JPH0657631B2 - 液相エピタキシヤル成長法 - Google Patents
液相エピタキシヤル成長法Info
- Publication number
- JPH0657631B2 JPH0657631B2 JP60246395A JP24639585A JPH0657631B2 JP H0657631 B2 JPH0657631 B2 JP H0657631B2 JP 60246395 A JP60246395 A JP 60246395A JP 24639585 A JP24639585 A JP 24639585A JP H0657631 B2 JPH0657631 B2 JP H0657631B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- epitaxial growth
- liquid phase
- growth
- plane
- crystal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、GaP基板上に液相エピタキシーによって緑色
系発光ダイオード用のエピタキシャル層を形成する方法
に係るものである。
系発光ダイオード用のエピタキシャル層を形成する方法
に係るものである。
GaP基板上に液相法によってエピタキシャル層を形成す
る場合、基板を(111)面で切出したのち、通常基板表
面の平滑化の為に王水(HNO3:HCl=1:3)によるエ
ッチング処理が行われる。50℃5分間の処理によって、
基板表面はいわゆる鏡面となる。しかしながら、GaPの
結晶構造は(111)面において表面にPが現われている
面(P面と称す)と、Gaが現われている面(Ga面と称
す)とが1枚のウエハーの表と裏とをなす構造を持って
おり、前記処理によって鏡面となるのはP面である。従
ってこれまでGaPの液相エピタキシャル成長は、この鏡
面であるP面上のみに行われてきた。
る場合、基板を(111)面で切出したのち、通常基板表
面の平滑化の為に王水(HNO3:HCl=1:3)によるエ
ッチング処理が行われる。50℃5分間の処理によって、
基板表面はいわゆる鏡面となる。しかしながら、GaPの
結晶構造は(111)面において表面にPが現われている
面(P面と称す)と、Gaが現われている面(Ga面と称
す)とが1枚のウエハーの表と裏とをなす構造を持って
おり、前記処理によって鏡面となるのはP面である。従
ってこれまでGaPの液相エピタキシャル成長は、この鏡
面であるP面上のみに行われてきた。
ところでGaP緑色系発光ダイオード用結晶成長におい
て、酸素の混入があると、p型成長層中で赤色発光の中
心をつくり、発光スペクトル中に赤色成分が混入し、純
粋な緑色が得られないので好ましくない。しかし従来の
方法ではこの赤色成分を一定レベル以下に下げる事は出
来ず、輝度の高い純粋な緑色発光を得ることが困難であ
った。エピタキシャル成長工程においては微量の酸素の
混入は避けられないが、本発明は微量のガス成分が存在
する場合でも、純緑色に近い光輝度の発光ダイオード用
エピタキシャル成長層を提供せんとするものである。
て、酸素の混入があると、p型成長層中で赤色発光の中
心をつくり、発光スペクトル中に赤色成分が混入し、純
粋な緑色が得られないので好ましくない。しかし従来の
方法ではこの赤色成分を一定レベル以下に下げる事は出
来ず、輝度の高い純粋な緑色発光を得ることが困難であ
った。エピタキシャル成長工程においては微量の酸素の
混入は避けられないが、本発明は微量のガス成分が存在
する場合でも、純緑色に近い光輝度の発光ダイオード用
エピタキシャル成長層を提供せんとするものである。
本発明者は結晶成長の面方位が、気相成分の結晶中への
導入に関係があるとの仮説を立て、一連の研究をした結
果、酸素(O)の気相成分の結晶中への偏析が、P面成
長に較べ、Ga面成長における方が小さい事が明らかとな
った。これにより本発明を完成するに至った。
導入に関係があるとの仮説を立て、一連の研究をした結
果、酸素(O)の気相成分の結晶中への偏析が、P面成
長に較べ、Ga面成長における方が小さい事が明らかとな
った。これにより本発明を完成するに至った。
GaPの(111)Ga面は通常の王水エッチングではなお微少
な凹凸を残しており、そのままエピタキシャル成長させ
たのでは完全な結晶層を成長させることはできない。
な凹凸を残しており、そのままエピタキシャル成長させ
たのでは完全な結晶層を成長させることはできない。
Ga面に完全な結晶層をエピタキシャル成長させるには、
Ga面を50μ以上の深さにわたってメルトバックしたの
ち、エピタキシャル成長させれば良いことが判明した。
50μ以上の深いメルトバックを行えば、必ずしも、基板
表面を事前に鏡面にしなくても良好な成長面が得られる
事がわかった。これによって本発明を工業的に実施する
に当り、基板表面の平滑化の為に、機械的研摩を不要と
する事につながり、利点が大きい。
Ga面を50μ以上の深さにわたってメルトバックしたの
ち、エピタキシャル成長させれば良いことが判明した。
50μ以上の深いメルトバックを行えば、必ずしも、基板
表面を事前に鏡面にしなくても良好な成長面が得られる
事がわかった。これによって本発明を工業的に実施する
に当り、基板表面の平滑化の為に、機械的研摩を不要と
する事につながり、利点が大きい。
メルトバックは通常の方法が利用できる。すなわち、エ
ピタキシャル成長に先立ってGaP基板のGa面上にGa溶液
を乗せ、高温にして一定時間保持する。Ga溶液とはGa液
であっても良いし、Pを含む溶液であっても飽和溶液に
なっていなければ良い。温度はPが溶解度を持つ550℃
以上であれば良く、好ましくは800℃以上である。
