JPH0672872B2 - 非破壊検査方法及び装置 - Google Patents
非破壊検査方法及び装置Info
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- JPH0672872B2 JPH0672872B2 JP59034120A JP3412084A JPH0672872B2 JP H0672872 B2 JPH0672872 B2 JP H0672872B2 JP 59034120 A JP59034120 A JP 59034120A JP 3412084 A JP3412084 A JP 3412084A JP H0672872 B2 JPH0672872 B2 JP H0672872B2
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
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- G01N27/9046—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents by analysing electrical signals
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、うず電流を用いたプローブにより、リベット
留めされた接合部等を非破壊検査するための方法及び装
置に関する。本発明は、多くの用途に適用可能である
が、以下において、航空機の胴体表面を構成するパネル
の接合部分の非破壊検査に関連させて、本発明を詳細に
説明する。
留めされた接合部等を非破壊検査するための方法及び装
置に関する。本発明は、多くの用途に適用可能である
が、以下において、航空機の胴体表面を構成するパネル
の接合部分の非破壊検査に関連させて、本発明を詳細に
説明する。
航空機の胴体表面は、リベット留めされた接合部により
個々のパネルを集合することにより構成されており、こ
れらリベットは等距離に一列に並べられている。このよ
うなリベット接合部は、特に航空機の胴体が受ける圧縮
及び非圧縮のくり返しにより、航空機を使用している間
に相当の疲労を受ける。この結果、パネル内のリベット
が貫通する穴から発達するクラックが形成される。従っ
て、接合部が弱くなり、そのため、これら接合部の状態
を知るために、定期的にその接合部を監視することが不
可欠となる。
個々のパネルを集合することにより構成されており、こ
れらリベットは等距離に一列に並べられている。このよ
うなリベット接合部は、特に航空機の胴体が受ける圧縮
及び非圧縮のくり返しにより、航空機を使用している間
に相当の疲労を受ける。この結果、パネル内のリベット
が貫通する穴から発達するクラックが形成される。従っ
て、接合部が弱くなり、そのため、これら接合部の状態
を知るために、定期的にその接合部を監視することが不
可欠となる。
航空機の表面のリベット接合部の非破壊検査には、一般
的に、超音波プローブが用られ実施されている。しか
し、これらプローブの利用は時間が長くかかり、扱いが
むずかしい。特にプローブと検査されるリベットの間が
正確に結合されなければならないし（例えばワセリンを
用いて）、さらに、ベットに対するプローブの位置決め
を正確に行わなければならない。これらの点を考える
と、うず電流を用いたプローブを使用できれば便利であ
ろうが、このようなプローブからの信号を利用するのは
容易でない。実際、正確に平衡化され且つ向きが定めら
れたうず電流プローブが完全なリベットの列、つまりク
ラックが生じていないパネル内の貫通用の穴の列に沿っ
て進むようにした場合には、サイクルが平坦で長い信号
が得られる。
的に、超音波プローブが用られ実施されている。しか
し、これらプローブの利用は時間が長くかかり、扱いが
むずかしい。特にプローブと検査されるリベットの間が
正確に結合されなければならないし（例えばワセリンを
