JPH0664023B2 - 超音波検査システム - Google Patents
超音波検査システムInfo
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- JPH0664023B2 JPH0664023B2 JP61502842A JP50284286A JPH0664023B2 JP H0664023 B2 JPH0664023 B2 JP H0664023B2 JP 61502842 A JP61502842 A JP 61502842A JP 50284286 A JP50284286 A JP 50284286A JP H0664023 B2 JPH0664023 B2 JP H0664023B2
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/22—Details, e.g. general constructional or apparatus details
- G01N29/26—Arrangements for orientation or scanning by relative movement of the head and the sensor
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- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/06—Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy
- G01N29/0609—Display arrangements, e.g. colour displays
- G01N29/0645—Display representation or displayed parameters, e.g. A-, B- or C-Scan
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Description
【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は、パルスエコー法に基づく超音波検査によっ
て、平面または部分的にほぼ平らな表面をもった均一対
象物内における不均一物質の像を作り出しかつ記録する
ことに関する。内部にある不均一物質の像を正確にかつ
境界を明確にして作り出しかつ記録することは、物質内
や溶接ジョイント内の内部欠陥の正確な位置や大きさを
知って、重要建造物や設備の安全を確保し維持すること
にとって非常に重要なことである。
て、平面または部分的にほぼ平らな表面をもった均一対
象物内における不均一物質の像を作り出しかつ記録する
ことに関する。内部にある不均一物質の像を正確にかつ
境界を明確にして作り出しかつ記録することは、物質内
や溶接ジョイント内の内部欠陥の正確な位置や大きさを
知って、重要建造物や設備の安全を確保し維持すること
にとって非常に重要なことである。
背景技術 超音波検査技術においては、物質内や溶接ジョイント内
の欠陥の位置や大きさを知るシステム、特に内部欠陥を
簡単に読み取れる像として作り出すシステムを開発する
上で大きな成果が得られるようになってきている。多く
のシステムにおいては、この成果は、その後に解析され
たりビデオモニター上にグレースケールやカラー像とし
て表示されたり更に磁気記録手段やプリント出力によっ
て恒久的に記録されるエコーデータを蓄積するためのマ
トリクスメモリーを含んだデジタル演算手段を利用する
ことによって得られる。
の欠陥の位置や大きさを知るシステム、特に内部欠陥を
簡単に読み取れる像として作り出すシステムを開発する
上で大きな成果が得られるようになってきている。多く
のシステムにおいては、この成果は、その後に解析され
たりビデオモニター上にグレースケールやカラー像とし
て表示されたり更に磁気記録手段やプリント出力によっ
て恒久的に記録されるエコーデータを蓄積するためのマ
トリクスメモリーを含んだデジタル演算手段を利用する
ことによって得られる。
この種の断面図（Ｂ走査表示）や平面図（Ｃ走査表示）
を得るための超音波検査システムに関して、フラザリィ
（Flathery）等による米国特許3,673,860号やベラー（B
eller）による米国特許3,857,052号が広範囲な説明の例
示となる。また、物質内や溶接ジョイント内にある欠陥
の完全な投影像（Ｐ走査表示）を蓄積及び表示する改良
されたシステムは、ルンド（Lund）等による米国特許3,
939,697号及び4,226,122号で説明されている。しかしな
がら、従来の検査システムは、いずれも充分に満足でき
るものではなかった。
を得るための超音波検査システムに関して、フラザリィ
（Flathery）等による米国特許3,673,860号やベラー（B
eller）による米国特許3,857,052号が広範囲な説明の例
示となる。また、物質内や溶接ジョイント内にある欠陥
の完全な投影像（Ｐ走査表示）を蓄積及び表示する改良
されたシステムは、ルンド（Lund）等による米国特許3,
939,697号及び4,226,122号で説明されている。しかしな
がら、従来の検査システムは、いずれも充分に満足でき
るものではなかった。
超音波検査における主要でかつ重要な問題は、超音波の
装置や技術そのものとは関連がなく、データ、特に欠陥
の厳密な位置と大きさのデータの完全かつ目的にかなっ
た解析と判断とに関連がある。データは不規則でノイズ
が混ざっており、かつ超音波ビームの不可避的な拡散が
欠陥像の不明確な輪郭につながることから、データ内の
小さいけれども重要な変異がしばしば見落とされること
による。
装置や技術そのものとは関連がなく、データ、特に欠陥
の厳密な位置と大きさのデータの完全かつ目的にかなっ
た解析と判断とに関連がある。データは不規則でノイズ
が混ざっており、かつ超音波ビームの不可避的な拡散が
欠陥像の不明確な輪郭につながることから、データ内の
小さいけれども重要な変異がしばしば見落とされること
による。
発明の要約 本発明によるシステムは、従来にない正確さと輪郭の鮮
明な欠陥像を表示する断面図および投影図を提供するこ
とで、従来技術の欠点を打開する普遍的な目的を進展さ
せる。
明な欠陥像を表示する断面図および投影図を提供するこ
とで、従来技術の欠点を打開する普遍的な目的を進展さ
せる。
本発明によれば、超音波ビームの中心軸が対象物の表面
に投影される像を含む対象物の表面上の直線走査路に沿
って所定長のステップで対象物の表面上を移動可能な少
なくとも一つの超音波プローブと、超音波ビームの連続
する入射ポイントの前記表面上の位置に関する情報を含
むデジタル信号を作り出す位置信号生成手段と、各ステ
ップ移動動作が終了したときに、超音波エネルギーの少
なくとも一つの短いパルスを対象物に向けて前記プロー
ブから放射せしめ、エコーパルスを受け取ったときに前
