JPH0661662B2 - ワイヤカツト放電加工装置 - Google Patents
ワイヤカツト放電加工装置Info
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- JPH0661662B2 JPH0661662B2 JP23119184A JP23119184A JPH0661662B2 JP H0661662 B2 JPH0661662 B2 JP H0661662B2 JP 23119184 A JP23119184 A JP 23119184A JP 23119184 A JP23119184 A JP 23119184A JP H0661662 B2 JPH0661662 B2 JP H0661662B2
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- discharge
- gap
- wire
- wire electrode
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-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23H—WORKING OF METAL BY THE ACTION OF A HIGH CONCENTRATION OF ELECTRIC CURRENT ON A WORKPIECE USING AN ELECTRODE WHICH TAKES THE PLACE OF A TOOL; SUCH WORKING COMBINED WITH OTHER FORMS OF WORKING OF METAL
- B23H7/00—Processes or apparatus applicable to both electrical discharge machining and electrochemical machining
- B23H7/02—Wire-cutting
- B23H7/04—Apparatus for supplying current to working gap; Electric circuits specially adapted therefor
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Electrical Discharge Machining, Electrochemical Machining, And Combined Machining (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、ワイヤ電極を用いて被加工物の切削を電気
的に行うワイヤカツト放電加工装置に関するものであ
る。
的に行うワイヤカツト放電加工装置に関するものであ
る。
電気的エネルギによつて被加工物を加工することは、従
来広く行われており周知であるが、最近の技術として注
目をあびている加工装置にワイヤ状の電極を用いて、あ
たかも「糸のこ」のように被加工物を電気的エネルギで
加工するいわゆるワイヤカツト放電加工装置がある。
来広く行われており周知であるが、最近の技術として注
目をあびている加工装置にワイヤ状の電極を用いて、あ
たかも「糸のこ」のように被加工物を電気的エネルギで
加工するいわゆるワイヤカツト放電加工装置がある。
第７図は、上記ワイヤカツト放電加工装置を示す構成図
である。１は被加工物で、予じめドリルなどで明られた
初孔１ａにワイヤ電極２を通し、この孔壁とワイヤ電極
２との間に絶縁性の液３を介在させている。
である。１は被加工物で、予じめドリルなどで明られた
初孔１ａにワイヤ電極２を通し、この孔壁とワイヤ電極
２との間に絶縁性の液３を介在させている。
上記絶縁性の液３を以下加工液と記述する。加工液は、
タンク４からポンプ５で、被加工物１とワイヤ電極２の
間隙（極間間隙）にノズル６により噴射される。
タンク４からポンプ５で、被加工物１とワイヤ電極２の
間隙（極間間隙）にノズル６により噴射される。
被加工物１とワイヤ電極２との間の相対運動は、被加工
物１を載せているテーブル１１の移動により行われる。
テーブル１１は、Ｙ軸駆動モータ13とＸ軸モータ１２に
