JPH0666517A - 光学干渉計 - Google Patents
光学干渉計Info
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- JPH0666517A JPH0666517A JP5187178A JP18717893A JPH0666517A JP H0666517 A JPH0666517 A JP H0666517A JP 5187178 A JP5187178 A JP 5187178A JP 18717893 A JP18717893 A JP 18717893A JP H0666517 A JPH0666517 A JP H0666517A
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- light
- signal
- optical signal
- coupler
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3172—Reflectometers detecting the back-scattered light in the frequency-domain, e.g. OFDR, FMCW, heterodyne detection
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- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】測定可能な距離範囲が拡張された光学反射率計
を提供する。 【構成】本発明の一実施例によれば、光学反射の強度お
よび位置の測定に使用される光学低コヒーレンス反射率
計が提供される。本発明は、光信号の多重コピーを備え
た反射信号を用いて、反射率計が動作する距離測定の範
囲を増大する。光信号の各コピーは、異なる量だけ遅延
される。本発明による実施例においては、コピーは、リ
ング共振器、ファブリ・ペロー空洞共振器、および多重
ファイバ遅延線を用いて発生される。
を提供する。 【構成】本発明の一実施例によれば、光学反射の強度お
よび位置の測定に使用される光学低コヒーレンス反射率
計が提供される。本発明は、光信号の多重コピーを備え
た反射信号を用いて、反射率計が動作する距離測定の範
囲を増大する。光信号の各コピーは、異なる量だけ遅延
される。本発明による実施例においては、コピーは、リ
ング共振器、ファブリ・ペロー空洞共振器、および多重
ファイバ遅延線を用いて発生される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光学測定に関するもの
であり、とりわけ、光学反射率測定に関するものであ
る。
であり、とりわけ、光学反射率測定に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】通信及びデータ処理システムにおける光
学コンポーネントの利用が増大することによって、光学
コンポーネントにおける光学的不均一性を測定する方法
に対する要求が強まってきた。例えば、光ファイバ・ベ
ースの通信システムの場合、接続部損失及び無反射ファ
イバ破損の位置を測定する必要がある。同様に、シリカ
をベースにした光学平面導波路及びＬｉＮｂＯ3導波路
のような光学コンポーネントの特性を明らかにするため
の方法論が必要になる。
学コンポーネントの利用が増大することによって、光学
コンポーネントにおける光学的不均一性を測定する方法
に対する要求が強まってきた。例えば、光ファイバ・ベ
ースの通信システムの場合、接続部損失及び無反射ファ
イバ破損の位置を測定する必要がある。同様に、シリカ
をベースにした光学平面導波路及びＬｉＮｂＯ3導波路
のような光学コンポーネントの特性を明らかにするため
の方法論が必要になる。
【０００３】光ファイバにおける不均一性を分析するた
めの方法の１つは、光学時間領域反射率測定である。こ
の方法の場合、光ファイバによって、光パルスが伝送さ
れ、光パルスと光ファイバの不均一性との相互作用の結
果生じる後方散乱光が、測定される。入射光と反射光の
間の時間遅延によって、不均一性の位置に関する情報が
得られる。後方散乱光の振幅によって、不均一性の程度
に関する情報が得られる。従来のパルス化技法におい
て、後方散乱光の測定は、空間分解能が向上するにつれ
て、より困難になる。空間分解能が高まる結果として、
同時に、レイリー後方散乱光の電力レベルが低下し、受
信機のバンド幅の拡大のため、ノイズ電力が増大する。
めの方法の１つは、光学時間領域反射率測定である。こ
の方法の場合、光ファイバによって、光パルスが伝送さ
れ、光パルスと光ファイバの不均一性との相互作用の結
果生じる後方散乱光が、測定される。入射光と反射光の
間の時間遅延によって、不均一性の位置に関する情報が
得られる。後方散乱光の振幅によって、不均一性の程度
に関する情報が得られる。従来のパルス化技法におい
て、後方散乱光の測定は、空間分解能が向上するにつれ
て、より困難になる。空間分解能が高まる結果として、
同時に、レイリー後方散乱光の電力レベルが低下し、受
信機のバンド幅の拡大のため、ノイズ電力が増大する。
【０００４】白色光干渉測定または光学低コヒーレンス
反射率測定によって、従来の時間領域方法に比較して、
感度と空間分解能の両方を数桁分向上させることが可能
になる。この技法を利用することによって、２０〜４０
ミクロンの空間分解能が報告されている。これらの分解
