JPS6140565A - Ａｅ計測装置 - Google Patents
Ａｅ計測装置Info
- Publication number
- JPS6140565A JPS6140565A JP16222484A JP16222484A JPS6140565A JP S6140565 A JPS6140565 A JP S6140565A JP 16222484 A JP16222484 A JP 16222484A JP 16222484 A JP16222484 A JP 16222484A JP S6140565 A JPS6140565 A JP S6140565A
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- Japan
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- ultrasonic
- sensors
- measurement
- measurement device
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/14—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object using acoustic emission techniques
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/07—Analysing solids by measuring propagation velocity or propagation time of acoustic waves
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/02—Indexing codes associated with the analysed material
- G01N2291/028—Material parameters
- G01N2291/02854—Length, thickness
-
- G—PHYSICS
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
- G01N2291/044—Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
本発明は、ＡＥ計測装置、特に超音波探傷機能を兼ね備
えたＡＥ計測装置に関するものである。
えたＡＥ計測装置に関するものである。
（ロ）従来技術
Ａ Ｅ（Ａｃｏｕｓｔｉｃ Ｅｍｉｓｓｉｏｎ＞計測
法は、破壊力学試験における亀裂測定において、亀裂の
開始や進展を高感度で検出し、標定し得る優れた測定技
術であり、破壊機構に関する情報の取得に有利である。
法は、破壊力学試験における亀裂測定において、亀裂の
開始や進展を高感度で検出し、標定し得る優れた測定技
術であり、破壊機構に関する情報の取得に有利である。
しかしながら、ＡＥ計測法では亀裂長さの増大に伴うＡ
Ｅの放射が乏しいため、亀裂長さの定量的測定には不向
きである。一方、超音波探傷測定法は、前記のような亀
裂の進展開始の把握等、破壊機構に関する情報の取得に
は不向きであるが、亀裂長さの定量的測定は比較的高精
度で行うことができる。
Ｅの放射が乏しいため、亀裂長さの定量的測定には不向
きである。一方、超音波探傷測定法は、前記のような亀
裂の進展開始の把握等、破壊機構に関する情報の取得に
は不向きであるが、亀裂長さの定量的測定は比較的高精
度で行うことができる。
すなわち、前記二つの測定法は、材料の破壊機構及び破
壊状況の測定において、相補い合う関係にあり、両者を
＆＋１み合わせることにより新規の有用な亀裂進展測定
手法が確立するものと考えられ（ハ）目 的 したがって、本発明は、従来のＡＥ計測技術と超音波探
傷試験技術とを組み合わせることにより、破壊力学的試
験における亀裂進展測定の系統的な実施を行うことがで
きるようにした新規の測定技術及び装置構成の確立を目
的とするものである。
壊状況の測定において、相補い合う関係にあり、両者を
＆＋１み合わせることにより新規の有用な亀裂進展測定
手法が確立するものと考えられ（ハ）目 的 したがって、本発明は、従来のＡＥ計測技術と超音波探
傷試験技術とを組み合わせることにより、破壊力学的試
験における亀裂進展測定の系統的な実施を行うことがで
きるようにした新規の測定技術及び装置構成の確立を目
的とするものである。
（ニ）構 成
上記の目的を達するため、本発明は圧電素子、その他の
電気音響的トランスデューザ素子からなる少なくとも２
個のＡＥセンサを有するＡＥ計測システムにおいて、 前記少なくとも２個のＡＥセセンが試料片に対する破壊
力学試験の実施中においてその試料片の所定の部分から
それぞれ検出するＡＥ倍信号受けとって亀裂発生時点の
特定及び位置標定を行うＡＥ計測相と、前記少なくとも
２個のＡＥセンサのうちの一つを超音波送信素子として
使用すべく付勢するとともに、他の少なくとも一つを超
音波受信素子として使用し、その超音波検出信号から亀
裂の定量測定を行う超音波探傷相とからなる二つの相動
作を行うことができる制御計測装置を備えたことを特徴
とするＡＥ計測装置を構成するものである。
電気音響的トランスデューザ素子からなる少なくとも２
