JPH0656329B2 - 移動物体の温度測定装置 - Google Patents
移動物体の温度測定装置Info
- Publication number
- JPH0656329B2 JPH0656329B2 JP4998685A JP4998685A JPH0656329B2 JP H0656329 B2 JPH0656329 B2 JP H0656329B2 JP 4998685 A JP4998685 A JP 4998685A JP 4998685 A JP4998685 A JP 4998685A JP H0656329 B2 JPH0656329 B2 JP H0656329B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature
- maximum brightness
- brightness level
- molten metal
- image pickup
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/0022—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry for sensing the radiation of moving bodies
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、例えば真空再溶解装置内の粒滴状溶解金属の
ように落下する移動物体の温度を測定する移動物体の温
度測定装置の改良に関する。
ように落下する移動物体の温度を測定する移動物体の温
度測定装置の改良に関する。
真空再溶解装置は、真空容器内に被溶解材をセットし、
この被溶接材にアーク，プラズマ，電子等のエネルギー
を与えて溶解させ、この溶解した粒滴状の金属を下部に
設けられた鋳型に落下させて凝固させることによりイン
ゴットを製造するものであり、与えるエネルギーの種類
により真空アーク再溶解法（Ｖａｃｕｕｍ Ａｒｃ Ｒ
ｅｍｅｌｔｉｎｇ，ＶＡＲ）、真空プラズマビーム再溶
解法（Ｖａｃｕｕｍ Ｐｌａｓｍａ Ｂｅｅｍ Ｒｅｍ
ｅｌｔｉｎｇ，ＶＰＢＲ）、電子ビーム再溶解法（Ｅｌ
ｅｃｔｒｏｎ Ｂｅｅｍ Ｒｅｍｅｌｔｉｎｇ，ＥＢ
Ｒ）などがある。
この被溶接材にアーク，プラズマ，電子等のエネルギー
を与えて溶解させ、この溶解した粒滴状の金属を下部に
設けられた鋳型に落下させて凝固させることによりイン
ゴットを製造するものであり、与えるエネルギーの種類
により真空アーク再溶解法（Ｖａｃｕｕｍ Ａｒｃ Ｒ
ｅｍｅｌｔｉｎｇ，ＶＡＲ）、真空プラズマビーム再溶
解法（Ｖａｃｕｕｍ Ｐｌａｓｍａ Ｂｅｅｍ Ｒｅｍ
ｅｌｔｉｎｇ，ＶＰＢＲ）、電子ビーム再溶解法（Ｅｌ
ｅｃｔｒｏｎ Ｂｅｅｍ Ｒｅｍｅｌｔｉｎｇ，ＥＢ
Ｒ）などがある。
第４図は前記電子ビーム再溶解装置の構成を示す断面図
である。同図において１は透明の真空容器であり、この
真空容器１の上部には電子銃２が設けられ、下部には水
冷銅モール３が設けられている。また、真空容器１の側
部には被溶解材４がセットされており、前記電子銃２か
ら電子ビーム２ａが照射されると、被溶解材４は加熱溶
解され、粒滴状の溶解金属４ａが水冷銅モールド３に落
下し、この水冷銅モールド３において凝固され、インゴ
ット５が製造されるものとなっている。
である。同図において１は透明の真空容器であり、この
真空容器１の上部には電子銃２が設けられ、下部には水
冷銅モール３が設けられている。また、真空容器１の側
部には被溶解材４がセットされており、前記電子銃２か
ら電子ビーム２ａが照射されると、被溶解材４は加熱溶
解され、粒滴状の溶解金属４ａが水冷銅モールド３に落
下し、この水冷銅モールド３において凝固され、インゴ
ット５が製造されるものとなっている。
ところで、上記溶解金属４ａの温度は、インゴット５が
凝固形成されるときの内部組織を支配するものであり、
インゴット５の品質を決定する重要な因子となってい
る。したがって、上記溶解金属４ａの温度を測定して制