能のため、標準的な遠隔通信ファイバの平均的なレイリ
ー後方散乱レベルは、ほぼ１１５ｄＢ程度である。反射
感度は、低コヒーレンス光源のノイズ強度のため、後方
散乱レベルに近い値に制限された。ただし、高電力超発
光ダイオード及び平衡検出装置を利用して、輝度ノイズ
の影響を排除することによって、１．３ミクロンの波長
で、１３６ｄＢの反射感度が、実証された［１９９１年
のＡｐｐｌ．Ｐｈｙｓ．Ｌｅｔｔ．，５９，ｐ１４３の
Ｔａｋａｄａその他による“Ｒａｙｌｅｉｇｈ Ｂａｃ
ｋｓｃａｔｔｅｒｉｎｇ Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔｓ
ｏｆ Ｓｉｎｇｌｅ−Ｍｏｄｅ Ｆｉｂｅｒｓ ｂｙ
Ｌｏｗ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ Ｏｐｔｉｃａｌ Ｔｉｍ
ｅ−Ｄｏｍａｉｎ Ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｒｙ Ｗｉ
ｔｈ １４ｍｍ Ｓｐａｔｉａｌ Ｒｅｓｏｌｕｔｉｏ
ｎ”］。
反射率測定によって、従来の時間領域方法に比較して、
感度と空間分解能の両方を数桁分向上させることが可能
になる。この技法を利用することによって、２０〜４０
ミクロンの空間分解能が報告されている。これらの分解
能のため、標準的な遠隔通信ファイバの平均的なレイリ
ー後方散乱レベルは、ほぼ１１５ｄＢ程度である。反射
感度は、低コヒーレンス光源のノイズ強度のため、後方
散乱レベルに近い値に制限された。ただし、高電力超発
光ダイオード及び平衡検出装置を利用して、輝度ノイズ
の影響を排除することによって、１．３ミクロンの波長
で、１３６ｄＢの反射感度が、実証された［１９９１年
のＡｐｐｌ．Ｐｈｙｓ．Ｌｅｔｔ．，５９，ｐ１４３の
Ｔａｋａｄａその他による“Ｒａｙｌｅｉｇｈ Ｂａｃ
ｋｓｃａｔｔｅｒｉｎｇ Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔｓ
ｏｆ Ｓｉｎｇｌｅ−Ｍｏｄｅ Ｆｉｂｅｒｓ ｂｙ
Ｌｏｗ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ Ｏｐｔｉｃａｌ Ｔｉｍ
ｅ−Ｄｏｍａｉｎ Ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｒｙ Ｗｉ
ｔｈ １４ｍｍ Ｓｐａｔｉａｌ Ｒｅｓｏｌｕｔｉｏ
ｎ”］。
【０００５】光学低コヒーレンス反射率測定によって、
問題となる測定を実施するための分解能及び感度が得ら
れるが、光学低コヒーレンス反射率計が走査可能な距離
は、約０．５メートルに制限される。この制限は、親ネ
ジを使って、ミラーを移動させることができる距離に制
限があるためである。従って、離隔距離が０．５メート
ルを超える不均一性を同時に検出することはできない。
厳密に調べるべき多くの光学装置は、ファイバーのリー
ド長が１メートルを超えるので、走査範囲を急激に拡大
する必要がある。離隔距離がより長い不均一性を走査す
るためには、固定光学遅延線路に助けられて、０．５メ
ートルの範囲における測定を複数回実施しなければなら
ない。この手順には、時間がかかることになる。
問題となる測定を実施するための分解能及び感度が得ら
れるが、光学低コヒーレンス反射率計が走査可能な距離
は、約０．５メートルに制限される。この制限は、親ネ
ジを使って、ミラーを移動させることができる距離に制
限があるためである。従って、離隔距離が０．５メート
ルを超える不均一性を同時に検出することはできない。
厳密に調べるべき多くの光学装置は、ファイバーのリー
ド長が１メートルを超えるので、走査範囲を急激に拡大
する必要がある。離隔距離がより長い不均一性を走査す
るためには、固定光学遅延線路に助けられて、０．５メ
ートルの範囲における測定を複数回実施しなければなら
ない。この手順には、時間がかかることになる。
【０００６】
【発明の目的】本発明の目的は、一般に、改良された光
学低コヒーレンス反射率測定装置及び方法を提供するこ
とにある。本発明のもう１つの目的は、離隔距離が何メ
ータにも及ぶ不均一性を走査可能な光学低コヒーレンス
反射率測定システムを提供することにある。
学低コヒーレンス反射率測定装置及び方法を提供するこ
とにある。本発明のもう１つの目的は、離隔距離が何メ
ータにも及ぶ不均一性を走査可能な光学低コヒーレンス
反射率測定システムを提供することにある。
【０００７】
【発明の概要】本発明は、装置の光学特性を測定するた
めの光学干渉計から構成される。装置は、低コヒーレン
ス光源によって照射される。光源からの光は、カップラ
によって第１と第２の光信号に分割される。第１の光信
号は、装置に加えられ、そこから反射した光の一部が、
集められる。前記第２の光信号から、それぞれ、もとの
光信号に対して順次時間的に変位した、一連の光信号が
発生する。次に、発生した一連の光信号と装置から集め
られた光を組み合わせて、その組み合わせた信号の振幅
が検出される。
めの光学干渉計から構成される。装置は、低コヒーレン
ス光源によって照射される。光源からの光は、カップラ
によって第１と第２の光信号に分割される。第１の光信
号は、装置に加えられ、そこから反射した光の一部が、
集められる。前記第２の光信号から、それぞれ、もとの
光信号に対して順次時間的に変位した、一連の光信号が
発生する。次に、発生した一連の光信号と装置から集め
られた光を組み合わせて、その組み合わせた信号の振幅
が検出される。
【０００８】