ピタキシャル成長に先立ってGaP基板のGa面上にGa溶液
を乗せ、高温にして一定時間保持する。Ga溶液とはGa液
であっても良いし、Pを含む溶液であっても飽和溶液に
なっていなければ良い。温度はPが溶解度を持つ550℃
以上であれば良く、好ましくは800℃以上である。
メルトバック深さは時間によって調整し、50μ以上とな
るように選択すれば良い。
るように選択すれば良い。
アズスライスのGaPn型基板を有機洗浄した後、通常のス
ライドボートを用いて、(111)Ga面にエピタキシャル
成長を行った。n層のエピタキシャル成長開始前にn型
GaP溶液を載せて820℃で30分間保持し、100μのメルト
バックを行った。次いで同じ溶液を載せて冷却を開始し
40μ厚のn層エピタキシャル成長を行った後、引続いて
40μのp層エピタキシャル成長を行った。この時成長雰
囲気はH2のみとした。
ライドボートを用いて、(111)Ga面にエピタキシャル
成長を行った。n層のエピタキシャル成長開始前にn型
GaP溶液を載せて820℃で30分間保持し、100μのメルト
バックを行った。次いで同じ溶液を載せて冷却を開始し
40μ厚のn層エピタキシャル成長を行った後、引続いて
40μのp層エピタキシャル成長を行った。この時成長雰
囲気はH2のみとした。
得られた結晶表面はP面に成長した結晶表面と同等の平
滑度であった。得られた結晶から作成した発光ダイオー
ドの発光スペクトルは550nmにピークを持ち、700nm近傍
の赤色成分は、従来のP面成長結晶から作成した発光ダ
イオードの赤色成分の約10分の1以下であった。この様
子を第1図に示す。なお発光輝度はGa面成長とP面成長
とで差は見られなかった。
滑度であった。得られた結晶から作成した発光ダイオー
ドの発光スペクトルは550nmにピークを持ち、700nm近傍
の赤色成分は、従来のP面成長結晶から作成した発光ダ
イオードの赤色成分の約10分の1以下であった。この様
子を第1図に示す。なお発光輝度はGa面成長とP面成長
とで差は見られなかった。
また、発光ピークはP面成長の発光ピークより約2nm短
波長側にずれており、より緑色性の強いダイオードが得
られた。
波長側にずれており、より緑色性の強いダイオードが得
られた。
本発明によって赤色成分が少くかつより短波長側にピー
クを持つGaP緑色発光ダイオードが得られた。
クを持つGaP緑色発光ダイオードが得られた。
なお、実施例には、窒素(N)を結晶中に発光中心とし
て含まない方法を示したが、Nを発光中心として含む結
晶の成長法に本発明を適用する事も可能である事は言う
までもない。
て含まない方法を示したが、Nを発光中心として含む結
晶の成長法に本発明を適用する事も可能である事は言う
までもない。
第1図は本発明を使用して得られた発光ダイオードの発
光スペクトルを示す図である。 図中実線は従来のP面成長による場合を示し、破線は本
発明のGa面成長による場合を示す。
光スペクトルを示す図である。 図中実線は従来のP面成長による場合を示し、破線は本
発明のGa面成長による場合を示す。
Claims (1)
- 【請求項1】GaP基板を用いて液相エピタキシャルによ
って緑色発光ダイオード用結晶層を成長させるに当り、
(111)−Ga面に結晶層を成長させる事を特徴とする液
相エピタキシャル成長法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60246395A JPH0657631B2 (ja) | 1985-11-05 | 1985-11-05 | 液相エピタキシヤル成長法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60246395A JPH0657631B2 (ja) | 1985-11-05 | 1985-11-05 | 液相エピタキシヤル成長法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62105995A JPS62105995A (ja) | 1987-05-16 |
| JPH0657631B2 true JPH0657631B2 (ja) | 1994-08-03 |
Family
ID=17147878
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60246395A Expired - Lifetime JPH0657631B2 (ja) | 1985-11-05 | 1985-11-05 | 液相エピタキシヤル成長法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0657631B2 (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5536983A (en) * | 1978-09-07 | 1980-03-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Liquid phase growth method |
| JPS5633852A (en) * | 1979-08-29 | 1981-04-04 | Hitachi Ltd | Manufacture of semiconductor device |
-
1985
- 1985-11-05 JP JP60246395A patent/JPH0657631B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62105995A (ja) | 1987-05-16 |
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