記エコーパルスの振幅と前記入射ポイントとエコーパル
スを起した反射点との音響路の長さとの情報を含むデジ
タルエコーシグナルを作り出す超音波装置と、検査で作
り出されたデータを保存する第１マトリクスメモリーを
含み、該第１マトリクスメモリーは超音波プローブの走
査路と超音波ビームの中心軸とで定義される対象物を通
る断面内の直角座標の行と列の配列に対して相似に対応
する行と列に配列された蓄積アドレスを持ち、各蓄積ア
ドレスはエコー信号の振幅を表すデータを蓄積すると共
に新たなデータ項目を受け取ったときは前記蓄積アドレ
スに前から蓄積されていたデータ項目の合計に新たなデ
ータ項目を加算するデジタル演算手段と、前記位置信号
と前記エコーパルス信号を受け取ったときに、前記入射
ポイントに対応する蓄積アドレスを中心とし、半径が対
象物内における前記音響路の長さに対応した円上に位置
する全ての蓄積アドレスにある前記エコー信号の振幅値
を表すデータを前記第１マトリクスメモリーに蓄積する
第１制御手段と、前記超音波プローブの走査動作を制御
し、前記超音波装置と前記デジタル演算手段と前記第１
制御手段の機能を制御し、前記第１マトリクスメモリー
に蓄積されたデータから得られる断面像を表示するビテ
オスクリーンターミナルと、前記第１マトリクスメモリ
ーに蓄積されたデータと前記スクリーンターミナルに表
示された断面像の恒久的かつ電気的に読み出しが可能な
記録を作成する記録手段と、前記スクリーンターミナル
上に表示された像の恒久的なプリントを作成するプリン
ト手段と、また、前記超音波プローブは連続的でかつ平
行な複数の直線走査路に沿って所定間隔で移動し、前記
デジタル演算手段は、さらに検査で作り出されたデータ
を保存する第２のマトリクスメモリを含み、該第２マト
リクスメモリーは対象物の表面に平行な投影面にある直
角座標の行と列に対して相似に対応する行と列に配列さ
れた蓄積アドレスをもち、各蓄積アドレスには前記エコ
ー信号の振幅値を表すデータ項目の合計値が蓄積され、
更に走査路に沿って前記超音波プローブの各移動動作が
終わると前記第１マトリクスメモリーの各列に配置され
た蓄積アドレスからその列に蓄積されているデータ項目
の最大合計値を読み出し、前記第２マトリクスメモリー
の前記断面と前記投影面との交線に関連する列中の対応
する蓄積アドレス前記データ項目の最大合計値を蓄積
し、前記第１マトリクスメモリーの全ての蓄積アドレス
を零にリセットする第２制御手段を含み、 前記ビデオスクリーンターミナルは、更に前記第２制御
手段の機能を制御し、前記第２マトリクスメモリーに蓄
積されたデータから得られる投影像を表示し、前記記録
手段は、更に前記第２マトリクスメモリーに蓄積された
データの恒久的かつ電気的な読み出しが可能な記録を作
成する手段を含む超音波検査システムが提供される。
に投影される像を含む対象物の表面上の直線走査路に沿
って所定長のステップで対象物の表面上を移動可能な少
なくとも一つの超音波プローブと、超音波ビームの連続
する入射ポイントの前記表面上の位置に関する情報を含
むデジタル信号を作り出す位置信号生成手段と、各ステ
ップ移動動作が終了したときに、超音波エネルギーの少
なくとも一つの短いパルスを対象物に向けて前記プロー
ブから放射せしめ、エコーパルスを受け取ったときに前
記エコーパルスの振幅と前記入射ポイントとエコーパル
スを起した反射点との音響路の長さとの情報を含むデジ
タルエコーシグナルを作り出す超音波装置と、検査で作
り出されたデータを保存する第１マトリクスメモリーを
含み、該第１マトリクスメモリーは超音波プローブの走
査路と超音波ビームの中心軸とで定義される対象物を通
る断面内の直角座標の行と列の配列に対して相似に対応
する行と列に配列された蓄積アドレスを持ち、各蓄積ア
ドレスはエコー信号の振幅を表すデータを蓄積すると共
に新たなデータ項目を受け取ったときは前記蓄積アドレ
スに前から蓄積されていたデータ項目の合計に新たなデ
ータ項目を加算するデジタル演算手段と、前記位置信号
と前記エコーパルス信号を受け取ったときに、前記入射
ポイントに対応する蓄積アドレスを中心とし、半径が対
象物内における前記音響路の長さに対応した円上に位置
する全ての蓄積アドレスにある前記エコー信号の振幅値
を表すデータを前記第１マトリクスメモリーに蓄積する
第１制御手段と、前記超音波プローブの走査動作を制御
し、前記超音波装置と前記デジタル演算手段と前記第１
制御手段の機能を制御し、前記第１マトリクスメモリー
に蓄積されたデータから得られる断面像を表示するビテ
オスクリーンターミナルと、前記第１マトリクスメモリ
ーに蓄積されたデータと前記スクリーンターミナルに表
示された断面像の恒久的かつ電気的に読み出しが可能な
記録を作成する記録手段と、前記スクリーンターミナル
上に表示された像の恒久的なプリントを作成するプリン
ト手段と、また、前記超音波プローブは連続的でかつ平
行な複数の直線走査路に沿って所定間隔で移動し、前記
デジタル演算手段は、さらに検査で作り出されたデータ
を保存する第２のマトリクスメモリを含み、該第２マト
リクスメモリーは対象物の表面に平行な投影面にある直
角座標の行と列に対して相似に対応する行と列に配列さ
れた蓄積アドレスをもち、各蓄積アドレスには前記エコ
ー信号の振幅値を表すデータ項目の合計値が蓄積され、
更に走査路に沿って前記超音波プローブの各移動動作が
終わると前記第１マトリクスメモリーの各列に配置され
た蓄積アドレスからその列に蓄積されているデータ項目
の最大合計値を読み出し、前記第２マトリクスメモリー
の前記断面と前記投影面との交線に関連する列中の対応
する蓄積アドレス前記データ項目の最大合計値を蓄積
し、前記第１マトリクスメモリーの全ての蓄積アドレス
を零にリセットする第２制御手段を含み、 前記ビデオスクリーンターミナルは、更に前記第２制御
手段の機能を制御し、前記第２マトリクスメモリーに蓄
積されたデータから得られる投影像を表示し、前記記録
手段は、更に前記第２マトリクスメモリーに蓄積された
データの恒久的かつ電気的な読み出しが可能な記録を作
成する手段を含む超音波検査システムが提供される。
この新規でかつ原理的に極めて簡単なデータ蓄積システ
ムによれば、重要な欠陥からのエコー信号の振幅は、同
じ蓄積アドレスに振幅データを何度も繰り返しかつ累積
して蓄積することで、大幅に増幅され、一方で非継続的
なランダムノイズ信号のエコー振幅は実質的に増幅され
ない状態を維持する。同時に、欠陥エコー信号の振幅値
は、超音波ビームの中心軸に関連する蓄積アドレスだけ
ではなくて真の音響路の長さ、すなわち個々のエコーパ
ルスに対して測定される真の伝送時間に関連した全ての
蓄積アドレスに同時に蓄積されるので、超音波ビームの
拡散による効果は事実上無視できる。蓄積されたエコー
振幅のデータ項目の累積された合計値がビデオスクリー
ン上にグレースケールやカラーで表示されると、従来に
ない正確でかつ輪郭が鮮明な断面欠陥像（Ｂ走査表示）
の作成と記録とができるようになる。
