JPH0658353B2 - Ae計測装置 - Google Patents
Ae計測装置Info
- Publication number
- JPH0658353B2 JPH0658353B2 JP59162224A JP16222484A JPH0658353B2 JP H0658353 B2 JPH0658353 B2 JP H0658353B2 JP 59162224 A JP59162224 A JP 59162224A JP 16222484 A JP16222484 A JP 16222484A JP H0658353 B2 JPH0658353 B2 JP H0658353B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sensors
- measurement
- ultrasonic
- measuring device
- phase
- Prior art date
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/14—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object using acoustic emission techniques
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/07—Analysing solids by measuring propagation velocity or propagation time of acoustic waves
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/02—Indexing codes associated with the analysed material
- G01N2291/028—Material parameters
- G01N2291/02854—Length, thickness
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
- G01N2291/044—Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 (イ) 産業上の利用分野 本発明は、AE計測装置、特に超音波探傷機能を兼ね備
えたAE計測装置に関するものである。
えたAE計測装置に関するものである。
(ロ) 従来技術 AE(Acoustic Emission)計測法は、破壊力学試験にお
ける亀裂測定において、亀裂の開始や進展を高感度で検
出し、評定し得る優れた測定技術であり、破壊機構に関
する情報の取得に有利である。しかしながら、AE計測
法では亀裂長さの増大に伴うAEの放射が乏しいため、
亀裂長さの定量的測定には不向きである。一方、超音波
探傷測定法は、前記のような亀裂の進展開始の把握等、
破壊機構に関する情報の取得には不向きであるが、亀裂
長さの定量的測定は比較的高精度で行うことができる。
ける亀裂測定において、亀裂の開始や進展を高感度で検
出し、評定し得る優れた測定技術であり、破壊機構に関
する情報の取得に有利である。しかしながら、AE計測
法では亀裂長さの増大に伴うAEの放射が乏しいため、
亀裂長さの定量的測定には不向きである。一方、超音波
探傷測定法は、前記のような亀裂の進展開始の把握等、
破壊機構に関する情報の取得には不向きであるが、亀裂
長さの定量的測定は比較的高精度で行うことができる。
すなわち、前記二つの測定法は、材料の破壊機構及び破
壊状況の測定において、相補い合う関係にあり、両者を
組み合わせることにより新規の有用な亀裂進展測定手法
が確立するものと考えられる。
壊状況の測定において、相補い合う関係にあり、両者を
組み合わせることにより新規の有用な亀裂進展測定手法
が確立するものと考えられる。
(ハ) 目 的 したがって、本発明は、従来のAE計測技術と超音波探
傷試験技術とを組み合わせることにより、破壊力学的試
験における亀裂進展測定の系統的な実施を行うことがで
きるようにした新規の測定技術及び装置構成の確立を目
的とするものである。
傷試験技術とを組み合わせることにより、破壊力学的試
験における亀裂進展測定の系統的な実施を行うことがで
きるようにした新規の測定技術及び装置構成の確立を目
的とするものである。
(ニ) 構 成 上記の目的を達するため、本発明は、圧電素子、その他
の電気音響的トランスデューサ素子からなる少なくとも
2個のAEセンサを有するAE計測装置において、 前記少なくとも2個のAEセンサが試料片に対する破壊
力学試験の実施中においてその試料片の所定の部分から
それぞれ検出するAE信号を受けとって亀裂発生時点の
特定及び位置標定を行うAE計測相と、前記少なくとも
2個のAEセンサのうちの一つを超音波送信素子として
使用すべく付勢するとともに、他の少なくとも一つを超
音波受信素子として使用し、その超音波検出信号から亀
裂の定量測定を行う超音波探傷相とからなる二つの相動
作を行うことができる制御計測装置、及び 前記二つの相動作を選択的に実施するために前記少なく
