JPH0667095A - 走査型レーザ顕微鏡 - Google Patents
走査型レーザ顕微鏡Info
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- JPH0667095A JPH0667095A JP40092990A JP40092990A JPH0667095A JP H0667095 A JPH0667095 A JP H0667095A JP 40092990 A JP40092990 A JP 40092990A JP 40092990 A JP40092990 A JP 40092990A JP H0667095 A JPH0667095 A JP H0667095A
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- Japan
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- sample
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- scanning
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Abstract
(57)【要約】
【目的】本発明は、標本スライス像の観察を行う前に標
本の立体的な情報を得ることができ、標本像を得る際の
操作効率を大幅に改善することを目的とする。 【構成】標本からの反射光または透過光から標本像を形
成する走査型レーザ顕微鏡において、対物レンズの焦点
位置を調整するための圧電素子と、標本の断面像から輝
度値に基づいてその輪郭を検出する手段と、この手段で
得られた複数断面像の輪郭データから標本の立体イメー
ジを構築する手段とを具備してなる。
本の立体的な情報を得ることができ、標本像を得る際の
操作効率を大幅に改善することを目的とする。 【構成】標本からの反射光または透過光から標本像を形
成する走査型レーザ顕微鏡において、対物レンズの焦点
位置を調整するための圧電素子と、標本の断面像から輝
度値に基づいてその輪郭を検出する手段と、この手段で
得られた複数断面像の輪郭データから標本の立体イメー
ジを構築する手段とを具備してなる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、レーザ光で標本を走査
し標本からの反射光または透過光を用いて標本像を得る
走査型レーザ顕微鏡に関する。
し標本からの反射光または透過光を用いて標本像を得る
走査型レーザ顕微鏡に関する。
【０００２】
【従来の技術】光源からの光を対物レンズで微小なスポ
ットに絞り、このスポットで試料上を走査し、試料から
の透過光や反射光を光検出器でとらえて電気信号に変
え、ＣＲＴ上に試料像を表示する走査型レーザ顕微鏡が
知られている。この走査型レーザ顕微鏡は、フレアが少
なくコントラストのよい像を得ることができ、検出光学
系を工夫することで共焦点、微分などの特殊な検出が簡
単に行える利点がある。この様な走査型レーザ顕微鏡と
しては、特開昭61-219919 号公報で提案されており、以
下これを例に説明する。
ットに絞り、このスポットで試料上を走査し、試料から
の透過光や反射光を光検出器でとらえて電気信号に変
え、ＣＲＴ上に試料像を表示する走査型レーザ顕微鏡が
知られている。この走査型レーザ顕微鏡は、フレアが少
なくコントラストのよい像を得ることができ、検出光学
系を工夫することで共焦点、微分などの特殊な検出が簡
単に行える利点がある。この様な走査型レーザ顕微鏡と
しては、特開昭61-219919 号公報で提案されており、以
下これを例に説明する。
【０００３】図５はかかる走査型レーザ顕微鏡の構成を
示す図である。この走査型レーザ顕微鏡は、光源１から
のレーザビーム２が、ビームスプリッタ３を通過して対
物レンズ１０の瞳位置と共役な位置に設けられた光偏向
器のガルバノメータミラー４に入射する。ここで、レー
ザビーム２はＹ方向に走査される。次に、瞳伝送レンズ
５，６によって対物レンズ１０の瞳位置と共役の位置に
設けられたガルバノメータミラー７に入射する。ここ
で、レーザビーム２は偏向されてＸ方向に走査される。
２次元走査されたレーザビーム２は瞳投影レンズ８，結
像レンズ９を通過して対物レンズ１０に入射する。そし
て、試料１１上に回折で制限されるレーザスポットを生
じ、そのレーザスポットで試料１１をＸ−Ｙ走査する。
示す図である。この走査型レーザ顕微鏡は、光源１から
のレーザビーム２が、ビームスプリッタ３を通過して対
物レンズ１０の瞳位置と共役な位置に設けられた光偏向
器のガルバノメータミラー４に入射する。ここで、レー
ザビーム２はＹ方向に走査される。次に、瞳伝送レンズ
５，６によって対物レンズ１０の瞳位置と共役の位置に
設けられたガルバノメータミラー７に入射する。ここ
で、レーザビーム２は偏向されてＸ方向に走査される。
２次元走査されたレーザビーム２は瞳投影レンズ８，結
像レンズ９を通過して対物レンズ１０に入射する。そし
て、試料１１上に回折で制限されるレーザスポットを生
じ、そのレーザスポットで試料１１をＸ−Ｙ走査する。
【０００４】試料１１が透過物体であれば、レーザビー
ム２はコンデンサレンズ１２を通って検出器１３，１４
によって検出される。
ム２はコンデンサレンズ１２を通って検出器１３，１４
によって検出される。
【０００５】一方、試料１１が反射物体であれば、試料
１１で反射した反射光はもときた光路を戻ってビームス
プリッタ３に入射し、ここで反射された光が集光レンズ
１５を通って検出器１６，１７で検出される。
１１で反射した反射光はもときた光路を戻ってビームス
プリッタ３に入射し、ここで反射された光が集光レンズ
１５を通って検出器１６，１７で検出される。
【０００６】この様に構成された走査光学系において、
ガルバノメータミラー４，７をそれぞれＸ方向およびＹ
方向に走査させることにより、試料１１がその上に形成
されているビームスポットでＸ，Ｙ方向にそれぞれ走査
される。そして、走査ビームの反射光または透過光がそ
れぞれ検出器１３，１４または検出器１６，１７で検出
される。これら検出器から出力される電気信号をＢモー
ド，Ｃモードの画像データに変換してＣＲＴ上に試料像
を表示する
ガルバノメータミラー４，７をそれぞれＸ方向およびＹ
方向に走査させることにより、試料１１がその上に形成
されているビームスポットでＸ，Ｙ方向にそれぞれ走査
される。そして、走査ビームの反射光または透過光がそ
れぞれ検出器１３，１４または検出器１６，１７で検出
される。これら検出器から出力される電気信号をＢモー
ド，Ｃモードの画像データに変換してＣＲＴ上に試料像
を表示する
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た走査型レーザ顕微鏡は、標本全体の形状を得るために
は、予め設定されたスライス条件によって、試料１１の
各々のＺ位置でのスライス像の観察を全て行い、これら
スライス像で立体像を構築して初めて標本形状を把握す
ることができる。
た走査型レーザ顕微鏡は、標本全体の形状を得るために
は、予め設定されたスライス条件によって、試料１１の
各々のＺ位置でのスライス像の観察を全て行い、これら
スライス像で立体像を構築して初めて標本形状を把握す
ることができる。
【０００８】従って、初期の段階では標本の外形が不明
なため、スライス範囲（上限および下限値）やスライス
の間隔をおおよその値に設定して観察を行っている。そ
のために、得られたスライス像の中には不必要なデータ
が含まれる可能性があり、後の処理でこの様なデータを
削除する処理が必要になる。また、必要なデータが含ま
れていない場合にはスライス条件を設定し直して再度観
察をやり直さなければならない。よって、標本像を得る
際の操作効率が悪く、時間がかかるという問題があっ
た。
なため、スライス範囲（上限および下限値）やスライス
の間隔をおおよその値に設定して観察を行っている。そ
のために、得られたスライス像の中には不必要なデータ
が含まれる可能性があり、後の処理でこの様なデータを
削除する処理が必要になる。また、必要なデータが含ま
れていない場合にはスライス条件を設定し直して再度観
察をやり直さなければならない。よって、標本像を得る
際の操作効率が悪く、時間がかかるという問題があっ
た。
【０００９】本発明は以上のような実情に鑑みてなされ
たもので、標本スライス像の観察を行う前に標本の立体
的な情報を得ることができ、標本像を得る際の操作効率
を大幅に改善できる走査型レーザ顕微鏡を提供すること
を目的とする。
たもので、標本スライス像の観察を行う前に標本の立体
的な情報を得ることができ、標本像を得る際の操作効率
を大幅に改善できる走査型レーザ顕微鏡を提供すること
を目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明に係る走査型レーザ顕微鏡を、光源からの光
を対物レンズによって標本上に集光して該標本上にビー
ムスポットを形成し、前記光源，前記対物レンズ間の光
路上に配置された音響光学偏光素子によって前記ビーム
スポットを前記標本上で２次元走査し、この走査によっ
て前記標本から反射または透過した光を電気信号に変換
して、この電気信号から標本像を形成する走査型レーザ
顕微鏡において、前記対物レンズの焦点位置を調整する
ための圧電素子と、前記標本の断面像から輝度値に基づ
いてその輪郭を検出する手段と、この手段で得られた複
数断面像の輪郭データから前記標本の立体イメージを構
築する手段とを具備して構成した。
に、本発明に係る走査型レーザ顕微鏡を、光源からの光
を対物レンズによって標本上に集光して該標本上にビー
ムスポットを形成し、前記光源，前記対物レンズ間の光
路上に配置された音響光学偏光素子によって前記ビーム
スポットを前記標本上で２次元走査し、この走査によっ
て前記標本から反射または透過した光を電気信号に変換
して、この電気信号から標本像を形成する走査型レーザ
顕微鏡において、前記対物レンズの焦点位置を調整する
ための圧電素子と、前記標本の断面像から輝度値に基づ
いてその輪郭を検出する手段と、この手段で得られた複
数断面像の輪郭データから前記標本の立体イメージを構
築する手段とを具備して構成した。
【００１１】
【作用】本発明によれば、標本の断面像からその輪郭が
検出され、圧電素子で対物レンズの焦点位置を変化させ
ていくことにより標本全体の輪郭が求められる。よっ
て、観察者はこの立体イメージを参照することにより、
容易に最適なスライス条件を設定することができ、余分
なデータの処理やスライス条件の再設定を無くすことが
できて、観察効率が大幅に改善されるものとなる。
検出され、圧電素子で対物レンズの焦点位置を変化させ
ていくことにより標本全体の輪郭が求められる。よっ
て、観察者はこの立体イメージを参照することにより、
容易に最適なスライス条件を設定することができ、余分
なデータの処理やスライス条件の再設定を無くすことが
できて、観察効率が大幅に改善されるものとなる。
【００１２】
【実施例】以下、図面を参照しながら実施例を説明す
る。
る。
【００１３】図１には本発明の一実施例に係る走査型レ
ーザ顕微鏡の概略的な構成が示されている。この走査型
レーザ顕微鏡は、レーザ光源２０から発したレーザ光が
ダイクロイックミラー２１を通過して音響光学偏光素子
２２に入射する。この音響光学偏光素子２２は、入射光
を互いに直交するＸ方向およびＹ方向に偏向させる。な
お、本実施例では、対物レンズ２３から試料２４への光
の投射方向をＺ方向とし、これと直行する面をＸＹ平面
とする。よって、このＸＹ平面上の互いに直交する２方
向がＸ方向，Ｙ方向となり、音響光学偏光素子２２によ
る走査方向はこの２方向に対応している。音響光学偏光
素子２２で偏光されたレーザ光は対物レンズ２３に入射
し、この対物レンズ２３の焦点付近に配置された標本２
４上にレーザ光によるビームスポットが形成される。対
物レンズ２３は、対物レンズの開口径に合わせた円筒形
の圧電素子２５を介して顕微鏡本体に取り付けられてい
る。この圧電素子２５には、後述するコントローラから
電圧を印加することにより、対物レンズの光軸方向に伸
びて焦点位置を調節する。なお、圧電素子２５を直接対
物レンズ２３に取り付けなくても、カム等によって間接
的に動かすように構成してもよい。
ーザ顕微鏡の概略的な構成が示されている。この走査型
レーザ顕微鏡は、レーザ光源２０から発したレーザ光が
ダイクロイックミラー２１を通過して音響光学偏光素子
２２に入射する。この音響光学偏光素子２２は、入射光
を互いに直交するＸ方向およびＹ方向に偏向させる。な
お、本実施例では、対物レンズ２３から試料２４への光
の投射方向をＺ方向とし、これと直行する面をＸＹ平面
とする。よって、このＸＹ平面上の互いに直交する２方
向がＸ方向，Ｙ方向となり、音響光学偏光素子２２によ
る走査方向はこの２方向に対応している。音響光学偏光
素子２２で偏光されたレーザ光は対物レンズ２３に入射
し、この対物レンズ２３の焦点付近に配置された標本２
４上にレーザ光によるビームスポットが形成される。対
物レンズ２３は、対物レンズの開口径に合わせた円筒形
の圧電素子２５を介して顕微鏡本体に取り付けられてい
る。この圧電素子２５には、後述するコントローラから
電圧を印加することにより、対物レンズの光軸方向に伸
びて焦点位置を調節する。なお、圧電素子２５を直接対
物レンズ２３に取り付けなくても、カム等によって間接
的に動かすように構成してもよい。
【００１４】なお、同図に示される走査光学系は、標本
２４が反射物体の場合を例にして構成されている。標本
２４が透過物体の場合には、図５に示すように、標本の
裏面側にコンデンサレンズ，光検出器を備えた構成とす
る。
２４が反射物体の場合を例にして構成されている。標本
２４が透過物体の場合には、図５に示すように、標本の
裏面側にコンデンサレンズ，光検出器を備えた構成とす
る。
【００１５】標本２４で反射した反射光は対物レンズ２
３，音響光学偏光素子２２を通ってダイクロイックミラ
ー２１に入射する。ダイクロイックミラー２１で反射し
た光は共焦点ピンホール２６を通って光検出器２７で光
電変換される。光検出器２７で光電変換されて生成され
た電気信号はコントローラ２８に入力される。コントロ
ーラ２８は、この電気信号から標本２４の輪郭を抽出す
る輪郭抽出モードと、設定されたスライス条件で得られ
た電気信号から標本像を生成する機能とを有している。
このコントローラ２８には、輪郭抽出モードで得られる
標本の立体像及び最終的に得られる標本像とを可視化す
る表示装置２９が接続されている。
３，音響光学偏光素子２２を通ってダイクロイックミラ
ー２１に入射する。ダイクロイックミラー２１で反射し
た光は共焦点ピンホール２６を通って光検出器２７で光
電変換される。光検出器２７で光電変換されて生成され
た電気信号はコントローラ２８に入力される。コントロ
ーラ２８は、この電気信号から標本２４の輪郭を抽出す
る輪郭抽出モードと、設定されたスライス条件で得られ
た電気信号から標本像を生成する機能とを有している。
このコントローラ２８には、輪郭抽出モードで得られる
標本の立体像及び最終的に得られる標本像とを可視化す
る表示装置２９が接続されている。
【００１６】次に、以上のように構成された本実施例の
動作について説明する。
動作について説明する。
【００１７】レーザ光源２０から発した光で標本２４上
にビームスポットを形成し、音響光学偏光素子２２を制
御して標本表面をビームスポットでＸＹ走査する。この
反射光は光検出器２７で電気信号に変換されてコントロ
ーラ２８に入力される。コントローラ２８は、標本２４
の所定のＺ位置での断面像を含むＸＹ走査範囲の画像デ
ータが生成される。コントローラ２８は、この画像デー
タに基づいてＺ位置での標本２４の輪郭データを抽出す
る。
にビームスポットを形成し、音響光学偏光素子２２を制
御して標本表面をビームスポットでＸＹ走査する。この
反射光は光検出器２７で電気信号に変換されてコントロ
ーラ２８に入力される。コントローラ２８は、標本２４
の所定のＺ位置での断面像を含むＸＹ走査範囲の画像デ
ータが生成される。コントローラ２８は、この画像デー
タに基づいてＺ位置での標本２４の輪郭データを抽出す
る。
【００１８】ここで、コントローラ２８による輪郭抽出
モードについて図２を参照して説明する。まず、所定の
Ｚ位置における断面（Ｘ−Ｙ断面）が得られると、Ｙ方
向を固定してその断面のＸ方向の１ライン（走査ライ
ン）について各画素の輝度値を判定して輪郭部分を抽出
する。断面像において、背景部と対象物との境界は輝度
値が急激に変化するので、１ラインの走査の中で輝度値
が急激に変化する点Ｐ1を検出する。点Ｐ1 が検出され
たならば、走査を中断してその点の位置情報Ｐ
1（Ｘ1 ，Ｙ1 ，Ｚ1 ）を記憶する（同図（ａ））。
モードについて図２を参照して説明する。まず、所定の
Ｚ位置における断面（Ｘ−Ｙ断面）が得られると、Ｙ方
向を固定してその断面のＸ方向の１ライン（走査ライ
ン）について各画素の輝度値を判定して輪郭部分を抽出
する。断面像において、背景部と対象物との境界は輝度
値が急激に変化するので、１ラインの走査の中で輝度値
が急激に変化する点Ｐ1を検出する。点Ｐ1 が検出され
たならば、走査を中断してその点の位置情報Ｐ
1（Ｘ1 ，Ｙ1 ，Ｚ1 ）を記憶する（同図（ａ））。
【００１９】次に、走査ラインをＹ方向に予め設定され
ているＹSTEP分移動する。これによって、走査ライン
は、Ｙ1 からＹ2 ＝（Ｙ1 ＋ＹSTEP）へシフトする。そ
して、走査ラインＹ2 を再びＸ方向に走査する。この時
の走査幅は、（Ｘ1 ±Ｘα）とする。Ｘαは走査幅中に
境界部分を含むように予め設定されている走査幅であ
る。この走査で上記同様に輝度値が急激に変化する点Ｐ
2 （Ｘ2 ，Ｙ2 ，Ｚ1 ）を検出して記憶する（同図
（ｂ））。
ているＹSTEP分移動する。これによって、走査ライン
は、Ｙ1 からＹ2 ＝（Ｙ1 ＋ＹSTEP）へシフトする。そ
して、走査ラインＹ2 を再びＸ方向に走査する。この時
の走査幅は、（Ｘ1 ±Ｘα）とする。Ｘαは走査幅中に
境界部分を含むように予め設定されている走査幅であ
る。この走査で上記同様に輝度値が急激に変化する点Ｐ
2 （Ｘ2 ，Ｙ2 ，Ｚ1 ）を検出して記憶する（同図
（ｂ））。
【００２０】なお、走査ラインＹn 上の走査で走査幅
（Ｘn-1 ±α）において、輪郭部となる輝度変化が検出
されない場合には、走査ラインＹn-1 に戻り、先に求め
た変化点（Ｘn-1 ，Ｙn-1 ，Ｚ1 ）以外に、輝度値が急
変する点を検出する。そして、走査ラインのシフト方向
を再び元の方向に反転させて、走査ラインをシフトさせ
ながら上記同様に境界点を検出して記憶していく。この
様にして記憶された全ての輪郭位置情報によって標本２
４のＺ1 断面での輪郭データが得られる。そして、この
求めた輪郭データからその重心位置（Ｘｇ1 ，Ｙｇ1 ，
Ｚ1 ）を求める。
（Ｘn-1 ±α）において、輪郭部となる輝度変化が検出
されない場合には、走査ラインＹn-1 に戻り、先に求め
た変化点（Ｘn-1 ，Ｙn-1 ，Ｚ1 ）以外に、輝度値が急
変する点を検出する。そして、走査ラインのシフト方向
を再び元の方向に反転させて、走査ラインをシフトさせ
ながら上記同様に境界点を検出して記憶していく。この
様にして記憶された全ての輪郭位置情報によって標本２
４のＺ1 断面での輪郭データが得られる。そして、この
求めた輪郭データからその重心位置（Ｘｇ1 ，Ｙｇ1 ，
Ｚ1 ）を求める。
【００２１】次に、輪郭抽出対象断面を予め設定されて
いるＺSTEPだけ移動させてＺ1 からＺ2 へ移り、その断
面上の走査ラインＹｇ1 から１ライン毎に走査を開始
し、上記同様に輪郭位置情報を求める。この様にして断
面のＺ位置を変えながら各断面で同様の輪郭抽出処理を
繰り返す。
いるＺSTEPだけ移動させてＺ1 からＺ2 へ移り、その断
面上の走査ラインＹｇ1 から１ライン毎に走査を開始
し、上記同様に輪郭位置情報を求める。この様にして断
面のＺ位置を変えながら各断面で同様の輪郭抽出処理を
繰り返す。
【００２２】そして、移動後のＺ位置における断面で輝
度の急変点が検出されなくなったならば、標本のＺ方向
の上限を越えたとして最初のＺ1 から逆方向に対象断面
をＺSTEPづつ変化させて各断面での輪郭抽出処理を繰り
返し、Ｚ方向の下限を越えるまで繰り返し行なう。
度の急変点が検出されなくなったならば、標本のＺ方向
の上限を越えたとして最初のＺ1 から逆方向に対象断面
をＺSTEPづつ変化させて各断面での輪郭抽出処理を繰り
返し、Ｚ方向の下限を越えるまで繰り返し行なう。
【００２３】この様にして得られた標本２４の輪郭情報
から標本全体の形状を図３に示すようにワイヤフレーム
表現等によって表示装置２９に表示する。この時、標本
全体形状の表示にＺ方向の情報も一緒に表示する。
から標本全体の形状を図３に示すようにワイヤフレーム
表現等によって表示装置２９に表示する。この時、標本
全体形状の表示にＺ方向の情報も一緒に表示する。
【００２４】観察者は、表示装置２９に表示された標本
２４の全体形状から、Ｚ方向の位置情報に基づいてどの
程度の範囲でスライス像を観察すべきであるかを判断し
てスライス条件を設定する。
２４の全体形状から、Ｚ方向の位置情報に基づいてどの
程度の範囲でスライス像を観察すべきであるかを判断し
てスライス条件を設定する。
【００２５】このようにして設定されたスライス条件で
の観察は従来と同様であるのでここでの説明は省略す
る。
の観察は従来と同様であるのでここでの説明は省略す
る。
【００２６】この様に本実施例によれば、標本断面像を
１ライン毎に走査してその輝度値から輪郭部分を判定し
て輪郭位置を順次記憶していき、１つの断面が終了した
らＺSTEPづつ変化させて各断面での輪郭抽出処理を繰り
返すようにしたので、この輪郭データから標本２４の全
体形状を求めることができ、表示装置２９にＺ方向の位
置情報と共に標本全体像を表示できる。したがって、観
察者はＺ方向の位置情報に基づいてどの程度の範囲でス
ライス像を観察すべきであるかを容易に判断することが
でき、操作効率を大幅に改善することができる。
１ライン毎に走査してその輝度値から輪郭部分を判定し
て輪郭位置を順次記憶していき、１つの断面が終了した
らＺSTEPづつ変化させて各断面での輪郭抽出処理を繰り
返すようにしたので、この輪郭データから標本２４の全
体形状を求めることができ、表示装置２９にＺ方向の位
置情報と共に標本全体像を表示できる。したがって、観
察者はＺ方向の位置情報に基づいてどの程度の範囲でス
ライス像を観察すべきであるかを容易に判断することが
でき、操作効率を大幅に改善することができる。
【００２７】なお、上記実施例では水平方向の断面（Ｘ
Ｙ平面）毎に輪郭抽出を行なったが、垂直方向の断面
（ＸＺ平面またはＹＺ平面）を輪郭抽出対象断面とし
て、Ｚ方向を走査ラインとして輝度値に基づいた輪郭抽
出処理を行なうようにしても、標本全体の輪郭情報を得
ることができる。
Ｙ平面）毎に輪郭抽出を行なったが、垂直方向の断面
（ＸＺ平面またはＹＺ平面）を輪郭抽出対象断面とし
て、Ｚ方向を走査ラインとして輝度値に基づいた輪郭抽
出処理を行なうようにしても、標本全体の輪郭情報を得
ることができる。
【００２８】また、１走査ラインにおいて、１箇所の輝
度変化点だけを検出してそのラインの走査を中断するの
ではなく、図４に示すように、１つ目の変化点が検出さ
れてもさらに走査を続けてもう一つの変化点を検出する
輪郭抽出処理とする。
度変化点だけを検出してそのラインの走査を中断するの
ではなく、図４に示すように、１つ目の変化点が検出さ
れてもさらに走査を続けてもう一つの変化点を検出する
輪郭抽出処理とする。
【００２９】この様な処理を各走査ライン毎に繰り返す
ことによって、各断面での外周情報を求め、さに処理断
面をシフトさせて標本全体の外周情報を得る。そして、
対象断面での輝度変化が検出され無くなったならば、最
初の断面から逆方向へシフトさせていく。
ことによって、各断面での外周情報を求め、さに処理断
面をシフトさせて標本全体の外周情報を得る。そして、
対象断面での輝度変化が検出され無くなったならば、最
初の断面から逆方向へシフトさせていく。
【００３０】この様な変形例によれば、標本全体形状を
得るまでのライン走査の総数を減らすことができる。
得るまでのライン走査の総数を減らすことができる。
【００３１】
【発明の効果】以上詳記したように本発明によれば、標
本スライス像の観察を行う前に標本の立体的な情報を得
ることができ、標本像を得る際の操作効率を大幅に改善
できる走査型レーザ顕微鏡を提供できる。
本スライス像の観察を行う前に標本の立体的な情報を得
ることができ、標本像を得る際の操作効率を大幅に改善
できる走査型レーザ顕微鏡を提供できる。
【図１】本発明の一実施例に係る走査型レーザ顕微鏡の
概略的な構成図である。
概略的な構成図である。
【図２】一実施例の動作説明図である。
【図３】輪郭検出された標本形状を示す斜視図である。
【図４】一実施例の変形例の動作説明図である。
【図５】従来の走査型レーザ顕微鏡の構成図である。
２０…レーザ光源、２１…ダイクロイックミラー、２２
…音響光学偏光素子、２３…対物ンズ、２４…標本、２
５…圧電素子、２６…共焦点ピンホール、２７…光検出
器、２８…コントローラ、２９…表示装置。
…音響光学偏光素子、２３…対物ンズ、２４…標本、２
５…圧電素子、２６…共焦点ピンホール、２７…光検出
器、２８…コントローラ、２９…表示装置。
Claims (1)
- 【請求項１】 光源からの光を対物レンズによって標本
上に集光して該標本上にビームスポットを形成し、前記
光源，前記対物レンズ間の光路上に配置された音響光学
偏光素子によって前記ビームスポットを前記標本上で２
次元走査し、この走査によって前記標本から反射または
透過した光を電気信号に変換して、この電気信号から標
本像を形成する走査型レーザ顕微鏡において、前記対物
レンズの焦点位置を調整するための圧電素子と、前記標
本の断面像から輝度値に基づいてその輪郭を検出する手
段と、この手段で得られた複数断面像の輪郭データから
前記標本の立体イメージを構築する手段とを具備したこ
とを特徴とする走査型レーザ顕微鏡。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP40092990A JPH0667095A (ja) | 1990-12-07 | 1990-12-07 | 走査型レーザ顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP40092990A JPH0667095A (ja) | 1990-12-07 | 1990-12-07 | 走査型レーザ顕微鏡 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0667095A true JPH0667095A (ja) | 1994-03-11 |
Family
ID=18510792
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP40092990A Pending JPH0667095A (ja) | 1990-12-07 | 1990-12-07 | 走査型レーザ顕微鏡 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0667095A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08161530A (ja) * | 1994-12-09 | 1996-06-21 | Olympus Optical Co Ltd | アイコン作成方法及び動画用のコマ作成方法 |
| JP2005345761A (ja) * | 2004-06-03 | 2005-12-15 | Olympus Corp | 走査型光学顕微鏡装置及び走査型光学顕微鏡像から物体像の復元法 |
| JP2011503530A (ja) * | 2007-10-22 | 2011-01-27 | ヴィジョンゲイト，インコーポレーテッド | 光トモグラフィに対する被写界深度拡大 |
| CN115598822A (zh) * | 2022-12-15 | 2023-01-13 | 达州爱迦飞诗特科技有限公司（Cn） | 智能多维度显微图像采集与处理方法 |
-
1990
- 1990-12-07 JP JP40092990A patent/JPH0667095A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08161530A (ja) * | 1994-12-09 | 1996-06-21 | Olympus Optical Co Ltd | アイコン作成方法及び動画用のコマ作成方法 |
| JP2005345761A (ja) * | 2004-06-03 | 2005-12-15 | Olympus Corp | 走査型光学顕微鏡装置及び走査型光学顕微鏡像から物体像の復元法 |
| JP2011503530A (ja) * | 2007-10-22 | 2011-01-27 | ヴィジョンゲイト，インコーポレーテッド | 光トモグラフィに対する被写界深度拡大 |
| CN115598822A (zh) * | 2022-12-15 | 2023-01-13 | 达州爱迦飞诗特科技有限公司（Cn） | 智能多维度显微图像采集与处理方法 |
| CN115598822B (zh) * | 2022-12-15 | 2023-03-10 | 达州爱迦飞诗特科技有限公司 | 智能多维度显微图像采集与处理方法 |
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