【実施例】平衡検出器を利用した光学低コヒーレンス反
射率計の動作の仕方については、装置１２の光学特性を
測定するための光学低コヒーレンス反射率計１０に関す
る概略図である図１を参照することによってより簡単に
理解することができる。低コヒーレンス光源１４を利用
して、装置１２の照射が行われる。光源１４からの光の
光学コヒーレンス長によって、測定の空間分解能が判定
される。適合する光源は、エルビウムをドープしたファ
イバからの増幅された自然発光を利用して構成すること
ができる。こうしたファイバは、光学技術において既知
のところであり、従って、ここではこれ以上の説明は行
わない。光源１４からの光は、ファイバ１３によって光
源１４に接続されたカップラ１６によって分割される。
カップラ１６は、干渉形の２つのアーム間において光を
分割する。第１のアームを構成するファイバ１５は、装
置１２に光を送る。偏光は、２つの偏光制御ループ１８
によって制御される。干渉形のこのアームには、オプシ
ョンの移相器１１を含むことも可能である。装置１２か
らの後方散乱光は、ファイバ１５を介してカップラ１６
に戻される。後方散乱光の一部は、ファイバ２０を介し
て第２のカップラ２２に送られる。
射率計の動作の仕方については、装置１２の光学特性を
測定するための光学低コヒーレンス反射率計１０に関す
る概略図である図１を参照することによってより簡単に
理解することができる。低コヒーレンス光源１４を利用
して、装置１２の照射が行われる。光源１４からの光の
光学コヒーレンス長によって、測定の空間分解能が判定
される。適合する光源は、エルビウムをドープしたファ
イバからの増幅された自然発光を利用して構成すること
ができる。こうしたファイバは、光学技術において既知
のところであり、従って、ここではこれ以上の説明は行
わない。光源１４からの光は、ファイバ１３によって光
源１４に接続されたカップラ１６によって分割される。
カップラ１６は、干渉形の２つのアーム間において光を
分割する。第１のアームを構成するファイバ１５は、装
置１２に光を送る。偏光は、２つの偏光制御ループ１８
によって制御される。干渉形のこのアームには、オプシ
ョンの移相器１１を含むことも可能である。装置１２か
らの後方散乱光は、ファイバ１５を介してカップラ１６
に戻される。後方散乱光の一部は、ファイバ２０を介し
て第２のカップラ２２に送られる。
【０００９】干渉計の第２のアームは、可変時間遅延を
行う。ファイバ１５に沿った経路指定が施されないカッ
プラ１６からの光の一部が、ファイバ２３に経路指定さ
れ、基準光信号を形成する。この光は、レンズ３０によ
って平行化され、可動ステージに取り付けられた逆反射
ミラー２４に送られる。Ｚ方向における移動によって、
干渉計の第２のアームの光路長が変更される。ミラー２
４から反射した光は、レンズ３１によってファイバ２６
内にイメージを結び、カップラ２２に送られる。カップ
ラ２２は、装置１２からの後方散乱光と光源１４からの
基準信号光を組み合わせる加算器の働きをする。干渉計
の第２のアームにおける時間遅延が、装置からの反射の
時間遅延と一致すると、コヒーレント干渉が生じ、所定
の周波数のうなり信号が発生する。うなり周波数におけ
る光信号の電力は、２つのフォトダイオード２７及び２
８と、加算器３３から構成される平衡検出器３２によっ
て検出される。平衡検出器は、入力光学信号の輝度ノイ
ズを除去する。次に、減算される出力に電子的処理を施
して、干渉信号の強さが検出される。例えば、減算され
る出力のパワー・スペクトルは、スペクトル解析器２９
によって測定することができる。
行う。ファイバ１５に沿った経路指定が施されないカッ
プラ１６からの光の一部が、ファイバ２３に経路指定さ
れ、基準光信号を形成する。この光は、レンズ３０によ
って平行化され、可動ステージに取り付けられた逆反射
ミラー２４に送られる。Ｚ方向における移動によって、
干渉計の第２のアームの光路長が変更される。ミラー２
４から反射した光は、レンズ３１によってファイバ２６
内にイメージを結び、カップラ２２に送られる。カップ
ラ２２は、装置１２からの後方散乱光と光源１４からの
基準信号光を組み合わせる加算器の働きをする。干渉計
の第２のアームにおける時間遅延が、装置からの反射の
時間遅延と一致すると、コヒーレント干渉が生じ、所定
の周波数のうなり信号が発生する。うなり周波数におけ
る光信号の電力は、２つのフォトダイオード２７及び２
８と、加算器３３から構成される平衡検出器３２によっ
て検出される。平衡検出器は、入力光学信号の輝度ノイ
ズを除去する。次に、減算される出力に電子的処理を施
して、干渉信号の強さが検出される。例えば、減算され
る出力のパワー・スペクトルは、スペクトル解析器２９
によって測定することができる。
【００１０】うなり周波数は、受信機のノイズ下限にお
ける最小値と一致するように選択するのが望ましい。こ
の周波数は、２つの方法のいずれかで制御することがで
きる。望ましい方法では、１８０度の範囲にわたっての
こぎり波状ランプを生じる移相器１１を利用して、戻り
信号にセロダイン周波数のシフトを生じさせる。この場
合、うなり信号は、セロダイン周波数であり、強度は、
反射の強さによって決まる。このタイプのシステムの場
合、ミラー２４は、各位置をステップし、信号は、所望
のＳＮ比を得るのに十分な時間にわたって、平均化され
る。代替案として、移相器１１を排除し、測定中、ミラ
ー２４を連続移動させることも可能である。連続移動に
よって、干渉計の第２のアームにおける光の周波数にド
ップラシフトが生じる。うなり周波数は、ドップラ・シ
