JPH066227A - A/d converter - Google Patents

A/d converter

Info

Publication number
JPH066227A
JPH066227A JP18735792A JP18735792A JPH066227A JP H066227 A JPH066227 A JP H066227A JP 18735792 A JP18735792 A JP 18735792A JP 18735792 A JP18735792 A JP 18735792A JP H066227 A JPH066227 A JP H066227A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
output
terminal
reference voltage
analog
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP18735792A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kosuke Nobuoka
幸助 信岡
Shinji Sakai
信二 堺
Tsutomu Sato
力 佐藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP18735792A priority Critical patent/JPH066227A/en
Publication of JPH066227A publication Critical patent/JPH066227A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Analogue/Digital Conversion (AREA)

Abstract

PURPOSE:To provide an A/D converter which can decrease the deterioration of the converting accuracy due to the offset dispersion of a voltage comparator. CONSTITUTION:The reference voltage ET and EB (ET>EB) are applied to the 1st and 2nd reference voltage input terminals 2 and 3 respectively. Under such conditions, the reference voltage having the subdivided scale (ET-EB)/256 (thereafter referred to as deltaE) is applied to one of both terminals of each voltage comparator 5. The output of a voltage comparator 5-2 is set at a high level when the analog input voltage applied to an analog signal input terminal 1 is higher than (EB+8deltaE). The high output of the comparator 5-2 is transmitted to a circuit 11. At the same time, the output of 3 less significant bits received from a digital signal generator 6 is supplied to an output terminal 13 of 3 less significant bits. Meanwhile the 3 less significant bits are calculated by majority of plural voltage comparison means by a block 8 and outputted to the circuit 11 when the analog input signal voltage is lower than (EB+8deltaE).

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、アナログ信号をデジタ
ル信号に変換するアナログ−デジタル(A/D)コンバ
ータに関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an analog-digital (A / D) converter for converting an analog signal into a digital signal.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、アナログ信号をデジタル信号に変
換するA/Dコンバータには、いくつかの方式がある。
このうち、フラッシュタイプと呼ばれる方式のA/Dコ
ンバータは、変換速度に優れているため、ビデオ信号
等、高周波信号のA/D変換によく用いられている。図
3は、フラッシュタイプの8ビットA/Dコンバータの
従来例を示したブロック図である。同図において、31
はアナログ信号入力端子、32は第1の基準電圧入力端
子、33は第2の基準電圧入力端子、34は抵抗素子、
35は演算増幅器等で構成される電圧比較器、36は電
圧比較器35の出力に応じてデジタル信号を生成する回
路、37はデジタル信号出力端子である。この従来例で
は、抵抗素子34および電圧比較器35の数は、28
256個とする。
2. Description of the Related Art Conventionally, there are several types of A / D converters for converting analog signals into digital signals.
Of these, the flash type A / D converter is often used for A / D conversion of high-frequency signals such as video signals because of its excellent conversion speed. FIG. 3 is a block diagram showing a conventional example of a flash type 8-bit A / D converter. In the figure, 31
Is an analog signal input terminal, 32 is a first reference voltage input terminal, 33 is a second reference voltage input terminal, 34 is a resistance element,
Reference numeral 35 is a voltage comparator including an operational amplifier, 36 is a circuit for generating a digital signal according to the output of the voltage comparator 35, and 37 is a digital signal output terminal. In this conventional example, the number of resistance elements 34 and voltage comparators 35 is 2 8 =
The number is 256.

【0003】次に、従来のフラッシュタイプA/Dコン
バータの動作について説明する。
Next, the operation of the conventional flash type A / D converter will be described.

