JPH0660903B2 - 自動化学分析装置 - Google Patents

自動化学分析装置

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JPH0660903B2
JPH0660903B2 JP60127144A JP12714485A JPH0660903B2 JP H0660903 B2 JPH0660903 B2 JP H0660903B2 JP 60127144 A JP60127144 A JP 60127144A JP 12714485 A JP12714485 A JP 12714485A JP H0660903 B2 JPH0660903 B2 JP H0660903B2
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Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 [発明の技術分野] 本発明は多数の反応セルに対する測定に悪影響を及ぼす
要因を判別可能な直接測光方式の自動化学分析装置に関
するものである。
[発明の技術的背景] 最近の自動化学分析装置においては、処理能力の増加,
測光項目の増大及びランニングコスト低減のための試料
の微量化の傾向にある。
試料の微量化については、反応管直接測光方式を採用す
ることにより対処し、処理能力の増加や測定項目の増加
については反応セルや測光部の増加により対処してい
る。
ところで、上記装置において測光データの悪化する要因
を観察する。反応セルに気泡が付着し測定光を散乱させ
たり、異物が混入して測定光を遮蔽したりして試料に対
する真の透過光量が得られないことや、光度計の検知可
能な最小限の光量が一定であるにもかかわらず透過光量
が反応セルの汚れのため減少しこの結果高度計の分解能
が低下すること、さらには、試料に当った測定光が光度
計まで到達しないで迷光となる割合が多くなるため測定
データの誤差の割合が増えること等を挙げることができ
る。
このような測定データの悪化を生じさせる要因を検証す
るため、直接測光方式の自動化学分析装置においては反
応セルに純水に注入し、その反応セルを即行して得られ
る純水の透過光量(以下「100%T値」ともいう。)
を基に反応セルの気泡付着の有無、異物の混入、汚れの
程度等を判別する検証手段が採用されている。この10
0%T値をI、未知試料の透過光量をI、未知試料の
吸光度をEとすれば、これらの関係は下記(1)式で表す
ことができる。
E=log I/I …(1) 前記透過光量Iは、測定に悪影響を及ぼす要因をオペレ
ータが検証するために各反応セル毎に記憶し、かつ、プ
リンタ等で表示することが必要となる。前記要因は純水
の透過光量Iの測定時及び試料の測定時に発生するが、
特に純水の透過光量Iの測定は通常装置の電源投入時に
だけ行ない以降の試料測定時にその透過光量Iの値を毎
回使用するのでこの透過光量Iの記憶、表示は重要な意
味を有する。
他方、試料測定の検証においては、反応吸光度範囲や濃
度範囲でチェックしており、異常時にはデータエラーと
して情報が付加され、再測定を行なうため意外とその労
力は少ない。
[背景技術の問題点] しかしながら、従来の検証手段においては、多数の反応
セルから得られたそれぞれの純水の透過光量をプリンタ
等によりそのまま表示していたので、オペレータは膨大
な測光データの中から異常データを探さなければなら
ず、検証漏れが起る可能性が強かった。
また、純水の透過光量Iの判定結果を表示する方法もあ
るが、再度純水の透過光量Iの測定をやり直したり、反
応セルを再洗浄したりしなければならず測定結果の精度
維持のための保守も容易ではない。
これらの問題は、最近の自動化学分析装置のように処理
速度300検体/時間,最大項目32項目(比色の
み)、最大反応時間420秒(7分)、反応セル本数1
408本というような高性能のものにおいて顕著であ
る。
[発明の目的] 本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、純水の
透過光量をオペレータが検証する必要がなく、かつ、保
守が容易で操作性,信頼性に優れた直接測光方式の自動
化学分析装置を提供することを目的とするものである。
[発明の概要] 上記目的を達成するため、本発明に係る自動化学分析装