用いて）、さらに、ベットに対するプローブの位置決め
を正確に行わなければならない。これらの点を考える
と、うず電流を用いたプローブを使用できれば便利であ
ろうが、このようなプローブからの信号を利用するのは
容易でない。実際、正確に平衡化され且つ向きが定めら
れたうず電流プローブが完全なリベットの列、つまりク
ラックが生じていないパネル内の貫通用の穴の列に沿っ
て進むようにした場合には、サイクルが平坦で長い信号
が得られる。
一方、上記プローブが、クラックを生じているリベット
に遭遇した場合には、プローブは広く交わるループサイ
クルを発する。上記のいずれの場合にも、監察者が、サ
イクルの各点をリベットの列に沿ったプローブの位置に
対応させることは不可能である。
に遭遇した場合には、プローブは広く交わるループサイ
クルを発する。上記のいずれの場合にも、監察者が、サ
イクルの各点をリベットの列に沿ったプローブの位置に
対応させることは不可能である。
本発明の目的は、うず電流を用いたプローブを自動若し
くは半自動タイプの非破壊検査のための装置に使用して
リベット接合部等を監視することを可能にすることにあ
る。
くは半自動タイプの非破壊検査のための装置に使用して
リベット接合部等を監視することを可能にすることにあ
る。
上記の目的を達成するために本発明の非破壊検査方法
は、等距離に一列に並んだリベット留めされた接合部等
の列をうず電流を用いたプローブにより非破壊検査する
方法において、うず電流を用いたプローブが、上記リベ
ットの列に沿って進む場合に、一方では、検査されるリ
ベットがクラックを有さないとき（サイクルK1＋K2）
は、上記プローブが直交軸Ｘ−Ｘ及びＹ−Ｙの座標系の
軸Ｘ−Ｘに平行に移動すると、上記プローブは軸Ｘ−Ｘ
に沿って延びる平坦で細長い１サイクルの信号を送るこ
とが可能であり、他方では、検査されるリベットがクラ
ッチを有するとき（サイクルＬ）は、軸Ｘ−Ｘ及び軸Ｙ
−Ｙのそれぞれの方向にそれ自身が広く拡がって交差す
るループを形成する１サイクルの信号を送ることが可能
であり、上記方法が、更に、最初に、上記プローブを用
いて、非破壊検査されるべき接合部と類似した多数の制
御用接合部が確かにクラックを有しないことを検査し、
さらに、複数の対応する平坦で細長いサイクル（K1＋
K2）を記録する工程と、上記複数の平坦で細長いサイク
ルの包絡線から、その値を越えたらプローブからの信号
がリベットの存在を示すことを明確にするような軸Ｘ−
Ｘに沿う第１のスレッシュホールドSROを決定すると共
に、その値を越えたらプローブからの信号がクラックの
存在を示すことを明確にするような軸Ｙ−Ｙに沿う第２
のスレッシュホールドSCOを決定する工程と、その後、
検査するべきリベットの列に沿って上記プローブを進
め、さらに軸Ｘ−Ｘ及び軸Ｙ−Ｙに沿ってプローブから
の信号の成分を連続的に計測する工程と、プローブから
の信号の上記成分をスレッシュホールドSRO及びSCOを各
々比較してクラックの存在の有無を推定する工程と、上
記比較の結果を記録若しくは表示する工程と、を有す
る。
は、等距離に一列に並んだリベット留めされた接合部等
の列をうず電流を用いたプローブにより非破壊検査する
方法において、うず電流を用いたプローブが、上記リベ
ットの列に沿って進む場合に、一方では、検査されるリ
ベットがクラックを有さないとき（サイクルK1＋K2）
は、上記プローブが直交軸Ｘ−Ｘ及びＹ−Ｙの座標系の
軸Ｘ−Ｘに平行に移動すると、上記プローブは軸Ｘ−Ｘ
に沿って延びる平坦で細長い１サイクルの信号を送るこ
とが可能であり、他方では、検査されるリベットがクラ
ッチを有するとき（サイクルＬ）は、軸Ｘ−Ｘ及び軸Ｙ
−Ｙのそれぞれの方向にそれ自身が広く拡がって交差す
るループを形成する１サイクルの信号を送ることが可能
であり、上記方法が、更に、最初に、上記プローブを用
いて、非破壊検査されるべき接合部と類似した多数の制
御用接合部が確かにクラックを有しないことを検査し、
さらに、複数の対応する平坦で細長いサイクル（K1＋