御することにより、高品質で均一なインゴット５が安定
して鋳造されることになる。
凝固形成されるときの内部組織を支配するものであり、
インゴット５の品質を決定する重要な因子となってい
る。したがって、上記溶解金属４ａの温度を測定して制
御することにより、高品質で均一なインゴット５が安定
して鋳造されることになる。
一般に、上記溶解金属４ａの温度を測定する手段として
は、溶解金属４ａに熱電対を浸透させ、熱電対に発生す
る熱起電力により温度を測定する手段、あるいは溶解金
属４ａが放射する熱エネルギーを熱エネルギーセンサに
て検出することにより温度を測定する手段等がある。し
かしながら、これらの手段では、粒滴状の溶解金属４ａ
の大きさが１０〜１５mm程度と非常に小さく、しかも、
これが自然落下運動をしており、さらには溶解金属４ａ
が真空容器内に存在するので、溶解金属４ａの温度を測
定することはできなかった。
は、溶解金属４ａに熱電対を浸透させ、熱電対に発生す
る熱起電力により温度を測定する手段、あるいは溶解金
属４ａが放射する熱エネルギーを熱エネルギーセンサに
て検出することにより温度を測定する手段等がある。し
かしながら、これらの手段では、粒滴状の溶解金属４ａ
の大きさが１０〜１５mm程度と非常に小さく、しかも、
これが自然落下運動をしており、さらには溶解金属４ａ
が真空容器内に存在するので、溶解金属４ａの温度を測
定することはできなかった。
したがって従来は、被溶解材４に照射する電子ビーム２
ａの出力と被溶解材４の挿入速度とから定性的に推定す
るしかなかった。このため、溶解金属４ａの温度を正確
に測定することができず、高品質で均一なインゴット５
を安定して製造することは困難であった。
ａの出力と被溶解材４の挿入速度とから定性的に推定す
るしかなかった。このため、溶解金属４ａの温度を正確
に測定することができず、高品質で均一なインゴット５
を安定して製造することは困難であった。
また、粒滴状の溶解金属４ａの温度を測定する手段とし
て、溶解金属４ａの落下位置に高温で蒸気圧の小さな冷
媒を入れた容器を設置し、この容器にて溶解金属４ａを
受け、上記冷媒の温度上昇により溶解金属４ａのもつ熱
量を検出して温度を測定する手段もある。しかるに、こ
の手段では、真空容器１内において任意のタイミング
（任意の時刻）で、あるいは連続的に溶解金属４ａの温
度を測定することは不可能であった。
て、溶解金属４ａの落下位置に高温で蒸気圧の小さな冷
媒を入れた容器を設置し、この容器にて溶解金属４ａを
受け、上記冷媒の温度上昇により溶解金属４ａのもつ熱
量を検出して温度を測定する手段もある。しかるに、こ
の手段では、真空容器１内において任意のタイミング
（任意の時刻）で、あるいは連続的に溶解金属４ａの温
度を測定することは不可能であった。
本発明はこのような事情に基いてなされたものであり、
その目的とするところは、移動物体の温度を正確に、か
つ任意のタイミングあるいは連続的に測定し得る移動物
体の温度測定装置を提供することにある。
その目的とするところは、移動物体の温度を正確に、か
つ任意のタイミングあるいは連続的に測定し得る移動物
体の温度測定装置を提供することにある。
本発明は、１つまたは複数の移動物体を、移動方向に対
して垂直方向からこの垂直方向を含む平面の視野を有す
る二次元撮像手段により撮像し、この二次元撮像手段に
より出力される映像信号から、輝度レベル算出手段によ
り一走査毎の最大輝度レベルを検出し、さらに、これら
最大輝度レベルのうち設定時間内における最大輝度レベ
ルを最終最大輝度レベルとして演算して求め、この求め
られた最終最大輝度レベルを温度変換手段により温度信
号に変換するようにしたものである。
して垂直方向からこの垂直方向を含む平面の視野を有す
る二次元撮像手段により撮像し、この二次元撮像手段に
より出力される映像信号から、輝度レベル算出手段によ
り一走査毎の最大輝度レベルを検出し、さらに、これら
最大輝度レベルのうち設定時間内における最大輝度レベ
ルを最終最大輝度レベルとして演算して求め、この求め
られた最終最大輝度レベルを温度変換手段により温度信
