JPH0664857B2 - プリフオ−マツトデイスク検査装置 - Google Patents

プリフオ−マツトデイスク検査装置

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JPH0664857B2
JPH0664857B2 JP9315184A JP9315184A JPH0664857B2 JP H0664857 B2 JPH0664857 B2 JP H0664857B2 JP 9315184 A JP9315184 A JP 9315184A JP 9315184 A JP9315184 A JP 9315184A JP H0664857 B2 JPH0664857 B2 JP H0664857B2
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勝 下林
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10Digital recording or reproducing
    • G11B20/18Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (技術分野) 本発明はプリフォーマットディスク検査装置に関し、特
にプリフォーマット情報の位置を検出し該プリフォーマ
ット情報を保護しながら検査するプリフォーマットディ
スク検査装置に関する。
(従来技術) 一般に磁気ディスク装置等では、プリフォーマットされ
ていない複数のディスク単板を装置に組み込んだ後、デ
ィスク上のあるトラックにディスクの回転ぶれに同期し
回転周期を等分割したクロックを書き込み、該クロック
を用いてプリフォーマット情報を書き込んでいる。従っ
てプリフォーマット情報の保護は前記クロックを用いて
位相精度よく保護用ゲートが構成できていた。しかしな
がら光ディスク装置等では、該装置にディスク単板を組
み込まずにあらかじめプリフォーマット情報を書き込ん
だ1枚のプリフォーマットディスクを交換してディスク
記憶装置を形成している。従って光ディスク装置等のプ
リフォーマットディスクを検査するときは前記プリフォ
ーマット情報の位置を検出しプリフォーマット情報を保
護しながら検査する必要があり、従来のディスク検査装
置の機能にプリフォーマット情報検出保護機能を加える
必要がある。
プリフォーマット情報を検出し保護する時、あらかじめ
プリフォーマット情報が書き込まれたディスク単板では
ディスク回転ぶれに同期し回転周期を等角度分割したク
ロックを持っていないので、従来のプリフォーマットデ
ィスク検査装置においては、前記ディスク単板のプリフ
ォーマット情報を検出し保護する機能に関して以下に述
べる欠点があった。
(1) ディスク単板を装着するスピンドルから等角度な
位置信号を検出して前記クロック信号を得ようとした場
合、ディスク単板の装着状態に依存して変化する位相差
が存在する。従って位相差がないようにディスク単板を
装着する必要がある。
(2) ディスク単板には媒体欠陥が存在するため、レベ
ルスライス等ではプリフォーマット情報とエラーパルス
の区別がつかない。従ってプリフォーマット情報の位置
を正確に知るためにはプリフォーマット情報を読み取る
回路が必要である。
(3) プリフォーマット情報をレベルスライス等で検出
した場合、上記(2)の理由により上記(1)で上げた
位相差に誤動作が発生する。
(発明の目的) 本発明は上記欠点を除去するためになされたものでその
目的は、ディスク単板の装着状態に依存せず、しかもデ
ィスク単板上の媒体欠陥による誤動作を生せずにプリフ
ォーマット情報を保護することができるプリフォーマッ
トディスク検査装置を提供することにある。
(発明の構成) 本発明によれば、ディスク記憶装置用ディスク単板をエ
ンコーダに装着し回転させることによりあらかじめ回転
方向に対し等角度に書き込まれたプリフォーマットディ
スクのプリフォーマット情報を保護しながら該プリフォ
ーマットディスクを検査するプリフォーマットディスク
検査装置であって、前記エンコーダによって前記プリフ
ォーマットディスクの回転速度の変動に同期しかつ周期
が前記プリフォーマット情報の周期の整数分の1である
等角度位置信号を検出するとともに、後記プリフォーマ
ット情報位置検出部に対しプリフォーマット情報の検出
期間を指定する選定信号を出力する等角度位置信号検出
部と、前記プリフォーマット情報の存在を検出するプリ
フォーマット検出部と、1周当りのプリフォーマット情
報数と同数でかつ該プリフォーマット情報が発生タイミ
ングに対して位相差が最小である前記等角度位置信号の
分周信号を近接等角度位置信号として選出する近接等角
度位置信号検出部と、前記近接等角度位置信号とプリフ
ォーマット情報の発生するタイミングとの位相差を測定