K2）を記録する工程と、上記複数の平坦で細長いサイク
ルの包絡線から、その値を越えたらプローブからの信号
がリベットの存在を示すことを明確にするような軸Ｘ−
Ｘに沿う第１のスレッシュホールドSROを決定すると共
に、その値を越えたらプローブからの信号がクラックの
存在を示すことを明確にするような軸Ｙ−Ｙに沿う第２
のスレッシュホールドSCOを決定する工程と、その後、
検査するべきリベットの列に沿って上記プローブを進
め、さらに軸Ｘ−Ｘ及び軸Ｙ−Ｙに沿ってプローブから
の信号の成分を連続的に計測する工程と、プローブから
の信号の上記成分をスレッシュホールドSRO及びSCOを各
々比較してクラックの存在の有無を推定する工程と、上
記比較の結果を記録若しくは表示する工程と、を有す
る。
本発明によれば、このようにして、クラックの有無を決
定するため簡単な基準が得られる。前段階で記録するの
は、製造上の許容度に基づく接合部の特性の変化、プロ
ーブの位置決めの変化、表面パネル及びリベットを構成
する材質の変化、その他いろいろを考慮するためであ
り、その後に接合部が検査されるべき接合部と同一であ
る新しい航空機の接合部について実施され得る。プロー
ブからの信号の成分をスレッシュホールドSRO及びSCOと
同時に比較することにより、リベットの存在及びあり得
るクラックの存在を示すことに注目すべきである。
定するため簡単な基準が得られる。前段階で記録するの
は、製造上の許容度に基づく接合部の特性の変化、プロ
ーブの位置決めの変化、表面パネル及びリベットを構成
する材質の変化、その他いろいろを考慮するためであ
り、その後に接合部が検査されるべき接合部と同一であ
る新しい航空機の接合部について実施され得る。プロー
ブからの信号の成分をスレッシュホールドSRO及びSCOと
同時に比較することにより、リベットの存在及びあり得
るクラックの存在を示すことに注目すべきである。
本発明の非破壊検査装置は、直交軸Ｘ−Ｘ及びＹ−Ｙの
座標系の軸Ｘ−Ｘに沿って並んだリベット留めされた接
合部等の列を非破壊検査する装置において、うず電流を
用いたプローブであって、このプローブが、その周囲の
４個の検出用２次巻線で取り囲まれた中央の注入用１次
巻線を有し、この２次巻線は、１次巻線を中心とする同
一円周上に等しい角度で配置され且つ直交に交わる２つ
の直径（Ｘ−Ｘ及びＹ−Ｙ）上に２個ずつ配置され、上
記２つの直径の１つであるＸ−Ｘは一列に並んだリベッ
トに一致するように決定され、直径方向に対向する２個
の２次巻線は、互いに同方向であり且つ他の２個の２次
巻線とは逆方向であり、さらに、上記４個の２次巻線
が、２個の連続する巻線が反対方向となるように直列に
接続されているプローブと、このプローブを上記軸Ｘ−
Ｘに沿って移動させる移動手段と、上記プローブは、こ
のプローブを制御し且つ読み取る制御読取手段に連結さ
れ、この制御読取手段とプローブが、プローブが上記リ
ベットの列に沿って進む場合に、サイクルの信号を発生
し、このサイクルの信号は、検査されるリベットがクラ
ックを有さないとき（サイクルK1＋K2）は軸Ｘ−Ｘと平
行な方向に延びる平坦で細長い第１の形状を有し、一
方、検査されるリベットがクラックを有するとき（サイ
クルＬ）は、軸Ｘ−Ｘ及び軸Ｙ−Ｙのそれぞれに平行な
方向にそれ自身が広く拡がって交差するループ形状の第
２の形状を有し、この制御読取手段が、プローブが上記
リベットの列に沿って進む場合に軸Ｘ−Ｘにおける上記
サイクル信号の成分Ｘと軸Ｙ−Ｙにおける上記サイクル
信号の成分Ｙを発生し、第１のスレッシュホールドSRO
と第２のスレッシュホールドSCOとを記憶するメモリー
手段であって、この第１のスレッシュホールドSROは、
上記成分Ｘがこの第１のスレッシュホールドSROの値を
越えたらリベットの存在を示すように軸Ｘ−Ｘに沿って
決定され、第２のスレッシュホールドSCOは、上記成分
Ｙがこの第２のスレッシュホールドSCOの値を越えたら