【0004】第1の基準電圧入力端子32にET,第2
の基準電圧入力端子33にEB(ET>EB なる基準電
圧が印加されているものとすれば、電圧比較器35の−
端子に加わる電圧は、下から順に(ET−EB)/256
ずつ256段階高くなる。電圧比較器35は、アナログ
信号入力端子31に加えられたアナログ信号電圧と、上
記256段階の基準電圧を比較し、アナログ電圧に応じ
てLOWまたはHIGH電圧を出力する。そして、上記電圧比
較器35の出力に基づき、回路36は、デジタル符号を
生成し、出力端子37に出力する。このように、フラッ
シュタイプのA/Dコンバータは、基準電圧入力端子に
加えられた基準電圧を上限、下限とし、その上限、下限
の間を256等分し、デジタル信号に変換する。このと
き、デジタル出力のビット数は8となる。
E is applied to the first reference voltage input terminal 32.T, Second
E to the reference voltage input terminal 33 ofB(ET> EB) Become a reference power
Assuming that a pressure is applied, the voltage comparator 35
The voltage applied to the terminals is (ET-EB) / 256
Each is 256 steps higher. The voltage comparator 35 is an analog
The analog signal voltage applied to the signal input terminal 31
Note: Compare 256 levels of reference voltage,
Output LOW or HIGH voltage. And the voltage ratio
Based on the output of the comparator 35, the circuit 36 outputs the digital code.
It is generated and output to the output terminal 37. Thus,
Shu type A / D converter has a reference voltage input terminal
The applied reference voltage is the upper and lower limits, and the upper and lower limits
Is divided into 256 equal parts and converted into digital signals. This and
Then, the number of bits of digital output is 8.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】上記従来のフラッシュ
タイプA/Dコンバータでは、多数の抵抗素子、電圧比
較器を必要とするが、こうした抵抗素子の抵抗値、電圧
比較器の特性は一定ではなく、ばらつきがある。特に電
圧比較器には、通常、演算増幅器が用いられるが、演算
増幅器の出力を0Vとするための入力電圧は0Vではな
く、オフセットと呼ばれる誤差を有している。このオフ
セットがばらつくため、A/D変換したときの直線性、
すなわち変換精度が、他の方式と比べ劣るという問題点
がある。本発明は、上記の問題点に鑑み、電圧比較器の
オフセットのばらつきによる変換精度の劣化を低減する
ことのできるA/Dコンバータを提供することを目的と
する。
The above-mentioned conventional flash type A / D converter requires a large number of resistance elements and voltage comparators, but the resistance values of these resistance elements and the characteristics of the voltage comparators are not constant. , There are variations. In particular, an operational amplifier is usually used for the voltage comparator, but the input voltage for setting the output of the operational amplifier to 0V is not 0V but has an error called offset. Since this offset varies, the linearity of A / D conversion,
That is, there is a problem that the conversion accuracy is inferior to other methods. In view of the above problems, it is an object of the present invention to provide an A / D converter that can reduce deterioration of conversion accuracy due to variations in offset of a voltage comparator.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、この発明のA/Dコンバータはアナログ信号入力
端子と、2つの基準電圧入力端子と前記2つの基準電圧
入力端子間に直列に接続された抵抗素子と、該複数の抵
抗素子間の電圧と前記アナログ信号レベルとを比較する
複数の電圧比較手段と、前記複数の電圧比較手段の出力
から、デジタル信号を生成する回路を具備し、アナログ
入力電圧が所定の範囲にある場合には、前記電圧比較手
段は抵抗素子と前記アナログ入力端子間の電圧の比較
を、同一抵抗素子に並列に接続された複数の電圧比較器
出力の多数決を比較結果として用いることを特徴として
いる。
In order to achieve the above object, an A / D converter of the present invention has an analog signal input terminal, two reference voltage input terminals, and a series connection between the two reference voltage input terminals. It comprises a connected resistance element, a plurality of voltage comparison means for comparing the voltage between the plurality of resistance elements and the analog signal level, and a circuit for generating a digital signal from the outputs of the plurality of voltage comparison means. When the analog input voltage is within a predetermined range, the voltage comparison means compares the voltage between the resistance element and the analog input terminal by majority decision of the plurality of voltage comparator outputs connected in parallel to the same resistance element. Is used as a comparison result.

【0007】[0007]

【作用】上記の構成を有することにより、電圧比較器の
オフセットのばらつきによる変換精度の劣化を低減する
ことができる。
With the above structure, it is possible to reduce deterioration in conversion accuracy due to variations in offset of the voltage comparator.

【0008】[0008]