ムによれば、重要な欠陥からのエコー信号の振幅は、同
じ蓄積アドレスに振幅データを何度も繰り返しかつ累積
して蓄積することで、大幅に増幅され、一方で非継続的
なランダムノイズ信号のエコー振幅は実質的に増幅され
ない状態を維持する。同時に、欠陥エコー信号の振幅値
は、超音波ビームの中心軸に関連する蓄積アドレスだけ
ではなくて真の音響路の長さ、すなわち個々のエコーパ
ルスに対して測定される真の伝送時間に関連した全ての
蓄積アドレスに同時に蓄積されるので、超音波ビームの
拡散による効果は事実上無視できる。蓄積されたエコー
振幅のデータ項目の累積された合計値がビデオスクリー
ン上にグレースケールやカラーで表示されると、従来に
ない正確でかつ輪郭が鮮明な断面欠陥像（Ｂ走査表示）
の作成と記録とができるようになる。
この発明によれば、拡張された検査システムは、検査対
象物の表面に直角でかつ超音波プローブの走査路に直角
および／または平行な投影面上への相似形の投影欠陥像
を作り出す可能性を含んでいる。このようにして、更に
改善された投影欠陥像（Ｐ走査側面および底面表示）の
作成と記録とが可能になり、内部にある全ての不均一物
質の正確な位置と大きさを３次元で得ることが可能とな
る。
象物の表面に直角でかつ超音波プローブの走査路に直角
および／または平行な投影面上への相似形の投影欠陥像
を作り出す可能性を含んでいる。このようにして、更に
改善された投影欠陥像（Ｐ走査側面および底面表示）の
作成と記録とが可能になり、内部にある全ての不均一物
質の正確な位置と大きさを３次元で得ることが可能とな
る。
本発明の他の目的や利点は、添付図面と共に以下の説明
より容易に理解されるであろう。
より容易に理解されるであろう。
図面の簡単な説明 第１図は、本発明による検査システムの概略図であり、
部分的に斜視図、部分的にブロック図として表現されて
いる。
部分的に斜視図、部分的にブロック図として表現されて
いる。
第２図は、第１図のシステムによって得られる断面像
（Ｂ走査表示）の作成と蓄積を説明する概略図である。
（Ｂ走査表示）の作成と蓄積を説明する概略図である。
図示された実施例の詳細な説明 第１図は、平らな表面３を持つ均一物質２内の不均一物
質１の像を作成し記録する検査システムを概略的に示し
ている。このシステムは、超音波プロープ４を含んでお
り、超音波プローブ４から放出された超音波ビームの中
心軸６の表面３上への投影像を含む直線走査路５に沿っ
て、所定の長さでステップ状に手動または自動で超音波
プローブ４が移動できる。位置トランスジューサーとア
ナログデジタル変換手段とを含む位置信号作成手段7,8
が設けられ、超音波ビームの連続する入射ポイント９の
表面３上における位置情報を含むデジタル信号を作成し
伝送している。超音波装置10は、各ステップ移動が終了
するごとに、１またはそれ以上の短い超音波パルスを対
象物２内で放射させ、エコーパルスを受け取ったときに
は、エコーパルスの振幅（ａ）と入射ポイント９からエ
コーパルスを反射によって引き起こす不均一物質１まで
の距離の情報を含んだデジタルエコー信号を作成して伝
送する。
質１の像を作成し記録する検査システムを概略的に示し
ている。このシステムは、超音波プロープ４を含んでお
り、超音波プローブ４から放出された超音波ビームの中
心軸６の表面３上への投影像を含む直線走査路５に沿っ
て、所定の長さでステップ状に手動または自動で超音波
プローブ４が移動できる。位置トランスジューサーとア
ナログデジタル変換手段とを含む位置信号作成手段7,8
が設けられ、超音波ビームの連続する入射ポイント９の
表面３上における位置情報を含むデジタル信号を作成し
伝送している。超音波装置10は、各ステップ移動が終了
するごとに、１またはそれ以上の短い超音波パルスを対
象物２内で放射させ、エコーパルスを受け取ったときに
は、エコーパルスの振幅（ａ）と入射ポイント９からエ
コーパルスを反射によって引き起こす不均一物質１まで
の距離の情報を含んだデジタルエコー信号を作成して伝
送する。
位置信号とエコーパルス信号とは、この検査によって作
成されたデータを蓄積するマトリクスメモリー13,19,2
2,25を含むデジタル演算制御手段12に転送される。ビデ
オスクリーンターミナル16は、超音波プローブ４の走査
動作を制御し、また超音波装置10の機能とデジタル演算
制御装置12を制御し、さらにマトリクスメモリー13,19,
22,25に蓄積されたデータから得られる画像を表示す
る。記録手段17は、マトリクスメモリー13,19,22,25に
蓄積されたデータとスクリーンターミナル16上に表示さ
れた画像の恒久かつ電気的に読み出せる記録を作成する
ように設けられている。プリント手段18は、スクリーン
ターミナル16上に表示された画像の恒久的なプリント出
力を作成するように設けられている。
成されたデータを蓄積するマトリクスメモリー13,19,2
2,25を含むデジタル演算制御手段12に転送される。ビデ
オスクリーンターミナル16は、超音波プローブ４の走査
動作を制御し、また超音波装置10の機能とデジタル演算
制御装置12を制御し、さらにマトリクスメモリー13,19,
22,25に蓄積されたデータから得られる画像を表示す
る。記録手段17は、マトリクスメモリー13,19,22,25に
蓄積されたデータとスクリーンターミナル16上に表示さ
れた画像の恒久かつ電気的に読み出せる記録を作成する
ように設けられている。プリント手段18は、スクリーン
ターミナル16上に表示された画像の恒久的なプリント出
力を作成するように設けられている。
更に第２図は、対象物２の断面14の画像（Ｂ走査表示）
を作り出したときの検査システムの動作を概略的に示し
ている。第１マトリクスメモリー13は、超音波プローブ
４の走査路５と超音波ビームの中心軸６とで定義される
対象物を通る断面14内の直角座標（y,z）の相似に対応
する行ｚと列ｙの配列に関連して行ｚ′と列ｙ′に配列
され蓄積アドレス（ｙ′,z′）を持っている。各蓄積ア
ドレス（ｙ′,z′）は、エコー信号の振幅（ａ）を表す
データを蓄積するようにされ、新たなデータ項目を受け
取ったときには、同じアドレスに前から蓄積されていた
データ項目の合計（Σａ）に新たなデータ項目（ａ）を
加算するようにされている。
を作り出したときの検査システムの動作を概略的に示し
ている。第１マトリクスメモリー13は、超音波プローブ
４の走査路５と超音波ビームの中心軸６とで定義される
対象物を通る断面14内の直角座標（y,z）の相似に対応
する行ｚと列ｙの配列に関連して行ｚ′と列ｙ′に配列
され蓄積アドレス（ｙ′,z′）を持っている。各蓄積ア
ドレス（ｙ′,z′）は、エコー信号の振幅（ａ）を表す
データを蓄積するようにされ、新たなデータ項目を受け
取ったときには、同じアドレスに前から蓄積されていた
データ項目の合計（Σａ）に新たなデータ項目（ａ）を
加算するようにされている。
デジタル演算手段12に含まれている第１の制御手段は、
その中心が対象物２の表面上の超音波ビームの入射ポイ