とも2個のAEセンサを前記制御計測装置のAE検出ラ
イン、並びに超音波付勢及び検出ラインに選択的に接続
するための切り換えスイッチを備えたことを特徴とする
AE計測装置を構成するものである。
の電気音響的トランスデューサ素子からなる少なくとも
2個のAEセンサを有するAE計測装置において、 前記少なくとも2個のAEセンサが試料片に対する破壊
力学試験の実施中においてその試料片の所定の部分から
それぞれ検出するAE信号を受けとって亀裂発生時点の
特定及び位置標定を行うAE計測相と、前記少なくとも
2個のAEセンサのうちの一つを超音波送信素子として
使用すべく付勢するとともに、他の少なくとも一つを超
音波受信素子として使用し、その超音波検出信号から亀
裂の定量測定を行う超音波探傷相とからなる二つの相動
作を行うことができる制御計測装置、及び 前記二つの相動作を選択的に実施するために前記少なく
とも2個のAEセンサを前記制御計測装置のAE検出ラ
イン、並びに超音波付勢及び検出ラインに選択的に接続
するための切り換えスイッチを備えたことを特徴とする
AE計測装置を構成するものである。
これにより、一つの試料についてAE計測法及び超音波
探傷試験法の両方を適用して相補的な計測を行い、材料
の破壊機構に関する情報及び亀裂長さに関する情報を1
個の試料片から1回の操作において得ることができるよ
うにしたものである。
探傷試験法の両方を適用して相補的な計測を行い、材料
の破壊機構に関する情報及び亀裂長さに関する情報を1
個の試料片から1回の操作において得ることができるよ
うにしたものである。
(ホ) 実施例 図は本発明の一実施例を示すブロック線図である。図に
おいて、試料片(1)の両端にはこの場合受信用及び送信
用の両機能を有するAEセンサ(2)及び(3)がそれぞれ
取り付けられる。これらのセンサは圧電素子、その他の
電気音響的トランスデューサ素子からなっている。AE
センサ(2)及び(3)はそれぞれスイッチ(4)および(5)
を介してAE計測装置の主制御機能を含むシステム本体
(6)に接続される。
おいて、試料片(1)の両端にはこの場合受信用及び送信
用の両機能を有するAEセンサ(2)及び(3)がそれぞれ
取り付けられる。これらのセンサは圧電素子、その他の
電気音響的トランスデューサ素子からなっている。AE
センサ(2)及び(3)はそれぞれスイッチ(4)および(5)
を介してAE計測装置の主制御機能を含むシステム本体
(6)に接続される。
上記の構成において、試料片には、たとえば両測定法が
逐次的に実施される。すなわち、まずスイッチ(4)及び
(5)の操作により、センサ(2)及び(3)をAE波受信用
として用い、システム本体(6)をAE計測器として用い
ることにより破壊力学試験実施中の試料における亀裂の
発生をモニターする。これによって亀裂発生時点の特定
及び位置標定等が実施され、次いで、スイッチ(4)及び
(5)を切り換えてセンサ(2)をたとえば超音波送信素子
とし、センサ(3)を超音波受信素子として用いることに
より超音波探傷試験を実施する。これにより一区切りの
AE計測及び超音波探傷が実施されたこととなるが、以
後操作員は所望に応じてスイッチ(4)及び(5)を切り換
え(このスイッチの切り換えはシステム本体(6)のモー
ド切り換えと関連して行われる)、適当にAE計測及び
超音波探傷試験を実施し、必要な情報を収集することが
できる。
逐次的に実施される。すなわち、まずスイッチ(4)及び
(5)の操作により、センサ(2)及び(3)をAE波受信用
として用い、システム本体(6)をAE計測器として用い
ることにより破壊力学試験実施中の試料における亀裂の
発生をモニターする。これによって亀裂発生時点の特定
及び位置標定等が実施され、次いで、スイッチ(4)及び
(5)を切り換えてセンサ(2)をたとえば超音波送信素子
とし、センサ(3)を超音波受信素子として用いることに
より超音波探傷試験を実施する。これにより一区切りの
AE計測及び超音波探傷が実施されたこととなるが、以
後操作員は所望に応じてスイッチ(4)及び(5)を切り換
え(このスイッチの切り換えはシステム本体(6)のモー
ド切り換えと関連して行われる)、適当にAE計測及び
超音波探傷試験を実施し、必要な情報を収集することが
できる。
なお、上記の説明において、AE計測と超音波探傷測定
とは逐次的に実施するものとし、センサはこれら両測定
において兼用されるものとしたが、実際の装置構成にお
いては、少なくとも2個のAE計測専用のセンサ、並び
に少なくとも2個の超音波送受信兼用又は専用センサ
(素子)を並列的に用い、試験自体は前記実施例のごとく
逐次的に実施するか、又は超音波振動数がAE波振動数
から大きく異なる場合(たとえば、AE波振動数10K
Hz〜1MHzに対し、超音波振動数として5MHz程度
を用いるような場合)には、AE計測及び超音波探傷測
定を同時に実施するという態様をとることもできる。
とは逐次的に実施するものとし、センサはこれら両測定
において兼用されるものとしたが、実際の装置構成にお
いては、少なくとも2個のAE計測専用のセンサ、並び