より駆動される。以上の構成により、被加工物１と電極
２の相対運動は前述のＸ，Ｙ軸平面内に於て２次元平面
の運動となる。
物１を載せているテーブル１１の移動により行われる。
テーブル１１は、Ｙ軸駆動モータ13とＸ軸モータ１２に
より駆動される。以上の構成により、被加工物１と電極
２の相対運動は前述のＸ，Ｙ軸平面内に於て２次元平面
の運動となる。
ワイヤ電極２は、ワイヤ供給リール７により供給され、
下部ワイヤガイド８Ａ、被加工物１中を通過して上部ガ
イド８Ｂに達し、電気エネルギ給電部９を介して、ワイ
ヤ巻取り兼テンシヨンローラ１０により巻取られる。上
記Ｘ，Ｙ軸の駆動モータ１２，１３の駆動及び制御を行
う制御装置14は、数値制御装置（ＮＣ制御装置）や倣い
装置あるいは電算機を用いた制御装置が用いられてい
る。
下部ワイヤガイド８Ａ、被加工物１中を通過して上部ガ
イド８Ｂに達し、電気エネルギ給電部９を介して、ワイ
ヤ巻取り兼テンシヨンローラ１０により巻取られる。上
記Ｘ，Ｙ軸の駆動モータ１２，１３の駆動及び制御を行
う制御装置14は、数値制御装置（ＮＣ制御装置）や倣い
装置あるいは電算機を用いた制御装置が用いられてい
る。
電気エネルギを供給する加工電源１５は、例えば、直流
電源１５ａ、スイツチング素子１５ｂ、電流制限抵抗１
５ｃ及び前記スイツチング素子15ｂを制御する制御回路
１５ｄによつて構成されている。
電源１５ａ、スイツチング素子１５ｂ、電流制限抵抗１
５ｃ及び前記スイツチング素子15ｂを制御する制御回路
１５ｄによつて構成されている。
次に従来装置の動作について説明する。
正常な加工状態では、加工電源１５からは高周波パルス
電圧が被加工物１とワイヤ電極２間に印加され、１つの
パルスによる放電爆発により被加工物１の一部を溶融飛
散させる。この場合、極間は高温でガス化及びイオン化
しているため、次のパルス電圧を印加するまでには一定
の休止時間を必要とし、この休止時間が短か過ぎると極
間が充分に絶縁回復しないうちに、再び同一場所に放電
が集中してワイヤ電極２の溶断を発生させる。
電圧が被加工物１とワイヤ電極２間に印加され、１つの
パルスによる放電爆発により被加工物１の一部を溶融飛
散させる。この場合、極間は高温でガス化及びイオン化
しているため、次のパルス電圧を印加するまでには一定
の休止時間を必要とし、この休止時間が短か過ぎると極
間が充分に絶縁回復しないうちに、再び同一場所に放電
が集中してワイヤ電極２の溶断を発生させる。
従つて、通常の加工電源では被加工物の種類、板厚等に
依り休止時間等の電気条件をワイヤ切れを生じさせない
程度の充分余裕を持つた条件で加工するのが普通であ
る。従つて、加工速度は理論的限界値より相当低くなら
ざるを得ない。更にワイヤ電極２が均一でなく太さが変
化する場合、もしくはワイヤ電極の一部に突起やキズ等
があり放電が集中した場合にはワイヤ電極２の溶断は避
けられない。
依り休止時間等の電気条件をワイヤ切れを生じさせない
程度の充分余裕を持つた条件で加工するのが普通であ
る。従つて、加工速度は理論的限界値より相当低くなら
ざるを得ない。更にワイヤ電極２が均一でなく太さが変
化する場合、もしくはワイヤ電極の一部に突起やキズ等
があり放電が集中した場合にはワイヤ電極２の溶断は避
けられない。
以上のように従来のワイヤカツト放電加工装置では、ワ
イヤ電極２の断線を引き起さないようにするため、加工
電源１５の出力エネルギーを少くする等、仮に放電の集
中がワイヤ電極２の一点に集中しても断線しないように
していたため加工速度が著しく低いという問題点があつ
た。
イヤ電極２の断線を引き起さないようにするため、加工
電源１５の出力エネルギーを少くする等、仮に放電の集
中がワイヤ電極２の一点に集中しても断線しないように
していたため加工速度が著しく低いという問題点があつ
た。
この発明はかかる問題点を解決するためになされたもの
で、ワイヤ電極の断線事故を未然に防止して加工速度の
向上を図ることのできるワイヤカツト放電加工装置を得
ることを目的とする。
で、ワイヤ電極の断線事故を未然に防止して加工速度の
向上を図ることのできるワイヤカツト放電加工装置を得
ることを目的とする。
この発明にかかるワイヤカツト放電加工装置は、ワイヤ