フト周波数である。あいにく、機械的ステージにおける
ジッタによって、狭バンド・ドップラ・周波数シフトが
発生可能な範囲が制限され、第１の技法は、反射の感度
を最大にするほうが望ましい。カップラ１６及び２２
は、２つの光ファイバを互いに融合させることによって
形成される、従来の融合カップラである。こうしたカッ
プラについては、当該技術において一般的であり、ここ
では、これ以上詳細な説明は行わない。
ける最小値と一致するように選択するのが望ましい。こ
の周波数は、２つの方法のいずれかで制御することがで
きる。望ましい方法では、１８０度の範囲にわたっての
こぎり波状ランプを生じる移相器１１を利用して、戻り
信号にセロダイン周波数のシフトを生じさせる。この場
合、うなり信号は、セロダイン周波数であり、強度は、
反射の強さによって決まる。このタイプのシステムの場
合、ミラー２４は、各位置をステップし、信号は、所望
のＳＮ比を得るのに十分な時間にわたって、平均化され
る。代替案として、移相器１１を排除し、測定中、ミラ
ー２４を連続移動させることも可能である。連続移動に
よって、干渉計の第２のアームにおける光の周波数にド
ップラシフトが生じる。うなり周波数は、ドップラ・シ
フト周波数である。あいにく、機械的ステージにおける
ジッタによって、狭バンド・ドップラ・周波数シフトが
発生可能な範囲が制限され、第１の技法は、反射の感度
を最大にするほうが望ましい。カップラ１６及び２２
は、２つの光ファイバを互いに融合させることによって
形成される、従来の融合カップラである。こうしたカッ
プラについては、当該技術において一般的であり、ここ
では、これ以上詳細な説明は行わない。
【００１１】上述のように、干渉計１０を用いて、走査
可能な装置１２の位置範囲は、一般に、０．５メートル
未満である、ミラー２４の最大範囲によって決まる。ミ
ラー２４の最大移動範囲をＺmaxで表すことにする。距
離Ｄだけ離れた装置１２の２つの不均一性部分について
考察する。Ｄ＞Ｚmaxの場合、不均一性部分は、単一走
査では両方とも観測できない。従って、Ｚmaxによっ
て、走査可能な装置１２の領域範囲が決まることにな
る。原理上、装置１２におけるＺmaxに等しい距離を走
査し、基準アームの長さをＺmaxだけ延長し、Ｚmaxから
２Ｚmaxの第２の範囲を走査し、等等によってこの問題
を克服することが可能である。基準アームの長さは、長
さＺmaxの光ファイバを光ファイバ２６または光ファイ
バ２３に挿入することによって延長することが可能であ
る。この手順によって、Ｚmaxより数倍長い測定範囲に
わたって干渉計の限界を克服することが可能であるが、
測定範囲がＺmaxより大幅に長くなると、実施不可能に
なる。
可能な装置１２の位置範囲は、一般に、０．５メートル
未満である、ミラー２４の最大範囲によって決まる。ミ
ラー２４の最大移動範囲をＺmaxで表すことにする。距
離Ｄだけ離れた装置１２の２つの不均一性部分について
考察する。Ｄ＞Ｚmaxの場合、不均一性部分は、単一走
査では両方とも観測できない。従って、Ｚmaxによっ
て、走査可能な装置１２の領域範囲が決まることにな
る。原理上、装置１２におけるＺmaxに等しい距離を走
査し、基準アームの長さをＺmaxだけ延長し、Ｚmaxから
２Ｚmaxの第２の範囲を走査し、等等によってこの問題
を克服することが可能である。基準アームの長さは、長
さＺmaxの光ファイバを光ファイバ２６または光ファイ
バ２３に挿入することによって延長することが可能であ
る。この手順によって、Ｚmaxより数倍長い測定範囲に
わたって干渉計の限界を克服することが可能であるが、
測定範囲がＺmaxより大幅に長くなると、実施不可能に
なる。
【００１２】本発明は、干渉計のアームの１つにおける
共振遅延回路を利用することによってこの制限を克服す
る。共振遅延回路は、入力光信号を受信して、一連の遅
延光信号を発生する装置と定義される。発生する各光信
号は、そのシーケンスにおいて先行して発生した光信号
に対して時間的に変位している。発生した光信号のコヒ
ーレンス特性は、入力光信号と同じである。
共振遅延回路を利用することによってこの制限を克服す
る。共振遅延回路は、入力光信号を受信して、一連の遅
延光信号を発生する装置と定義される。発生する各光信
号は、そのシーケンスにおいて先行して発生した光信号
に対して時間的に変位している。発生した光信号のコヒ
ーレンス特性は、入力光信号と同じである。
【００１３】本発明による干渉計の実施例の１つに関す
る略図が、図２に１００で示されている。この実施例の
場合、共振遅延回路は、リング共振器を利用している。
光源１１４からの光は、干渉計１０に関連して上述のや
り方と同様のやり方で、カップラ１１６によって２つの
部分に分割される。光の第１の部分は、装置１２に加え
られる。装置１２によって反射する光の一部は、カップ
ラ１１６及び１２０を介してカップラ１２２に加えられ
る。光源１１４からの光の第２の部分は、共振光学遅延
回路１５１に加えられる。光学遅延回路１５１は、２つ
のカップラ１５２及び１５３、及び、光信号がファイバ
１１５、移相器１１、及び、装置１２を巡回する際に遭
遇するのと同じ分散特性を有する材料で作るのが望まし
い、光ファイバのループ１５４から構成される。
る略図が、図２に１００で示されている。この実施例の
場合、共振遅延回路は、リング共振器を利用している。
光源１１４からの光は、干渉計１０に関連して上述のや
り方と同様のやり方で、カップラ１１６によって２つの