ント９に対応する蓄積アドレス（ｙ′９,z′９）あって
その半径が入射ポイント９と対象物中の不均一物質１と
の距離に対応するマトリクスメモリー13上の距離11′に
等しい円15上にある全ての蓄積アドレス（ｙ′,z′）に
あるエコー振幅（ａ）を表すデータを、位置信号とエコ
ーパルス信号を受け取ったときに同時に第１マトリクス
メモリー13内に蓄積するように構成されている。
その中心が対象物２の表面上の超音波ビームの入射ポイ
ント９に対応する蓄積アドレス（ｙ′９,z′９）あって
その半径が入射ポイント９と対象物中の不均一物質１と
の距離に対応するマトリクスメモリー13上の距離11′に
等しい円15上にある全ての蓄積アドレス（ｙ′,z′）に
あるエコー振幅（ａ）を表すデータを、位置信号とエコ
ーパルス信号を受け取ったときに同時に第１マトリクス
メモリー13内に蓄積するように構成されている。
図示した検査システムの動作は次の通りである。超音波
プローブ４は、対象物２の表面３に置かれ、走査路５の
開始位置に入射ポイント９が位置し、超音波ビームの中
心軸６が検査しようとする断面14内に位置するように配
置される。超音波装置10は、その後に作動されてプロー
ブ４に超音波エネルギーの短いパルスを対象物中に放射
させる。超音波ビームの開離角27の内側にあり、反射性
のある不均一物質１は、プローブ４に返されるエコーパ
ルスを作り出す。エコーパルスの振幅は、反射物の種類
と大きさによる。超音波パルスの伝送時間は、経路11の
長さに比例する。しかしながら超音波ビームの内側にあ
る反射物の角度位置に関するいかなる情報も得られな
い。ただし、この不明確さは上述したようにマトリクス
メモリー13内の円15に沿って可能な位置で繰り返される
データ蓄積によって打ち消される。
プローブ４は、対象物２の表面３に置かれ、走査路５の
開始位置に入射ポイント９が位置し、超音波ビームの中
心軸６が検査しようとする断面14内に位置するように配
置される。超音波装置10は、その後に作動されてプロー
ブ４に超音波エネルギーの短いパルスを対象物中に放射
させる。超音波ビームの開離角27の内側にあり、反射性
のある不均一物質１は、プローブ４に返されるエコーパ
ルスを作り出す。エコーパルスの振幅は、反射物の種類
と大きさによる。超音波パルスの伝送時間は、経路11の
長さに比例する。しかしながら超音波ビームの内側にあ
る反射物の角度位置に関するいかなる情報も得られな
い。ただし、この不明確さは上述したようにマトリクス
メモリー13内の円15に沿って可能な位置で繰り返される
データ蓄積によって打ち消される。
プローブ４は、その後に次の位置9aに１ステップ移動さ
れ、上述した処理が繰り返される。結果は、新たな路長
11aに対応した半径11′ａを持った円15aに沿った全ての
蓄積アドレス上に新たなデータ項目を蓄積することで残
る。位置9bと9cへの次のステップでは、路長11bと11cに
対応した半径11′ｂと11′ｃを持った円15bと15cに沿っ
て新たなデータ項目の蓄積が行われる。位置9dへの第４
のステップでは、反射物は、超音波ビームの開離角の外
側にあり、エコーパルスはもう作り出されない。
れ、上述した処理が繰り返される。結果は、新たな路長
11aに対応した半径11′ａを持った円15aに沿った全ての
蓄積アドレス上に新たなデータ項目を蓄積することで残
る。位置9bと9cへの次のステップでは、路長11bと11cに
対応した半径11′ｂと11′ｃを持った円15bと15cに沿っ
て新たなデータ項目の蓄積が行われる。位置9dへの第４
のステップでは、反射物は、超音波ビームの開離角の外
側にあり、エコーパルスはもう作り出されない。
走査動作が終了すると、マトリクスメモリー13で蓄積さ
れたデータ項目の合計（Σａ）は、今度はターミナル16
のビデオスクリーン上の完全な断面像に変換される。こ
の変換には、１またはそれ以上の種々のデジタル画像処
理や画像解析の公知技術、例えばイメージフィルタリン
グ、コントラスト増強、グレースケールまたはカラー表
示などの公知技術を含めることができる。また、断面像
にはデータ項目の蓄積合計（Σａ）が選択表示境界28よ
り高いものだけを含めるようにすることもできる。
れたデータ項目の合計（Σａ）は、今度はターミナル16
のビデオスクリーン上の完全な断面像に変換される。こ
の変換には、１またはそれ以上の種々のデジタル画像処
理や画像解析の公知技術、例えばイメージフィルタリン
グ、コントラスト増強、グレースケールまたはカラー表
示などの公知技術を含めることができる。また、断面像
にはデータ項目の蓄積合計（Σａ）が選択表示境界28よ
り高いものだけを含めるようにすることもできる。
第１マトリクスメモリー13に蓄積されたデータと表示さ
れた断面像は、あとで更に解析や比較が必要になったと
きにマトリクスメモリー13に再入力したりビデオスクリ
ーンに再表示したりできる電気的に読み出し可能な記録
として記録手段17に恒久的に記録することができる。ま
た、表示された画像はプリント手段18によって恒久的な
印刷物の形でコピーすることができる。
れた断面像は、あとで更に解析や比較が必要になったと
きにマトリクスメモリー13に再入力したりビデオスクリ
ーンに再表示したりできる電気的に読み出し可能な記録
として記録手段17に恒久的に記録することができる。ま
た、表示された画像はプリント手段18によって恒久的な
印刷物の形でコピーすることができる。
以上の説明で、本検査システムは大きく改善された正確
さと輪郭の明確さを持った欠陥像を作り出せることが既
に明白であろう。不均一物質１の現実の位置に対応した
円15,15a,15b,15cの交点付近のエコーデータの蓄積が、
相応して欠陥像のコントラストや鋭明度を増大させるこ
とに結びついており、一方では偶発的なランダムノイズ
信号のエコー振幅が実質的に増幅されないようにしてい
る。このようにして得られる画像の品質は、プローブ４
の走査においてより小さなステップを用いることで更に
改善されるし、マトリクスメモリー13における蓄積アド
レスをより細かな網目状にすることでも改善される。更
に、ターミナル16のスクリーン像において相応してより
多くの画素を使うことでも改善される。
さと輪郭の明確さを持った欠陥像を作り出せることが既
に明白であろう。不均一物質１の現実の位置に対応した
円15,15a,15b,15cの交点付近のエコーデータの蓄積が、
相応して欠陥像のコントラストや鋭明度を増大させるこ
とに結びついており、一方では偶発的なランダムノイズ
信号のエコー振幅が実質的に増幅されないようにしてい
る。このようにして得られる画像の品質は、プローブ４
の走査においてより小さなステップを用いることで更に
改善されるし、マトリクスメモリー13における蓄積アド
レスをより細かな網目状にすることでも改善される。更
に、ターミナル16のスクリーン像において相応してより
多くの画素を使うことでも改善される。
更に、電気的なデータ処理と超音波検査の技術にたけた