号に変換するようにしたものである。
第１図は本発明を電子ビーム再溶解装置に適用した一実
施例の全体構成を示す図である。なお、第４図と同一部
分には同一符号を付し、詳しい説明は省略する。第１図
において１０は二次元撮像手段としての撮像装置であ
り、被溶解材４から溶解金属４ａの移動方向、すなわち
落下方向に対して垂直方向から撮像し、上記落下方向に
距離ｌだけ下方の点を中心にして平面の視野１０ａを有
するものとなっている。そして、この撮像装置１０は、
溶解金属４ａから発生される放射輝度を、真空容器１に
設けられた窓ガラス（不図示）を通して撮像し、その映
像信号を出力するものとなっている。また上記撮像装置
１０は、ロータリーシャッタ等のような高速度シャッタ
を設けた高感度撮像管により構成されている。この高速
度シャッタは、落下する溶解金属４ａからの放射輝度を
ぶれがなく正確に検出するものであり、本実施例ではシ
ャッタ速度１／１０００秒の高速度シャッタを用いてい
る。
施例の全体構成を示す図である。なお、第４図と同一部
分には同一符号を付し、詳しい説明は省略する。第１図
において１０は二次元撮像手段としての撮像装置であ
り、被溶解材４から溶解金属４ａの移動方向、すなわち
落下方向に対して垂直方向から撮像し、上記落下方向に
距離ｌだけ下方の点を中心にして平面の視野１０ａを有
するものとなっている。そして、この撮像装置１０は、
溶解金属４ａから発生される放射輝度を、真空容器１に
設けられた窓ガラス（不図示）を通して撮像し、その映
像信号を出力するものとなっている。また上記撮像装置
１０は、ロータリーシャッタ等のような高速度シャッタ
を設けた高感度撮像管により構成されている。この高速
度シャッタは、落下する溶解金属４ａからの放射輝度を
ぶれがなく正確に検出するものであり、本実施例ではシ
ャッタ速度１／１０００秒の高速度シャッタを用いてい
る。
図中２０は温度測定制御装置であり、前記撮像装置１０
からの映像信号を入力し、この映像信号から一走査毎の
最大輝度レベルを検出し、さらに、これら最大輝度レベ
ルのうち所定の設定時間内における最大輝度レベル、す
なわち最終最大輝度レベルを演算して求める輝度レベル
演算手段としての機能と、この機能によって求められた
最終最大輝度レベルを温度信号に変換する温度信号変換
手段としての機能とを有したものとなっている。
からの映像信号を入力し、この映像信号から一走査毎の
最大輝度レベルを検出し、さらに、これら最大輝度レベ
ルのうち所定の設定時間内における最大輝度レベル、す
なわち最終最大輝度レベルを演算して求める輝度レベル
演算手段としての機能と、この機能によって求められた
最終最大輝度レベルを温度信号に変換する温度信号変換
手段としての機能とを有したものとなっている。
第２図は前記撮像装置１０と温度測定制御装置２０との
具体的な構成を示すブロック図である。撮像装置１０
は、外乱光を取除くための光学フィルタ１１と、レンズ
１２と、高感度シャッタ付撮像管からなる撮像部１３と
により構成されている。上記レンズ１２は、空間的分解
能の向上をはかるために焦点距離の長いものが用いられ
ている。また、撮像部１３の撮像管は、ビジコン，シリ
コンビジコン，ＣＣＤ二次元固体撮像素子等のように近
赤外線領域に感度を有するものが用いられている。そし
て、この撮像部１３において、高速度シャッタにより１
／１０００秒間シャッタを開放し、その間の溶解金属４
ａから発生させる放射輝度を検出し、１／３０秒間隔で
放射輝度分布画像を示す映像信号を温度測定制御装置２
０に送出するものとなっている。
具体的な構成を示すブロック図である。撮像装置１０
は、外乱光を取除くための光学フィルタ１１と、レンズ
１２と、高感度シャッタ付撮像管からなる撮像部１３と
により構成されている。上記レンズ１２は、空間的分解
能の向上をはかるために焦点距離の長いものが用いられ
ている。また、撮像部１３の撮像管は、ビジコン，シリ
コンビジコン，ＣＣＤ二次元固体撮像素子等のように近
赤外線領域に感度を有するものが用いられている。そし
て、この撮像部１３において、高速度シャッタにより１