電極と被加工物との対向する極間間隙で放電したとき該
放電による音声信号を検知する検知手段と、 この検知手段の検知信号に基づき前記放電の開始から高
周波周波数が検知される第１の時期と加工電源のパルス
周波数が検知される第２の時期を判別し、前記第１の時
期の判別信号で選択された前記検知手段の検知信号でカ
ウンタ内容をキャンセルし前記第２の時期の判別信号で
選択された該検知手段の検知信号でカウンタ内容を増加
し前記極間間隙の状態を判断して異常信号を出力する極
間間隙状態判別手段と、 この極間間隙状態判別手段からの異常信号の出力に基づ
いてサーボゲインを増加させ、前記ワイヤ電極の移動速
度を早めるように制御する制御手段を具備したものであ
る。
電極と被加工物との対向する極間間隙で放電したとき該
放電による音声信号を検知する検知手段と、 この検知手段の検知信号に基づき前記放電の開始から高
周波周波数が検知される第１の時期と加工電源のパルス
周波数が検知される第２の時期を判別し、前記第１の時
期の判別信号で選択された前記検知手段の検知信号でカ
ウンタ内容をキャンセルし前記第２の時期の判別信号で
選択された該検知手段の検知信号でカウンタ内容を増加
し前記極間間隙の状態を判断して異常信号を出力する極
間間隙状態判別手段と、 この極間間隙状態判別手段からの異常信号の出力に基づ
いてサーボゲインを増加させ、前記ワイヤ電極の移動速
度を早めるように制御する制御手段を具備したものであ
る。
この発明においては、放電発生時の極間間隙における音
声信号の周波数成分の分布を検知手段で検知し、この検
知手段の検知信号に基づき前記放電の開始から高周波周
波数が検知される第１の時期と加工電源のパルス周波数
が検知される第２の時期を判別し、前記第１の時期の判
別信号で選択された前記検知手段の検知信号でカウンタ
内容をキャンセルし前記第２の時期の判別信号で選択さ
れた該検知手段の検知信号でカウンタ内容を増加して異
常信号を出力するかを極間間隙状態判別手段で判別し、
制御手段は上記極間間隙状態判別手段から異常放電判別
信号を受けたときには、極間間隙長サーボのサーボゲイ
ンを増加させて間隙の開離と接近速度を増加させること
により、迅速に間隙状態を正常化し、正常判別信号を受
けているときは上記サーボゲインを低下させ、正常状態
を維持するために間隙長を変えないように制御して加工
速度の向上を図る。
声信号の周波数成分の分布を検知手段で検知し、この検
知手段の検知信号に基づき前記放電の開始から高周波周
波数が検知される第１の時期と加工電源のパルス周波数
が検知される第２の時期を判別し、前記第１の時期の判
別信号で選択された前記検知手段の検知信号でカウンタ
内容をキャンセルし前記第２の時期の判別信号で選択さ
れた該検知手段の検知信号でカウンタ内容を増加して異
常信号を出力するかを極間間隙状態判別手段で判別し、
制御手段は上記極間間隙状態判別手段から異常放電判別
信号を受けたときには、極間間隙長サーボのサーボゲイ
ンを増加させて間隙の開離と接近速度を増加させること
により、迅速に間隙状態を正常化し、正常判別信号を受
けているときは上記サーボゲインを低下させ、正常状態
を維持するために間隙長を変えないように制御して加工
速度の向上を図る。
以下、図面に基づいてこの発明の好適な実施例を説明す
る。第１図はこの発明における検出原理を説明するため
の説明図で、前記第７図と同一部分には同一符号を付す
る。上，下ガイド８Ａ，８Ｂ間に張設されたワイヤ電極
２には検知手段としての音声センサ１６が接し、ワイヤ
電極２を介して伝わつてくる極間の音声信号を感知して
いる。１７は、音声センサ１６から出力された音声信号
を増幅→周波数弁別→分析処理を行う極間間隙状態判別
手段である。
る。第１図はこの発明における検出原理を説明するため
の説明図で、前記第７図と同一部分には同一符号を付す
る。上，下ガイド８Ａ，８Ｂ間に張設されたワイヤ電極
２には検知手段としての音声センサ１６が接し、ワイヤ
電極２を介して伝わつてくる極間の音声信号を感知して
いる。１７は、音声センサ１６から出力された音声信号
を増幅→周波数弁別→分析処理を行う極間間隙状態判別
手段である。
第２図は、上記極間間隙状態判別手段１７より得られた