部分に分割される。光の第１の部分は、装置１２に加え
られる。装置１２によって反射する光の一部は、カップ
ラ１１６及び１２０を介してカップラ１２２に加えられ
る。光源１１４からの光の第２の部分は、共振光学遅延
回路１５１に加えられる。光学遅延回路１５１は、２つ
のカップラ１５２及び１５３、及び、光信号がファイバ
１１５、移相器１１、及び、装置１２を巡回する際に遭
遇するのと同じ分散特性を有する材料で作るのが望まし
い、光ファイバのループ１５４から構成される。
【００１４】光学遅延回路１５１は、次のように動作す
る。カップラ１２３からの光の一部が、カップラ１５２
によってファイバ・ループ１５４に導入され、ファイバ
・ループ１５４を何回も巡回することになる。光の残り
の部分は、ファイバ１２３の終端において無反射ビーム
・ストップによって吸収される。光信号が、光ファイバ
１５４を巡回する毎に、光の一部が、カップラ１５３及
びファイバ１５５を介して、ファイバ・ループを出てい
く。この光は、レンズ１３１を介して移動ミラー１２４
にイメージを結ぶ。移動ミラーから戻る光は、ファイバ
１５６を介してカップラ１２２に加えられ、干渉のため
の基準信号が形成される。
る。カップラ１２３からの光の一部が、カップラ１５２
によってファイバ・ループ１５４に導入され、ファイバ
・ループ１５４を何回も巡回することになる。光の残り
の部分は、ファイバ１２３の終端において無反射ビーム
・ストップによって吸収される。光信号が、光ファイバ
１５４を巡回する毎に、光の一部が、カップラ１５３及
びファイバ１５５を介して、ファイバ・ループを出てい
く。この光は、レンズ１３１を介して移動ミラー１２４
にイメージを結ぶ。移動ミラーから戻る光は、ファイバ
１５６を介してカップラ１２２に加えられ、干渉のため
の基準信号が形成される。
【００１５】ファイバ１５４における光信号は、ファイ
バを巡回する毎に、カップラ１５２及び１５３における
損失のため、減衰することになる。従って、カップラ１
５２及び１５３、及び、ファイバ１５４は、常に強度が
弱まっていく基準光信号の複数のコピーを有効に発生す
る。各順次コピーは、ファイバ・ループ１５４の遅延時
間に等しい量だけ、先行コピーに対して遅延する。従っ
て、ミラー１２４の各位置毎に、ファイバ１５４の光路
長だけ離れたポイントにおいて、装置１２のサンプリン
グが行われる。
バを巡回する毎に、カップラ１５２及び１５３における
損失のため、減衰することになる。従って、カップラ１
５２及び１５３、及び、ファイバ１５４は、常に強度が
弱まっていく基準光信号の複数のコピーを有効に発生す
る。各順次コピーは、ファイバ・ループ１５４の遅延時
間に等しい量だけ、先行コピーに対して遅延する。従っ
て、ミラー１２４の各位置毎に、ファイバ１５４の光路
長だけ離れたポイントにおいて、装置１２のサンプリン
グが行われる。
【００１６】実際には、各種不均一性部分に対応する数
の反射が装置から生じることになる。各不均一性部分の
正確な位置を確かめるためには、解析器１２９は、基準
信号のうちどの「コピー」が、任意の時点において比較
されているかを識別することができなければならない。
これは、図３に２６１で示されている再循環遅延ループ
に移相器を設けることによって実施可能になる。干渉計
２００の残りの構成要素は、図２に示す対応する構成要
素と類似した機能を果たす。移相器２６１は、信号にセ
ロダイン周波数のシフトを生じさせるという点で、図２
に示す移相器１１１と同様である。循環光信号が移相器
２６１を通る毎に、周波数がわずかにシフトする。従っ
て、解析器２２９によって検出されるうなり信号の周波
数によって、基準信号がループ２５４を巡回した回数が
識別される。この周波数と、ミラー２２４の位置が相俟
って、装置１２において測定される不均一性部分の絶対
位置が識別される。
の反射が装置から生じることになる。各不均一性部分の
正確な位置を確かめるためには、解析器１２９は、基準
信号のうちどの「コピー」が、任意の時点において比較
されているかを識別することができなければならない。
これは、図３に２６１で示されている再循環遅延ループ
に移相器を設けることによって実施可能になる。干渉計
２００の残りの構成要素は、図２に示す対応する構成要
素と類似した機能を果たす。移相器２６１は、信号にセ
ロダイン周波数のシフトを生じさせるという点で、図２
に示す移相器１１１と同様である。循環光信号が移相器
２６１を通る毎に、周波数がわずかにシフトする。従っ
て、解析器２２９によって検出されるうなり信号の周波
数によって、基準信号がループ２５４を巡回した回数が
識別される。この周波数と、ミラー２２４の位置が相俟
って、装置１２において測定される不均一性部分の絶対
位置が識別される。
【００１７】共振遅延線について可能性のある位置は、
４つある。上述の実施例では、共振遅延線は、基準アー
ム内に配置された。感度の点からすると、これは、望ま
しい位置である。干渉計の基準アーム内では、最適のＳ
Ｎ比を得るために必要とされる強度を大幅に上回る信号
強度が得られることは、立証可能である。従って、強度
の損失によって、少なくともこの位置における問題が生
じる。以上の論議から当該技術の熟練者には明らかなよ
うに、共振遅延線は、光源アーム（すなわち、光源２１
４とカップラ２１６の間）、テストを受ける装置のアー
ム（すなわち、ファイバ２１５）、または、受信機アー
ム（すなわち、ファイバ２２０）に配置することが可能
である。
４つある。上述の実施例では、共振遅延線は、基準アー
ム内に配置された。感度の点からすると、これは、望ま