／１０００秒間シャッタを開放し、その間の溶解金属４
ａから発生させる放射輝度を検出し、１／３０秒間隔で
放射輝度分布画像を示す映像信号を温度測定制御装置２
０に送出するものとなっている。
一方、温度測定制御装置２０は次のように構成されてい
る。すなわち、前記撮像装置１０から１／３０秒間隔で
送られてくる映像信号の収差を補正する収差補正回路２
１と、収差補正が行なわれた映像信号から一走査毎の最
大輝度レベルを検出する最大輝度レベル検出部２２と、
この検出部２２により検出された最大輝度レベルを予め
設定された時間（本実施例では１秒）内で次々と比較演
算し、この設定時間内における最大輝度レベルを最終最
大輝度レベルとして求める最終最大輝度レベル検出部２
３と、この検出部２３にて求められた最終最大輝度レベ
ルを温度信号に変換する温度信号変換部２４と、この変
換部２４にて変換された温度信号の放射率補正を行なう
放射率補正部２５とから構成されている。なお、上記温
度変換部２４には、予め黒体炉を用いて得られた撮像装
置１０の温度と出力値との関係が記憶されている。ま
た、放射率測定部２５には、予め真空雰囲気において溶
かされた被溶解材４の温度と、撮像装置１０からの温度
出力値とから計算された放射率値が記憶されている。本
実施例では溶解金属４ａは真空中にあるので、その表面
は酸化せず放射率は安定している。したがって、上記オ
フラインにより求められた放射率値によって補正するこ
とにより、高精度で溶解金属４ａの温度が得られるもの
となる。
る。すなわち、前記撮像装置１０から１／３０秒間隔で
送られてくる映像信号の収差を補正する収差補正回路２
１と、収差補正が行なわれた映像信号から一走査毎の最
大輝度レベルを検出する最大輝度レベル検出部２２と、
この検出部２２により検出された最大輝度レベルを予め
設定された時間（本実施例では１秒）内で次々と比較演
算し、この設定時間内における最大輝度レベルを最終最
大輝度レベルとして求める最終最大輝度レベル検出部２
３と、この検出部２３にて求められた最終最大輝度レベ
ルを温度信号に変換する温度信号変換部２４と、この変
換部２４にて変換された温度信号の放射率補正を行なう
放射率補正部２５とから構成されている。なお、上記温
度変換部２４には、予め黒体炉を用いて得られた撮像装
置１０の温度と出力値との関係が記憶されている。ま
た、放射率測定部２５には、予め真空雰囲気において溶
かされた被溶解材４の温度と、撮像装置１０からの温度
出力値とから計算された放射率値が記憶されている。本
実施例では溶解金属４ａは真空中にあるので、その表面
は酸化せず放射率は安定している。したがって、上記オ
フラインにより求められた放射率値によって補正するこ
とにより、高精度で溶解金属４ａの温度が得られるもの
となる。
ここで、一走査毎の最大輝度レベルを検出する理由につ
いて説明する。被溶解材４から溶けて落下する溶解金属
４ａのタイミングおよびその落下軌道は一定ではない。
また上記溶解金属４ａの落下開始時点から下方距離ｌの
位置において、上記溶解金属４ａの自然落下速度ｖは となる。ただし、ｇは重力加速度である。
いて説明する。被溶解材４から溶けて落下する溶解金属
４ａのタイミングおよびその落下軌道は一定ではない。
また上記溶解金属４ａの落下開始時点から下方距離ｌの
位置において、上記溶解金属４ａの自然落下速度ｖは となる。ただし、ｇは重力加速度である。
したがって、シャッタ速度１／１０００秒の場合、溶解
金属４ａを円とすると、第３図に示すように、シャッタ
開放開始時点ｔ１からシャッタ開放終了時点ｔ２までの
１／１０００秒間に上記溶解金属４ａは、 だけぶれを生じることになる。しかるに、このとき撮像
部１３が受ける溶解金属４ａの正確な放射輝度は、第３
図中Ａで示す部分となり、他の部分はＡ部に比べてその
放射輝度が低いものとなっている。そこで、一走査毎の
最大輝度レベルを検出することにより上記Ａ部の放射輝
度を検出する。この場合、撮像部１３において上記Ａ部
を少なくとも１フレーム検出するために、レンズ１２は
前述したように焦点距離の長いものを用いる必要があ
