JPH0656710U - 光学式変位測定装置 - Google Patents

光学式変位測定装置

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JPH0656710U
JPH0656710U JP86893U JP86893U JPH0656710U JP H0656710 U JPH0656710 U JP H0656710U JP 86893 U JP86893 U JP 86893U JP 86893 U JP86893 U JP 86893U JP H0656710 U JPH0656710 U JP H0656710U
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康彦 小野寺
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ソニーマグネスケール株式会社
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 測長の基準となるスケール4と、このスケー
ルに対して相対的に移動するテーブルに取り付けた検出
ヘッド部3から成るスケール装置において、移動する検
出ヘッド部3にケーブルを接続しないようにすること。 【構成】 発光部1と受光部2をスケール4の端部近傍
の固定位置に設け、発光部1から、スケール4に添って
移動する検出ヘッド部3にスケール読取用の光を供給
し、受光部2で検出ヘッド部3からの光を受光するよう
にする。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、工作機械や測定器等の分野において、測定物の直線移動や回転移動 の移動量を検出する光学式変位測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来の光学式変位測定装置は、主として、図5、図7、図9及び図11に示す ような構成をとっている。すなわち、図5に示す如く、検出ヘッド部3に発光部 1及び受光部2を取り付け、その検出ヘッド部3と、電気信号処理装置5との間 をケーブル6で接続するか、図7に示す如く、検出ヘッド部3とスケールの一端 に設けられたコネクタ部10をケーブル6で接続して可動部に接続するケーブル 6の長さを短くするとともに、コネクタ部10と電気信号処理装置5の間を他の ケーブル9で接続するか、図9に示す如く、検出ヘッド部3をプランジャ7によ って固定部8に取り付け、発光部1の電源供給や受光部2からの検出信号伝送の ためのケーブル6はプランジャ内をはわせて固定部8へ取り出し、この固定部8 と電気信号処理装置5の間をケーブル9で接続している。
【0003】 さらに他の構成によれば、図11に示す如く、検出ヘッド部3には受光部2の みを搭載し、発光部1を別の位置に設けるようにする。この場合も測定信号を伝 送するため検出ヘッド部3と電気信号処理装置5とをケーブル6で接続する。 上述の構成を用いた従来の光学式変位測定装置として、図13及び図14に示 すように、可動テーブル11にスケール4を取り付け、検出ヘッド3を固定部( ベッド)12に取り付け、検出ヘッド3からの信号ケーブル6は固定部12に固 定したものがある。
【0004】 これらの例では、検出ヘッド部3が固定位置に取り付けられているので、ケー ブル6に繰り返し曲げ力等の力が加わることはないが、図13のの例のようにテ ーブル11が大きい場合はテーブルの可動長を長くすることができない。この不 都合を無くすためには図14に示す如くテーブル11を小さくしてスケールを長 くすればよい。
【0005】
【考案が解決しようとする課題】
しかしながら、図14に示すような装置にする場合には、テーブル長がスケー ル長よりも短い為に、テーブル11を可動長の最大まで移動させると、図15に 示す如く、テーブル11に取り付けられたスケール部4がベッド部12より突出 してしまう。従って、少スペースに取り付けるには適していない。
【0006】 この不都合を無くすために、図16に示すように、検出ヘッド部3を移動テー ブル11に取り付け、スケール4を固定側(ベッド12)に取り付ける構造とす ることができるが、この構造によれば、テーブルの可動範囲2A′は大きくとれ 、しかもC>2A′+B′の関係になっているので、図17に示すように、テー ブル11が可動範囲の最大位置(左端又は右端)まで動いてもヘッド12の端部 を越えて外に突出することはない。
【0007】 しかし、この構造では、移動テーブル11に検出ヘッド部3が取り付けられて おり、そこからケーブル6を介して信号を取り出すようになっているから、図1 7に示すとおりケーブル6に繰り返し曲げ力が加わり、ケーブルの信頼性が低下 し、さらには断線の原因ともなる。それを回避するには、屈曲に強いケーブルを 必要とする。また、ケーブルのとり回しにも考慮する必要がある。