技術者にとっては、本発明の基本原理から逸脱すること
なく、図示した実施例の適当な変形をたくさん作ること
が可能であることが明白であろう。
技術者にとっては、本発明の基本原理から逸脱すること
なく、図示した実施例の適当な変形をたくさん作ること
が可能であることが明白であろう。
超音波プローブ４は、アングルプローブや普通のプロー
ブが使えるし、個々のプローブを多数集めたものや走査
路５に沿ってステップ状に動く超音波トランスジューサ
ーの配列で適当に置き換えることもできる。
ブが使えるし、個々のプローブを多数集めたものや走査
路５に沿ってステップ状に動く超音波トランスジューサ
ーの配列で適当に置き換えることもできる。
エコー信号は、もっと正確にするために、プローブ４の
各走査位置から放射される多数の超音波パルスから得ら
れる平均値にすることもできる。また、エコー振幅の適
当な関数でデジタルデータ項目を表現することもでき
る。一つの分かりきった選択は、エコー振幅のピークの
対数値に応じてデータ項目の蓄積を行うことであるが、
マトリクスメモリー13内の個々の蓄積アドレスでの蓄積
容量を考えると、他の関数の方がより得策かも知れな
い。
各走査位置から放射される多数の超音波パルスから得ら
れる平均値にすることもできる。また、エコー振幅の適
当な関数でデジタルデータ項目を表現することもでき
る。一つの分かりきった選択は、エコー振幅のピークの
対数値に応じてデータ項目の蓄積を行うことであるが、
マトリクスメモリー13内の個々の蓄積アドレスでの蓄積
容量を考えると、他の関数の方がより得策かも知れな
い。
本発明による検査システムの構成に必要とされる各要素
は、超音波検査やデジタルデータ信号の生成、処理、蓄
積、表示、記録のための最新の多くの構成要素の中から
選択することができる。
は、超音波検査やデジタルデータ信号の生成、処理、蓄
積、表示、記録のための最新の多くの構成要素の中から
選択することができる。
また、本発明によるシステムは、わずかにカーブした表
面をもった対象物の部分的な検査や、チューブ、パイ
プ、プレス容器等の円柱状の対象物の検査にも適してい
ることが明らかである。この場合、走査路は円柱状対象
物の軸と平行となるように選択される。
面をもった対象物の部分的な検査や、チューブ、パイ
プ、プレス容器等の円柱状の対象物の検査にも適してい
ることが明らかである。この場合、走査路は円柱状対象
物の軸と平行となるように選択される。
本発明によれば、検査システムを、第１図に概略的に示
した相互に直角な投影面20,23,26の１またはそれ以上の
面状に投影欠陥像を作り出すように拡張することができ
る。この場合、超音波プローブ４は対象物２の表面３上
を所定の間隔で複数の連続かつ平行な直線走査路5,5a,5
b,5cに沿って移動する。このようにして得られた断面像
データの一部は、投影像を作り出すのに必要とされるデ
ータを構築するのに用いられる。
した相互に直角な投影面20,23,26の１またはそれ以上の
面状に投影欠陥像を作り出すように拡張することができ
る。この場合、超音波プローブ４は対象物２の表面３上
を所定の間隔で複数の連続かつ平行な直線走査路5,5a,5
b,5cに沿って移動する。このようにして得られた断面像
データの一部は、投影像を作り出すのに必要とされるデ
ータを構築するのに用いられる。
デジタル演算手段12は、検査によって作り出されるデー
タのために第２のメモリー19を持っている。第２のメモ
リー19は、対象物２の表面３に平行な投影面20にある直
角座標（x,y）の行ｙと列ｘに関連する行ｙ′と列ｘ′
に配列された蓄積アドレス（ｘ′,y′）を持っている。
タのために第２のメモリー19を持っている。第２のメモ
リー19は、対象物２の表面３に平行な投影面20にある直
角座標（x,y）の行ｙと列ｘに関連する行ｙ′と列ｘ′
に配列された蓄積アドレス（ｘ′,y′）を持っている。
デジタル演算手段12に含まれている第２の制御手段は、
プローブ４が走査路5,5a,5b,5cに沿って走査動作を終了
するごとに、第１のマトリクスメモリー13の各列ｙ′に
配置された蓄積アドレス（ｙ′,z′）からｙ′列に蓄積
されているデータ項目の最大合計値（（Σａ）max）を
読み取り、これ等のデータ項目の最大合計値（（Σａ）
max）を、断面14,14a,14b,14cと投影面20との交線であ
るライン21,21a,21b,21cに関連して列ｘ′にある第２の
マトリクスメモリー19の該当する蓄積アドレス（ｘ′,
y′）に蓄積するようにされている。
プローブ４が走査路5,5a,5b,5cに沿って走査動作を終了
するごとに、第１のマトリクスメモリー13の各列ｙ′に
配置された蓄積アドレス（ｙ′,z′）からｙ′列に蓄積
されているデータ項目の最大合計値（（Σａ）max）を
読み取り、これ等のデータ項目の最大合計値（（Σａ）
max）を、断面14,14a,14b,14cと投影面20との交線であ
るライン21,21a,21b,21cに関連して列ｘ′にある第２の
マトリクスメモリー19の該当する蓄積アドレス（ｘ′,
y′）に蓄積するようにされている。
このデータ移送は、第２図に概略的に示されている。第
１メモリー13のｙ′列から読み出されたデータ項目の最
大合計値（（Σａ）max）は、曲線29で表示されてい
る。曲線29で表示されている値は、断面14と投影面20と
の交線であるライン21に関連して、対応する列ｘ′に沿
って第２のマトリクスメモリー19に蓄積されている。こ
の移送が終了すると、第１メモリー13の全ての蓄積アド
レスは、走査路5aに沿って行われる次の断面14aの走査
で得られる新たなデータ項目の蓄積に備えて自動または
ターミナル16からの指令によって零にリセットされる。
１メモリー13のｙ′列から読み出されたデータ項目の最
大合計値（（Σａ）max）は、曲線29で表示されてい
る。曲線29で表示されている値は、断面14と投影面20と
の交線であるライン21に関連して、対応する列ｘ′に沿
って第２のマトリクスメモリー19に蓄積されている。こ
の移送が終了すると、第１メモリー13の全ての蓄積アド
レスは、走査路5aに沿って行われる次の断面14aの走査
で得られる新たなデータ項目の蓄積に備えて自動または
ターミナル16からの指令によって零にリセットされる。
このようにして第２のマトリクスメモリー19は、投影面
20に投影される像の計算済みデータを列ごとに受け入れ
るようにされている。全走査行程が終了したときには、
大きく改善された正確さと鮮明な輪郭を持ったデータが
完全な投影像（Ｐ走査平面図）としてターミナル16のビ
デオスクリーン上の表示部に伝送される。第２のマトリ
クスメモリー19に蓄積されたデータと表示される投影像
は、記録手段17に恒久的に記録でき、また表示された投
影像はプリント手段18によって恒久的な印刷物の形でコ
ピーすることができる。
20に投影される像の計算済みデータを列ごとに受け入れ
るようにされている。全走査行程が終了したときには、
