JPH0654886B2 - 線路特性測定方法 - Google Patents
線路特性測定方法Info
- Publication number
- JPH0654886B2 JPH0654886B2 JP25032685A JP25032685A JPH0654886B2 JP H0654886 B2 JPH0654886 B2 JP H0654886B2 JP 25032685 A JP25032685 A JP 25032685A JP 25032685 A JP25032685 A JP 25032685A JP H0654886 B2 JPH0654886 B2 JP H0654886B2
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- lines
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は任意の入力インピーダンスを有する装置が接
続された線路を、その装置が接続された状態で、その装
置の影響を受けることなく、線路の特性を正確に測定す
る線路特性測定方法に関するものである。
続された線路を、その装置が接続された状態で、その装
置の影響を受けることなく、線路の特性を正確に測定す
る線路特性測定方法に関するものである。
たとえば、電話線の障害検出のためには、従来より線路
の絶縁抵抗、静電容量等の測定が行われているが、これ
らの測定は、測定回路の構成が簡易であることから直流
測定で行われている。任意の直流入力インピーダンスを
有する装置が線路に接続された場合の等価回路を第７図
に示す。一対の線路１１の一端間に入力抵抗Ｒｉの装置
１２が接続され、他端間に直流電源１３が接続されてい
る。一対の線路１１間の絶縁抵抗Ｒｘ（以下単に線路の
絶縁抵抗Ｒｘと記す）が入力抵抗Ｒｉと並列に接続され
た状態になる。直流電源１３の端子１４，１５から線路
１１の絶縁抵抗Ｒｘの測定を行う場合、測定結果は装置
の入力抵抗Ｒｉの影響を受け、ＲｘとＲｉの並列接続抵
抗値Ｒｘ・Ｒｉ／（Ｒｘ＋Ｒｉ）となる。従って線路１
１の絶縁抵抗Ｒｘからの誤差は、−Ｒx 2／（Ｒｘ＋
Ｒｉ）となり、装置１２の入力抵抗Ｒｉが小さくなると
誤差が大きくなり、正確な測定ができないという問題が
あった。
の絶縁抵抗、静電容量等の測定が行われているが、これ
らの測定は、測定回路の構成が簡易であることから直流
測定で行われている。任意の直流入力インピーダンスを
有する装置が線路に接続された場合の等価回路を第７図
に示す。一対の線路１１の一端間に入力抵抗Ｒｉの装置
１２が接続され、他端間に直流電源１３が接続されてい
る。一対の線路１１間の絶縁抵抗Ｒｘ（以下単に線路の
絶縁抵抗Ｒｘと記す）が入力抵抗Ｒｉと並列に接続され
た状態になる。直流電源１３の端子１４，１５から線路
１１の絶縁抵抗Ｒｘの測定を行う場合、測定結果は装置
の入力抵抗Ｒｉの影響を受け、ＲｘとＲｉの並列接続抵
抗値Ｒｘ・Ｒｉ／（Ｒｘ＋Ｒｉ）となる。従って線路１
１の絶縁抵抗Ｒｘからの誤差は、−Ｒx 2／（Ｒｘ＋
Ｒｉ）となり、装置１２の入力抵抗Ｒｉが小さくなると
誤差が大きくなり、正確な測定ができないという問題が
あった。
この発明は、線路特性測定時には、前記任意の入力イン
ピーダンスを有する装置を線路に機械的には接続したま
まであるが、電気的に線路から切り離すように構成し、
正確な線路特性測定を可能にしたものである。
ピーダンスを有する装置を線路に機械的には接続したま
まであるが、電気的に線路から切り離すように構成し、
正確な線路特性測定を可能にしたものである。
この発明においては、通常の使用状態で線路に印加され
る電圧Ｖｏでは導通するが、Ｖｏよりも小さい所定電圧
ＶＭ以下では遮断する回路を、一対の線路と任意の入力
インピーダンスを有する装置との各間に挿入しておき、
線路特性測定時には、線路に前記所定電圧ＶＭ以下の電
