JPH0656772U - 電子計測器用コンタクトプローブの保持装置 - Google Patents
電子計測器用コンタクトプローブの保持装置Info
- Publication number
- JPH0656772U JPH0656772U JP380093U JP380093U JPH0656772U JP H0656772 U JPH0656772 U JP H0656772U JP 380093 U JP380093 U JP 380093U JP 380093 U JP380093 U JP 380093U JP H0656772 U JPH0656772 U JP H0656772U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- contact probe
- wiring pattern
- movable member
- holder
- measuring instrument
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 可動部材の上面に所定の配線パターンを形成
したプリント基板を固着し、このプリント基板の配線パ
ターンのランド部にコンタクトプローブのホルダー部を
半田付けしてなる電子計測器用コンタクトプローブの保
持装置を得るにある。 【構成】 可動部材の上面に固着したプリント基板に、
被測定対象である電子部品の検査回路に対応する所定の
配線パターンをプリントし、この配線パターンのランド
部より可動部材まで貫通したピン穴にコンタクトプロー
ブのホルダー部を挿入し、上記コンタクトプローブのホ
ルダー部と配線パターンのランド部とを半田付けにより
導通状態に固着したことを特徴とする電子計測器用コン
タクトプローブの保持装置。
したプリント基板を固着し、このプリント基板の配線パ
ターンのランド部にコンタクトプローブのホルダー部を
半田付けしてなる電子計測器用コンタクトプローブの保
持装置を得るにある。 【構成】 可動部材の上面に固着したプリント基板に、
被測定対象である電子部品の検査回路に対応する所定の
配線パターンをプリントし、この配線パターンのランド
部より可動部材まで貫通したピン穴にコンタクトプロー
ブのホルダー部を挿入し、上記コンタクトプローブのホ
ルダー部と配線パターンのランド部とを半田付けにより
導通状態に固着したことを特徴とする電子計測器用コン
タクトプローブの保持装置。
Description
【0001】
本考案は、両電極間の変位を測定したり、IC回路等の検査をしたりする電子 計測器用コンタクトプローブの保持装置に関する。
【0002】
一般に、プローブを用いて電子回路等の検査を行うに当たっては、被測定対象 である電子部品のリード部や回路上の端子等の被測定部に、コンタクトプローブ の先端の針状測定子を押し当てて計測し、リード線を介して検査回路部からCP U(中央処理装置)に信号を伝達するように構成された電子計測器が知られてい る。
【0003】 ここで、図4に基づいて、従来の電子計測器の構造を説明する。まず、コンタ クトプローブ1は、アクリル樹脂等の絶縁体により成形された可動部材2に保持 されるホルダー部1aと、このホルダー部1aの内部に導通自在に挿入され、ス プリングにより上下動可能な針状接触子1bとにより構成されている。上記コン タクトプローブ1のホルダー部1aは、可動部材2の所定位置に穿設された取付 穴に圧入されており、このホルダー部1aの後端部には、専用の検査回路部3に 信号を伝達するリード線4が半田付け5等により接続されている。そして、上記 検査回路部3には、コネクタケーブル6を介してCPU7が接続されている。
【0004】 上述したように構成されたコンタクトプローブによる電子計測器を用いて、被 測定対象である電子部品8のIC回路等を検査する場合は、可動部材2に保持し たコンタクトプローブ1の針状接触子1bを電子部品8の回路パターンの所定位 置に押し当てる。そして、取り出した信号をリード線4から検査回路部3に導き 、さらにコネクタケーブル6よりCPU7に伝達されて所定の計測がなされるも のである。なお、計測時にコンタクトプローブ1の針状接触子1bは、被測定対 象である電子部品8の回路パターンに押し当てると外力により縮み、非計測時は 元の状態に戻るので、所定の接触圧で計測することができる。
【0005】
しかしながら、上記従来構造の電子計測器では、コンタクトプローブ1を可動 部材2の取付穴に圧入によって保持しているので、計測時に針状接触子1bを被 測定対象物に押し当てると、取付穴のゆるみによりホルダー部1aが上下に移動 して安定した接触圧が得られなかったり、ガタついてリード線4の半田付け部が 剥離する等の問題があった。また、各コンタクトプローブ1のホルダー部1aに リード線4を手作業により半田付けしているので半田不良を生じたり、あるいは 狭いコンタクトプローブの取付け間隔で多数の結線をするので作業が面倒である と共に、配線ミスを起こすことがある等の問題があった。
【0006】 本考案の目的は、上記従来構造の課題を解決するためになされたものであり、 可動部材の上面に所定の配線パターンを形成したプリント基板を固着し、このプ リント基板の配線パターンのランド部にコンタクトプローブのホルダー部を半田 付けしてなる電子計測器用コンタクトプローブの保持装置を得るにある。
【0007】