信号に基ずいて、音声周波数スペクトルと極間状態の関
係を示す図表であつて A, 無放電時はほぼ無音に近く、ワイヤ電極２のガイド
間スパンに相当する弦振動周波数fL（以下、fLと略記す
る）が若干見うけられる。
信号に基ずいて、音声周波数スペクトルと極間状態の関
係を示す図表であつて A, 無放電時はほぼ無音に近く、ワイヤ電極２のガイド
間スパンに相当する弦振動周波数fL（以下、fLと略記す
る）が若干見うけられる。
B, 正常放電時は弦振動（数KHz）から高周波振動数１
００KHzまで広く分布している。
００KHzまで広く分布している。
C, ワイヤ電極の断線直前時には弦振動は減少し、加工
電源１５からのパルスの周波数f0（以下、f0と略記す
る）付近の非分布性の音となる。これは放電点が集中
し、パルス周期に同期して放電するためと、弦振動を発
生するだけの放電による反力も減少しているからと考え
られる。
電源１５からのパルスの周波数f0（以下、f0と略記す
る）付近の非分布性の音となる。これは放電点が集中
し、パルス周期に同期して放電するためと、弦振動を発
生するだけの放電による反力も減少しているからと考え
られる。
D, 短絡時には弦振動は零で、電流がワイヤ電極→被加
工物を流れる際の磁歪振動だけが観測される。
工物を流れる際の磁歪振動だけが観測される。
尚、短絡時とワイヤ電極の断線直前時の周波数スペクト
ルは次式のようにあらわされる。
ルは次式のようにあらわされる。
第２図の周波数スペクトル分析結果から以下のことがわ
かる。
かる。
(1) 加工が良好状態の時は、高周波fH（以下、fHと略
記する）における分布が大きく量も大である。
記する）における分布が大きく量も大である。
(2) 短絡あるいはワイヤ電極の断線直前の状況では高
周波fHはほとんど存在しない。
周波fHはほとんど存在しない。
(3) f0の時の出力が低くfHでの出力が大であれば、正
常放電とみなせる。
常放電とみなせる。
(4) ワイヤ電極の弦振動は、正常放電時が最大で以
下、ワイヤ電極の断線直前→無放電→短絡(零)の順であ
るが、被加工物の板厚によつてスパン距離は変化し周波
数も変わるので、判断要素としては扱いずらい。
下、ワイヤ電極の断線直前→無放電→短絡(零)の順であ
るが、被加工物の板厚によつてスパン距離は変化し周波
数も変わるので、判断要素としては扱いずらい。
上記の結果より、(3)項のような状態にあることを判別
できれば放電状態の異常識別が可能となることがわか
る。
できれば放電状態の異常識別が可能となることがわか
る。
第３図は極間間隙状態判別手段１７を示す概要図であつ
て、基本的には周波数スペクトル分析器と同様の構成と
なつている。音声センサ１６で検出され増幅器１８で増
幅された極間間隙の音声信号Ｆ(t)は、ＦＭ変調器１９
の出力信号ｆ(t)と混合器２０によつて混合され、ヘテ
ロダイン検波によつてＦ(t)とｆ(t)の和の周波数のうち
中間周波ｊ(t)の周波数のみが取り出され、これは中間
周波数増幅器２１により増幅され、検波器２２により振
幅分が検波されて低周波増幅器２３によつて増幅され
る。上記中間周波数増幅器２１には、上記中間周波数ｊ
（ｔ）付近にのみ同調する同調回路が設けられているの
が通常であり、この同調回路はコイルとコンデンサで構
成される同調タンク回路、水晶振動子、圧電セラミック
等が用いられるが、これ等は周知であるので詳細な説明
は省略する。
て、基本的には周波数スペクトル分析器と同様の構成と
なつている。音声センサ１６で検出され増幅器１８で増
幅された極間間隙の音声信号Ｆ(t)は、ＦＭ変調器１９
の出力信号ｆ(t)と混合器２０によつて混合され、ヘテ
ロダイン検波によつてＦ(t)とｆ(t)の和の周波数のうち
中間周波ｊ(t)の周波数のみが取り出され、これは中間
周波数増幅器２１により増幅され、検波器２２により振
幅分が検波されて低周波増幅器２３によつて増幅され
る。上記中間周波数増幅器２１には、上記中間周波数ｊ
（ｔ）付近にのみ同調する同調回路が設けられているの
が通常であり、この同調回路はコイルとコンデンサで構
成される同調タンク回路、水晶振動子、圧電セラミック
等が用いられるが、これ等は周知であるので詳細な説明
は省略する。
前述のＦＭ変調器１９は、アナログ電圧Avによつて周波