しい位置である。干渉計の基準アーム内では、最適のＳ
Ｎ比を得るために必要とされる強度を大幅に上回る信号
強度が得られることは、立証可能である。従って、強度
の損失によって、少なくともこの位置における問題が生
じる。以上の論議から当該技術の熟練者には明らかなよ
うに、共振遅延線は、光源アーム（すなわち、光源２１
４とカップラ２１６の間）、テストを受ける装置のアー
ム（すなわち、ファイバ２１５）、または、受信機アー
ム（すなわち、ファイバ２２０）に配置することが可能
である。
【００１８】さらに、他の形態の光学遅延を利用するこ
とができるのは、明らかである。例えば、ファブリ・ペ
ロー空洞共振器を利用して、共振遅延線を形成すること
も可能である。ファブリ・ペロー空洞共振器を利用した
本発明の実施例の略図が、図４に３００で示されてい
る。ファブリ・ペロー空洞共振器は、装置１２と同じ分
散特性を備えることが望ましい光学材料３６７の領域の
両端と一致する、２つの部分反射ミラー３６３及び３６
４から構成されている。カップラ３１６からの光は、ミ
ラー３６３と３６４の間で跳ね返る光の一部を受け入れ
るミラー３６３にイメージを結ぶ。光パルスがミラーの
一方にぶつかる毎に、光の一部が漏出する。漏出して、
ファイバに入り込む光は、干渉計のための基準ビームを
形成する。光学アイソレータ３６６は、ミラー３６３か
ら送り出された光がファイバ３２０を介してカップラ３
２２に到達するのを阻止する。光学アイソレータ３６５
は、ミラー３２４から反射され、カップラ３３１及びフ
ァイバ３６６を介して戻される光が、ミラー３６４を介
して空洞共振器に再入するのを阻止する。ミラー３６３
及び３６４の反射率は、カップラ３２２に到達する光パ
ルスの有効コピー数が最大になるように設定される。留
意すべきは、干渉計３００のミラー３６３と３６４の間
の領域にも、移相器を設けることができるという点であ
る。図面の簡略化のため、移相器は、省かれている。こ
の移相器は、図３に示す移相器と同じ働きをする。該移
相器は、空洞共振器を出る前に、基準光信号がミラー３
６３と３６４の間で跳ね返される回数を、解析器３２９
で求めるための手段を提供する。
とができるのは、明らかである。例えば、ファブリ・ペ
ロー空洞共振器を利用して、共振遅延線を形成すること
も可能である。ファブリ・ペロー空洞共振器を利用した
本発明の実施例の略図が、図４に３００で示されてい
る。ファブリ・ペロー空洞共振器は、装置１２と同じ分
散特性を備えることが望ましい光学材料３６７の領域の
両端と一致する、２つの部分反射ミラー３６３及び３６
４から構成されている。カップラ３１６からの光は、ミ
ラー３６３と３６４の間で跳ね返る光の一部を受け入れ
るミラー３６３にイメージを結ぶ。光パルスがミラーの
一方にぶつかる毎に、光の一部が漏出する。漏出して、
ファイバに入り込む光は、干渉計のための基準ビームを
形成する。光学アイソレータ３６６は、ミラー３６３か
ら送り出された光がファイバ３２０を介してカップラ３
２２に到達するのを阻止する。光学アイソレータ３６５
は、ミラー３２４から反射され、カップラ３３１及びフ
ァイバ３６６を介して戻される光が、ミラー３６４を介
して空洞共振器に再入するのを阻止する。ミラー３６３
及び３６４の反射率は、カップラ３２２に到達する光パ
ルスの有効コピー数が最大になるように設定される。留
意すべきは、干渉計３００のミラー３６３と３６４の間
の領域にも、移相器を設けることができるという点であ
る。図面の簡略化のため、移相器は、省かれている。こ
の移相器は、図３に示す移相器と同じ働きをする。該移
相器は、空洞共振器を出る前に、基準光信号がミラー３
６３と３６４の間で跳ね返される回数を、解析器３２９
で求めるための手段を提供する。
【００１９】上述の本発明の実施例は、有効な無限イン
パルス応答に共振遅延を利用するものである。すなわ
ち、光信号が遅延線に入ると、無限回数にわたって、指
数関数的に強度の弱まるコピーが発生する。基準信号の
強度が異なる結果、走査を受ける装置の異なる領域に対
応するＳＮ比も、異なるようになる。インパルス応答が
有限の代替遅延方法が、図５に３５０で示されている。
遅延回路３５０は、長さの異なる複数の光ファイバ３５
２から構成されている。光ファイバの端部は、互いに融
合されている。入力端３５３に入る光信号は、個々のフ
ァイバ間で等分されることが望ましい。次に、出力端３
５４において、入力光信号の各種コピーが集められる。
遅延回路３５０は、一定数の等振幅の入力光信号コピー
を発生し、走査を受ける装置における対応する距離範囲
のそれぞれが、同じに扱われる。各信号に導入される特
定の遅延の識別を可能にするため、３６０〜３６３で示
す各ファイバには、位相（または、周波数）変調器が設
けられる。各変調器は、ファイバの通過時に光が被る遅
延に固有の量だけ、光の位相（または、周波数）を変更
する。
パルス応答に共振遅延を利用するものである。すなわ
ち、光信号が遅延線に入ると、無限回数にわたって、指
数関数的に強度の弱まるコピーが発生する。基準信号の
強度が異なる結果、走査を受ける装置の異なる領域に対
応するＳＮ比も、異なるようになる。インパルス応答が
有限の代替遅延方法が、図５に３５０で示されている。
遅延回路３５０は、長さの異なる複数の光ファイバ３５
２から構成されている。光ファイバの端部は、互いに融
合されている。入力端３５３に入る光信号は、個々のフ
ァイバ間で等分されることが望ましい。次に、出力端３
５４において、入力光信号の各種コピーが集められる。