するプリフォーマット情報位置検出部と、前記位相差と
前記近接等角度位置検出信号とを用いてゲート信号を発
生して前記プリフォーマット情報を再書き込みから保護
し検査するためのタイミング信号生成機能を有するプリ
フォーマット情報保護部とを備えることを特徴とするプ
リフォーマットディスク検査装置が得られる。
(実施例) 次に図面を参照して本発明について説明する。
第1図は本発明のプリフォーマットディスク検査装置の
一実施例を示すブロック図である。同図において、プリ
フォーマットディスク検査装置はプリフォーマットディ
スクの回転速度の変動に同期しかつディスク単板の1回
転の中のクロック数がプリフォーマット情報数の整数倍
である等角度位置信号6を検出する等角度位置信号検出
部1と、プリフォーマット情報の存在を検出しプリフォ
ーマット検出信号7を出力するプリフォーマット検出部
2と、前記プリフォーマット検出信号7と等角度位置信
号6とを用いてプリフォーマット情報と同数でかつプリ
フォーマット情報が発生するタイミングに対して位相差
が最小である等角度位置信号6の分周信号を近接等角度
位置信号8として選出し、該近接等角度位置信号8を選
定したときの選定周期信号10をプリフォーマット情報位
置検出部4に出力する近接等角度位置信号検出部3と、
ディスク単板の回転周期の中で選定周期信号10が存在す
る部分の近接等角度位置信号8とプリフォーマット位置
検出信号7との位相差データ9を測定するプリフォーマ
ット情報位置検出部4と、前記位相差データ9と近接等
角度位置信号8とを用いてゲート信号を発生しプリフォ
ーマット情報を保護するプリフォーマット情報保護部5
とを備える。
次に第2図は第1図における動作シーケンスを示すタイ
ムチャート、第3図は第1図における等角度位置信号検
出部の一構成例を示す図、第4図,第5図および第6図
はそれぞれ第1図における近接等角度位置信号検出部,
プリフォーマット情報位置検出部およびプリフォーマッ
ト情報保護部の一構成例を示す回路ブロック図である。
まず第1図,第2図を参照して本実施例の動作タイミン
グについて説明する。近接等角度位置信号検出部3は等
角度位置信号検出部1で検出された等角度位置信号6を
分周し、この分周信号の中からプリフォーマット検出部
2で検出されたプリフォーマット検出信号7を用いて近
接等角度位置信号8を選択し、該近接等角度位置信号8
をプリフォーマット情報位置検出部4とプリフォーマッ
ト情報保護部5とに出力する。プリフォーマット情報位
置検出部4は選定周期信号10が存在する時間の近接等角
度位置信号8とプリフォーマット検出信号7との位相差
Pを検出し、位相差データ9をプリフォーマット情報保
護部5に出力する。プリフォーマット情報保護部5では
近接等角度位置信号8を基準にして位相差データ9をも
とに保護マージンmが設定されたゲート信号11を発生し
プリフォーマット情報を再書込みから保護する。なお参
照記号T,T(第2図に図示)はプリフォーマット情
報の検出周期,該検出周期Tに相当する選定時間であ
る。
次に第3図において、等角度位置信号検出部1(第1図
に図示)はディスク単板31を装着するスピンドル32と接
続されたエンコーダ33を備え、第2図に示すような等角
度位置信号6を検出する。またプリフォーマット検出部
2(第1図に図示)は前記ディスク単板31から読み出さ
れるレベルスライス等を用いて、第2図に示すように、
プリフォーマット情報70のパルスと媒体欠陥に起因する
エラーパルス71とからなるプリフォーマット検出信号7
を検出する。
次に前記ディスク単板31の1回転における等角度位置信
号6のクロック数とプリフォーマット情報70の情報数と
の比をn(但しnは1以上の正の整数)とすれば、近接
等角度位置信号検出部3は、第4図に示すように、n個
のアンドゲート421,422,〜42nと、n個と分周器411,41
2,〜41nと、n個のDタイプフリップフロップ431,432,
〜43nと、1個のデータセレクタ440と、誤検出判定回路
450と、選定周期設定回路460とから構成されており、プ
リフォーマット情報の発生周期と等しい選定周期を設定
して被選定周期内に媒体欠陥に起因するエラーパルスが
なければ、選定周期内にはプリフォーマット情報しか存
在しないからDタイプフリップフロップの値を読みとる
ことにより、プリフォーマット検出信号7に含まれるエ
ラーパルスによる誤動作を防止し、プリフォーマット情
報と最も位相が近い等角度位置信号6の分周信号を近接
等角度位置信号8として選出する。すなわち、第4図に
おいて、等角度位置信号6は分周器411,412,〜41nと誤
検出判定回路450とに入力され分周された出力信号はそ
れぞれアンドゲート421,422,〜42nの一方の入力になる
とともにデータセレクタ440に入力される。また分周器4
11の入力信号は選定周期設定回路460に入力され、誤検