クラックの存在を示すように軸Ｙ−Ｙに沿って決定され
る上記メモリー手段と、上記制御読取手段が、更に上記
サイクル信号の成分Ｘ及び成分Ｙを連続的に計測し、上
記成分X,Yを上記スレッシュホールドSRO及びSCOと比較
する比較手段と、上記比較の結果を記録若しくは表示す
る手段と、を有する。
座標系の軸Ｘ−Ｘに沿って並んだリベット留めされた接
合部等の列を非破壊検査する装置において、うず電流を
用いたプローブであって、このプローブが、その周囲の
４個の検出用２次巻線で取り囲まれた中央の注入用１次
巻線を有し、この２次巻線は、１次巻線を中心とする同
一円周上に等しい角度で配置され且つ直交に交わる２つ
の直径（Ｘ−Ｘ及びＹ−Ｙ）上に２個ずつ配置され、上
記２つの直径の１つであるＸ−Ｘは一列に並んだリベッ
トに一致するように決定され、直径方向に対向する２個
の２次巻線は、互いに同方向であり且つ他の２個の２次
巻線とは逆方向であり、さらに、上記４個の２次巻線
が、２個の連続する巻線が反対方向となるように直列に
接続されているプローブと、このプローブを上記軸Ｘ−
Ｘに沿って移動させる移動手段と、上記プローブは、こ
のプローブを制御し且つ読み取る制御読取手段に連結さ
れ、この制御読取手段とプローブが、プローブが上記リ
ベットの列に沿って進む場合に、サイクルの信号を発生
し、このサイクルの信号は、検査されるリベットがクラ
ックを有さないとき（サイクルK1＋K2）は軸Ｘ−Ｘと平
行な方向に延びる平坦で細長い第１の形状を有し、一
方、検査されるリベットがクラックを有するとき（サイ
クルＬ）は、軸Ｘ−Ｘ及び軸Ｙ−Ｙのそれぞれに平行な
方向にそれ自身が広く拡がって交差するループ形状の第
２の形状を有し、この制御読取手段が、プローブが上記
リベットの列に沿って進む場合に軸Ｘ−Ｘにおける上記
サイクル信号の成分Ｘと軸Ｙ−Ｙにおける上記サイクル
信号の成分Ｙを発生し、第１のスレッシュホールドSRO
と第２のスレッシュホールドSCOとを記憶するメモリー
手段であって、この第１のスレッシュホールドSROは、
上記成分Ｘがこの第１のスレッシュホールドSROの値を
越えたらリベットの存在を示すように軸Ｘ−Ｘに沿って
決定され、第２のスレッシュホールドSCOは、上記成分
Ｙがこの第２のスレッシュホールドSCOの値を越えたら
クラックの存在を示すように軸Ｙ−Ｙに沿って決定され
る上記メモリー手段と、上記制御読取手段が、更に上記
サイクル信号の成分Ｘ及び成分Ｙを連続的に計測し、上
記成分X,Yを上記スレッシュホールドSRO及びSCOと比較
する比較手段と、上記比較の結果を記録若しくは表示す
る手段と、を有する。
上記うず電流を用いたプローブは、好ましくは、その周
囲の４個の検出用２次巻線で取り囲まれた中央の注入用
１次巻線を有し、この２次巻線は、１次巻線を中心とす
る同一円周上に等しい角度で配置され且つ直角に交わる
２つの直径（Ｘ−Ｘ及びＹ−Ｙ）上に２個ずつ配置さ
れ、上記２つの直径の１つであるＸ−Ｘは一列に並んだ
リベットに一致するように決定され、直径方向に対向す
る２個の２次巻線は、互いに同方向であり且つ他の２個
の２次巻線とは逆方向であり、さらに、上記４個の２次
巻線が、２個の連続する巻線が反対方向となるように直
列に接続されている。
囲の４個の検出用２次巻線で取り囲まれた中央の注入用
１次巻線を有し、この２次巻線は、１次巻線を中心とす
る同一円周上に等しい角度で配置され且つ直角に交わる
２つの直径（Ｘ−Ｘ及びＹ−Ｙ）上に２個ずつ配置さ
れ、上記２つの直径の１つであるＸ−Ｘは一列に並んだ
リベットに一致するように決定され、直径方向に対向す
る２個の２次巻線は、互いに同方向であり且つ他の２個
の２次巻線とは逆方向であり、さらに、上記４個の２次
巻線が、２個の連続する巻線が反対方向となるように直
列に接続されている。
また、注入用１次巻線が検出用２次巻線から離れている
距離は、リベット列における２つの相隣り合うリベット
の離間距離の半分に等しい。
距離は、リベット列における２つの相隣り合うリベット