【実施例】図1に本発明の第1の実施例を示す。図1は
本発明の一実施例としてフラッシュタイプ8ビットA/
Dコンバータに適用したブロック図である。同図におい
て、1はアナログ信号入力端子、2は第1の基準電圧入
力端子、3は第2の基準電圧入力端子、4は抵抗素子、
5は演算増幅器等で構成される電圧比較器、6は電圧比
較器5の出力に基づき、8ビットのデジタル信号を生成
する回路、7は上位6ビットのデジタル信号出力端子、
8は下位3ビットのデジタル信号を生成するブロックで
あり、その詳細は図2に示す。9は図2の端子21に接
続される端子、10は図2の端子22に接続される端
子、11は電圧比較器5−2の出力に基づき、下位3ビ
ット出力端子13へ伝送するデジタル符号を、回路6ま
たはブロック8のいずれかの3ビット符号とする切換え
回路、12は図2の端子25に接続される端子、13は
下位3ビットのデジタル信号出力端子である。
FIG. 1 shows the first embodiment of the present invention. FIG. 1 shows a flash type 8-bit A /
It is a block diagram applied to a D converter. In the figure, 1 is an analog signal input terminal, 2 is a first reference voltage input terminal, 3 is a second reference voltage input terminal, 4 is a resistance element,
5 is a voltage comparator including an operational amplifier, 6 is a circuit for generating an 8-bit digital signal based on the output of the voltage comparator 5, 7 is a digital signal output terminal of the upper 6 bits,
Reference numeral 8 is a block for generating a digital signal of the lower 3 bits, the details of which are shown in FIG. 9 is a terminal connected to the terminal 21 of FIG. 2, 10 is a terminal connected to the terminal 22 of FIG. 2, 11 is a digital code transmitted to the lower 3 bits output terminal 13 based on the output of the voltage comparator 5-2. Is a 3-bit code of either the circuit 6 or the block 8, 12 is a terminal connected to the terminal 25 of FIG. 2, and 13 is a digital signal output terminal of the lower 3 bits.

【0009】図2は図1のブロック8の詳細図であり、
図2の21は、図1の端子9に接続される端子、22は
図1の端子10に接続される端子、23は抵抗素子、2
4は演算増幅器で構成される電圧比較器、25は図1の
端子11に接続される端子、26は5個の電圧比較器2
6の出力の多数決を求める回路、27は回路6の出力に
基づき3ビットのデジタル符号を生成する符号変換器、
28は下位3ビットのデジタル出力端子である。
FIG. 2 is a detailed view of block 8 of FIG.
2, 21 is a terminal connected to the terminal 9 of FIG. 1, 22 is a terminal connected to the terminal 10 of FIG. 1, 23 is a resistance element, 2
Reference numeral 4 is a voltage comparator composed of operational amplifiers, 25 is a terminal connected to the terminal 11 of FIG. 1, and 26 is five voltage comparators 2.
6 is a circuit for obtaining the majority decision of the output of 6; 27 is a code converter for generating a 3-bit digital code based on the output of the circuit 6;
28 is a digital output terminal of the lower 3 bits.

【0010】次に、本発明の動作について説明する。Next, the operation of the present invention will be described.

【0011】図1において、第1の基準電圧入力端子2
にET,第2の基準電圧入力端子3にEB(ET>EB)な
る基準電圧が印加されているものとすれば、図1の電圧
比較器5の一方の端子には、(ET−EB)/256(以
下δEとする)刻みの基準電圧が加わる。このとき図1
の端子9の電圧は、EB+8δEとなる。従って、アナ
ログ信号入力端子1に加わるアナログ入力電圧が、EB
+8δE以上であるとき、電圧比較器5−2の出力はHI
GHとなる。前記電圧比較器5−2のHIGH出力は、回路1
1に伝送される。このとき、13の下位3ビット出力端
子13には回路6からの下位3ビット出力が接続され
る。この状態では本発明の第1の実施例は、従来例と同
じ手法でA/D変換を行う。また、前記アナログ入力信
号電圧がEB+8δEより低い場合、電圧比較器5−2
の出力はLOWとなり、このとき回路11は、下位3ビッ
ト出力端子13に、ブロック8からの3ビット出力を接
続する。このとき、デジタル出力は、上位5ビット(0
0000となる)は従来の方法で変換したものとなり、
下位3ビットは本発明により変換したものとなる。
In FIG. 1, the first reference voltage input terminal 2
E T in, if that second reference voltage E B at the input terminal 3 (E T> E B) becomes the reference voltage is applied, to one terminal of the voltage comparator 5 in Figure 1, ( A reference voltage in increments of E T −E B ) / 256 (hereinafter referred to as δE) is applied. At this time
The voltage of the terminal 9, the E B + 8δE. Thus, the analog input voltage applied to the analog signal input terminal 1, E B
When + 8δE or more, the output of the voltage comparator 5-2 is HI.
Become GH. The HIGH output of the voltage comparator 5-2 is the circuit 1
1 is transmitted. At this time, the lower 3 bits output from the circuit 6 is connected to the lower 3 bits output terminal 13 of 13. In this state, the first embodiment of the present invention performs A / D conversion by the same method as the conventional example. When the analog input signal voltage is lower than E B + 8δE, the voltage comparator 5-2
Becomes LOW, and at this time, the circuit 11 connects the 3-bit output from the block 8 to the lower 3-bit output terminal 13. At this time, the digital output is the upper 5 bits (0
Will be converted by the conventional method,
The lower 3 bits are converted by the present invention.