出判定回路450の指示により設定された該選定周期設定
回路460からの選定周期信号10はアンドゲート421,422,
〜42nの他方の入力となる。アンドゲート421,422,〜42n
で論理積がとられた信号はそれぞれDタイプフリップフ
ロップ431,432,〜43nのD端子に入力され、Dタイプフ
リップフロップ431,432,〜43nはそれぞれCLK端子にプリ
フォーマット検出信号7が入力されそれぞれセットされ
たときQ端子から誤検出判定回路450へ信号を出力す
る。データセレクタ440は誤検出判定回路450の指示によ
り分周器411,412,〜41n出力の分周信号からプリフォー
マット情報の検出周期T(第2図に図示)ごとにプリ
フォーマット情報70の総数と同数でかつ該プリフォーマ
ット情報70が発生するタイミングに対して最小の位相差
Pのものを選出し近接等角度位置信号8として選出す
る。
次にプリフォーマット情報位置検出部4は、第5図示す
ように、カウンタ52,アンドゲート53,54,Dタイプフリッ
プフロップ55,56から構成されており、近接等角度位相
信号8とプリフォーマット検出信号7とリセット信号12
と選定周期信号10とにより位相差存在信号58を発生し、
位相差存在信号58と選定周期信号10と論理積をとること
により位相差測定信号59を発生し、この位相差測定信号
59を用いて位相差測定用クロック51をカウンタ52でカウ
ントして位相差データ9を出力する。なおリセット信号
12はディスク1回転に1クロックで等角度位置信号6と
同相な信号である。すなわち、本回路では位相差測定用
クロック51をカウンタ52のクロック端子に入力し、選定
周期信号10をアンドゲート53とDタイプフリップフロッ
プ55,56の各D端子に入力し、Dタイプフリップフロッ
プ55,56の各CLA端子にリセット信号12をまた各CLK端子
にそれぞれ近接等角度位置信号8,プリフォーマット検出
信号7を接続し、Dタイプフリップフロップ55のQ端子
とDタイプフリップフロップ56の端子の出力をそれぞ
れアンドゲート54を介してアンドゲート53の一方の入力
とし、選定周期信号10を他方の入力とするアンドゲート
53の出力端子をカウンタ52のカウント制御端子に接続し
て上述の動作が行われる。
次にプリフォーマット情報保護部5は、第6図に示すよ
うに、ゲート設定用クロック61をカウントする2種類の
カウンタ62,65と、2種類のディジタルコンパレータ63,
66と、データ設定制御回路64を含み構成されており、近
接等角度位置信号8を基準にゲート設定用クロック61を
用いて位相差データ9とプリフォーマット長データ611
に基づくゲート信号11を発生し、ディスク単板上のプリ
フォーマット情報を再書込みから保護する。すなわち、
ゲート設定用クロック61はカウンタ62,65のクロック入
力端子に入力され、カウンタ62出力はディジタルコンパ
レータ63に入力される。ディジタルコンパレータ63はカ
ウンタ62出力を用いてデータ設定制御回路64からの位相
差設定信号67と近接等角度信号8を比較しその出力をア
ンドゲート610へ与える。一方カウンタ65はディジタル
コンパレータ63出力をカウントしてディジタルコンパレ
ータ66に出力信号を与え、ディジタルコンパレータ66は
データ設定制御回路64からのプリフォーマット長設定信
号68とカウンタ65の出力信号を比較し、ノットゲート69
を介してアンドゲート610へ出力する。アンドゲート610
はディジタルコンパレータ63の出力信号とノットゲート
69の出力信号との論理積をとりゲート信号11を出力す
る。なおデータ設定制御回路64は位相差データ9とプリ
フォーマット長データ611を用いて位相差設定信号67,プ
リフォーマット長設定信号68を出力する。
(発明の効果) 以上の説明により明らかなように本発明のプリフォーマ
ットディスク検査装置によれば、ディスク単板の装着状
態に依存しない等角度位置信号とプリフォーマット情報
との位相差を検出してプリフォーマット情報保護ゲート
信号を発生するので、ディスク単板を前記位相差のない
位置に装着せず任意に装着してプリフォーマットディス
クを検査することができる。また前記位相差を検出する
ときは選定周期信号を用いてディスク単板1回転の中の
1プリフォーマット情報と近接等角度位置信号との位相
差を検出するので、媒体欠陥に起因するプリフォーマッ
ト情報検出保護機能の誤動作を防ぎ、さらにプリフォー
マット情報を詳細に読み取る回路を必要とせず簡単な構
成のレベルスライス等を用いることによりプリフォーマ
ットディスク検査装置の構成が簡単になるなどの大きい
効果が生じる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のプリフォーマットディスク検査装置の
一実施例を示すブロック図、第2図は第1図における動