数変調されているので、このアナログ電圧Avを時間に比
例して変化させることにより時間と周波数の関係が直線
的となり、時間毎にＦ(t)のうちのｊ(t)の周波数分多い
だけの周波数スペクトルの振幅を低周波増幅器２３の出
力として取り出すことができる。
数変調されているので、このアナログ電圧Avを時間に比
例して変化させることにより時間と周波数の関係が直線
的となり、時間毎にＦ(t)のうちのｊ(t)の周波数分多い
だけの周波数スペクトルの振幅を低周波増幅器２３の出
力として取り出すことができる。
よつて、アナログ電圧Avが前記のf0，fHに相当する電圧
になる時間は正確な発振器２４及びこの出力を数えてい
くカウンター２５によつて判別できる。２６はf0の判別
器、２７はfHの判別器である。カウンター２５の内容は
D／A変換器２８によつてアナログ電圧AVとなり、前記Ｆ
Ｍ変調器１９を変調する。
になる時間は正確な発振器２４及びこの出力を数えてい
くカウンター２５によつて判別できる。２６はf0の判別
器、２７はfHの判別器である。カウンター２５の内容は
D／A変換器２８によつてアナログ電圧AVとなり、前記Ｆ
Ｍ変調器１９を変調する。
レベル比較器２９はf0判別器あるいはfH判別器よりのタ
イミング信号に応答して、そのタイミングにおける所定
の基準値よりも低周波増幅された振幅すなわち周波数ス
ペクトルが大か小かの判別をし、この結果に基づいて異
常放電の時は信号SAを出す。例えばf0が３KHz fHが５Ｍ
Hzとする。また中間周波数10.7Ｍ Hz とすれば、ｆ(t)
が、10.697ＭHzの時にf0が5.700 ＭHzの時fHの各スペク
トルが検出できる。
イミング信号に応答して、そのタイミングにおける所定
の基準値よりも低周波増幅された振幅すなわち周波数ス
ペクトルが大か小かの判別をし、この結果に基づいて異
常放電の時は信号SAを出す。例えばf0が３KHz fHが５Ｍ
Hzとする。また中間周波数10.7Ｍ Hz とすれば、ｆ(t)
が、10.697ＭHzの時にf0が5.700 ＭHzの時fHの各スペク
トルが検出できる。
ＦＭ変調器１９が広帯域のものであつて、入力電圧０Ｖ
の時５ＭHz、１０Ｖの時１０ＭHzのものとし、D／A変換
が１６bitタイプのものなら、±８０Hz程度の分解能の
スペクトル分析器となる。また、f0に関しては常に加工
の条件選択の毎に変更されるので、 （ただし、周期Ｔにオンタイムとオフタイムの和）の演
算制御を行う必要がある。
の時５ＭHz、１０Ｖの時１０ＭHzのものとし、D／A変換
が１６bitタイプのものなら、±８０Hz程度の分解能の
スペクトル分析器となる。また、f0に関しては常に加工
の条件選択の毎に変更されるので、 （ただし、周期Ｔにオンタイムとオフタイムの和）の演
算制御を行う必要がある。
上記異常放電信号SAについて、第３図のレベル比較器２
９の詳細説明を第４図を用いてより詳しく説明する。低
周波増幅器２３の出力はアナログスイツチ３０，３１に
より、各々f0判別とfH判別のタイミング以外に比較器３
２，３３に接続されないようになつている。
９の詳細説明を第４図を用いてより詳しく説明する。低
周波増幅器２３の出力はアナログスイツチ３０，３１に
より、各々f0判別とfH判別のタイミング以外に比較器３
２，３３に接続されないようになつている。
そして、f0判別タイミングにおいて、スペクトル振幅V0
がV1より大であると、比較器３２の出力は“１”とな
り、ANDゲート３４を介してカウンター３５をカウント
アップする。また、fH判別タイミングにおいて、上記V0
がV2より大であると、比較器３３の出力は“１”とな
り、ANDゲート３６を介してカウンター３５をリセツト
するので、このカウンター３５はf0タイミングでのスペ
クトル振幅（V0がV1より）大の時内容が増加して異常放
電信号を出力し、fHタイミングでのスペクトル振幅V0が
V2より大の時はただちにカウンタ内容が零になる。よつ
て高周波成分があれば零、f0成分が大であると増加とい
う状態をくりかえすので、このカウンター内容をD／A変
換器３７を用いてアナログ電圧V3を観察することによつ
ても、極間間隙状態の良否を判別できる。すなわち、V3
が大であれば異常放電に近づいていることとなり、例え