大きく改善された正確さと鮮明な輪郭を持ったデータが
完全な投影像（Ｐ走査平面図）としてターミナル16のビ
デオスクリーン上の表示部に伝送される。第２のマトリ
クスメモリー19に蓄積されたデータと表示される投影像
は、記録手段17に恒久的に記録でき、また表示された投
影像はプリント手段18によって恒久的な印刷物の形でコ
ピーすることができる。
本発明によれば、検査システムは全く同様な方法で対象
物２の表面に直角でかつプローブ４の走査路5,5a,5b,5c
と直角な投影面23上への投影欠陥像を作り出すように拡
張することができる。
物２の表面に直角でかつプローブ４の走査路5,5a,5b,5c
と直角な投影面23上への投影欠陥像を作り出すように拡
張することができる。
この場合、デジタル演算手段は検査で作り出されるデー
タのための第３のマトリクスメモリー22を含むことにな
る。この第３のメモリー22は、投影面23の直角座標の行
ｚと列ｘの組合わせに対して相似に対応する行ｚ′と列
ｘ′に配列された蓄積アドレス（ｘ′,z′）を持ってい
る。蓄積アドレス（ｘ′,z′）は、エコー振幅を表すデ
ータ項目の合計値（Σａ）を蓄積するように構成されて
いる。
タのための第３のマトリクスメモリー22を含むことにな
る。この第３のメモリー22は、投影面23の直角座標の行
ｚと列ｘの組合わせに対して相似に対応する行ｚ′と列
ｘ′に配列された蓄積アドレス（ｘ′,z′）を持ってい
る。蓄積アドレス（ｘ′,z′）は、エコー振幅を表すデ
ータ項目の合計値（Σａ）を蓄積するように構成されて
いる。
デジタル演算手段12に含まれる第３の制御手段は、走査
路5,5a,5b,5cに沿って移動するプローブ４の各走査動作
が終了したときに、第１マトリクスメモリー13の各ｚ′
行に配置されている蓄積アドレス（ｙ′,z′）から、
ｚ′行に蓄積されているデータ項目の最大合計値（（Σ
ａ）max）を読み出し、断面14,14a,14b,14cと投影面23
との交線24,24a,24b,24cに関連して列ｘ′に沿って第３
マトリクスメモリー22の該当する蓄積アドレス（ｘ′,
z′）にデータ項目の最大合計値（（Σａ）max）を蓄積
する。
路5,5a,5b,5cに沿って移動するプローブ４の各走査動作
が終了したときに、第１マトリクスメモリー13の各ｚ′
行に配置されている蓄積アドレス（ｙ′,z′）から、
ｚ′行に蓄積されているデータ項目の最大合計値（（Σ
ａ）max）を読み出し、断面14,14a,14b,14cと投影面23
との交線24,24a,24b,24cに関連して列ｘ′に沿って第３
マトリクスメモリー22の該当する蓄積アドレス（ｘ′,
z′）にデータ項目の最大合計値（（Σａ）max）を蓄積
する。
このデータ移送は、第２図に概略的に示されている。第
３のメモリー13の各ｚ′行から読み出されたデータ項目
の最大合計値（（Σａ）max）は、曲線30で示されてい
る。曲線30で示されている値は、その後投影面23と断面
14の交線に関連して対応するｘ′列に沿って第３のマト
リクスメモリー22に蓄積される。メモリー13からメモリ
ー19及び22への２つのデータ移送が終了すると、第１の
メモリー13の全蓄積アドレスは、走査路5aに沿って行わ
れる次の断面14aの走査から得られる新たなデータ項目
の蓄積に備えて自動またはターミナル16からの指令によ
って零にリセットされる。
３のメモリー13の各ｚ′行から読み出されたデータ項目
の最大合計値（（Σａ）max）は、曲線30で示されてい
る。曲線30で示されている値は、その後投影面23と断面
14の交線に関連して対応するｘ′列に沿って第３のマト
リクスメモリー22に蓄積される。メモリー13からメモリ
ー19及び22への２つのデータ移送が終了すると、第１の
メモリー13の全蓄積アドレスは、走査路5aに沿って行わ
れる次の断面14aの走査から得られる新たなデータ項目
の蓄積に備えて自動またはターミナル16からの指令によ
って零にリセットされる。
このようにして第３のマトリクスメモリー22は、投影面
23への投影像の計算されたデータを列ごとに取り込む。
全走査行程が終了すると、大きく改善された正確さと鮮
明な輪郭を持ったデータが完全な投影像（Ｐ走査側面
図）としてターミナル16のビデオスクリーン上の表示部
に移送される。第３のマトリクスメモリー22に蓄積され
たデータと表示された投影像は、記録手段17に恒久的に
記録でき、また表示された投影像はプリント手段18によ
って恒久的な印刷物の形でコピーすることができる。
23への投影像の計算されたデータを列ごとに取り込む。
全走査行程が終了すると、大きく改善された正確さと鮮
明な輪郭を持ったデータが完全な投影像（Ｐ走査側面
図）としてターミナル16のビデオスクリーン上の表示部
に移送される。第３のマトリクスメモリー22に蓄積され
たデータと表示された投影像は、記録手段17に恒久的に
記録でき、また表示された投影像はプリント手段18によ
って恒久的な印刷物の形でコピーすることができる。
本発明によれば、検査システムは最終的に対象物２の表
面３に直角でありかつプローブ４の走査路5,5a,5b,5cに
平行な投影面26への投影欠陥像を作り出すように拡張す
ることができる。
面３に直角でありかつプローブ４の走査路5,5a,5b,5cに
平行な投影面26への投影欠陥像を作り出すように拡張す
ることができる。
この場合、デジタル演算手段は検査で作り出されるデー
タのための第４のマトリクスメモリー25を更に含むこと
になる。この第４のメモリー25は、投影面26の直角座標
の行ｚと列ｙの組合わせに対して相似に対応する行ｚ′
と列ｙ′に配列された蓄積アドレス（ｙ′,z′）を持っ
ている。蓄積アドレス（ｙ′,z′）は、エコー振幅を表
すデータ項目の合計値（Σａ）を蓄積するように構成さ
れる。
タのための第４のマトリクスメモリー25を更に含むこと
になる。この第４のメモリー25は、投影面26の直角座標
の行ｚと列ｙの組合わせに対して相似に対応する行ｚ′
と列ｙ′に配列された蓄積アドレス（ｙ′,z′）を持っ
ている。蓄積アドレス（ｙ′,z′）は、エコー振幅を表
すデータ項目の合計値（Σａ）を蓄積するように構成さ
れる。
デジタル演算手段12に含まれる第４の制御手段は、走査
路5,5a,5b,5cに沿って移動するプローブ４の各走査動作
が終了したときに、第１マトリクスメモリー13の各蓄積
アドレス（ｙ′,z′）から蓄積アドレス（ｙ′,z′）に
蓄積されているデータ項目の合計値（Σａ）を読み出
し、第４のマトリクスメモリー25の対応するアドレス
（ｙ′,z′）にデータ項目の合計値（Σａ）を蓄積す
る。メモリー13からメモリー19,22,25への３つのデータ
移送が終了すると、走査路5aに沿って行われる次の断面
14aの走査で得られる新たなデータ項目の蓄積に備え
て、第１メモリー13の全ての蓄積アドレスは自動または
ターミナル16からの指令によって零にリセットされる。
路5,5a,5b,5cに沿って移動するプローブ４の各走査動作