作シーケンスを示すタイムチャート、第3図は第1図に
おける等角度位置信号検出部の一構成例を示す図、第4
図,第5図および第6図はそれぞれ第1図における近接
等角度位置信号検出部,プリフォーマット情報位置検出
部およびプリフォーマット情報保護部の一構成例を示す
回路ブロック図である。 図において、1……等角度位置信号検出部、2……プリ
フォーマット検出部、3……近接等角度位置信号検出
部、4……プリフォーマット情報位置検出部、5……プ
リフォーマット情報保護部、6……等角度位置信号、7
……プリフォーマット検出信号、8……近接等角度位置
信号、9……位相差データ、10……選定周期信号、11…
…ゲート信号、12……リセット信号、31……ディスク単
板、32……スピンドル、33……エンコーダ、411,412,〜
41n……分周器、421,422,〜42n,53,54,610……アンドゲ
ート、431,432,〜43n,55,56……Dタイプフリップフロ
ップ、440……データセレクタ、450……誤検出判定回
路、460……選定周期設定回路、51……位相差測定用ク
ロック、52,62,65……カウンタ、58……位相差存在信
号、59……位相差測定信号、61……ゲート設定用クロッ
ク、63,66……ディジタルコンパレータ、64……データ
設定制御回路、67……位相差設定信号、68……プリフォ
ーマット長設定信号、69……ノットゲート、611……プ
リフォーマット長データ、70……プリフォーマット情
報、71……エラーパルス。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ディスク記憶装置用ディスク単板をエンコ
    ーダに装着し回転させることによりあらかじめ回転方向
    に対し等角度に書き込まれたプリフォーマットディスク
    のプリフォーマット情報を保護しながら該プリフォーマ
    ットディスクを検査するプリフォーマットディスク検査
    装置であって、前記エンコーダによって前記プリフォー
    マットディスクの回転速度の変動に同期しかつ周期が前
    記プリフォーマット情報の周期の整数分の1である等角
    度位置信号を検出するとともに、後記プリフォーマット
    情報位置検出部に対しプリフォーマット情報の検出期間
    を指定する選定信号を出力する等角度位置信号検出部
    と、前記プリフォーマット情報の存在を検出するプリフ
    ォーマット検出部と、1周当りのプリフォーマット情報
    数と同数でかつ該プリフォーマット情報が発生タイミン
    グに対して位相差が最小である前記等角度位置信号の分
    周信号を近接等角度位置信号として選出する近接等角度
    位置信号検出部と、前記近接等角度位置信号とプリフォ
    ーマット情報の発生するタイミングとの位相差を測定す
    るプリフォーマット情報位置検出部と、前記位相差と前
    記近接等角度位置検出信号とを用いてゲート信号を発生
    して前記プリフォーマット情報を再書き込みから保護し
    検査するためのタイミング信号生成機能を有するプリフ
    ォーマット情報保護部とを備えることを特徴とするプリ
    フォーマットディスク装置。
JP9315184A 1984-05-10 1984-05-10 プリフオ−マツトデイスク検査装置 Expired - Lifetime JPH0664857B2 (ja)

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JP9315184A JPH0664857B2 (ja) 1984-05-10 1984-05-10 プリフオ−マツトデイスク検査装置

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Publication Number Publication Date
JPS60236168A JPS60236168A (ja) 1985-11-22
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JP9315184A Expired - Lifetime JPH0664857B2 (ja) 1984-05-10 1984-05-10 プリフオ−マツトデイスク検査装置

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JPH01122079A (ja) * 1987-11-04 1989-05-15 Nec Corp 信号発生回路

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JPS60236168A (ja) 1985-11-22

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