個のＡＥセンサを有するＡＥ計測システムにおいて、 前記少なくとも２個のＡＥセセンが試料片に対する破壊
力学試験の実施中においてその試料片の所定の部分から
それぞれ検出するＡＥ倍信号受けとって亀裂発生時点の
特定及び位置標定を行うＡＥ計測相と、前記少なくとも
２個のＡＥセンサのうちの一つを超音波送信素子として
使用すべく付勢するとともに、他の少なくとも一つを超
音波受信素子として使用し、その超音波検出信号から亀
裂の定量測定を行う超音波探傷相とからなる二つの相動
作を行うことができる制御計測装置を備えたことを特徴
とするＡＥ計測装置を構成するものである。
これにより、一つの試料についてＡＥ計測法及び超音波
探傷試験法の両方を適用して相補的な計測を行い、材料
の破壊機構に関する情報及び亀裂長さに関する情報を１
個の試料片から１回の操作において得ることができるよ
うにしたものである。
探傷試験法の両方を適用して相補的な計測を行い、材料
の破壊機構に関する情報及び亀裂長さに関する情報を１
個の試料片から１回の操作において得ることができるよ
うにしたものである。
（ホ）実施例
図は本発明の一実施例を示すブロック線図である。図に
おいて、試料片（１）の両端にはこの場合受信用及び送
信用の両機能を有するＡＥセセン（２）及び（３）がそ
れぞれ取り付けられる。これらのセンサは圧電素子、そ
の他の電気音響的トランスデューザ素子からなっている
。ＡＥセンサ（２）及び（３）はそれぞれスイッチ（４
）および（５）を介してＡＥ計測装置の主制御機能を含
むシステム本体（６）に接続される。
おいて、試料片（１）の両端にはこの場合受信用及び送
信用の両機能を有するＡＥセセン（２）及び（３）がそ
れぞれ取り付けられる。これらのセンサは圧電素子、そ
の他の電気音響的トランスデューザ素子からなっている
。ＡＥセンサ（２）及び（３）はそれぞれスイッチ（４
）および（５）を介してＡＥ計測装置の主制御機能を含
むシステム本体（６）に接続される。
上記の構成において、試料片には、たとえば両測定法が
逐次的に実施される。すなわち、まずスイッチ（４）及
び（５）の操作により、センサ（２）及び（３）をＡＥ
波受信用として用い、システム本体（６）をＡＥ計測器
として用いることにより破壊力学試験実施中の試料にお
ける亀裂の発生をモニターする。これによって亀裂発生
時点の特定及び位置標定等が実施され、次いで、スイッ
チ（４）及び（５）を切り換えてセンサ（２）をたとえ
ば超音波送信素子とし、センサ〈３）を超音波受信素子
として用いることにより超音波探傷試験を実施する。こ
れにより一区切りのＡＥ計測及び超音波探傷が実施され
たこととなるが、以後操作員は所望に応じてスイッチ（
４）及び（５）を切り換え（このスイッチの切り換えは
システム本体（６）のモード切り換えと関連して行われ
る）、適当にＡＥ計測及び超音波探傷試験を実施し、必
要な情報を収集することができる。
逐次的に実施される。すなわち、まずスイッチ（４）及
び（５）の操作により、センサ（２）及び（３）をＡＥ
波受信用として用い、システム本体（６）をＡＥ計測器
として用いることにより破壊力学試験実施中の試料にお
ける亀裂の発生をモニターする。これによって亀裂発生
時点の特定及び位置標定等が実施され、次いで、スイッ
チ（４）及び（５）を切り換えてセンサ（２）をたとえ
ば超音波送信素子とし、センサ〈３）を超音波受信素子
として用いることにより超音波探傷試験を実施する。こ
れにより一区切りのＡＥ計測及び超音波探傷が実施され
たこととなるが、以後操作員は所望に応じてスイッチ（
４）及び（５）を切り換え（このスイッチの切り換えは
システム本体（６）のモード切り換えと関連して行われ
る）、適当にＡＥ計測及び超音波探傷試験を実施し、必
要な情報を収集することができる。
なお、上記の説明において、ＡＥ計測と超音波探傷測定
とは逐次的に実施するものとし、センサはこれら両側室
において兼用されるものとしたが、実際の装置構成にお
いては、少なくとも２個のＡＥｉ＋測専用のセンサ、並
びに少なくとも２個の超音波送受信兼用又は専用センサ
（素子）を並列的に用い、試験自体は前記実施例のごと
く逐次的に実施するか、又は超音波振動数がＡＥ波振動
数から大きく異なる場合（たきえは、ＡＥ波振動数ｌＯ
ＫＨｚ−ＩＭＨｚに対し、超音波振動数として５ＭＨｚ
程度を用いるような場合）には、ＡＥ計測及び超音波探
傷測定を同時に実施するという態様をとることもできる
。
とは逐次的に実施するものとし、センサはこれら両側室
において兼用されるものとしたが、実際の装置構成にお
いては、少なくとも２個のＡＥｉ＋測専用のセンサ、並
びに少なくとも２個の超音波送受信兼用又は専用センサ
（素子）を並列的に用い、試験自体は前記実施例のごと
く逐次的に実施するか、又は超音波振動数がＡＥ波振動
数から大きく異なる場合（たきえは、ＡＥ波振動数ｌＯ
ＫＨｚ−ＩＭＨｚに対し、超音波振動数として５ＭＨｚ
程度を用いるような場合）には、ＡＥ計測及び超音波探
傷測定を同時に実施するという態様をとることもできる
。
（へ）効 果
本発明は、以上の通り構成されたため、従来の装置では
不可能であった亀裂開始等の破壊力学に関与する因子と
、亀裂長さ等の定量的情報との同時入手を単体の測定装
置により可能となるようにしたものである。
不可能であった亀裂開始等の破壊力学に関与する因子と
