JPS5831407Y2 - 電子部品用ハンドリング装置 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は電子部品の検査装置に関し、とくにテ゛ユアル
インラインパッケージ形半導体集積回路（以下、ＤＩＰ
形ＩＣと称する）の検査選別工程におけるＩＣハンドリ
ング装置（以下、ハンドラーと称する）に関する。

従来、第１図の斜視図に示すように、ＩＣの選別工程に
おいて、テスター１とテストステーション２の動作チェ
ック及び、テストプログラムの良否判定を行うために、
テストステーション２に良品ＩＣサンプル６をセットし
ていた。

しかし、上記の方法では、テスター１とテストステーシ
ョン２の動作とテストプログラムの良否のチェックのみ
できるが、システム（テスター１、テストステーション
２、ハンドラー３とテストプログラムの総合されたもの
。

）のチェックはなされていない。又、システムのチェッ
クを行うためには、ハンドラー３の供給部ユニツ）３ａ
と収納部ユニツ）３ｂを取り除き、ハンドラー３に良品
ＩＣサンプル６をセットする必要が生じる。

しかし、最近ハンドラーも高速化し、複数のマ〃゛ジン
４からなる供給部ユニット３ａと収納ユニツ）３ｂが大
容量化しつつある。

従って１．良品ＩＣサンプル６をハンドラー３にセット
して、測定部５を介してチェックすることは、長時間ハ
ンドラー３を停止させるので非常に低能率となり困難で
゛あった。

本考案の目的は、システムチェックが随時可能なハンド
ラーを提供することにある。

本考案によれば、測定部を有するハンドラーの測定部に
良品サンプルを導入出する手段を備えることを特徴とす
る電子部品用ハンドリング装置が得られる。

とくに本考案によれば、電子部品の供給部と、この供給
部に連結される測定部と、この測定部に連結される収納
部とを備える電子部品のハンドリング装置において、供
給部と測定部との間に在って、良品サンプルを測定部へ
供給する手段と、測定部と収納部との間に在って良品サ
ンプルを測定部から離脱させる手段とを含んで構成され
ることを特徴とする電子部品用ハンドリング装置が得ら
れる。

以下、本考案を実施例に基き図面を用いて説明すると、
第２図は、ＩＣが直線的に流れるタイプのハンドラーの
測定部付近の斜視図であり、通常の動作は、未選別ＩＣ
７が可動レール９ａを通過し、測定部１１に入る。

測定後、ＩＣ７は可動レール１４ａを通過し、ＩＣの特
性判定が、良ならば不良除去レール１６の上を流れて、
収納マガジン（図は省略しである）に入る。

又、ＩＣ７の特性判定が、・不良ならば不良除去レール
１６が移動して、ＩＣ７は不良収納箱（図は省略しであ
る。

）に入る。まえもって良品ＩＣサンプル６は可動レール
９ｂ上にセットされている。

上記通常動作を停止させて、可動レール９，１４を同時
に移動させると、良品ＩＣサンプル６はストッパー１０
を離れた可動レール９ｂから測定部１１・に入り、チェ
ックを行い、チェック後、可動レール１４ ｂに至る。

この時、可動レール１４ｂはストッパー１５を備えてい
るので、可動レール１４．ｂ上で停止する。

以上１こより、テスト判定が良ならば、システムチェッ
クは良となる。

□ 第３図は、ＩＣが円弧上を流れるタイプのハンドラ
ーの動作を説明する主面図であり、通常の動作は、未選
別ＩＣ７が固定レール８を通過し、ターレット１９に形
成された溝２０に入る。

この時シャッター１８３．１８ ｂは開いていて、シャ
ッター１８０゜１８ｄは閉じている。

溝２０に入ったＩＣ７は、ターレット１９が矢印３０め
方向に回転するので、測定部５に入り、測定後再びター
レット１９が回転するので、不良除去レール１６の手前
まで移動する。

ＩＣ７の特性判定が良ならば、不良除去レール１６の上
を流れ、収納÷ガジン４に入る。

又、ＩＣ７の特性判定が不良ならば不良除去レール１６
が移動して、ＩＣ７は不良収納箱２１に入る。

まえもって、良品ＩＣサンプル６ ッター１８ ａ 、１８ ｂは閉、シャッター１８ Ｃ
、１８ ｄは開となるように動作させると、夕＝レッ
ト・１９の回転により良品ＩＣサンプル６１よ測定部５
まで運ばれ、チェックを行う。

チェック後、再びターレット１９の回転により、良品Ｉ
Ｃサンプル６はストッカー２３の手前まで運ばれ、スト
ッカー２３に入る。

以上により、テスト判定が良ならばシステムチェックは
良となる。

従って、本考案によれば、システムチェックが可能とな
るように、良品ＩＣサンプル６を装置内に保持し、随時
チェックできる機構を持つハンドラーが得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図は選別工程の構成斜視図。 第２図および第３図は本考案によるふたつの実施例をそ
れぞれ示す斜視・図および正面図。 １・・・・・・テスター；２・・・・・・テストステー
ション；３・・・・・・ハンドラー；４・・・・・・マ
ガジン； ５，１１・・・・・・測定部：６・・・・・
・良品ＩＣサンプル；７・・・・・・ＩＣ；８・・・・
・・供給部ユニットと可動レールとの継ぎレール；９ａ
，９ｂ 、１４ ａ 、１４ ｂ・・・・・・可動レー
ル； １０，１５・・・・・・ストッパー；１２・・・
・・・可動ストッパー′；１３・・・・・・接触子；１
６・・・・・・不良除去レール；１７・・・・・・収納
部ユニットと不良除去レールとの継ぎレール； １８
ａ ）ｇ ｂ 、１８Ｃ，１８ｄ・・・□・・・シャッ
ター；１９・・・・・・ターレット；２０・・・・・・
溝；２１・・・・・・不良収納箱；２２，２３・・・・
・・ストッカー。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 被測定電子部品が測定部へ供給され、該測定部で測定さ
   れた後にその良否が判定され、良品、不良品が各々の収
   納部へ収納される電子部品用ハンドリング装置において
   、測定部の機能を判定する良品の電子部品を保持する手
   段と、前記測定部へ前記被測定電子部品の代りに前記測
   定部の機能を判定する良品の電子部品を供給する手段と
   、該判定部の機能を判定する良品の電子部品を前記測定
   部で測定して該測定部の機能の良否を判定する手段と、
   該測定部の機能を判定する良品の電子部品を前記被測定
   電子部品とは別に収納する手段とを有することを特徴と
   する電子部品用ハンドリング装置。