【0012】ここで、上記の下位3ビットの変換手段に
ついて、図2により詳細に説明する。図2において、入
力アナログ信号は端子22、基準電圧は、端子間21と
25に印加されている。前記入力アナログ信号電圧が、
B+8δEより低い場合において、前記アナログ入力
電圧は、図2の抵抗素子23で分圧された基準電圧と比
較される。前記図2の抵抗素子23に、並列に接続され
た5個の電圧比較器24は、上記アナログ信号電圧と基
準電圧を比較し各々回路26にLOWまたはHIGHで表され
る出力を伝達する。回路26では入力された5個の電圧
比較器出力の多数決をとる。すなわち、5個の入力のう
ち、LOW が3個以上ならばLOW電圧を出力し、HIGHが3
個以上ならばHIGH電圧を出力する。回路27は回路26
の出力に基づき、3ビットのデジタル符号を生成し、出
力端子27に出力する。
Now, the conversion means of the lower 3 bits will be described in detail with reference to FIG. In FIG. 2, the input analog signal is applied to the terminal 22, and the reference voltage is applied to the terminals 21 and 25. The input analog signal voltage is
When it is lower than E B + 8δE, the analog input voltage is compared with the reference voltage divided by the resistance element 23 in FIG. The five voltage comparators 24 connected in parallel to the resistance element 23 of FIG. 2 compare the analog signal voltage with the reference voltage and transmit the outputs represented by LOW or HIGH to the respective circuits 26. In the circuit 26, the majority of the five input voltage comparator outputs is decided. That is, if LOW is 3 or more out of 5 inputs, LOW voltage is output and HIGH is 3
If it is more than this, it outputs HIGH voltage. Circuit 27 is circuit 26
A 3-bit digital code is generated on the basis of the output of 1 and is output to the output terminal 27.

【0013】[0013]

【発明の効果】以上説明したとおり、本発明によれば、
アナログ入力電圧が所定の範囲にある場合には、同一抵
抗素子に並列に接続された複数の電圧比較器を用いて電
圧比較を行ない、複数の比較結果の多数決をとるため、
電圧比較器のオフセットのばらつきによる変換精度の劣
化を低減することができる。
As described above, according to the present invention,
When the analog input voltage is within a predetermined range, a voltage comparison is performed using a plurality of voltage comparators connected in parallel to the same resistance element, and a majority of the plurality of comparison results is taken.
It is possible to reduce deterioration of conversion accuracy due to variation in offset of the voltage comparator.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例としてフラッシュタイプ8ビ
ットA/Dコンバータに適用したブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram applied to a flash type 8-bit A / D converter as one embodiment of the present invention.

【図2】図1の下位2ビットのデジタル信号を生成する
ブロック8の詳細図である。
2 is a detailed diagram of a block 8 for generating a digital signal of lower 2 bits of FIG. 1. FIG.

【図3】フラッシュタイプの8ビットA/Dコンバータ
の従来例を示したブロック図である。
FIG. 3 is a block diagram showing a conventional example of a flash type 8-bit A / D converter.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 アナログ信号入力端子 2 第1の基準電圧入力端子 3 第2の基準電圧入力端子 4 抵抗素子 5 電圧比較器 6 上位5ビットのデジタル符号を生成する回路 7 上位5ビットのデジタル信号出力端子 8 下位3ビットおよび桁落ちビットを計算するブロッ
ク 9 図2の21の端子に接続される端子 10 図2の22の端子に接続される端子 11 図2の25の端子に接続される端子 12 下位3ビットのデジタル信号出力端子 13 2ビットの桁落ちを出力する端子
1 Analog signal input terminal 2 First reference voltage input terminal 3 Second reference voltage input terminal 4 Resistor element 5 Voltage comparator 6 Circuit for generating digital code of upper 5 bits 7 Upper 5 bit digital signal output terminal 8 Lower Block for calculating 3 bits and precision loss bit 9 Terminal connected to terminal 21 of FIG. 2 10 Terminal connected to terminal 22 of FIG. 11 Terminal connected to terminal 25 of FIG. 2 Lower 3 bits Digital signal output terminal 13 Terminal for outputting a 2-bit precision loss