【0008】 前述の図5の構成で、検出ヘッド部3を可動にすると図6に示す構造となるが 、これによれば、検出ヘッド部3がテーブル11と共に移動するので、ケーブル の信頼性及びとり回しに難がある。
【0009】 図8、図10に示すようにスケール部4をテーブル11の可動範囲外に置くと 、無駄なスペースができてしまう。
【0010】 図11について前述した構成は、図12のようにして実現できるが、このよう にしても、依然として移動する受光部2からケーブルを引き出さなければならな いので、ケーブルの信頼性やケーブルのとり回しに難点がある。
【0011】 本考案の光学式変位測定装置は上述の点に鑑みてなされたものであり、可動部 にケーブルを接続しないようにして、ケーブルの信頼性を向上し、かつ、ケーブ ルのとり回しが容易な装置を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】
本考案の光学式変位測定装置は、例えば図1に示す如く、検出ヘッド部3をミ ラー、ビームスプリッタ等の光学系素子のみで構成し、従来検出ヘッド部3に搭 載していた発光部1と受光部2を検出ヘッド部3から取り除き、スケールの端部 近傍の固定位置に配設している。そうして、受光部2と電気信号処理装置5との 間をケーブル9で接続している。なお、受光部2と電気信号処理装置5とは一体 に形成してもよい。
【0013】
【作用】
本考案は、上述の構成をとることにより、移動する検出ヘッド部3に対してケ ーブルを接続する必要がなくなるので、ケーブルが屈曲することによるケーブル の信頼性の低下や破損を無くすことができる。
【0014】 また受光部2と、電気信号処理装置5との間はケーブル9で接続するが、これ らは固定位置にあるのでケーブルに屈曲力が繰り返して加わることはない。そう して、ケーブルのとり回しも容易にできる。
【0015】
【実施例】
図1(a)を参照して、本考案の光学式変位測定装置の一実施例の説明をする 。
【0016】 図示の如く、スケール読み取りのための発光部1と受光部2を検出ヘッド部3 の移動範囲外の定位置に設置し、検出ヘッド部3は後述するとおり反射鏡やビー ムスプリッタ等でなる簡単な光学系で構成する。受光部2の出力端子はケーブル 9によって電気信号処理装置5に接続されている。なお、この電気信号処理装置 5は計数器等で構成される。
【0017】 図2は上記検出ヘッド部3の具体的構造の一例を示す。図において、31,3 2はミラー、33はビームスプリッタ、34は三角ミラー、35及び36はλ/ 4板である。
【0018】 図示の装置において、発光部1から出射したレーザ光はミラー32で方向を変 えてビームスプリッタ33に入射し、そこでこのビームスプリッタを透過して直 進する光aと、反射面で反射されて出射する光bに分割され、それぞれスケール 4上のA点、B点に投射する。
【0019】 スケール4は微細回折格子で成り、上記投射レーザ光a,bはスケール4上の 回折格子で回折を受けた後それぞれ三角ミラー34に向けて進む。三角ミラー3 4で反射したレーザ光aはλ/4板を往復するので偏波面を90°回転し、再び スケール4上のA点を経てビームスプリッタ33に入射し、今度はビームスプリ ッタの反射面で反射してミラー31に向かう。 他方、レーザ光bは三角ミラー34で反射されてスケール4上のB点を経てビ ームスプリッタ33に戻るが、その際、λ/4板35を往復して偏波面を90° 回転しているので、今度はビームスプリッタを透過して直進する。従って、ビー ムスプリッタの出力は、レーザ光aとレーザ光bが干渉し、その干渉強度によっ て検出信号を表わす光信号となる。この光信号を受光部2で受光することにより 、スケール(回折格子)読み取りが行なわれる。
【0020】 次に図1(a)の装置の動作について説明する。発光部1から出射したレーザ 光は検出ヘッド部3に伝達され、そこでスケール4上の目盛を読み取り、読み取 り情報を有する光信号を受光部2に送り返す。受光部2は光信号を電気信号に変 換し、ケーブル9を介して電気信号処理装置5に伝える。
【0021】 検出ヘッド部3は、テーブルの移動に伴ってスケール4に添って移動するが、 発光部1から検出ヘッド部3への光、及び検出ヘッド部3から受光部2への光は コリメート光でスケールとほぼ平行になっているので検出ヘッド部3の位置によ って影響を受けることはない。
【0022】 受光部2と電気信号処理装置5の間はケーブル9で接続されているが、受光部 2も電気信号処理装置5も固定されているのでケーブルに好ましくない力が働く ことはない。また、ケーブルのとり回しも容易である。