が終了したときに、第１マトリクスメモリー13の各蓄積
アドレス（ｙ′,z′）から蓄積アドレス（ｙ′,z′）に
蓄積されているデータ項目の合計値（Σａ）を読み出
し、第４のマトリクスメモリー25の対応するアドレス
（ｙ′,z′）にデータ項目の合計値（Σａ）を蓄積す
る。メモリー13からメモリー19,22,25への３つのデータ
移送が終了すると、走査路5aに沿って行われる次の断面
14aの走査で得られる新たなデータ項目の蓄積に備え
て、第１メモリー13の全ての蓄積アドレスは自動または
ターミナル16からの指令によって零にリセットされる。
このようにして第４のマトリクスメモリー25は、投影面
26に投影される像の計算済みのデータを移送後に移送を
繰り返すようにして受け入れる。全走査行程が終了した
ときには、大きく改善された正確さと鮮明な輪郭を持っ
たデータが完全な投影像（Ｐ走査底面図）としてターミ
ナル16のビデオスクリーン上の表示部に伝送される。第
４のマトリクスメモリー25に蓄積されたデータと表示さ
れた投影像は、記録手段17に恒久的に記録でき、また表
示された投影像はプリント手段18によって恒久的な印刷
物の形でコピーすることができる。
26に投影される像の計算済みのデータを移送後に移送を
繰り返すようにして受け入れる。全走査行程が終了した
ときには、大きく改善された正確さと鮮明な輪郭を持っ
たデータが完全な投影像（Ｐ走査底面図）としてターミ
ナル16のビデオスクリーン上の表示部に伝送される。第
４のマトリクスメモリー25に蓄積されたデータと表示さ
れた投影像は、記録手段17に恒久的に記録でき、また表
示された投影像はプリント手段18によって恒久的な印刷
物の形でコピーすることができる。
断面図のように３つの投影像はイメージフィルタリン
グ、コントラスト増強、グレースケールまたはカラー表
示等のデジタル画像処理が画像解析に委ねることができ
る。また、投影像には、データ項目の蓄積合計（Σａ）
が選択表示境界28よりも高いものだけを含めるようにす
ることもできる。得られる画像の品質は、プローブ４の
走査においてより小さなステップを用いることで更に改
善されるし、マトリクスメモリー13,19,22,25における
蓄積アドレスをより細かな網目状とすることも改善され
る。また、ターミナル16のスクリーン像において対相し
てより多くの画素を用いることも改善される。
グ、コントラスト増強、グレースケールまたはカラー表
示等のデジタル画像処理が画像解析に委ねることができ
る。また、投影像には、データ項目の蓄積合計（Σａ）
が選択表示境界28よりも高いものだけを含めるようにす
ることもできる。得られる画像の品質は、プローブ４の
走査においてより小さなステップを用いることで更に改
善されるし、マトリクスメモリー13,19,22,25における
蓄積アドレスをより細かな網目状とすることも改善され
る。また、ターミナル16のスクリーン像において対相し
てより多くの画素を用いることも改善される。
対象物の自動検査の間、操作者はターミナル16のスクリ
ーン上に断面像および／または投影像が次第に浮かび上
がってくるのを目で追っていてもよいし、特に興味のあ
る断面像が消去される前に走査行程を中断してもよい。
このようにして、自動検査が継続されて第１マトリクス
メモリー13が再使用される前に特に興味のある断面像の
恒久的な記録やプリントを作ることができる。この特徴
は、従来技術との関係で本発明のシステムの利点を別の
視点から印象付けることになる。
ーン上に断面像および／または投影像が次第に浮かび上
がってくるのを目で追っていてもよいし、特に興味のあ
る断面像が消去される前に走査行程を中断してもよい。
このようにして、自動検査が継続されて第１マトリクス
メモリー13が再使用される前に特に興味のある断面像の
恒久的な記録やプリントを作ることができる。この特徴
は、従来技術との関係で本発明のシステムの利点を別の
視点から印象付けることになる。
従来技術においては比較的高品質の断面または投影像を
得ようとすると、検査対象物の全容積のうちの各小要素
からの位置信号とエコーパルス信号とを蓄積し、この多
大な量のデータを包括的でかつ複雑な数学的解析と処理
に委ねなければならない。このことは、多量の計算力と
磁気的な蓄積記録量とを必要とする。しかも装備は必然
的に高価で巨大で重くなり、実用が困難となる。これに
比較して、本発明によるシステムは小さな計算力と蓄積
記録量のみを必要とし、実務における操作が極めて簡単
な軽量かつ手で持ち運べる装置に容易に結びつけること
ができる。
得ようとすると、検査対象物の全容積のうちの各小要素
からの位置信号とエコーパルス信号とを蓄積し、この多
大な量のデータを包括的でかつ複雑な数学的解析と処理
に委ねなければならない。このことは、多量の計算力と
磁気的な蓄積記録量とを必要とする。しかも装備は必然
的に高価で巨大で重くなり、実用が困難となる。これに
比較して、本発明によるシステムは小さな計算力と蓄積
記録量のみを必要とし、実務における操作が極めて簡単
な軽量かつ手で持ち運べる装置に容易に結びつけること
ができる。
本発明の新たな概念の精神と観点から逸脱することな
く、説明したシステムの種々の修正や変更を施すことが
できることを理解できるであろう。
く、説明したシステムの種々の修正や変更を施すことが
できることを理解できるであろう。
Claims (4)
- 【請求項１】パルスエコー法に基づく超音波検査によっ
て、平面または部分的にほぼ平らな表面をもった均一質
の対象物内における不均一物質の像を作り出しかつ記録
するシステムにおいて、 超音波ビームの中心軸が対象物の表面に投影される像を
含む対象物の表面上の直線走査路に沿って所定長のステ
ップで移動する移動可能な少なくとも一つの超音波プロ
ーブと、 超音波ビームの連続する入射ポイントの前記表面上の位
置に関する情報を含むデジタル信号を作り出す位置信号
生成手段と、 各ステップ移動動作が終了したときに、超音波エネルギ
ーの少なくとも一つの短いパルスを対象物に向けて前記
プローブから放射せしめ、エコーパルスを受け取ったと
きに前記エコーパルスの振幅と前記入射ポイントとエコ
ーパルスを起こした反射点との音響路の長さとの情報を
含むデジタルエコーシグナルを作り出す超音波装置と、 検査で作り出されたデータを保存する第１マトリクスメ
モリーを含み、該第１マトリクスメモリーは超音波プロ
ーブの走査路と超音波ビームの中心軸とで定義される対
象物を通る断面内の直角座標の行と列の配列に対して相
似に対応する行と列に配列された蓄積アドレスを持ち、
各蓄積アドレスはエコー信号の振幅を表すデータを蓄積
すると共に新たなデータ項目を受け取ったときは前記蓄
積アドレスに前から蓄積されていたデータ項目を加算す
るデジタル演算手段と、 前記位置信号と前記エコーパルス信号を受け取ったとき
に、前記入射ポイントに対応する蓄積アドレスを中心と
し、半径が対象物内における前記音響路の長さに対応し
た円上に位置する全ての蓄積アドレスにある前記エコー