の離間距離の半分に等しい。
上記制御手段において、プローブからの検出信号により
受ける位相のずれを補償するために、制御読取手段は、
位相のずれを制御できる装置を有する。プローブからの
信号の軸Ｘ−Ｘ及びＹ−Ｙに沿う成分は直角位相におい
て二重同期デモジュレータにより従来の方法で得られ
る。
受ける位相のずれを補償するために、制御読取手段は、
位相のずれを制御できる装置を有する。プローブからの
信号の軸Ｘ−Ｘ及びＹ−Ｙに沿う成分は直角位相におい
て二重同期デモジュレータにより従来の方法で得られ
る。
実施例においては、スレッシュホールドSRO及びSCOを記
憶するメモリー手段及びプローブからの信号の上記成分
をスレッシュホールドSRO及びSCOと比較する比較手段に
はマイクロプロセッサが用いられる。
憶するメモリー手段及びプローブからの信号の上記成分
をスレッシュホールドSRO及びSCOと比較する比較手段に
はマイクロプロセッサが用いられる。
以下本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。
る。
第１図は、うず電流を用いたプローブCFを示す斜視図で
あり、このプローブは、検査されるべき表面２の上にあ
り、注入用１次巻線Ｐ及び４つの検出用２次巻線S1〜S4
により構成されている。この１次巻線及び２次巻線は各
々フエライトコア等を有し、これらの５つの巻線とそれ
らのコアは、磁気的且つ電気気的な絶縁物質である本体
３（第１図から第３図には図示せず、第５図及び第８図
に図示する）内に埋められている。この本体３内に、５
つの巻線の相対的な位置が設定される。すなわち、注入
用巻線Ｐは中央に配置され、一方検出用巻線S1〜S4は、
２つの巻線毎に直径方向に対向し、巻線S1及びS3により
軸Ｘ−Ｘが定まり、巻線S2及びS4により軸Ｘ−Ｘと直交
する軸Ｙ−Ｙが定まる。
あり、このプローブは、検査されるべき表面２の上にあ
り、注入用１次巻線Ｐ及び４つの検出用２次巻線S1〜S4
により構成されている。この１次巻線及び２次巻線は各
々フエライトコア等を有し、これらの５つの巻線とそれ
らのコアは、磁気的且つ電気気的な絶縁物質である本体
３（第１図から第３図には図示せず、第５図及び第８図
に図示する）内に埋められている。この本体３内に、５
つの巻線の相対的な位置が設定される。すなわち、注入
用巻線Ｐは中央に配置され、一方検出用巻線S1〜S4は、
２つの巻線毎に直径方向に対向し、巻線S1及びS3により
軸Ｘ−Ｘが定まり、巻線S2及びS4により軸Ｘ−Ｘと直交
する軸Ｙ−Ｙが定まる。
注入用巻線Ｐの軸は、軸Ｘ−Ｘ及び軸Ｙ−Ｙの交点を貫
通し、巻線S1〜S4はこの交点から等距離に配置されてい
る。
通し、巻線S1〜S4はこの交点から等距離に配置されてい
る。
注入用巻線Ｐは２つの端子４及び５を備え、この２つの
端子間には電気励起信号が注入される。一方巻線S1〜S4
は直列に配置され、検出用巻線S1及びS3は同方向、巻線
S2及びS4は、巻線S1及びS3に対して反対方向になるよう
に巻かれている。検出巻線S1〜S4の直列のアセンブリ
は、２つの端子６及び７を有し、この２つの間におい
て、検出信号、例えばプローブからの不平衡信号が集め
られる。
端子間には電気励起信号が注入される。一方巻線S1〜S4
は直列に配置され、検出用巻線S1及びS3は同方向、巻線
S2及びS4は、巻線S1及びS3に対して反対方向になるよう
に巻かれている。検出巻線S1〜S4の直列のアセンブリ
は、２つの端子６及び７を有し、この２つの間におい
て、検出信号、例えばプローブからの不平衡信号が集め
られる。
巻線S1〜S4は、以下のように同一で且つ平衡化されてい
る。すなわち、注入用巻線Ｐがその端子４及び５間で注
入信号を受けると、注入巻線Ｐは、円形の電流線に沿っ
て誘起される電流８を均質の表面２に発生し、さらに、
この電流８により、検出用巻線S1〜S4に、各２つの巻線
において大きさが等しく且つ方向が反対の信号が発生
し、その結果、端子６及び７における信号はゼロとな
