JPH065649Y2 - Ｉｃハンドラ−のバツフアレ−ル機構 - Google Patents

Ｉｃハンドラ−のバツフアレ−ル機構

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JPH065649Y2
JPH065649Y2 JP1985136113U JP13611385U JPH065649Y2 JP H065649 Y2 JPH065649 Y2 JP H065649Y2 JP 1985136113 U JP1985136113 U JP 1985136113U JP 13611385 U JP13611385 U JP 13611385U JP H065649 Y2 JPH065649 Y2 JP H065649Y2
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JP
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handler
buffer rail
package
container
buffer
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JP1985136113U
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JPS6244282U (ja
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俊雄 備中
勝 立石
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Description

【考案の詳細な説明】 〔概要〕 集積回路の試験工程において、測定台にＩＣパッケージ
を自動的に供給し、試験後コンテナーに収容するするた
めＩＣハンドラーと称される機構を使用するが、このＩ
Ｃハンドラーのバッファレール構造に改良を加え作業性
の改善を図った。
〔産業上の利用分野〕
本考案は、ＩＣハンドラーのバッファレール機構の改良
に関する。
大量の集積回路を自動的に試験を行うに当たり、個々の
ＩＣを測定台に自動的に供給し、試験の終わったＩＣを
再びコンテナーに収容するためＩＣハンドラーと呼ばれ
る装置が用いられている。
ＩＣの試験では構造プロセスにおける欠陥の発見をする
ため、試験に当たっては予めＩＣパッケージを加熱して
おく方法が一般に適用されている。
そのためＩＣハンドラーではＩＣのローダ部、及びアン
ローダ部と測定台との間に、それぞれ加熱部とバッファ
レール部が構成され、これらは傾斜した構造よりなり、
この部分でのＩＣの輸送はＩＣの自重に頼っている。
このため特にバッファレール機構では傾斜を大きくして
ＩＣの流れを良くしているので、ＩＣハンドラーの高さ
が大となり作業性が悪くなる問題があり改善が要望され
ている。
〔従来の技術〕
従来のＩＣハンドラーの構造、及びその機能を第２図を
用いて説明する。
図面において、１はローダー部でＩＣを収容せるコンテ
ナー２が多数格納されている。コンテナーは１本づつ引
き出され、傾斜させて中に収容されているＩＣパッケー
ジを傾斜構造よりなる加熱部３に送り込む。
加熱部では、ＩＣパッケージはヒータにより約120℃に
加熱された後、順次測定台４に送られる。測定台ではＩ
Ｃはその必要なる試験項目について自動的な測定が行わ
れ、良否の選別を行った後、バッファレール５に送られ
る。
バッファレール５は約40度の傾斜をもってアンローダ部
６に接続され、更にアンローダ部には空のコンテナー２
が準備されていて、バッファレール機構よりＩＣパッケ
ージを１個づつ順次格納していく。
バッファレール機構の詳細は第３図のごとき構造よりな
り、バッファレール５の端部にストッパー７，８を備
え、７を停止位置にしてストッパー８をオープンすると
１個のＩＣが部品９に収容される。
次いで、部品９を水平位置に回転させ、ストッパー10を
オープンし、プッシュ機構11により１個のＩＣをコンテ
ナー２に押し込む。
次いで、ストッパー８を閉鎖して７をオープンすること
により次のＩＣが１個送り込まれる。
〔考案が解決しようとする問題点〕
上記に述べた、従来の技術による方法ではＩＣの自重を
利用しているので、バッファレールの傾斜を40度前後の
角度にとらないとＩＣの流れが良くないことである。
このため加熱部の傾斜も含めてＩＣハンドラー全体の高
さが大きくなり、作業者がローター部にコンテナーを装
填する作業に困難を伴う。
バッファレール機構でのＩＣの送りも自重によっている
ため、ＩＣの摩擦が大きいと途中で停止して作業者の手
をとることも起こる。
〔問題点を解決するための手段〕
上記問題点は、容器に収容されたＩＣパッケージを容器
から測定台に供給したのち、測定台において室温と異な
る温度条件下でＩＣパッケージの測定試験を行い、試験
が終了したＩＣパッケージをバッファレールを介して再