に少なくとも2個の超音波送受信兼用又は専用センサ
(素子)を並列的に用い、試験自体は前記実施例のごとく
逐次的に実施するか、又は超音波振動数がAE波振動数
から大きく異なる場合(たとえば、AE波振動数10K
Hz〜1MHzに対し、超音波振動数として5MHz程度
を用いるような場合)には、AE計測及び超音波探傷測
定を同時に実施するという態様をとることもできる。
(ヘ) 効 果 本発明は、以上の通り、AEセンサの一つを超音波源と
して兼用し、二つの測定相をスイッチにより選択できる
ようにした簡略な構成において、従来の装置では不可能
であった亀裂開始等の破壊力学に関与する因子と、亀裂
長さ等の定量的情報との同時入手を単体の測定装置によ
り可能となるようにしたものである。
して兼用し、二つの測定相をスイッチにより選択できる
ようにした簡略な構成において、従来の装置では不可能
であった亀裂開始等の破壊力学に関与する因子と、亀裂
長さ等の定量的情報との同時入手を単体の測定装置によ
り可能となるようにしたものである。
したがって、1個の試料片において、AE計測と超音波
探傷試験の両者を実施できるため、目的に応じた多用な
データ入手及び分析が可能となるものである。
探傷試験の両者を実施できるため、目的に応じた多用な
データ入手及び分析が可能となるものである。
図は本発明の一実施例を示すブロック線図である。 (1)……試料片 (2),(3)……兼用AEセンサ (4),(5)……切り換えスイッチ (6)……システム本体
Claims (1)
- 【請求項1】圧電素子、その他の電気音響的トランスデ
ューサ素子からなる少なくとも2個のAEセンサを有す
るAE計測装置において、 前記少なくとも2個のAEセンサが試料片に対する破壊
力学試験の実施中においてその試料片の所定の部分から
それぞれ検出するAE信号を受けとって亀裂発生時点の
特定及び位置標定を行うAE計測相と、前記少なくとも
2個のAEセンサのうちの一つを超音波送信素子として
使用すべく付勢するとともに、他の少なくとも一つの超
音波受信素子として使用し、その超音波検出信号から亀
裂の定量測定を行う超音波探傷相とからなる二つの相動
作を行うことができる制御計測装置、及び 前記二つの相動作を選択的に実施するために前記少なく
とも2個のAEセンサを前記制御計測装置のAE検出ラ
イン、並びに超音波付勢及び検出ラインに選択的に接続
するための切り換えスイッチを備えたことを特徴とする
AE計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59162224A JPH0658353B2 (ja) | 1984-07-31 | 1984-07-31 | Ae計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59162224A JPH0658353B2 (ja) | 1984-07-31 | 1984-07-31 | Ae計測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6140565A JPS6140565A (ja) | 1986-02-26 |
| JPH0658353B2 true JPH0658353B2 (ja) | 1994-08-03 |
Family
ID=15750326
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59162224A Expired - Lifetime JPH0658353B2 (ja) | 1984-07-31 | 1984-07-31 | Ae計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0658353B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017096904A (ja) * | 2015-11-25 | 2017-06-01 | 新一 野村 | 積層構造を備える超電導線の機械的欠損検出方法および装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5498291A (en) * | 1978-01-20 | 1979-08-03 | Toshiba Corp | Simple type sonic flaw detector |
| JPS5542018A (en) * | 1978-09-21 | 1980-03-25 | Nippon Kokan Kk <Nkk> | Operational check for sound release type measuring system |
-
1984
- 1984-07-31 JP JP59162224A patent/JPH0658353B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6140565A (ja) | 1986-02-26 |
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