る。第１図に示す装置において、巻線S1及びS3は計測巻
線と考えられ、一方巻線S2及びS4は補償巻線と考えられ
る。
る。すなわち、注入用巻線Ｐがその端子４及び５間で注
入信号を受けると、注入巻線Ｐは、円形の電流線に沿っ
て誘起される電流８を均質の表面２に発生し、さらに、
この電流８により、検出用巻線S1〜S4に、各２つの巻線
において大きさが等しく且つ方向が反対の信号が発生
し、その結果、端子６及び７における信号はゼロとな
る。第１図に示す装置において、巻線S1及びS3は計測巻
線と考えられ、一方巻線S2及びS4は補償巻線と考えられ
る。
表面上にプローブCFが置かれるがその表面が均質でない
場合には、注入用巻線Ｐにより誘起された電流の線はも
はや円形でなく、異質な箇所の付近で変形する。第２図
は異質な表面９を示しており、具体例としては、チタニ
ウムのリベット12の線11に沿って組み立てられた各々の
アルミニウムのパネル10により構成された航空機の胴体
表面を示しており、さらに、プローブCFが、その軸Ｘ−
Ｘがリベット12の軸線11に一致するように配置されてい
る。第２図に示すように、リベット12から離れている誘
起電流８の線は円のままであり、リベット近傍の誘起電
流８′の線は上記リベットの周囲で変形している。第３
図は、各パネル10にリベット12の貫通する穴に起因する
クラック13を生じた場合を示し、この図においては誘起
電流の線のひずみがより強調されている。
場合には、注入用巻線Ｐにより誘起された電流の線はも
はや円形でなく、異質な箇所の付近で変形する。第２図
は異質な表面９を示しており、具体例としては、チタニ
ウムのリベット12の線11に沿って組み立てられた各々の
アルミニウムのパネル10により構成された航空機の胴体
表面を示しており、さらに、プローブCFが、その軸Ｘ−
Ｘがリベット12の軸線11に一致するように配置されてい
る。第２図に示すように、リベット12から離れている誘
起電流８の線は円のままであり、リベット近傍の誘起電
流８′の線は上記リベットの周囲で変形している。第３
図は、各パネル10にリベット12の貫通する穴に起因する
クラック13を生じた場合を示し、この図においては誘起
電流の線のひずみがより強調されている。
このように、表面２が均質である場合若しくは異質な表
面９の均質なところにプローブCFが配置されている場合
には、プローブの出力端子６及び７の間にゼロ信号を与
えるようにプローブは、平衡化されている。また、プロ
ーブは、誘起電流の線が異質な箇所12又は13により変形
する場合には、平衡化されない信号を発する。
面９の均質なところにプローブCFが配置されている場合
には、プローブの出力端子６及び７の間にゼロ信号を与
えるようにプローブは、平衡化されている。また、プロ
ーブは、誘起電流の線が異質な箇所12又は13により変形
する場合には、平衡化されない信号を発する。
第４図に示されているように、プローブCFはリンク15を
介して制御読取装置14に設けられている。この装置14
は、電気発生器16を有し、この発生器16は、好ましくは
正弦波である搬送周波数の信号及び同一周波数であるが
後方に90゜移相ずれした信号を発生する。注入信号とし
て働くように意図されている位相90゜の基準信号と位相
０゜の基準信号とはこのようにして得られる。注入信号
（位相90゜）は、一方において電流アダプタアンプ17に
印加され、他方においては二重同期デモジュレータ18及
び移相器19に印加される。位相０゜の基準信号は、二重
同期デモジュレータ18及び移相器19に印加される。
介して制御読取装置14に設けられている。この装置14
は、電気発生器16を有し、この発生器16は、好ましくは
正弦波である搬送周波数の信号及び同一周波数であるが
後方に90゜移相ずれした信号を発生する。注入信号とし
て働くように意図されている位相90゜の基準信号と位相
０゜の基準信号とはこのようにして得られる。注入信号
