第２
の副集光スポット、（２５）（２６）は光束、（２７）
は６分割光検出器、（ＰＤ１）（ＰＤ２）（ＰＤ３）
（ＰＤ４）（ＰＤ５）（ＰＤ６）は受光面、（２９）は
ピット、（３０）（３１）（３２）は光軸、（３３）
（３４）は差動増幅器である。 なお、各図中同一符号は同一もしくは相当部分を示す。

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】半導体レーザと、前記半導体レーザからの
   射出光を光学式情報記録媒体上に集光させるための対物
   レンズと、上記半導体レーザから上記対物レンズに至る
   光路中に配設され上記射出光を３分割する回折格子と、
   上記回折格子から上記対物レンズに至る光路中に配設さ
   れ、第１の反射形回折格子レンズと第２の反射形回折格
   子レンズを同一平面上に有し上記回折格子からの射出光
   を反射して上記対物レンズに入射させるとともに上記光
   学式情報記録媒体よりの情報を含んだ反射光を上記半導
   体レーザの設置位置とは異なる位置に導きかつ上記反射
   光を２分割する反射形回折格子レンズと、上記反射形回
   折格子レンズにより分離された上記反射光を検出する６
   分割光検出器とを備えたことを特徴とする光学式情報再
   生装置。
2. 【請求項２】上記光学式情報記録媒体上に集光される光
   は、上記反射形回折格子レンズにおける零次回折光であ
   ることを特徴とする特許請求の範囲第（１）項記載の光
   学式情報再生装置。
3. 【請求項３】上記光学式情報記録媒体で反射され上記反
   射形回折格子レンズで回折された上記６分割光検出器に
   入射する光は、上記反射形回折格子レンズにおける１次
   回折光もしくは−１次回折光であることを特徴とする特
   許請求の範囲第（１）項又は第（２）項記載の光学式情
   報再生装置。