る。また、撮像視野１０ａ内を通過する溶解金属４ａが
複数個の場合には、その視野１０ａ内における最大輝度
レベルを代表の値としている。
金属４ａを円とすると、第３図に示すように、シャッタ
開放開始時点ｔ１からシャッタ開放終了時点ｔ２までの
１／１０００秒間に上記溶解金属４ａは、 だけぶれを生じることになる。しかるに、このとき撮像
部１３が受ける溶解金属４ａの正確な放射輝度は、第３
図中Ａで示す部分となり、他の部分はＡ部に比べてその
放射輝度が低いものとなっている。そこで、一走査毎の
最大輝度レベルを検出することにより上記Ａ部の放射輝
度を検出する。この場合、撮像部１３において上記Ａ部
を少なくとも１フレーム検出するために、レンズ１２は
前述したように焦点距離の長いものを用いる必要があ
る。また、撮像視野１０ａ内を通過する溶解金属４ａが
複数個の場合には、その視野１０ａ内における最大輝度
レベルを代表の値としている。
一方、上記最大輝度レベルは撮像部１３の画像出力時間
（本実施例ては１／３０秒）でリアルタイムに得られる
が、前記溶解金属４ａ連続的に落下する場合もあり、前
記最大輝度レベルを求めただけではＡ部の正確な放射輝
度は得られない。そこで、一走査毎の最大輝度レベルを
予め設定された時間内で次々と比較することにより、こ
の設定時間内における最終最大輝度レベルを求め、この
最終最大輝度レベルから溶解金属４ａの温度を求める。
こうすることにより、溶解金属４ａの温度が正確に測定
される。
（本実施例ては１／３０秒）でリアルタイムに得られる
が、前記溶解金属４ａ連続的に落下する場合もあり、前
記最大輝度レベルを求めただけではＡ部の正確な放射輝
度は得られない。そこで、一走査毎の最大輝度レベルを
予め設定された時間内で次々と比較することにより、こ
の設定時間内における最終最大輝度レベルを求め、この
最終最大輝度レベルから溶解金属４ａの温度を求める。
こうすることにより、溶解金属４ａの温度が正確に測定
される。
このように本実施例によれば、従来は困難であった電子
ビーム再溶解装置の真空容器１内における粒滴状の溶解
金属４ａの温度を正確に測定することができる。したが
って、高品質で均一なインゴット５を安定して製造する
ことができる。
ビーム再溶解装置の真空容器１内における粒滴状の溶解
金属４ａの温度を正確に測定することができる。したが
って、高品質で均一なインゴット５を安定して製造する
ことができる。
なお、本発明は前記実施例に限定されるものではない。
たとえば、前記実施例では電子ビーム再溶解装置に適用
した場合について説明したが、真空アーク再溶解法，真
空プラズマビーム再溶解法による装置に対しても、光学
フィルタ１１を考慮することにより適用することができ
る上、真空容器内で自然落下運動等をする被測定体の温
度測定装置としても適用することができる。また、本実
施例では真空中を落下する被測定体の温度測定について
説明したが、既知気体雰囲気中における撮像装置の視野
内を移動する被測定体の温度測定装置としても適用でき
る。このほか本発明の要旨を越えない範囲で種々変形実
施可能であるのは勿論である。
たとえば、前記実施例では電子ビーム再溶解装置に適用
した場合について説明したが、真空アーク再溶解法，真
空プラズマビーム再溶解法による装置に対しても、光学
フィルタ１１を考慮することにより適用することができ
る上、真空容器内で自然落下運動等をする被測定体の温
度測定装置としても適用することができる。また、本実
施例では真空中を落下する被測定体の温度測定について
説明したが、既知気体雰囲気中における撮像装置の視野
内を移動する被測定体の温度測定装置としても適用でき
る。このほか本発明の要旨を越えない範囲で種々変形実
施可能であるのは勿論である。
以上詳述したように本発明によれば、１つまたは複数の
移動物体を、移動方向に対して垂直方向からこの垂直方
向を含む平面の視野を有する二次元撮像手段により撮像
し、この二次元撮像手段により出力される映像信号か
ら、輝度レベル算出手段により一走査毎の最大輝度レベ
ルを検出し、さらに、これら最大輝度レベルのうち設定