【0023】 上述の構成において、スケール4と検出ヘッド部3を、例えば図1(b)に示 すように、アルミ押出し材等のケースに収め、そのケースの端部に発光部1と受 光部2を配設することにより、光路を保護することができる。
【0024】 次に図3によって、本考案の光学式変位測定装置の他の実施例の説明をする。 この実施例は、発光部1と受光部2が別の位置、すなわち、スケール4の両端に 配置されている点を除いて第1実施例の光学式変位測定装置と同じである。
【0025】 検出ヘッド部3は図4に示したとおりのものが使われるが、これは図2に示し たものとほぼ同じで、相違する点は、ミラー31の傾向きが出射光を入射光と反 対側へ出すように配向されていることのみである。
【0026】 図3の実施例においても移動部(検出ヘッド部3)に対してケーブルを接続す る必要がない。そうして、受光部2と電気信号処理装置5はケーブル9で接続さ れているが、受光部2も電気信号処理装置5も固定位置に設置されているので、 ケーブルに悪い影響を与える力が加わることはない。
【0027】
【考案の効果】
本考案によれば検出ヘッド移動方式の光学式変位測定装置において可動部であ る検出ヘッド部3にケーブルを接続する必要がないので、従来装置の欠点である ケーブルに屈曲力が繰り返しかかり、ケーブルの信頼性が低下すると云う欠点が なくなる。
【0028】 発光部1、受光部2を検出ヘッド部3から取り除いたことにより検出ヘッド部 3が小型化でき、かつ軽量化できるので摺動抵抗を小さくできる。
【0029】 さらに、発光部1、受光部2等の発熱源を検出部から遠ざけることができるの で、装置の高精度化に適している。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1(a)及び図1(b)は本考案光学式変位
測定装置の一実施例を示す図である。
【図2】図1の光学式変位測定装置に用いられる検出ヘ
ッド部3の1例を示す図である。
【図3】本考案光学式変位測定装置の他の実施例を示す
図である。
【図4】図3の光学式変位測定装置に用いられる検出ヘ
ッド部3の1例を示す図である。
【図5】従来の光学式変位測定装置の1例を示す図であ
る。
【図6】図5の装置の構造の1例を示す斜視図である。
【図7】従来の光学式変位測定装置の他の例を示す図で
ある。
【図8】従来の光学式変位測定装置の他の例を示す斜視
図である。
【図9】従来の光学式変位測定装置の他の例を示す図で
ある。
【図10】従来の光学式変位測定装置の他の例を示す斜
視図である。
【図11】従来の光学式変位測定装置の他の例を示す図
である。
【図12】図11の装置の構造の1例を示す図である。
【図13】テーブルとスケールとベッドの大きさ関係を
示す図である。
【図14】テーブルとスケールとベッドの大きさ関係を
示す図である。
【図15】スケールがベッドの両端を越えて突出するこ
とを示す図である。
【図16】検出ヘッド部へのケーブルの取り付けを示す
図である。
【図17】ケーブルの屈曲を示す図である。
【符号の説明】
1 発光部 2 受光部 3 検出ヘッド部 4 スケール 5 電気信号処理装置 9 ケーブル

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 移動体に取付けた検出ヘッド部と、固定
    位置に取付けたスケールによって移動体の変位量を測定
    する光学式変位測定装置において、 光学系素子のみで組立てた検出ヘッド部と、該検出ヘッ
    ド部へ読取光を供給する発光部と、 該検出ヘッド部からの変位信号光を受光する受光部と、 受光部で電気信号に変換された変位信号を処理する電気
    信号処理装置と、 を具備し、 上記発光部、受光部及び電気信号処理装置を固定位置に
    取り付けて成る光学式変位測定装置。
JP1993000868U 1993-01-18 1993-01-18 光学式変位測定装置 Expired - Lifetime JP2597252Y2 (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100393282B1 (ko) * 2000-07-20 2003-07-31 (주)세기엔지니어링 광도파로를 이용한 미세 길이 및 기울기 측정장치 및 방법
KR100393281B1 (ko) * 2000-07-20 2003-07-31 (주)세기엔지니어링 광학소자를 이용한 길이 및 경사도 측정장치 및 방법

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JPS6378212U (ja) * 1986-11-10 1988-05-24

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