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 アナログ信号入力端子と、2つの基準電
圧入力端子と、前記2つの基準電圧入力端子間に直列に
接続された複数個の抵抗素子と、該複数個の抵抗素子間
の電圧と前記アナログ信号レベルとを比較する複数の電
圧比較手段と、前記複数の電圧比較手段の出力から、デ
ジタル信号を生成する回路を具備するアナログ−デジタ
ルコンバータにおいて、前記アナログ信号入力電圧が所
定の範囲にある場合には、前記電圧比較手段は同一抵抗
素子に並列接続された複数の電圧比較器の出力の多数決
に基づきデジタル符号を生成することを特徴とするアナ
ログ−デジタルコンバ−タ。
1. An analog signal input terminal, two reference voltage input terminals, a plurality of resistance elements connected in series between the two reference voltage input terminals, and a voltage between the plurality of resistance elements. In an analog-digital converter comprising a plurality of voltage comparing means for comparing the analog signal levels and a circuit for generating a digital signal from the outputs of the plurality of voltage comparing means, the analog signal input voltage is within a predetermined range. In one case, the voltage comparison means generates a digital code based on a majority decision of outputs of a plurality of voltage comparators connected in parallel to the same resistance element, and an analog-digital converter.
JP18735792A 1992-06-23 1992-06-23 A/d converter Pending JPH066227A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18735792A JPH066227A (en) 1992-06-23 1992-06-23 A/d converter

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18735792A JPH066227A (en) 1992-06-23 1992-06-23 A/d converter

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH066227A true JPH066227A (en) 1994-01-14

Family

ID=16204585

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP18735792A Pending JPH066227A (en) 1992-06-23 1992-06-23 A/d converter

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH066227A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010011034A (en) * 2008-06-26 2010-01-14 Fujitsu Ltd Ad converter circuit and receiver circuit
JP2014131227A (en) * 2012-12-28 2014-07-10 Advantest Corp Measuring apparatus and electronic device
JP2014130095A (en) * 2012-12-28 2014-07-10 Advantest Corp Testing device and testing method

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010011034A (en) * 2008-06-26 2010-01-14 Fujitsu Ltd Ad converter circuit and receiver circuit
JP2014131227A (en) * 2012-12-28 2014-07-10 Advantest Corp Measuring apparatus and electronic device
JP2014130095A (en) * 2012-12-28 2014-07-10 Advantest Corp Testing device and testing method
US9213669B2 (en) 2012-12-28 2015-12-15 Advantest Corporation Test apparatus and test method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20050068211A1 (en) Ad conversion apparatus and method
US5184130A (en) Multi-stage A/D converter
US5231398A (en) Method and apparatus for self-tracking multiple analog to digital conversion
US4635036A (en) Analog-to-digital converter
US8059021B2 (en) Digital-analog converting apparatus and test apparatus
US5164728A (en) A/D converter with complementary interpolating voltage dividers
JP4583689B2 (en) Digital-to-analog converter
US5210537A (en) Multi-stage A/D converter
JPH11330964A (en) Multistage analog-digital converter using dither
US4122439A (en) Serial parallel type analog to digital converting device
US6124820A (en) Error correction architecture for pipeline analog to digital converters
US4498072A (en) A/D Converter having a self-bias circuit
US6288662B1 (en) A/D converter circuit having ladder resistor network with alternating first and second resistors of different resistance values
US7187317B2 (en) A/D conversion apparatus
US5017918A (en) Method and circuit for eliminating major bit transition error at the bipolar zero point in a digital-to-analog converter
HK1041985B (en) Floating-point analog-to-digital converter and method for providing analog-to-digital coversion of an analog input signal
US20040207550A1 (en) Parallel a/d converter
JPH066226A (en) Analog-digital converter
JP3112349B2 (en) Analog-to-digital converter
US4866443A (en) A/D converter having multiplication function
US4864304A (en) Analog voltage signal comparator circuit
JPH06112824A (en) Interpolation type A / D converter
US20260100721A1 (en) Digital to analog conversion system and digital to analog conversion method
KR100190530B1 (en) Sample and hold circuit of analog-to-digital converter
JPS59181822A (en) Decoder for parallel expansion type digital-analog converter