ば加工粉の滞留によつて極間間隙スラツジがたまつてい
る等の不具合が容易に検出できる。
がV1より大であると、比較器３２の出力は“１”とな
り、ANDゲート３４を介してカウンター３５をカウント
アップする。また、fH判別タイミングにおいて、上記V0
がV2より大であると、比較器３３の出力は“１”とな
り、ANDゲート３６を介してカウンター３５をリセツト
するので、このカウンター３５はf0タイミングでのスペ
クトル振幅（V0がV1より）大の時内容が増加して異常放
電信号を出力し、fHタイミングでのスペクトル振幅V0が
V2より大の時はただちにカウンタ内容が零になる。よつ
て高周波成分があれば零、f0成分が大であると増加とい
う状態をくりかえすので、このカウンター内容をD／A変
換器３７を用いてアナログ電圧V3を観察することによつ
ても、極間間隙状態の良否を判別できる。すなわち、V3
が大であれば異常放電に近づいていることとなり、例え
ば加工粉の滞留によつて極間間隙スラツジがたまつてい
る等の不具合が容易に検出できる。
第５図は上記極間間隙状態判別手段１７で判別された極
間間隙状態を、加工モニターとしてより見やすくした表
示回路であつて、第５図(a)は正常放電信号V1＜を端
子に、異常放電信号V1〜V2をＣＵ端子に供給印加する前
記カウンタ３５の出力を、表示ドライバ３８に接続し該
表示ドライバの出力でバー表示LED３９を駆動して、カ
ウンタ内容に応じたバー状表示を行う実施例である。第
５図(b)は、正常放電信号V1＜をカウントダウン端子Ｃ
Ｄに入力し、異常放電信号V1〜V2をカウントアツプ端子
ＣＵに入力し、連続的な状態変化を検出表示するように
したものである。
間間隙状態を、加工モニターとしてより見やすくした表
示回路であつて、第５図(a)は正常放電信号V1＜を端
子に、異常放電信号V1〜V2をＣＵ端子に供給印加する前
記カウンタ３５の出力を、表示ドライバ３８に接続し該
表示ドライバの出力でバー表示LED３９を駆動して、カ
ウンタ内容に応じたバー状表示を行う実施例である。第
５図(b)は、正常放電信号V1＜をカウントダウン端子Ｃ
Ｄに入力し、異常放電信号V1〜V2をカウントアツプ端子
ＣＵに入力し、連続的な状態変化を検出表示するように
したものである。
上記カウンタ３５の内容にもとずいて、極間間隙を制御
する手段のサーボゲイン、すなわち感度を変化させるこ
とにより、短絡や開放状態、あるいはワイヤ電極の断線
直前状態を回復させることができる。
する手段のサーボゲイン、すなわち感度を変化させるこ
とにより、短絡や開放状態、あるいはワイヤ電極の断線
直前状態を回復させることができる。
すなわち上記のような悪い極間状態の場合、サボゲイン
を増加させ、間隙の開離と接近の速度を増加させること
により、すみやかに機械的な悪状態からの回避ができる
ようになり、極間状態を回復させることができる。
を増加させ、間隙の開離と接近の速度を増加させること
により、すみやかに機械的な悪状態からの回避ができる
ようになり、極間状態を回復させることができる。
上記のような制御を行なう制御手段４０の１例を第６図
を用いて詳細に説明する。１００は乗算型のデイジタル
アナログ変換器で、前記カウンタ３５の出力に従い速度
指令電圧Fxに乗算した形式で出力できる素子であつて、
米国アナログデバイス社製のAD7520 等が公知である。
すなわち、入力信号に対してボリュームの働きをさせる
ものと考えればよい。そしてこのボリュームの値が上記
カウンタ３５の出力（デイジタル値）によつて変化する
のである。
を用いて詳細に説明する。１００は乗算型のデイジタル
アナログ変換器で、前記カウンタ３５の出力に従い速度
指令電圧Fxに乗算した形式で出力できる素子であつて、
米国アナログデバイス社製のAD7520 等が公知である。
すなわち、入力信号に対してボリュームの働きをさせる
ものと考えればよい。そしてこのボリュームの値が上記
カウンタ３５の出力（デイジタル値）によつて変化する
のである。
よつて本例によれば、極間状態の悪化に従つてサーボゲ
インが乗算型デイジタルアナログコンバータ１００によ
り増加し、抵抗１０２、１０３とオペアンプ１０４によ
つて構成される増幅器101 を介し、本来上記速度指令電