このような目的を達成するために、本考案による電子計測器用コンタクトプロ ーブの保持装置は、可動部材の上面に固着したプリント基板に、被測定対象であ る電子部品の検査回路に対応する所定の配線パターンをプリントし、この配線パ ターンのランド部より可動部材まで貫通したピン穴にコンタクトプローブのホル ダー部を挿入し、上記コンタクトプローブのホルダー部と配線パターンのランド 部とを半田付けにより導通状態に固着したことを特徴とするものである。
【0008】
このような構成に基づいて、本考案の電子計測器用コンタクトプローブの保持 装置では、可動部材に固着したプリント基板の配線パターンのランド部に、可動 部材まで貫通したピン穴を形成し、このピン穴にコンタクトプローブのホルダー 部を挿入し、上記コンタクトプローブのホルダー部と配線パターンのランド部と を半田付けにより導通状態に固着したので、コンタクトプローブのホルダー部が 、プリント基板に確実に固着され、コンタクトプローブによる計測中にホルダー 部が上下に動いたりガタついたりすることもなく、メンテナンスの容易な信頼性 の高い電子計測器を得ることができる。
【0009】
以下本考案の実施例を図面に基づいて説明する。
【0010】 図1は、本考案の実施例による電子計測器の概略構成を示す斜視図、図2は図 1の要部を示す縦断面図であり、従来構造と対応する同一部品には同じ符号を付 して説明する。まず、アクリル樹脂等の絶縁体により成形された可動部材10の 上面には、プリント基板11が一体的に固着されており、このプリント基板11 の上面には被測定対象である電子部品8の検査回路に対応する所定の配線パター ン12がプリントされている。
【0011】 上記プリント基板11の配線パターン12には、専用のIC回路等を内蔵した 検査回路部13が接続されており、この検査回路部13の出力側から導出された リード線14が、プリント基板11の端部に設置されたコネクタ15に接続され ている。また、上記プリント基板11のコネクタ15には、コネクタケーブル6 を介してオッシロスコープ等の表示部を備えたCPU7が接続されている。
【0012】 一方、上記可動部材10の上面に固着されたプリント基板11の配線パターン 12のランド部には、可動部材10まで貫通するピン穴16が穿設されている。 そして、上記ピン穴16には、コンタクトプローブ1のホルダー部1aが挿入さ れると共に、コンタクトプローブ1のホルダー部1aと配線パターン12のラン ド部とが半田付け17により導通状態に固着されている。さらに、上記ホルダー 部1aの内部には、スプリングにより上下動可能な針状接触子1bが導通状態に 挿入されている。
【0013】 したがって、上述したように構成された本考案の実施例によれば、可動部材1 0の上面に固着されたプリント基板11に、被測定対象である電子部品8の検査 回路に対応する所定の配線パターン12がプリントされ、この配線パターン12 のランド部より可動部材10まで貫通したピン穴16に挿入されたコンタクトプ ローブ1のホルダー部1aが、配線パターン12のランド部に半田付け17によ り導通状態に固着されているので、従来構造のように、コンタクトプローブにリ ード線を一本一本半田付けする等の手作業がなくなり、半田ミスや配線ミスもな く組立てが容易である。また、コンタクトプローブ1のホルダー部1aは、可動 部材10と一体なプリント基板11に確実に固着されるので、計測中にホルダー 部1aが上下に動いたりガタついたりすることもなく、しかも外観上も簡素化さ れてメンテナンスの容易な信頼性の高い電子計測器を得ることができる。
【0014】 図3は、本考案の他の実施例による電子計測器の概略構成を示す斜視図であり 、アクリル樹脂等のベース20の上面に固着されたプリント基板21の上面には 、被測定対象である電子部品8の検査回路に対応する所定の配線パターン22が プリントされ、この配線パターン22に検査回路部23が接続されている。そし て、上記配線パターン22のランド部には、ベース20まで貫通するピン穴が穿 設され、このピン穴にコンタクトプローブ1のホルダー部1aが挿入されると共 に、ホルダー部1aと配線パターン22のランド部とが半田付け17により導通 状態に固着されている。さらに、上記ベース20の延長部上面には、表示部等を 備えたCPU25が接続されているプリント基板26が固着されている。そして 、上記検査回路部23の出力側に設置されたコネクタ24には、CPU25側の プリント基板26に設置されたコネクタ27が直接接続された構造になっている 。なお、この場合は、非測定対象である電子部品8を可動させて回路計測を行う ものであり、本考案の実施例と同様の効果を奏することができる。
【0015】
以上詳細に説明したように、本考案による電子計測器用コンタクトプローブの 保持装置によれば、可動部材の上面に固着したプリント基板に、被測定対象であ る電子部品の検査回路に対応する所定の配線パターンをプリントし、この配線パ ターンのランド部より可動部材まで貫通したピン穴にコンタクトプローブのホル ダー部を挿入し、上記配線パターンのランド部とホルダー部とを半田付けにより 導通状態に固着したので、従来構造のように、コンタクトプローブにリード線を 一本一本半田付けする等の手作業がなくなり、半田ミスや配線ミスもなく組立て が容易である。また、コンタクトプローブのホルダー部は、プリント基板に確実 に固着されるので、計測中にホルダー部が上下に動いたりガタついたりすること もなく、しかも外観上も簡素化されてメンテナンスの容易な信頼性の高い電子計 測器を得ることができる。