時間内における最大輝度レベルを最終最大輝度レベルと
して演算して求め、この求められた最終最大輝度レベル
を温度変換手段により温度信号に変換するようにしたの
で、移動物体の温度を正確に、かつ任意のタイミングあ
るいは連続的に測定し得る移動物体の温度測定装置を提
供できる。
移動物体を、移動方向に対して垂直方向からこの垂直方
向を含む平面の視野を有する二次元撮像手段により撮像
し、この二次元撮像手段により出力される映像信号か
ら、輝度レベル算出手段により一走査毎の最大輝度レベ
ルを検出し、さらに、これら最大輝度レベルのうち設定
時間内における最大輝度レベルを最終最大輝度レベルと
して演算して求め、この求められた最終最大輝度レベル
を温度変換手段により温度信号に変換するようにしたの
で、移動物体の温度を正確に、かつ任意のタイミングあ
るいは連続的に測定し得る移動物体の温度測定装置を提
供できる。
第１図〜第３図は本発明の一実施例を示す図で、第１図
は全体構成を示す図、第２図は撮像装置と温度測定制御
装置の具体的構成を示すブロック図、第３図は最大放射
輝度を説明するための図、第４図は従来例としての電子
ビーム再溶解装置の構成を示す断面図である。 １……真空容器、４……被溶解材、４ａ……溶解金属、
１０……撮像装置、１１……光学フィルタ、１２……レ
ンズ、１３……撮像部、２０……温度測定制御装置、２
１……収差補正回路、２２……最大輝度レベル検出部、
２３……最終最大輝度レベル検出部、２４……温度変換
部、２５……放射率補正部。
は全体構成を示す図、第２図は撮像装置と温度測定制御
装置の具体的構成を示すブロック図、第３図は最大放射
輝度を説明するための図、第４図は従来例としての電子
ビーム再溶解装置の構成を示す断面図である。 １……真空容器、４……被溶解材、４ａ……溶解金属、
１０……撮像装置、１１……光学フィルタ、１２……レ
ンズ、１３……撮像部、２０……温度測定制御装置、２
１……収差補正回路、２２……最大輝度レベル検出部、
２３……最終最大輝度レベル検出部、２４……温度変換
部、２５……放射率補正部。
Claims (1)
- 【請求項１】１つまたは複数の移動物体を移動方向に対
して垂直方向から撮像するこの垂直方向を含む平面の視
野を有する二次元撮像手段と、この二次元撮像手段によ
り出力される映像信号から一走査毎の最大輝度レベルを
検出し、さらにこれら最大輝度レベルのうち設定時間内
における最大輝度レベルを最終最大輝度レベルとして演
算して求める輝度レベル演算手段と、この輝度レベル演
算手段により求められた最終最大輝度レベルを温度信号
に変換する温度変換手段とを具備したことを特徴とする
移動物体の温度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4998685A JPH0656329B2 (ja) | 1985-03-13 | 1985-03-13 | 移動物体の温度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4998685A JPH0656329B2 (ja) | 1985-03-13 | 1985-03-13 | 移動物体の温度測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61209329A JPS61209329A (ja) | 1986-09-17 |
| JPH0656329B2 true JPH0656329B2 (ja) | 1994-07-27 |
Family
ID=12846337
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4998685A Expired - Lifetime JPH0656329B2 (ja) | 1985-03-13 | 1985-03-13 | 移動物体の温度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0656329B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5620684B2 (ja) * | 2010-01-29 | 2014-11-05 | 株式会社神戸製鋼所 | 消耗電極式真空アーク溶解方法及びその装置 |