置は、複数の反応セルに純水を注入し直接測光方式によ
り得られる個々の反応セルの測光データを基に反応セル
の適否を検証可能な自動化学分析装置において、個々の
反応セル毎の純水の測光データが許容範囲内であるか否
かを判定する検証部と、該検証部による判定情報を記憶
する記憶部と、該記憶部に格納された判定情報を基に反
応セルを選択的に試料の化学分析に供するよう制御する
制御部とを備えることを特徴とするものである。
[発明の実施例] 以下に本発明の実施例を詳細に説明する。第1図は実施
例装置の概略構成を示すものであり、同図中1は自動化
学分析部、2は分析データ処理部である。
自動化学分析部1は、多数の反応セル4を円形状に支持
し、かつ、後述する分析データ処理部2のCPU50に
より制御される反応ディスク駆動部55によって駆動さ
れ同図矢印A方向に1反応セル間隔で間欠的に回転する
反応ディスク3と、各種の試料を収納した多数の試料容
器6を円形状に支持し前記反応ディスク駆動部55によ
り駆動されて反応ディスク3と同様同図矢印A方向に回
転するサンプルディスク5と、純水で満たされた純水ボ
トル7,CPU50により制御される純水供給ポンプ8
及び純水注入ノズル9を具備し前記各反応セル4に純水
を注入する純水注入部10と、試薬で満たされた試薬ボ
トル11,CPU50により制御される試薬ポンプ12
及び試薬注入ノズル13を具備し前記各反応セル4に試
薬を注入する試薬注入部14と、CPU50により制御
されて前記サンプルディスク5上の試料容器6と反応デ
ィスク3上の反応セル4間を移動するサンプリングノズ
ル15及びサンプリングポンプ16を具備し試料の吸
引、吐出を行うサンプリング部17と、前記反応セル4
の移動経路を挟んで配置された光源ランプ18及び高度
計19を有しCPU50により制御される測光系20
と、CPU50により制御される洗浄用シリンジ21及
びノズル22を具備し前記反応セル4の洗浄乾燥を行う
洗浄乾燥部23と、前記反応セル4内の反応液の排液を
行う反応排出手段(図示せず)と、前記反応セル内の反
応液を撹拌する撹拌部24とを有して構成されている。
ここで、前記反応ディスク3についてさらに詳述する。
いま、第2図に示すような48個の反応セル4が同図に
示す位置にあるとき各反応セル4の位置をP〜P48
表し、試料分注位置をP、試料分注位置をP、純水
供給位置をP18、撹拌位置をP18、測光位置をP22、反
応液排液位置をP 、洗浄乾燥位置をP 〜P
でそれぞれ表すものとする。
前記反応ディスク駆動部55は、CPU50により制御
され、反応ディスク3及びサンプリングディスク5を駆
動するとともに反応ディスク3上の特定の反応セル4に
対応する信号(反応セル番号)を後述する分析データ処
理部2の純水値検証部36へ送出するようになってい
る。
尚、第2図に示すような位置に各反応セル4があると
き、この位置を「ホームポジション」と称するものとす
る。そして、CPU50は各反応セル4のホームポジシ
ョン及びその後の回転位置をそれぞれ認識できるように
なっている。
前記測光系20は第3図に示すように光源ランプ18か
ら光度計19への光路が前記測光位置P22において反応
セル4を透過するように配置されている。そして、光度
計19は光源ランプ18からの光を受光する回折格子2
5と、この回折格子25からの回折光を通過させるスリ
ット26と、スリット26を経た回折光を受光し電気信
号に変換して反応セル4の測光データとして送出する検
知器27を具備している。
次に、前記分析データ処理部2について詳述する。
分析データ処理部2は、第4図に示すように前記測光系
20からの測光データをアナログデジタル変換するA/
D変換器31と、デジタル信号に変換された測光データ
を取り込み、これを送出するデータ取り込み部32と、
前記測光データを基に個々の測光データの累積回数,累
積値,累積平均の算出及び記憶を行い、かつ、これら累
積データの初期化をも行う累積データ算出制御部33
と、前記累積平均,測光データと前記反応ディスク駆動
部55からの特定の反応セル4を表わす反応セル番号と
を入力し、これらのデータを基に特定の反応セル4の測
光データと累積平均との偏差を算出する偏差算出部34
及びこの偏差が予め設定された許容値の範囲内にあるか
否かを判定し、許容範囲内であれば良とし許容範囲外で
あれば不良とする判定情報を送出する判定部35からな
る純水値検証部36と、前記判定部35からの判定情報