圧Fxが直接入力されていた制御装置１４の中のモーター
駆動アンプ１０５の入力端を、上記増幅器１０１の出力
端に接続することにより、テーブル送りモーターMxの速
度は変化する。
インが乗算型デイジタルアナログコンバータ１００によ
り増加し、抵抗１０２、１０３とオペアンプ１０４によ
つて構成される増幅器101 を介し、本来上記速度指令電
圧Fxが直接入力されていた制御装置１４の中のモーター
駆動アンプ１０５の入力端を、上記増幅器１０１の出力
端に接続することにより、テーブル送りモーターMxの速
度は変化する。
なお、本例では極間状態の悪さに比例してほぼ直線的に
サーボゲインを増加させているが、必ずしも直線的に変
化させる必要はなく、２次関数的あるいは、折れ線的変
化によつてもよい。上記カウンタ３５の検出信号を用い
２段階の制御を行なう場合、容易でかつ低価格となる。
サーボゲインを増加させているが、必ずしも直線的に変
化させる必要はなく、２次関数的あるいは、折れ線的変
化によつてもよい。上記カウンタ３５の検出信号を用い
２段階の制御を行なう場合、容易でかつ低価格となる。
また、実験によれば、極間状態が悪化した時、少くとも
２０mm／分以上の速度がないと、ワイヤ電線の断線に移
行し、多量の加工粉が極間間隙に滞留した時は、２００
mm／分程度の速度が必要であることが判明している。ま
た、安定な加工の際は、面粗度１５μRmax以下の仕上加
工において５〜１０mm／分の速度の時加工能率が高いと
いうことも確認されており、おおむねこれらの領域で速
度設定が必要と考察される。
２０mm／分以上の速度がないと、ワイヤ電線の断線に移
行し、多量の加工粉が極間間隙に滞留した時は、２００
mm／分程度の速度が必要であることが判明している。ま
た、安定な加工の際は、面粗度１５μRmax以下の仕上加
工において５〜１０mm／分の速度の時加工能率が高いと
いうことも確認されており、おおむねこれらの領域で速
度設定が必要と考察される。
以上のように、この発明によれば、ワイヤ電極と被加工
物との対向する極間間隙で放電したとき該放電による音
声信号を検知する検知手段の検知信号に基づき前記放電
の開始から高周波周波数が検知される第１の時期と加工
電源のパルス周波数が検知される第２の時期を判別し、
前記第１の時期の判別信号で選択された前記検知手段の
検知信号でカウンタ内容をキャンセルし前記第２の時期
の判別信号で選択された該検知手段の検知信号でカウン
タ内容を増加して前記極間間隙の状態を判断するので、
容易かつ安価な構成で極間状態の良否を正確に判別でき
る。そして、極間間隙状態の異常が判別されたときは該
判別結果をもとにして極間間隙状態の回復をはかるため
に、極間間隙サーボ手段のサーボゲインを増加させてサ
ーボモーターの速度つまりワイヤ電極の移動速度を早
め、極間間隙における間隙の開離と接近をすみやかに行
なわせるもので、ワイヤ電極の断線事故を確実に防止
し、加工速度の向上を図ることができるという効果があ
る。
物との対向する極間間隙で放電したとき該放電による音
声信号を検知する検知手段の検知信号に基づき前記放電
の開始から高周波周波数が検知される第１の時期と加工
電源のパルス周波数が検知される第２の時期を判別し、
前記第１の時期の判別信号で選択された前記検知手段の
検知信号でカウンタ内容をキャンセルし前記第２の時期
の判別信号で選択された該検知手段の検知信号でカウン
タ内容を増加して前記極間間隙の状態を判断するので、
容易かつ安価な構成で極間状態の良否を正確に判別でき
る。そして、極間間隙状態の異常が判別されたときは該
判別結果をもとにして極間間隙状態の回復をはかるため
に、極間間隙サーボ手段のサーボゲインを増加させてサ
ーボモーターの速度つまりワイヤ電極の移動速度を早
め、極間間隙における間隙の開離と接近をすみやかに行
なわせるもので、ワイヤ電極の断線事故を確実に防止
し、加工速度の向上を図ることができるという効果があ
る。
第１図はこの発明の一実施例を示す原理説明図、第２図
は周波数スペクトルと極間状態の関係を示す説明図、第
３図は周波数スペクトル分析回路図、第４図はレベル比
較器の回路構成を示すブロツク図、第５図は極間状態の
表示回路図、第６図は制御手段の回路構成を示すブロツ