-
1985
- 1985-03-13 JP JP4998685A patent/JPH0656329B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61209329A (ja) | 1986-09-17 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Chung et al. | A noncontact measurement technique for the density and thermal expansion coefficient of solid and liquid materials | |
| US4656331A (en) | Infrared sensor for the control of plasma-jet spray coating and electric are heating processes | |
| US5273101A (en) | Method and apparatus for casting an arc melted metallic material in ingot form | |
| JPH0649631B2 (ja) | 結晶径測定装置 | |
| US5169233A (en) | Methods of measuring temperature and apparatus for use therewith | |
| JP4016022B2 (ja) | 赤外線画像撮像装置およびこれを搭載した車両 | |
| CN1067397A (zh) | 以金属锭形式浇铸电子束熔炼的金属材料的方法和设备 | |
| CN111337132B (zh) | 一种温度测量方法、装置以及数字图像采集设备 | |
| US5378493A (en) | Ceramic welding method with monitored working distance | |
| US4643587A (en) | Temperature data producing apparatus for high temperature moving objects | |
| US7364355B2 (en) | Method and apparatus for obtaining a temperature measurement using an InGaAs detector | |
| JPS61209329A (ja) | 移動物体の温度測定装置 | |
| JP3392736B2 (ja) | 溶融金属の測温装置 | |
| JPS6117366A (ja) | 自動溶接方法及びその装置 | |
| JPS61230019A (ja) | 溶解位置測定装置 | |
| JPH0219747B2 (ja) | ||
| JPH06167377A (ja) | フロートバスにおける溶融錫レベルの測定方法 | |
| JP2905366B2 (ja) | 溶湯流量測定装置及び溶湯流量測定方法 | |
| JPH10158706A (ja) | コークス充填式竪型炉のレースウエイ深度測定方法および深度測定装置 | |
| JP4315122B2 (ja) | コークス充填式竪型炉のレースウエイ深度測定方法および深度測定装置 | |
| JPH0742575B2 (ja) | 溶融材料液面高さ監視装置及び液面高さ制御装置 | |
| JP4439991B2 (ja) | 火点放射計測方法及びその装置 | |
| JPS6365348A (ja) | 無機酸化物の溶融特性の測定方法および装置 | |
| JPS61230033A (ja) | 温度分布測定装置 | |
| JP5222812B2 (ja) | 火点放射計測方法及びその装置 |