圧を線路に印加して線路の特性を測定する。
る電圧Ｖｏでは導通するが、Ｖｏよりも小さい所定電圧
ＶＭ以下では遮断する回路を、一対の線路と任意の入力
インピーダンスを有する装置との各間に挿入しておき、
線路特性測定時には、線路に前記所定電圧ＶＭ以下の電
圧を線路に印加して線路の特性を測定する。
第１図はこの発明の原理を説明する図であって、第７図
と対応する部分に同一符号を付けてある。任意の入力イ
ンピーダンスＲｉを有する装置１２と線路１１との間
に、一対の線路１１の装置１２側端の印加電圧Ｖｉによ
り抵抗Ｒｚが変化する回路１６を挿入する。この抵抗Ｒ
ｚが変化する回路１６の理想特性を第２図に示す。通常
は線路１１にＶｏの電圧が印加され、前記装置１２に給
電が行われるが、このとき抵抗が変化する回路１６の抵
抗ＲｚはＯ（Ω）、すなわち導通状態であり、給電作用
に何ら影響を与えない。また、一般に前記印加電圧Ｖｏ
の逆極性の電圧は、電話線の場合、着呼信号等に利用さ
れるが、この場合も回路１６の抵抗ＲｚはＯ（Ω）であ
るため影響はない。
と対応する部分に同一符号を付けてある。任意の入力イ
ンピーダンスＲｉを有する装置１２と線路１１との間
に、一対の線路１１の装置１２側端の印加電圧Ｖｉによ
り抵抗Ｒｚが変化する回路１６を挿入する。この抵抗Ｒ
ｚが変化する回路１６の理想特性を第２図に示す。通常
は線路１１にＶｏの電圧が印加され、前記装置１２に給
電が行われるが、このとき抵抗が変化する回路１６の抵
抗ＲｚはＯ（Ω）、すなわち導通状態であり、給電作用
に何ら影響を与えない。また、一般に前記印加電圧Ｖｏ
の逆極性の電圧は、電話線の場合、着呼信号等に利用さ
れるが、この場合も回路１６の抵抗ＲｚはＯ（Ω）であ
るため影響はない。
さて、前記電圧Ｖｏより小さい電圧ＶＭが線路１１に印
加された場合、前記回路１６の抵抗Ｒｚは∞（Ω）、す
なわち遮断状態となる。従って端子１４，１５からは、
前記装置１２の入力インピーダンスＲｉは観測されなく
なり、線路１１の絶縁抵抗Ｒｘが正確に測定できること
となる。
加された場合、前記回路１６の抵抗Ｒｚは∞（Ω）、す
なわち遮断状態となる。従って端子１４，１５からは、
前記装置１２の入力インピーダンスＲｉは観測されなく
なり、線路１１の絶縁抵抗Ｒｘが正確に測定できること
となる。
第３図は、回路１６の具体的な実現例の１つであり、前
記印加電圧Ｖｉにより抵抗Ｒｚが変化する回路１６をツ
ェナーダイオードＺＤで構成した例である。ここで通常
端子１４に正極性、端子１５に負極性の電圧が印加さ
れ、ツェナーダイオードＺＤのカソードが端子１４側と
されているものとする。ツェナーダイオードＺＤのツェ
ナー電圧を前記ＶＭに設定すれば、実用上第２図に示し
た特性が実現できる。
記印加電圧Ｖｉにより抵抗Ｒｚが変化する回路１６をツ
ェナーダイオードＺＤで構成した例である。ここで通常
端子１４に正極性、端子１５に負極性の電圧が印加さ
れ、ツェナーダイオードＺＤのカソードが端子１４側と
されているものとする。ツェナーダイオードＺＤのツェ
ナー電圧を前記ＶＭに設定すれば、実用上第２図に示し
た特性が実現できる。
第４図は回路１６の他の実現例であり、前記回路１６と
して、ダイオード１７、エンハンスメント形ＦＥＴ１８
の並列回路を線路１１と直列に接続し、その線路側接続
点にツェナーダイオード１９、抵抗器２０を介して線路
１１に対してシャントに接続し、ツェナーダイオード１
９及び抵抗器２０の接続点をＦＥＴ１８のゲートに接続
したものである。通常は端子１４，１５間にツェナーダ
イオード１９のツェナー電圧以上の電圧Ｖｏが印加さ
れ、ツェナーダイオード１９が導通し、この導通電流が
抵抗器２０に流れ、その抵抗器２０における電圧降下が
ＦＥＴ１８のゲートに印加され、これによりＦＥＴ１８
はオン状態になる。しかし線路特性測定時には端子１