び容器へ収容するＩＣハンドラーにおいて、傾斜して配
置されたバッファレール(5)の底面に、ＩＣパッケージ
の輸送方向に向けた開口部をもつエアーノズル(12)を複
数個設け、エアーノズル(12)から供給されるエアーによ
りＩＣパッケージに浮力を与えるようにしたことを特徴
とするＩＣハンドラーのバッファレール機構により解決
される。
〔作用〕
上記のごとくバッファレールの底面にエアーノズルを設
けることにより、ＩＣは空気圧によって浮力を受けると
共に、前方に押し出される。
従って、従来よりも傾斜角度を著しく小さくした状態で
バッファレール機構の設置が可能となる。
また、バッファレール機構に送られてくるＩＣは加熱状
態にあるので、これの冷却を促進する機能も果たす。
〔実施例〕
本考案の一実施例を図面により詳細説明する。
第１図は本考案のバッファレールの側面図を示す。図面
では12はエアーノズルを示し、バッファレール５の底面
に斜めの方向に開口している。
ＩＣパッケージ13は上記エアーノズル12により浮力が与
えられ、またエアーの吹き出し方向がＩＣの移動方向に
向けられているので容易にバッファレールの下部に押し
出される。
上記構造のバッファレール機構を使用した結果、従来40
度以上を必要とした傾斜角度は本考案により約20度で容
易に下方に滑ることが判明した。
このため従来バッファレール機構部のみで約40ｃｍの高
さを必要としたが、本考案により約半分の20ｃｍの高さ
ですみ、ＩＣハンドラーの高さもそれだけ低く抑えられ
る。
また、試験のために約120℃に加熱されていたＩＣの冷
却も強制的な空冷により数分の１の時間に短縮される。
このためプラスチック製のコンテナーに熱変形を与える
ようなトラブルも皆無とすることが出来る。
〔考案の効果〕
以上に説明せるごとく、本考案のバッファレール構造を
採用することによりＩＣハンドラーの全体の構成を低く
することが可能となり、作業性を著しく向上するのに寄
与する。
【図面の簡単な説明】
第１図は本考案にかかわるバッファレール機構を説明す
る側面図、 第２図はＩＣハンドラーを説明する模式図、 第３図はバッファレール機構を説明する側面図、を示
す。 図面において、 １はローダー部、 ２はコンテナー、 ３は加熱部、 ４は測定台、 ５はバッファレール、 ６はアンローダー部、 ７，８，10はストッパー、 11はプッシュ機構、 12はエアーノズル、 13はＩＣパッケージ、 をそれぞれ示す。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項１】容器に収容されたＩＣパッケージを該容器
    から測定台に供給したのち、該測定台において室温と異
    なる温度条件下で前記ＩＣパッケージの測定試験を行
    い、試験が終了した該ＩＣパッケージをバッファレール
    を介して再び容器へ収容するＩＣハンドラーにおいて、 傾斜して配置された前記バッファレール(5)の底面に、
    前記ＩＣパッケージの輸送方向に向けた開口部をもつエ
    アーノズル(12)を複数個設け、該エアーノズル(12)から
    供給されるエアーにより前記ＩＣパッケージに浮力を与
    えるようにしたことを特徴とするＩＣハンドラーのバッ
    ファレール機構。
JP1985136113U 1985-09-04 1985-09-04 Ｉｃハンドラ−のバツフアレ−ル機構 Expired - Lifetime JPH065649Y2 (ja)

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JPS6244282U JPS6244282U (ja) 1987-03-17
JPH065649Y2 true JPH065649Y2 (ja) 1994-02-09

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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2761589B2 (ja) * 1988-12-29 1998-06-04 昭和アルミニウム株式会社 熱交換器
JPH0755504Y2 (ja) * 1989-09-08 1995-12-20 日立電子エンジニアリング株式会社 Ｉｃデバイスのプリヒート装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4630U (ja) * 1971-02-22 1971-09-13
JPS5324269U (ja) * 1976-08-09 1978-03-01

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JPS6244282U (ja) 1987-03-17

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