を第6図に示すように反応セルごとに例えば良=0,不
良≠0というような2値化した信号で記憶する記憶手段
としての反応セル判定表37と、この反応セル判定表3
7から良と判定された反応セル番号のみ選択し、これを
基に前記試薬注入部14,サンプリング部17,反応デ
ィスク駆動部55及び測光系20を制御する分注・測光
制御部47と、前記測光データ,判定情報等を表示する
表示手段であるプリンタ46とを有して構成されてい
る。
累積データ算出制御部33は、第5図に示すように48
個の反応セル4毎の累積回数及び累積値を記憶するメモ
リである累積表38と、前記データ取り込み部32から
の測光データ及び累積表38から読み出した対応する反
応セル4の累積回数を入力し、累積回数が初期値(=
0)ならば入力した測光データを累積表38に対応する
反応セル4の累積値として書き込み、かつ、その累積回
数を1とするとともに、測光データを前記累積表38か
ら各反応セル4毎の累積回数及び累積値を読み出し除算
処理して累積平均を求めこれを前記偏差算出部34へ送
出する累積平均算出部40と、判定部35からの測光デ
ータを入力しこの測光データを基に累積表38の対応す
る反応セル4の累積回数及び累積値を更新する累積操作
部41と、前記累積表38の各反応セル4毎の累積回数
及び累積値を初期化する初期化部42とを有して構成さ
れている。
尚、前記分析データ処理部2は第1図に示すように操作
パネル43及び各構成部間の信号の伝送を受け持つイン
ターフェース44を含み、前記初回累積部39,累積平
均算出部40,累積操作部41、初期化部42、純水値
検証部36及び分注・測光制御部47はCPU50に含
まれて構成されている。
次に上記構成の実施例装置の作用を第7図に示すこの装
置全体の処理過程を示すフローチャート及び第8図に示
す通常の反応セル4と汚れた反応セル4の100%T値
の相違を示すグラフをも参照して説明する。尚、光源ラ
ンプ18から放射される光の波長をλとし、このときの
通常の反応セル4の100%T値をT、汚れた反応セ
ル4の100%T値をTとする。
また、第2図に示すホームポジションにおいて測光位置
22にある反応セル4には既に純水注入部10により純
水が注入されているものとする。
測光系20の光源ランプ18は波長λの光を測光位置P
22にある反応セル4に放射する。
この光は反応セル4及びその中の純水を透過し光度計1
9の回折格子25で回折してスリット26を経て検知器
27で検知されるが、このとき反応セル4が汚れていた
場合には検知器27により検知される100%T値はT
となり、この値が測光データとしてA/D変換器31
に入力する。一方、反応セル4が汚れていない場合には
そのときの100%T値はTとなりこの値が測光デー
タとしA/D変換器31に入力する。
A/D変換器31は入力した測光データをデジタル信号
に変換しデータ取り込み部32を経て初回累積部39へ
送出する。
初回累積部39は入力した測光データに対応する反応セ
ル4の累積回数を累積表38から読み出し、もし累積回
数が初期値であれば、この測光データを累積表38に書
き込みとともに累積回数を1にする。
一方、累積表38から読み出した累積回数が初期値でな
い場合には、初回累積部39はその測光データを偏差算
出部34へ送出する。
この初回累積部39の動作と並行して累積平均算出部4
0は測光データに対応する反応セル4の累積回数及び累
積値を累積表39から読み出し、累積値/累積回数の除
算を実行して累積平均を算出しその値を偏差算出部34
へ送出する。
偏差算出部34は、反応セル駆動部55からの反応セル
番号を基に前記測光データ及び累積平均の間の偏差を算
出し、測光データ及び算出した偏差を判定部35へ送出
する。判定部35は、入力した偏差及び測光データを基
に偏差が予め設定された所定の範囲(例えば5mAbs以
内)にあるか否かを判別し、この範囲内であれば測光デ
ータを累積操作部41へ送出して累積表38の対応する
反応セル4の累積値,累積回数を更新するとともに判定
結果が良であることを示す判定情報を反応セル判定表3
7へ送出する。
一方、判定部35において偏差が許容範囲外であると判
定されたり、あるいはその測光データがミスデータやデ
ータ無し(0値)と判別された場合には、その測光デー
タに対応する反応セル情報、例えば反応セル番号がプリ
ンタ36へ送られプリントアウトされるとともに反応セ