【図1】本考案の実施例による電子計測器の概略構成を
示す斜視図である。
示す斜視図である。
【図2】図1の要部を示す縦断面図である。
【図3】本考案の他の実施例による電子計測器の概略構
成を示す斜視図である。
成を示す斜視図である。
【図4】従来構造による電子計測器の概略構成を示す斜
視図である。
視図である。
1 コンタクトプローブ 1a ホルダー部 1b 針上接触子 10 可動部材 11 プリント基板 12 配線パターン 13 検査回路部 16 ピン穴 17 半田付け
Claims (1)
- 【請求項1】 可動部材の上面に固着したプリント基板
に、被測定対象である電子部品の検査回路に対応する所
定の配線パターンをプリントし、この配線パターンのラ
ンド部より可動部材まで貫通したピン穴にコンタクトプ
ローブのホルダー部を挿入し、上記コンタクトプローブ
のホルダー部と配線パターンのランド部とを半田付けに
より導通状態に固着したことを特徴とする電子計測器用
コンタクトプローブの保持装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP380093U JPH0656772U (ja) | 1993-01-14 | 1993-01-14 | 電子計測器用コンタクトプローブの保持装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP380093U JPH0656772U (ja) | 1993-01-14 | 1993-01-14 | 電子計測器用コンタクトプローブの保持装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0656772U true JPH0656772U (ja) | 1994-08-05 |
Family
ID=11567279
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP380093U Pending JPH0656772U (ja) | 1993-01-14 | 1993-01-14 | 電子計測器用コンタクトプローブの保持装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0656772U (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9332636B2 (en) | 2009-12-15 | 2016-05-03 | SDCmaterials, Inc. | Sandwich of impact resistant material |
-
1993
- 1993-01-14 JP JP380093U patent/JPH0656772U/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9332636B2 (en) | 2009-12-15 | 2016-05-03 | SDCmaterials, Inc. | Sandwich of impact resistant material |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH08114623A (ja) | 電気試験プローブ用位置決め装置 | |
| JP2000131340A (ja) | コンタクトプローブ装置 | |
| JPH065320A (ja) | 接続回路のチェック装置 | |
| JP2004273192A (ja) | コネクタ検査用治具 | |
| JPS6058831B2 (ja) | 電子部品の特性検査治具 | |
| JP2759451B2 (ja) | プリント基板検査治具 | |
| JP2002005959A (ja) | 同軸型コンタクトプローブ及び多点測定用コンタクトプローブ | |
| JPH0611462Y2 (ja) | 基板検査用コンタクトプローブ | |
| JP2007064841A (ja) | 電子部品試験装置用のキャリブレーションボード | |
| JPH0648422Y2 (ja) | プローブ | |
| JPH0627782B2 (ja) | 集積回路測定用接続装置 | |
| JPH0656401B2 (ja) | 検査装置 | |
| JPS6111907Y2 (ja) | ||
| JP2000147067A (ja) | プローブカードの位置決め機構 | |
| JPH0442783Y2 (ja) | ||
| JP2601680Y2 (ja) | 接地基板つきオートハンドラ用コンタクトボード | |
| JPH05242939A (ja) | Plcc測定用icソケット | |
| JP2528910Y2 (ja) | コンタクトプローブ支持カバー | |
| JPS6336281Y2 (ja) | ||
| JPH06294815A (ja) | 実装部品の検査方法 | |
| JPS5926289Y2 (ja) | プリント基板検査用治具 | |
| JP3005496U (ja) | 電気特性検査用プローブ | |
| JPH10190181A (ja) | プリント基板及びその検査方法 | |
| JPH0523627B2 (ja) | ||
| JPH0772212A (ja) | Lsi測定ボード |