４，１５間にツェナーダイオード１９のツェナー電圧以
下の測定電圧が印加され、ツェナーダイオード１９は不
導通になり、抵抗器２０に電流が流れず、ＦＥＴ１８の
ゲート、ソース間が同一電位となり、このＦＥＴ１８は
エンハンスメント形であるためオフ状態になり、装置１
２側が電気的に切離される。
して、ダイオード１７、エンハンスメント形ＦＥＴ１８
の並列回路を線路１１と直列に接続し、その線路側接続
点にツェナーダイオード１９、抵抗器２０を介して線路
１１に対してシャントに接続し、ツェナーダイオード１
９及び抵抗器２０の接続点をＦＥＴ１８のゲートに接続
したものである。通常は端子１４，１５間にツェナーダ
イオード１９のツェナー電圧以上の電圧Ｖｏが印加さ
れ、ツェナーダイオード１９が導通し、この導通電流が
抵抗器２０に流れ、その抵抗器２０における電圧降下が
ＦＥＴ１８のゲートに印加され、これによりＦＥＴ１８
はオン状態になる。しかし線路特性測定時には端子１
４，１５間にツェナーダイオード１９のツェナー電圧以
下の測定電圧が印加され、ツェナーダイオード１９は不
導通になり、抵抗器２０に電流が流れず、ＦＥＴ１８の
ゲート、ソース間が同一電位となり、このＦＥＴ１８は
エンハンスメント形であるためオフ状態になり、装置１
２側が電気的に切離される。
この例では第３図の構成に比べてツェナーダイオード１
９として容量の小さいものが適用できる特徴がある。
９として容量の小さいものが適用できる特徴がある。
第５図、第６図に、それぞれこの発明の実施例を示す。
一対の線路１１と装置１２との間にそれぞれ回路１６を
挿入して平衡形式にする。第５図、第６図はそれぞれ装
置１２の両端と線路１１との間のそれぞれに、第３図、
第４図中の回路１６が挿入され、一対の線路１１の対地
インピーダンスが等しくなり、対地不平衡減衰量を確保
できる特徴がある。第６図においてＦＥＴ１８，１８′
は導電形が逆のものが用いられ、同時にオン又はオフと
される。
一対の線路１１と装置１２との間にそれぞれ回路１６を
挿入して平衡形式にする。第５図、第６図はそれぞれ装
置１２の両端と線路１１との間のそれぞれに、第３図、
第４図中の回路１６が挿入され、一対の線路１１の対地
インピーダンスが等しくなり、対地不平衡減衰量を確保
できる特徴がある。第６図においてＦＥＴ１８，１８′
は導電形が逆のものが用いられ、同時にオン又はオフと
される。
以上説明したように、この発明によれば通常の印加電圧
Ｖｏより小さい電圧ＶＭ以下の電圧で線路特性測定を行
うことにより、任意の入力インピーダンスを有する装置
を機械的に接続したままで電気的に線路から切り離すこ
とが可能であるため、線路特性の正確な測定ができる利
点がある。しかも、平衡形式としているため、対地減衰
量が確保でき、広帯域なディジタル信号伝送システムに
適用してディジタル信号の波形伝送に影響を与えない。
Ｖｏより小さい電圧ＶＭ以下の電圧で線路特性測定を行
うことにより、任意の入力インピーダンスを有する装置
を機械的に接続したままで電気的に線路から切り離すこ
とが可能であるため、線路特性の正確な測定ができる利
点がある。しかも、平衡形式としているため、対地減衰
量が確保でき、広帯域なディジタル信号伝送システムに
適用してディジタル信号の波形伝送に影響を与えない。
ここでは通信線路の測定を例として説明したが、この発
明は、電力線や他の各種線路の特性測定にも当然適用可
能である。
明は、電力線や他の各種線路の特性測定にも当然適用可
能である。
第１図はこの発明の原理を示す回路図、第２図は印加電
圧Ｖｉにより抵抗Ｒｚが変化する回路１６の理想特性を
示す図、第３図は第１図中の回路１６の実現例の１つを
示す回路図、第４図は第１図中の回路１６の他の実現例
を示す回路図、第５図は第３図の実施例を平衡形式にし
た例を示す図、第６図は第４図の実施例を平衡形式にし
た例を示す図、第７図は任意の直流入力インピーダンス