ク図、第７図は従来のワイヤカツト放電加工装置を示す
原理図である。 １は被加工物、２はワイヤ電極、１６は検知手段（音声
センサ）、１７は極間間隙状態判別手段、４０は制御手
段。 なお、図中同一符号は同一又は相当部分を示す。
は周波数スペクトルと極間状態の関係を示す説明図、第
３図は周波数スペクトル分析回路図、第４図はレベル比
較器の回路構成を示すブロツク図、第５図は極間状態の
表示回路図、第６図は制御手段の回路構成を示すブロツ
ク図、第７図は従来のワイヤカツト放電加工装置を示す
原理図である。 １は被加工物、２はワイヤ電極、１６は検知手段（音声
センサ）、１７は極間間隙状態判別手段、４０は制御手
段。 なお、図中同一符号は同一又は相当部分を示す。
Claims (1)
- 【請求項１】ワイヤ電極と被加工物とを絶縁性加工液を
介在させて対向させ、そのワイヤ電極と被加工物間にパ
ルス電圧を印加して両者間に放電を発生させ、その放電
エネルギで上記被加工物を加工するワイヤカット放電加
工装置において、上記ワイヤ電極と被加工物との対向す
る極間間隙で放電したとき該放電による音声信号を検知
する検知手段と、 この検知手段の検知信号に基づき前記放電の開始から高
周波周波数が検知される第１の時期と加工電源のパルス
周波数が検知される第２の時期を判別し、前記第１の時
期の判別信号で選択された前記検知手段の検知信号でカ
ウンタ内容をキャンセルし前記第２の時期の判別信号で
選択された該検知手段の検知信号でカウンタ内容を増加
し前記極間間隙の状態を判断して異常信号を出力する極
間間隙状態判別手段と、 この極間間隙状態判別手段からの異常信号の出力に基づ
いてサーボゲインを増加させ、前記ワイヤ電極の移動速
度を早めるように制御する制御手段を具備したことを特
徴とするワイヤカット放電加工装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23119184A JPH0661662B2 (ja) | 1984-11-05 | 1984-11-05 | ワイヤカツト放電加工装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23119184A JPH0661662B2 (ja) | 1984-11-05 | 1984-11-05 | ワイヤカツト放電加工装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61111827A JPS61111827A (ja) | 1986-05-29 |
| JPH0661662B2 true JPH0661662B2 (ja) | 1994-08-17 |
Family
ID=16919757
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23119184A Expired - Lifetime JPH0661662B2 (ja) | 1984-11-05 | 1984-11-05 | ワイヤカツト放電加工装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0661662B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5409310A (en) * | 1993-09-30 | 1995-04-25 | Semitool, Inc. | Semiconductor processor liquid spray system with additive blending |
| CN108788056A (zh) * | 2018-08-24 | 2018-11-13 | 中冶赛迪技术研究中心有限公司 | 一种连铸火切切割质量的判定方法及系统 |
-
1984
- 1984-11-05 JP JP23119184A patent/JPH0661662B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61111827A (ja) | 1986-05-29 |
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