遅延回路３５０は、一定数の等振幅の入力光信号コピー
を発生し、走査を受ける装置における対応する距離範囲
のそれぞれが、同じに扱われる。各信号に導入される特
定の遅延の識別を可能にするため、３６０〜３６３で示
す各ファイバには、位相（または、周波数）変調器が設
けられる。各変調器は、ファイバの通過時に光が被る遅
延に固有の量だけ、光の位相（または、周波数）を変更
する。
【００２０】図２〜４に示す本発明の実施例は、ノイズ
を最小限に抑えるため、平衡検出器の送信モードに作用
する共振遅延を利用したものである。しかし、当業者に
は明らかなように、本発明において教示の技法は、マイ
ケルソン干渉計に適用することも可能である。マイケル
ソン干渉計に類似した本発明の実施例が、図６に４００
で示されている。干渉計４００は、ファブリ・ペロー空
洞共振器を利用して、干渉計の基準アームに共振遅延を
発生する。光源４１４からの光は、カップラ４１６によ
って２つの部分に分割される。第１の部分は、テストを
受ける装置１２に加えられ、そこから反射した光はファ
イバ４１５を介して、カップラ４１６に戻される。第２
の部分は、装置１２と同様の分散特性を備えた領域を形
成するミラー４６３及び４６４から構成される共振遅延
発生器に加えられる。ミラー４６４を出る光は、可動ミ
ラー４２４を含む光路に結合される。この光は、カップ
ラ４１６に戻され、干渉に関する基準信号が生じる。移
相器４６１は、ミラー４６３と４６４の間に設けられ
る。移相器４６１は、ミラー４６３と４６４の間で跳ね
返る光の周波数を変更する。光が移相器４６１を通る毎
に、その周波数は、わずかに高くなる。光アイソレータ
４６７〜４６９は、カップラ４７１及び４７２と共に、
ミラー４６３から反射した光が検出器４２７に戻るのを
阻止する手段を形成している。この光信号は、検出器４
２７に過剰なノイズを発生するのに十分な強度を有して
いる。
を最小限に抑えるため、平衡検出器の送信モードに作用
する共振遅延を利用したものである。しかし、当業者に
は明らかなように、本発明において教示の技法は、マイ
ケルソン干渉計に適用することも可能である。マイケル
ソン干渉計に類似した本発明の実施例が、図６に４００
で示されている。干渉計４００は、ファブリ・ペロー空
洞共振器を利用して、干渉計の基準アームに共振遅延を
発生する。光源４１４からの光は、カップラ４１６によ
って２つの部分に分割される。第１の部分は、テストを
受ける装置１２に加えられ、そこから反射した光はファ
イバ４１５を介して、カップラ４１６に戻される。第２
の部分は、装置１２と同様の分散特性を備えた領域を形
成するミラー４６３及び４６４から構成される共振遅延
発生器に加えられる。ミラー４６４を出る光は、可動ミ
ラー４２４を含む光路に結合される。この光は、カップ
ラ４１６に戻され、干渉に関する基準信号が生じる。移
相器４６１は、ミラー４６３と４６４の間に設けられ
る。移相器４６１は、ミラー４６３と４６４の間で跳ね
返る光の周波数を変更する。光が移相器４６１を通る毎
に、その周波数は、わずかに高くなる。光アイソレータ
４６７〜４６９は、カップラ４７１及び４７２と共に、
ミラー４６３から反射した光が検出器４２７に戻るのを
阻止する手段を形成している。この光信号は、検出器４
２７に過剰なノイズを発生するのに十分な強度を有して
いる。
【００２１】上述の本発明の実施例は、連続光源を利用
して、個々のコピーの周波数をシフトすることによっ
て、用いられている基準信号のコピーを識別する。ただ
し、装置１２から反射する光と組み合わせられる基準信
号のコピーを識別するための他の方法を用いることも可
能である。もう一度図２を参照すると、光源１１４がパ
ルス化され、解析器１２９が、時間的にゲート制御を施
される場合、パルスと、解析器がゲート制御を受ける時
間との間における時間遅延を利用して、干渉に用いられ
る基準信号の特定のコピーを選択することができる。
して、個々のコピーの周波数をシフトすることによっ
て、用いられている基準信号のコピーを識別する。ただ
し、装置１２から反射する光と組み合わせられる基準信
号のコピーを識別するための他の方法を用いることも可
能である。もう一度図２を参照すると、光源１１４がパ
ルス化され、解析器１２９が、時間的にゲート制御を施
される場合、パルスと、解析器がゲート制御を受ける時
間との間における時間遅延を利用して、干渉に用いられ
る基準信号の特定のコピーを選択することができる。
【００２２】ゲート制御操作は、図２に示すファイバ経
路１５６に光学スイッチを設けることによって実施する
ことができる。スイッチは、通常、開いている。光源１
１４によって発生する光パルスに関する所定の時間に、
スイッチが閉じる。スイッチの速度は、基準信号のコピ
ーが１つだけしかカップラ１２２に到達しないことを保
証するのに十分なものでなければならない。当該技術の
熟練者には明らかなように、他のスイッチ構成によっ
て、ゲート制御を行うことも可能である。本書では、測
定範囲を拡大する光学低コヒーレンス干渉計について解
説を行った。以上の説明及び添付の図面から、当該技術
の熟練者には、本発明に対するさまざまな修正が明らか
になるであろう。
路１５６に光学スイッチを設けることによって実施する
ことができる。スイッチは、通常、開いている。光源１
１４によって発生する光パルスに関する所定の時間に、
スイッチが閉じる。スイッチの速度は、基準信号のコピ
ーが１つだけしかカップラ１２２に到達しないことを保
証するのに十分なものでなければならない。当該技術の