を有する装置が線路に接続されたときの等価回路図であ
る。 １１：線路、１２：任意の入力インピーダンスＲｉを有
する装置、１３：直流電源、１６：印加電圧Ｖｉにより
抵抗Ｒｚが変化する回路。
圧Ｖｉにより抵抗Ｒｚが変化する回路１６の理想特性を
示す図、第３図は第１図中の回路１６の実現例の１つを
示す回路図、第４図は第１図中の回路１６の他の実現例
を示す回路図、第５図は第３図の実施例を平衡形式にし
た例を示す図、第６図は第４図の実施例を平衡形式にし
た例を示す図、第７図は任意の直流入力インピーダンス
を有する装置が線路に接続されたときの等価回路図であ
る。 １１：線路、１２：任意の入力インピーダンスＲｉを有
する装置、１３：直流電源、１６：印加電圧Ｖｉにより
抵抗Ｒｚが変化する回路。
Claims (1)
- 【請求項１】一対の線路の一端間に任意の入力インピー
ダンスを有する装置が接続され、前記一対の線路の他端
間に直流電源が接続され、その直流電源から前記一対の
線路間に通常はＶｏの電圧が印加されている伝送系にお
いて、 前記一対の線路と、前記任意の入力インピーダンスを有
する装置との間に、それぞれ前記直流電源からの通常の
印加電圧Ｖｏでは導通し、その印加電圧Ｖｏより小さい
所定の電圧ＶＭ以下では遮断する回路を挿入しておき、 線路特性測定時に前記電圧ＶＭ以下の電圧を前記一対の
線路間に印加して線路特性測定を行うことを特徴とする
線路特性測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25032685A JPH0654886B2 (ja) | 1985-11-08 | 1985-11-08 | 線路特性測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25032685A JPH0654886B2 (ja) | 1985-11-08 | 1985-11-08 | 線路特性測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62110169A JPS62110169A (ja) | 1987-05-21 |
| JPH0654886B2 true JPH0654886B2 (ja) | 1994-07-20 |
Family
ID=17206244
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25032685A Expired - Lifetime JPH0654886B2 (ja) | 1985-11-08 | 1985-11-08 | 線路特性測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0654886B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0633722Y2 (ja) * | 1990-06-29 | 1994-08-31 | 株式会社白山製作所 | 遠隔切り分け装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60107967A (ja) * | 1983-11-17 | 1985-06-13 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | アナログスイッチ回路 |
-
1985
- 1985-11-08 JP JP25032685A patent/JPH0654886B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62110169A (ja) | 1987-05-21 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |