JPH0670238A - 固体撮像装置の欠陥修正装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 （修正有） 【目的】オンラインで確実に欠陥画素を修正し、かつ少
い記憶容量しか要しないものを提供する。 【構成】欠陥修正装置１０は、撮像装置の遮光時の暗画
素データのディジタル値を記憶するフレームバッファ１
６とこれに連結される出力を有するレジスタ３４が、撮
像画素データのディジタル値をフレームバッファ中へ次
々と歩進させる。レジスタと作用的に連結する出力を有
し、フレームバッファの暗画素データと対応的に連結し
ているコンパレータ４２が暗画素データの中から選ばれ
た任意の素子が撮像装置中の有効な画素を示す閾値より
小さい時には、エネーブル信号を形成しレジスタ中に記
録されたこの画素に対応するデータはフレームバッファ
に記憶される。フレームバッファ中の暗画素データの値
が閾値より大きい時には、コンパレータはインヒビット
信号を生成し、以前の有効画素の画像データの値がレジ
スタとフレームバッファに取り込まれ置換される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は全般的に固体撮像装置
における欠陥修正のシステム及び方法に関し、殊更記憶
装置を軽減する必要がある画素補正回路を使用する電荷
結合素子（ＣＣＤ）及び電荷注入素子（ＣＩＤ）使用の
撮像装置に関する。

【従来の技術】

【０００２】行と列を有するマトリックスの形に並べた
複数の光電素子から成る電荷結合撮像装置及び電荷注入
撮像装置は技術的に周知のものである。光電素子の各々
は行及び列の電極から成っている。各行に在る行電極の
すべては互いに点で共通に連結している。各列に在る列
電極のすべてもまた互いに点で共通に連結している。入
射した情景光は各光電素子に在る各対の電極の下にある
ポテンシャル井戸に存在する少数電荷担体を発光させる
ように作用する。この光を発生した電荷は周知の走査技
術により、アナログ電圧のパルス列として撮像装置から
外部へ移送することができる。このアナログ信号はその
後色補正又はガンマ補正されて数値化され、バッファ記
憶装置に格納することができる。

【０００３】光検知器アレイの様な画像検知装置からの
ビデオ出力信号における欠陥を修正するための多様な技
術が知られている。松岡等は、米国特許第４，７０１，
７８４号で、欠陥画素の周辺の信号、即ち画素を用いる
ための実施例として複雑な平均化及び相関回路を使用し
たものを開示する。この特許も亦、画像データが修正過
程で用いられる間、欠陥の位置を格納する記憶装置が使
用される公知の修正方法に言及している。

【０００４】越智の米国特許第４，５９０，５２０号で
は、光アレイ内部のデツドスポットが、光電素子のアレ
イに対応して順次アクセスされる予め格納されたディジ
タル感度補正係数の過度の変化速度に基づいて、検出さ
れている。デッドスポットの先端及び後端を、相次ぐ補
正係数間の算術的差異を予め決定した閾値と比較する事
によつて、検出している。一つの実施例においては、最
後のビデオ信号値がデッドスポットを埋めるために使用
されている。

【０００５】ブレマーは、米国特許第４，８０２，０１
１号で、信号サンプリング回路及び、実時間ビデオ信号
を使用して、欠陥画面収集素子を後続の欠陥のない画面
収集素子によって置き換える補正回路を記述している。

【０００６】ユーズ等は、米国特許第４，８０５，０１
３号で、撮像機を完全露光の５０％まで露出する事によ
って不良な画素のデータを作っている。この不良画素の
個所はＰＲＯＭに蓄えられる。回路は不良画素データが
使用される事を禁止し、代わりにＰＲＯＭの画素データ
を用いている。

【０００７】ベンキュヤ等は、平願出願人に譲渡され
た、米国特許第４，８４３，４７３号で、電荷注入撮像
装置により得られた信号からＫＴＣ及び固定パターンノ
イズが差し引かれて、低雑音読み出しができる電荷注入
素子を記述している。

【０００８】特許第４，７３４，７７４号は、隣接した
データの流れを比較して隣接データに入れ換えることに
より修正するＣＣＤ画像欠陥補償回路を記述している。

【０００９】同様に、閾値検出器が画素の複合画像パル
スと固定パターンノイズ（あるいは、暗電流）を検査す
る諸方法が工夫されて来た。与えられた閾値を超える
と、画素情報は棄却され、別のある値と入れ換えられ
る。この様な方法の１例が遠藤等の米国特許第４，５６
７，５２５号に示されている。この方法に付随する１問
題は、画素応答の鋭い遷移又は増加が不良素子に妨害さ
れる画面中のラインによって起りうる、周波数感応シス
テムに生ずるものと類似している。

【００１０】オンライン画素欠陥を修正する種々の方法
が、相続く画素信号即ちパルスの周波数又は振幅特性を
吟味する諸方法を含んで試みられて来た。例えば、ファ
ルンサイドの米国特許第４，５３５，３５９号及びスカ
ッグスの米国特許第４，７３４，７７４号はパルスの先
端及び後端が抽出される種々の方法を記載している。パ
ルス波高の急激な変化は欠陥の在る画素を示している可
能性がある。この様な諸方法に付随する問題は画素強度
の鋭い変化に帰着するようなコントラストを有する素子
あるいは画像線が画素中に在る可能性があるという事で
ある。従って、たといこのコントラストが非常に高くパ
ルス遷移が鋭いときには（高周波パルスを意味する）、
この様な方法は常に有効であるわけではない。

【００１１】記述された従来の諸装置の中には複雑で、
しかも欠陥情報を処理するための付加的な記憶装置を要
求する回路を使用している物もある。ある装置は、実時
間画像データ信号を検出して、画像データが情景画像か
ら情景画像へと変化しても、欠陥が存在するかどうかを
決定するものである。欠陥、特に欠陥が常に現われるわ
けでない場合の欠陥に対して相関を求めたり又修正する
事は、斯くして困難である。例えば、情景光が変化した
り又は温度が変動する様な場合である。

【００１２】

【発明が解決しようとする課題】従って、ＣＩＤ又はＣ
ＣＤを用いた撮像装置の為に、欠陥修正が入射情景光に
依存しない、欠陥修正装置を提供することが、この発明
の主な目的となる。より少ない記憶容量しか必要としな
い欠陥修正装置を提供することがこの発明の更にもう一
つの目的である。この発明の他の目的も以下に幾分明白
になるであろうし、又幾分出現するであろう。この発明
は従って以下の詳細な開示において例示される構造、素
子の組み合わせ、及び部品の配置を有するシステムから
構成される。

【００１３】

【課題を解決するための手段】本発明は曖昧さなしに不
良画素を検出するオンライン又は実時間の方法を創作す
ることによって従来の技術の欠点を除去するように工夫
されたものである。この発明によると、もし撮像装置か
らの暗い画素データが欠陥を示す閾値を超えないなら
ば、情景からの画素データはバッファに収納される。も
し暗い画素データが閾値を超えるならば、先の画素から
の画像情景データは画素修正が行われるバッファへ入れ
られる。

【００１４】固体撮像装置のための欠陥修正装置は、撮
像装置の画像位置からの、シャッターが閉じて暗くなっ
た画素のデータのディジタル値を収納する、撮像装置に
対応して連結されたフレームバッファを備える。レジス
タが撮像装置に対応して連結しており、出力をフレーム
バッファと連結させていて、撮像装置の画像画素データ
のディジタル値を逐次フレームバッファに歩進させる。
出力をこのレジスタに作用的に連結させるコンパレータ
がそのフレームバッファの暗い画素のデータと対応して
連結しており、エネーブル出力及びインヒビット出力を
生成する。暗い画素データの選ばれた任意の素子が、撮
像装置中の画素素子が有効であることを示す或る閾値よ
り小さいときには、画素に対応する。レジスタ中に収納
されたデータはエネーブル信号に応じてフレームバッフ
ァ中に収納される。フレームバッファ中の暗い画素デー
タの値がその閾値より大きい時には、コンパレータはイ
ンヒビット信号を作り出す。以前の有効な画素素子の画
素データ値はそれによってレジスタとフレームバッファ
に取込まれる。

【００１５】本発明を特徴付けると考えられる新規な点
について、特に添付の特許請求の範囲に係る視点から説
明した。しかし、本発明そのものは、他の目的と利点と
共にその構造と使用方法について、添付図面を参照した
実施例についての以下の説明から良く理解できることで
あろう。

【００１６】

【実施例】図１は、ＣＩＤ使用の撮像装置に本発明の欠
陥修正回路を取入れたブロツク図である。図１を参照す
ると、電荷注入素子１２（ＣＩＤ）内の、感光素子即ち
画素１４のアレイ形態中の画素欠陥を検出し修正する回
路が参照番号１０で包括的に表示される。本発明によれ
ば、ＣＩＤ１２中の各画素１４に伴う暗電流つまり固定
パターンノイズの絶対測定がＣＩＤ１２を遮光しその為
生じる各画素１４の暗画素データをフレームバッファ１
６に読み込むことにより初めに実施される。各画素１４
の暗電流のディジタル表現値はＣＩＤアレイ１２中の各
画素１４の位置に対応したアドレスでフレームバッファ
１６に記録される。ＣＩＤ１２が連続して入射情景光に
露光すると、ＣＩＤからの画素データはその場所での対
応位置それぞれに対して１画素１画素ずつフレームバッ
ファ１６へ入力される。フレームバッファ１６に記録さ
れたある特定の画素の位置における暗電流データが、不
良又は欠陥画素である事を示す与えられた閾値を超える
場合は、先の画素から得られた画像情景データがフレー
ムバッファの中で置き換えられる。

【００１７】図１に示された本発明装置の使用は次の通
りに行なわれる。ＣＩＤ１２が閉じられ、ＣＩＤ中の暗
電流信号が或る選択された時間例えば３０マイクロ秒間
安定化される。入力１８へのクロック・パルスにより、
ＣＩＤ１２はＣＩＤ１２によって作られる電圧又は電流
を修正回路１０に適合させるレベルシフト装置２０に１
画素毎に画素のアナログ・データを同期出力する。この
レベルシフト装置２０の出力は自動利得制御増幅器（Ａ
ＧＣ）２２の非反転（＋）入力とつながっている。ＡＧ
Ｃ２２の出力２３はスイッチ接点２６を通してガンマ補
正回路２４と、又はスイッチ接点３０を経由して直接に
アナログ−ディジタル変換器（Ａ／Ｄ）２８と、交互に
結び付いている。接点２６及び３０はガンマクロック入
力３１によって統制されるガンマ・スイッチ制御器３２
によって交互に開閉する。画素データはＡ／Ｄ２８によ
って出力レジスタ３４に記録するためのディジタル値に
変換される。出力レジスタ３４はフレームバッファ１６
と結線されていて、フレームバッファ１６の書き込み入
力（Ｗ）３６及びクロック入力３７のパルスに応じてＣ
ＩＤ画素１４のディジタル値を記録する。

【００１８】ディジタル−アナログ変換器（Ｄ／Ａ）３
８はフレームバッファ１６の出力４０と結合されて、画
素毎に各アドレスに記録された暗電流データを、読み出
し入力（Ｒ）３９及びクロック入力３７のパルスに応じ
て検知する。Ｄ／Ａ３８はフレームバッファ１６によっ
て出力される暗電流のディジタル値をアナログ信号へ変
換し、又そのアナログ信号を、図に示される様に、ＡＧ
Ｃ増幅器２２の反転（−）入力端４１に結び合せる。選
択された任意の画素１４に対して続けて露光される情景
画像を表わすＣＩＤ１２からのアナログ・データがＡＧ
Ｃ２２に結び合わせる度毎に、Ｄ／Ａ３８からの暗電流
を表わす対応データがＡＧＣ２２と結び合わされる。そ
れによって２つのアナログ信号の差がとられて、画像情
景光を表わす正味データだけがＡ／Ｄ２８内でディジタ
ル値に変換され、続いてフレームバッファ１６に記憶さ
れる。但し、暗電流データは後述の閾値条件の要求に合
致するものとする。

【００１９】Ａ／Ｄ２８と作用的に結合するコンパレー
タ４２はフレームバッファ１６に記録された暗い画素
（ＤＰ）データを閾値（Ｔｈ）４４に対応させる。暗い
画素データがその閾値を超えない場合は、Ａ／Ｄ２８は
機能し得る。更に特定すると、出力レジスタ３４が情景
画像データのディジタル値をその中に受容するようにク
ロックされる。結果として、Ａ／Ｄ２８によって作られ
たディジタル・データはレジスタ３４に蓄えられ、それ
によって現在蓄積されている任意のデータにとって代わ
る。出力レジスタ３４中の情報は書き込みパルス３６に
応じてフレームバッファ１６へ読み込まれる。

【００２０】この暗い画素データがその閾値を超える場
合は、Ａ／Ｄ２８は作動を禁じられる、即ち出力レジス
タ３４はクロックされない。従って、先の画素を表現す
る現在のデータはそのレジスタ３４に保有され、その後
フレームバッファ１６の中へ読み込まれる。この様にし
て、もし或る画素（ｎ）に欠陥が在るならば、その前の
画素（ｎ−１）から得られたデータがこの欠陥画素によ
って作られた現実のデータと置換される。

【００２１】この発明によると、光発生電荷が生成され
てアナログ画素データとして蓄えられる撮像装置１２を
情景光に露光する事によって画像が撮影される。撮像装
置１２は、クロック・パルス１８に応じて、各画素１４
に対する画素データを表現するアナログ画像パルスの流
れを作り出す。通常の条件下では、各画素１４の位置
１，２，３，─，ｎ−１，ｎからの情景画像データはＡ
／Ｄ変換器２８においてディジタル値に逐次変換され、
その後フレームバッファ１６へ入れる前に画素毎に出力
レジスタ３４に蓄えられる。たとい出力レジスタ３４が
その中に蓄えた現在の（ｎ−１）という情景データを保
有していても、Ａ／Ｄ２８及び出力レジスタ３４が次に
使用可能となってクロックされる時には、そのシーケン
スの次の画素、即ち（ｎ）に対する新しいディジタル・
データがレジスタ３４に歩進される。Ａ／Ｄ２８及びレ
ジスタ３４は、コンパレータ４２が閾値（Ｔｈ）より小
さい暗い画素（ＤＰ）入力に応じてエネーブルパルスを
作る場合にだけ、夫々機能し得るし又クロックされる。
そうでないときには、現在（ｎ−１）のデータ出力レジ
スタ３４にそのまま残り、現在（ｎ）のデータは捨てら
れる。換言すれば、もしＤＰ＜Ｔｈならば、その時には
コンパレータ４２の出力４６はＡ／Ｄ２８が機能するこ
とを可能とし、又レジスタ３４はクロックされる。結果
として、ｎという画素位置から得られた情景画像データ
がレジスタ３４の中へ記録され、その後フレームバッフ
ァ１６中のｎという位置の暗い画素ＤＰにとって代わ
る。もしＤＰ＞Ｔｈならば、その時にはコンパレータ出
力４６はＡ／Ｄ２８を作動させず、又レジスタ３４はク
ロックされない。結果として、出力レジスタ３４に蓄え
られた情景画像の第ｎ−１位置からの現在の情景画像デ
ータがフレームバッファ１６中の第ｎ位置に対する暗い
画素ＤＰにとって代わる。結果として、欠陥画素から得
られたデータはその前の有効な隣りの画素から得られた
データに取り替えられる。

【００２２】ホワイトバランス制御回路（ＷＢＣ）５４
は図に示される様にＡＧＣ２２に結合する出力５６を有
する。ＷＢＣ５４の入力に結線されたクロック入力５８
及びレベル設定入力６０は、既知の技法に従ってＡＧＣ
２２のゲインすなわちレベルを変化させるために、適切
にタイミングを合わせた信号を受け取る。例えば、カラ
ー画面に対してしばしば典型である様に、ＣＩＤ１２中
の画素１４の最初の列は赤を、次の列は青を、更に次の
列は緑を表わす。従って、ＷＢＣ５４の出力５６は列毎
に適切なレベルにレベル移動する。適切なレベル設定入
力６０は各列毎に予め選択された固定値になるかもしれ
ない。代わりに、レベル設定６０は可変であり得るし、
又個々の情景の条件、例えば図示されない光度計等に応
答する装置によって設定されるのでもよい。クロック入
力５８へのパルスはホワイトバランス制御回路５４を駆
動し、その事によってこの回路が、前述の様な画素列毎
に、又は望むならば画素毎に、ＡＧＣの利得を変えさせ
る事が出来るようにする。

【００２３】図２の装置は、図中、同様の素子は図１に
おけると同じ参照番号で表わされているが、電荷結合素
子（ＣＣＤ）型撮像装置１２を使用するものである。図
２における装置の運用は、暗電流修正信号がＡＧＣ２２
の反転入力端に供給されないという事を除いては、図１
と同じである。なぜならばＣＣＤＳはより小さい暗電流
しか生成しないからであり、又それなるが故にこの様な
修正を施こす事は必要でないからである。しかしなが
ら、この発明の教える処によると、或る適切な閾値以上
の暗電流は欠陥画素を示して居り、又前の画素データが
必要がある時にはそれに代わって置き換えられる。

【００２４】図１の装置のシーケンスを以下に記述す
る。ＣＩＤ１２中の各画素に対する最初の期間に、ＣＩ
Ｄを情景光が零の状態に示す画素の暗水準に迄帯電させ
るためのシャッタパルスが生成される。この信号はレベ
ルシフト回路２０で適切なレベルにレベル移動し、非反
転入力端２１を経てＡＧＣ２２に連結し、さらに閉止中
のスイッチ３０を通してＡ／Ｄ変換器２８と直接連結し
ている。遮光期間にガンマ・スイッチ３２がシャッタ・
パルス（Ｓ）によつて作動して、スイッチ３０が閉じ、
スイッチ２６が開放されてガンマ制御２４を迂回するよ
うになる。アナログ画素データはＡ／Ｄ変換器２８の中
でディジタル化され、又レジスタ３４に蓄えられる。シ
ャッタ閉止期間はＡ／Ｄ変換器２８はシャッタ・パルス
（Ｓ）及び入力２９によって常に機能する事が可能で、
各々の画素１４に対応するすべての暗い画素ＤＰデータ
（１，２，３，─，ｎ）はそのレベルのいかんに拘らず
フレームバッファ１６にクロックに従って記録される。
同様に、又同時に、ＡＧＣ２２への反転入力端４１はＤ
／Ａクロック入力２９へのシャッタ・パルス（Ｓ）によ
って開いて、暗電流データが調整なしにフレームバッフ
ァ１６に直接連結される。

【００２５】ＣＩＤ１２の画素１４から得られたすべて
のデータがフレームバッファ１６に読み込まれた後に、
ＣＩＤ１２は画像情景光に露光され得る。この操作段階
中は、情景画像画素データは前述の様にレベルシフト回
路２０を経て補正回路１０に連結される。ガンマ制御ス
イッチ３２は、エネーブル入力３１へ（Ｓ）パルスがな
い場合に、スイッチ３０を開き、スイッチ２６を閉じる
ように作動する。従って、ＡＧＣ２２の出力はガンマ補
正回路２４を経てＡ／Ｄ変換器２８に連結している。同
時にＤ／Ａ変換器３８は（Ｓ）パルスがない場合に作動
することができ、フレームバッファ１６の出力４０に現
われる暗電流ＤＰ画素データがＡＧＣ２２の反転入力端
４１へ入力されるアナログ信号にＤ／Ａ３８により変換
される。正味のガンマ修正信号、即ち情景画素データか
ら暗電流ＤＰを引いたものはフレームバッファ１６に蓄
積するためにＡ／Ｄ２８によりアナログ−ディジタル変
換される。同時にフレームバッファ１６からの暗電流デ
ータＤＰはコンパレータ４２により読み取られ、閾値Ｔ
ｈと比較される。Ａ／Ｄ変換器２８は、結論として、暗
電流データのレベルに依存してその作動が許されるか許
されないか決められる。作動が許される場合には、ｎ番
目の画素データのアナログ値はディジタル値へ変換さ
れ、バッファ１６に取り込むためレジスタ３４に歩進さ
れる。もし画素に欠陥があるならば、Ａ／Ｄ変換器２８
は作動が許されず、レジスタ３４は必然的に歩進されな
い。従って、レジスタ３４に現在在るｎ−１番目のデー
タが第ｎ位置の為にフレームバッファ１６に読み込まれ
る。コンパレータ４２及びＤ／Ａ変換器３８は、フレー
ムバッファの読み取りパルスの期間に動作が許されて、
第ｎ画素からの入力信号が修正される。Ｄ／Ａ３８及び
コンパレータ４２は、入力信号を保護し、Ｄ／Ａ変換が
生起するのを許し、ＡＧＣ２２に修正信号を維持するの
に充分な時間の間、その動作が許されて、情報がＡ／Ｄ
変換器２８に正確に提供されることになる。コンパレー
タ４２はフレームバッファ１６の出力４０及び閾値Ｔｈ
４４を見て、もしＤＰ＜Ｔｈならばエネーブル信号を生
成する。エネーブル信号が作られると、ＡＧＣ２２から
のデータはＡ／Ｄ変換され、レジスタ３４の中へ歩進さ
れる。もし閾値Ｔｈを超すならば、コンパレータ４２は
出力を生成せず、出力レジスタ３４に蓄えられた第ｎ−
１画素からの現データがその中に残される。その後、い
ずれの場合でも、フレームバッファ書き込み入力３６に
応じて、レジスタ３４に蓄えられたデータが、フレーム
バッファ１６の中へ書き込まれる。出力レジスタ３４上
のデータは、コンパレータ４２からの次のエネーブル信
号により歩進して出力されるまでその中に蓄えられてい
る。

【００２６】図２の装置は上述の図１の装置と同じ様な
シーケンスを有する。例外は、Ｄ／Ａ帰還ループがＡＧ
Ｃ２２に使用されていない、という事である。

【００２７】この発明は特殊な実施例に従って記述され
た。しかし、他の実施例も技術上熟練した人々にとって
容易に明白であるであろう事は理解される筈であり、又
添付した請求の範囲の真の思想及び範囲内に該当する様
な実施例を包含する事を意図するものである。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の欠陥修正回路をＣＩＤ使用の撮像装置
に対して実施した例を示すブロック図である。

【図２】本発明の欠陥修正回路をＣＣＤ使用の撮像装置
に対して実施した例を示すブロック図である。

【符号の説明】

１０ 欠陥修正回路 １２ 撮像装置 ２０ レベルシフト回路

Claims (11)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 情景光に露光して情景画像画素データを
   生成する画素配列を有する固体撮像装置の欠陥修正装置
   であって、 該撮像装置の画素に対応する記憶位置を有し、撮像装置
   を情景光に露光させるのに先立って各画素の遮光時にお
   ける暗画素データの値を該対応記憶位置に記憶するフレ
   ームバッファと、 前記撮像装置に対応的に連結されたレジスタ装置であっ
   て、暗画素データをフレームバッファに順次歩進して記
   憶するため、かつ選択した映像画素データを対応するフ
   レームバッファ記憶位置に順次歩進して情景の暗画素デ
   ータを該映像画素データに入れ換えるために前記フレー
   ムバッファと連結した出力を有するレジスタ装置と、 該レジスタ装置と操作的に連結された出力を有し、前記
   フレームバッファに対応的に連結されて、暗画素データ
   が作動可能な画素を意味する選択された閾値より小さい
   時には前記レジスタ装置の作動を可能にするエネーブル
   出力を、暗画素データが作動不能な画素を意味する閾値
   より大きい時には前記レジスタ装置の作動を不能にする
   インヒビット出力をそれぞれ生成するコンパレータであ
   って、画素が作動可能な場合はバッファ内で特定の位置
   の暗画素データとそれに対応する画素の映像画素データ
   に置き換えられ、画素が作動不能な場合はその位置の暗
   画素データが不良画素の直前の作動可能な画素からの映
   像画素データに置き換えられるようにされるコンパレー
   タとを備える固体撮像装置の欠陥修正装置。
2. 【請求項２】 請求項１記載の欠陥修正装置であって、
   前記レジスタ装置が該撮像装置の対応する素子からの画
   素データを表すアナログ入力に応じたディジタル出力を
   生成するアナログ−ディジタル変換器に相当するものを
   有するものである、固体撮像装置の欠陥修正装置。
3. 【請求項３】 請求項２記載の欠陥修正装置であって、
   前記レジスタ装置が、前記アナログ−ディジタル変換器
   に対応した出力記憶レジスタ素子であって、ディジタル
   値に変換された画素の値を表すデータを記録する出力記
   憶レジスタ素子を有するものである、固体撮像装置の欠
   陥修正装置。
4. 【請求項４】 請求項３記載の欠陥修正装置であつて、
   前記レジスタ素子が、前記コンパレータに対応的に連結
   され、暗画素データの値が閾値より大きい時には以前の
   有効画素の値を表すディジタル値を保持して、映像画素
   データを取り込まないものである、固体撮像装置の欠陥
   修正装置。
5. 【請求項５】 請求項４記載の欠陥修正装置であつて、
   前記アナログ−ディジタル変換器が、前記コンパレータ
   に対応的に連結され、暗画素データの値が閾値より低い
   か高いかに応じて、それぞれ作動が可能にあるいは不能
   にされるものである、固体撮像装置の欠陥修正装置。
6. 【請求項６】 請求項２記載の欠陥修正装置であつて、
   さらに、前記アナログ−ディジタル変換器へのアナログ
   入力を、画素に対応するバッファ中の暗画素データの値
   に応じて調整する手段を有する固体撮像装置の欠陥修正
   装置。
7. 【請求項７】 請求項６記載の欠陥修正装置であつて、
   前記アナログ入力を調整する手段が、前記撮像装置に対
   応的に連結された入力と、前記バッファに対応的に連結
   された前記入力の反転入力を有する自動利得制御増幅器
   を備える固体撮像装置の欠陥修正装置。
8. 【請求項８】 請求項６記載の欠陥修正装置であつて、
   前記アナログ入力を調整する手段が、前記バッファの出
   力に連結されてディジタル画素データをアナログ値に変
   換するアナログ−ディジタル変換器を備える固体撮像装
   置の欠陥修正装置。
9. 【請求項９】 請求項１記載の欠陥修正装置であつて、
   前記撮像装置がＣＩＤである固体撮像装置の欠陥修正装
   置。
10. 【請求項１０】 請求項１記載の欠陥修正装置であつ
    て、前記撮像装置がＣＣＤである固体撮像装置の欠陥修
    正装置。
11. 【請求項１１】 画素配列を有する多素子撮像装置の欠
    陥修正方法であって、 該画素配列をシャッタ閉止して、暗画素データをフレー
    ムバッファ中の各画素に対応する位置に記憶する工程
    と、 前記画素配列を映像情景光に露光させ、該配列からの映
    像画素データを伝送する工程と、 前記フレームバッファの各位置毎に暗画素データを閾値
    と順次比較する工程と、 対応する画素の前記暗画素データが作動可能な画素であ
    ることを示す閾値より小さい場合に前記対応画素の映像
    画素データを、また、前記暗画素データが作動不能な画
    素であることを示す閾値より大きい場合に以前の作動可
    能な画素の映像画素データを、フレームバッファの暗画
    素データ位置に記憶する工程とを含んでなる固体撮像装
    置の欠陥修正方法。