ル判定表37に不良であることを示す判定情報が格納さ
れる。この場合には判定部35から累積操作部41へ測
光データは送られず累積表38の更新は行われない。
分注・測光制御部47は、試料分注ポジションPにあ
る反応セルの番号を呼び出すと共に、前記判定表37か
らその反応セルが良であるか不良であるかの信号を呼び
出し、良と判定された反応セル4のみを使用して前記試
料分注を行うように各部を制御する。このとき、分注・
測光制御部47により制御されるサンプリング部17が
作動し、試料分注位置Pにある反応セル4に試料が分
注される。
次に、上述した動作と同様な順序で試料が分注された反
応セル4は試料分注位置Pに送られここで試薬注入部
14による試薬の注入が行なわれる。
そして、分注・測光制御部47は反応ディスク駆動部5
5を制御し試料及び試薬が注入された反応セル4を撹拌
部24で撹拌した後測光位置P22まで回転移動させると
ともに、測光系20を制御して測光位置P22にある反応
セル4の測光を行なう。
尚、上述したある特定の反応セル4に対する純水の10
0%T値の測定から試料の分注に至るまでの過程におい
て、純水で満たされたその反応セル4は一旦洗浄乾燥位
置P 〜P に送られ純水の放出,乾燥が行なわれ
ることはいうまでもない。
前記工程において、分注・測光制御部47の検査対象と
なる反応セルが判定表37内の不良に該当する場合は分
注・測光制御は行われず、次の反応セルが検査対象に供
されるように間欠移動され、良の反応セルが到達する迄
繰り返される。
このようにして、本実施例装置によれば純水検証部36
において測定に悪影響を及ぼす要因が無いと判定された
反応セル4に対してのみ自動的に試料,試薬が注入され
測定に供されるので、100%T値自体の検証が不要と
なり、装置の保守の容易化と操作の容易化が図れ、か
つ、測光データの信頼性の向上を図ることが可能とな
る。
本発明は上述した実施例に限定されるものではなくその
要旨の範囲内で種々の変形が可能である。
例えば、累積表に逐次書き込まれる累積回数,累積値や
累積平均算出部で算出する累積平均の値、偏差算出部で
算出される偏差の値、さらには判定部による判定結果を
各反応セルに対応付けて表示手段例えばCRTの画面上
に表示することも容易に行なうこともできる。
[発明の効果] 以上詳述した本発明によれば、試料の測定に悪影響を及
ぼす要因がないと判定された反応セルのみを使用して試
料の測定を行なうようにしたことによって、純水の透過
光量自体をオペレータが検証する必要がなく、保守が容
易で操作性及び測定データの信頼性に優れた直接測光方
式の自動化学分析装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例装置の概略説明図、第2図は同
装置における反応ディスクのホームポジションの状態を
示す説明図、第3図は同装置の測光系及び分析データ処
理部の概略説明図、第4図は同装置の分析データ処理部
の構成を示すブロック図、第5図は同装置の累積表の一
例を示す説明図、第6図は同装置の反応セル判定表を示
す説明図、第7図は同装置の全体の作用を示すフローチ
ャート、第8図は通常の反応セルと汚れた反応セルとの
100%T値を示すグラフである。 1……自動化学分析部、2……分析データ処理部、 4……反応セル、20……測光系、 33……累積データ算出制御部、 36……純水値検証部、37……反応セル判定表、 47……分注・測光制御部。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】複数の反応セルに純水を注入し直接測光方
    式により得られる個々の反応セルの測光データを基に反
    応セルの適否を検証可能な自動化学分析装置において、
    個々の反応セル毎の純水の測光データが許容範囲内であ
    るか否かを判定する検証部と、該検証部による判定情報
    を記憶する記憶部と、該記憶部に格納された判定情報を
    基に反応セルを選択的に試料の化学分析に供するよう制
    御する制御部とを備える自動化学分析装置。
JP60127144A 1985-06-13 1985-06-13 自動化学分析装置 Expired - Lifetime JPH0660903B2 (ja)

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