、亀裂長さ等の定量的情報との同時入手を単体の測定装
置により可能となるようにしたものである。
したがって、１個の試料片において、ＡＥ計測と超音波
探傷試験の両者を実施できるため、目的に応じた多用な
データ入手及び分析が可能となるものである。
探傷試験の両者を実施できるため、目的に応じた多用な
データ入手及び分析が可能となるものである。
図は本発明の一実施例を示すブロック線図である。
。
。
Claims (3)
- （１）圧電素子、その他の電気音響的トランスデューサ
素子からなる少なくとも２個のＡＥセンサを有するＡＥ
計測システムにおいて、 前記少なくとも２個のＡＥセンサが試料片に対する破壊
力学試験の実施中においてその試料片の所定の部分から
それぞれ検出するＡＥ信号を受けとって亀裂発生時点の
特定及び位置標定を行うＡＥ計測相と、前記少なくとも
２個のＡＥセンサのうちの一つを超音波送信素子として
使用すべく付勢するとともに、他の少なくとも一つを超
音波受信素子として使用し、その超音波検出信号から亀
裂の定量測定を行う超音波探傷相とからなる二つの相動
作を行うことができる制御計測装置を備えたことを特徴
とするＡＥ計測装置。 - （２）前記制御装置の各相動作を実施するために前記少
なくとも２個のＡＥセンサを前記制御計測装置のＡＥ検
出ライン、並びに超音波付勢及び検出ラインに選択的に
接続するための切り換えスイッチを備えたことを特徴と
する特許請求の範囲第（１）項記載のＡＥ計測装置。 - （３）ＡＥ検出のために用いられる２個のＡＥセンサと
、超音波送信素子及び超音波受信素子としてそれぞれ用
いられる第３及び第４のＡＥセンサを有することを特徴
とする特許請求の範囲第（１）項記載のＡＥ計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59162224A JPH0658353B2 (ja) | 1984-07-31 | 1984-07-31 | Ａｅ計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59162224A JPH0658353B2 (ja) | 1984-07-31 | 1984-07-31 | Ａｅ計測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6140565A true JPS6140565A (ja) | 1986-02-26 |
| JPH0658353B2 JPH0658353B2 (ja) | 1994-08-03 |
Family
ID=15750326
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59162224A Expired - Lifetime JPH0658353B2 (ja) | 1984-07-31 | 1984-07-31 | Ａｅ計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0658353B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017096904A (ja) * | 2015-11-25 | 2017-06-01 | 新一 野村 | 積層構造を備える超電導線の機械的欠損検出方法および装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5498291A (en) * | 1978-01-20 | 1979-08-03 | Toshiba Corp | Simple type sonic flaw detector |
| JPS5542018A (en) * | 1978-09-21 | 1980-03-25 | Nippon Kokan Kk <Nkk> | Operational check for sound release type measuring system |
-
1984
- 1984-07-31 JP JP59162224A patent/JPH0658353B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5498291A (en) * | 1978-01-20 | 1979-08-03 | Toshiba Corp | Simple type sonic flaw detector |
| JPS5542018A (en) * | 1978-09-21 | 1980-03-25 | Nippon Kokan Kk <Nkk> | Operational check for sound release type measuring system |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017096904A (ja) * | 2015-11-25 | 2017-06-01 | 新一 野村 | 積層構造を備える超電導線の機械的欠損検出方法および装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0658353B2 (ja) | 1994-08-03 |
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