信号の振幅値を表すデータを前記第１マトリクスメモリ
ーに蓄積する第１制御手段と、 前記超音波プローブの走査動作を制御し、前記超音波装
置と前記デジタル演算手段と前記第１制御手段の機能を
制御し、前記第１マトリクスメモリーに蓄積されたデー
タから得られる断面像を表示するビデオスクリーンター
ミナルと、 前記第１マトリクスメモリーに蓄積されたデータと前記
スクリーンターミナルに表示された断面像の恒久的かつ
電気的に読み出しが可能な記録を作成する記録手段と、 前記スクリーンターミナルに表示された像の恒久的プリ
ントを作成するプリント手段と、 また、前記超音波プローブは連続的でかつ平行な複数の
直線走査路に沿って所定間隔で移動し、前記デジタル演
算手段は、さらに検査で作り出されたデータを保存する
第２のマトリクスメモリを含み、該第２マトリクスメモ
リーは対象物の表面に平行な投影面にある直角座標の行
と列に対して相似に対応する行と列に配列された蓄積ア
ドレスをもち、各蓄積アドレスには前記エコー信号の振
幅値を表すデータ項目の合計値が蓄積され、更に走査路
に沿って前記超音波プローブの各移動動作が終わると前
記第１マトリクスメモリーの各列に配置された蓄積アド
レスからその列に蓄積されているデータ項目の最大合計
値を読み出し、前記第２マトリクスメモリーの前記断面
と前記投影面との交線に関連する列中の対応する蓄積ア
ドレスに前記データ項目の最大合計値を蓄積し、前記第
１マトリクスメモリーの全ての蓄積アドレスを零にリセ
ットする第２制御手段を含み、 前記ビデオスクリーンターミナルは、更に前記第２制御
手段の機能を制御し、前記第２マトリクスメモリーに蓄
積されたデータから得られる投影像を表示し、前記記録
手段は、更に前記第２マトリクスメモリーに蓄積された
データの恒久的かつ電気的な読み出しが可能な記録を作
成する手段を含むことを特徴とする超音波検査システ
ム。 - 【請求項２】前記デジタル演算手段は、さらに検査で作
り出されたデータを保存する第３のマトリクスメモリを
含み、該第３マトリクスメモリーは対象物の表面に直角
でかつ前記走査路に直角な投影面にある直角座標の行と
列に対して相似に対応する行と列に配列された蓄積アド
レスをもち、各蓄積アドレスには前記エコー信号の振幅
値を表すデータ項目の合計値が蓄積され、更に走査路に
沿って前記超音波プローブの各移動動作が終わると前記
第１マトリクスメモリーの各列に配置された蓄積アドレ
スからその列に蓄積されているデータ項目の最大合計値
を読み出し、前記第３マトリクスメモリーの前記断面と
前記投影面との交線に関連する列中の対応する蓄積アド
レスに前記データ項目の最大合計値を蓄積し、前記第１
マトリクスメモリーの全ての蓄積アドレスを零にリセッ
トする第３制御手段を含み、 前記ビデオスクリーンターミナルは、更に前記第３制御
手段の機能を制御し、前記第３マトリクスメモリーに蓄
積されたデータから得られる投影像を表示し、前記記録
手段は、更に前記第３マトリクスメモリーに蓄積された
データの恒久的かつ電気的な読み出しが可能な記録を作
成する手段を含むことを特徴とする特許請求の範囲第１
項記載の超音波検査システム。 - 【請求項３】前記デジタル演算手段は、さらに検査で作
り出されたデータを保存する第４のマトリクスメモリを
含み、該第４マトリクスメモリーは対象物の表面に直角
でかつ前記走査路に平行な投影面にある直角座標の行と
列に対して相似に対応する行と列に配列された蓄積アド
レスをもち、各蓄積アドレスには前記エコー信号の振幅
値を表すデータ項目の合計値が蓄積され、更に走査路に
沿って前記超音波プローブの各移動動作が終わると前記
第１マトリクスメモリーの各蓄積アドレスから読み出し
て前記第４マトリクスメモリーの対応するアドレスに前
記データ項目の合計を蓄積し、前記第１マトリクスメモ
リーの全ての蓄積アドレスを零にリセットする第４制御
手段を含み、 前記ビデオスクリーンターミナルは、更に前記第４制御
手段の機能を制御し、前記第４マトリクスメモリーに蓄
積されたデータから得られる投影像を表示し、前記記録
手段は、更に前記第４マトリクスメモリーに蓄積された
データの恒久的かつ電気的な読み出しが可能な記録を作
成する手段を含むことを特徴とする特許請求の範囲第１
項記載の超音波検査システム。 - 【請求項４】前記デジタル演算手段は、さらに検査で作
り出されたデータを保存する第４のマトリクスメモリを
含み、該第４マトリクスメモリーは対象物の表面に直角
でかつ前記走査路に平行な投影面にある直角座標の行と
列に対して相似に対応する行と列に配列された蓄積アド
レスをもち、各蓄積アドレスには前記エコー信号の振幅
値を表すデータ項目の合計値が蓄積され、更に走査路に
沿って前記超音波プローブの各移動動作が終わると前記
第１マトリクスメモリーの各蓄積アドレスから読み出し
て前記第４マトリクスメモリーの対応するアドレスに前
記データ項目の合計を蓄積し、前記第１マトリクスメモ
リーの全ての蓄積アドレスを零にリセットする第４制御
手段を含み、 前記ビデオスクリーンターミナルは、更に前記第４制御
手段の機能を制御し、前記第４マトリクスメモリーに蓄
積されたデータから得られる投影像を表示し、前記記録
手段は、更に前記第４マトリクスメモリーに蓄積された
データの恒久的かつ電気的な読み出しが可能な記録を作
成する手段を含むことを特徴とする特許請求の範囲第２
項記載の超音波検査システム。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PCT/DK1986/000048 WO1987007026A1 (en) | 1986-05-05 | 1986-05-05 | System for ultrasonic examination |
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|---|---|
| JPH01500050A JPH01500050A (ja) | 1989-01-12 |
| JPH0664023B2 true JPH0664023B2 (ja) | 1994-08-22 |
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
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|---|---|
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- 1986-05-05 US US07/138,034 patent/US4908774A/en not_active Expired - Lifetime
- 1986-05-05 AT AT86903263T patent/ATE56540T1/de not_active IP Right Cessation
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