熟練者には明らかなように、他のスイッチ構成によっ
て、ゲート制御を行うことも可能である。本書では、測
定範囲を拡大する光学低コヒーレンス干渉計について解
説を行った。以上の説明及び添付の図面から、当該技術
の熟練者には、本発明に対するさまざまな修正が明らか
になるであろう。
【００２３】
【発明の効果】以上説明したように、本発明を用いるこ
とにより、何メータも離れた所の不均一性も走査するこ
とができる。
とにより、何メータも離れた所の不均一性も走査するこ
とができる。
【図１】光学低コヒーレンス反射率計のブロック図であ
る。
る。
【図２】本発明による光学低コヒーレンス反射率計の一
実施例を示すブロック図である。
実施例を示すブロック図である。
【図３】本発明による光学低コヒーレンス反射率計の第
２の実施例を示すブロック図である。
２の実施例を示すブロック図である。
【図４】本発明による光学低コヒーレンス反射率計の第
３の実施例を示すブロック図である。
３の実施例を示すブロック図である。
【図５】共振遅延線の代替を示す図である。
【図６】本発明による光学低コヒーレンス反射率計の第
４の実施例を示すブロック図である。
４の実施例を示すブロック図である。
１２：装置 １１１：移相器 １１４：光源 １１５、１２０、１２３、１５５、１５６：ファイバ １１６、１２２、１５２、１５３：カップラ １２４：移動ミラー １２９：解析器 １３１：レンズ １３２：検出器 １５１：共振光学遅延回路 １５４：ファイバ・ループ
Claims (1)
- 【請求項１】光信号を発生する光源手段と、 前記光信号を第１および第２の光信号に分割する分割手
段と、 前記第１の光信号の一部を被測定装置に印加する手段
と、 第１、第２ポートを有し、該両ポート上の光信号を混合
して混合光信号を発生する加算手段と、 前記混合光信号の振幅を測定する検出手段と、 前記第１の光信号を前記被測定装置に印加することによ
り発生される後方散乱光の一部を収集し、該収集された
後方散乱光を前記加算手段の前記第１ポートに入力する
手段と、 前記第１または第２の光信号から一連の刻時光信号を発
生する遅延手段と、 前記刻時光信号の一部を前記加算手段の前記第２ポート
に入力する手段と、 を備えて成る光学干渉計。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US07/907,765 US5268738A (en) | 1992-06-30 | 1992-06-30 | Extended distance range optical low-coherence reflectometer |
| US907,765 | 1992-06-30 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0666517A true JPH0666517A (ja) | 1994-03-08 |
Family
ID=25424606
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5187178A Pending JPH0666517A (ja) | 1992-06-30 | 1993-06-30 | 光学干渉計 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5268738A (ja) |
| EP (1) | EP0578400B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0666517A (ja) |
| DE (1) | DE69302232T2 (ja) |
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| CN102401670A (zh) * | 2011-04-06 | 2012-04-04 | 杭州安远科技有限公司 | 一种降低光纤双折射影响的光纤干涉测量系统 |
| CN103900798A (zh) * | 2014-03-28 | 2014-07-02 | 哈尔滨工程大学 | 一种带有光程扫描在线校正的光学相干域偏振测量装置 |
| CN105115621A (zh) * | 2015-06-03 | 2015-12-02 | 闽南师范大学 | 一种双端注入环形结构的拉曼传感测温系统及方法 |
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| US9638799B2 (en) | 2012-11-21 | 2017-05-02 | Nikon Corporation | Scan mirrors for laser radar |
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1993
- 1993-06-21 DE DE69302232T patent/DE69302232T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1993-06-21 EP EP93304811A patent/EP0578400B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1993-06-30 JP JP5187178A patent/JPH0666517A/ja active Pending
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