（位相90゜）は、一方において電流アダプタアンプ17に
印加され、他方においては二重同期デモジュレータ18及
び移相器19に印加される。位相０゜の基準信号は、二重
同期デモジュレータ18及び移相器19に印加される。
アンプ17の出力においては、注入信号はアダプタ用検出
器20を経て第１巻線Ｐに印加される。
器20を経て第１巻線Ｐに印加される。
更に、２次巻線S1〜S4は、インピーダンスアダプタシス
テム21に接続されており、このシステム21には、検出ア
ンプ22、プローブCFを平衡化するための装置23、搬送周
波数から寄生周波を除去するために設けられた補助フイ
ルター24、及びアンプ25がさらに接続されている。この
ようにして、アンプ17及びアダプタ20を介して発生器16
により１次巻線Ｐに印加された注入信号は、巻線S1〜S4
により検出され、次にアダプタ21においてインピーダン
スを適応させ、その後増幅され（22において）、次に平
衡化され（23において）、不用な周波を除去し（24にお
いて）、増幅され（25において）、二重デモジュレータ
18に印加される。このデモジュレータ18が、異質な箇所
12又は13に起因する非平衡な信号から２つの成分Ｘ′及
びＹ′を直角位相において抽出することにより搬送周波
を検知する。最後に、非平衡な２つの直交成分Ｘ′及び
Ｙ′は、回路部分S1〜S4及び21〜25において位相のずれ
を受け、移相器19にアドレスされ、この移相器19は、そ
の出力において軸Ｘ−Ｘ及びＹ−Ｙを有する２つの成分
Ｘ及びＹを各々発する。
テム21に接続されており、このシステム21には、検出ア
ンプ22、プローブCFを平衡化するための装置23、搬送周
波数から寄生周波を除去するために設けられた補助フイ
ルター24、及びアンプ25がさらに接続されている。この
ようにして、アンプ17及びアダプタ20を介して発生器16
により１次巻線Ｐに印加された注入信号は、巻線S1〜S4
により検出され、次にアダプタ21においてインピーダン
スを適応させ、その後増幅され（22において）、次に平
衡化され（23において）、不用な周波を除去し（24にお
いて）、増幅され（25において）、二重デモジュレータ
18に印加される。このデモジュレータ18が、異質な箇所
12又は13に起因する非平衡な信号から２つの成分Ｘ′及
びＹ′を直角位相において抽出することにより搬送周波
を検知する。最後に、非平衡な２つの直交成分Ｘ′及び
Ｙ′は、回路部分S1〜S4及び21〜25において位相のずれ
を受け、移相器19にアドレスされ、この移相器19は、そ
の出力において軸Ｘ−Ｘ及びＹ−Ｙを有する２つの成分
Ｘ及びＹを各々発する。
第５図において、以下のように考える。すなわち、プロ
ーブCFが矢印Ｖの方向に動いていており、プローブ軸Ｘ
−Ｘはリベット12の軸線11と常に一致する。また、検出
用２次巻線S1〜S4の中心から注入用１次巻線Ｐの中心ま
での離間距離が、２つの相隣り合うリベット12の中心の
離間距離の半分に等しく、しかもクラック13が存在しな
い。
ーブCFが矢印Ｖの方向に動いていており、プローブ軸Ｘ
−Ｘはリベット12の軸線11と常に一致する。また、検出
用２次巻線S1〜S4の中心から注入用１次巻線Ｐの中心ま
での離間距離が、２つの相隣り合うリベット12の中心の
離間距離の半分に等しく、しかもクラック13が存在しな
い。
最初の位置において、もし第１の注入用巻線Ｐの軸がリ
ベット12の中央Ａを貫通すれば、各々巻線S1〜S4はリベ
ット12から充分離れているので、プローブCFが当てられ
た表面部分はこのプローブに対して均質であると示す。
従って、もし装置23の作用によりプローブCFが正確に平
衡化されると、端子６及び７の間に非平衡な信号は発生
しない。プローブCFの対応する軸と同一である直交軸Ｘ
−Ｘ、Ｙ−Ｙ（第７図参照）の座標系において、非平衡
な信号は上記軸の原点０により示される。上述したよう
に直角位相を用いた二重同期デモジュレータ18の出力に
おいて移相器19により修正された位相のずれに対し、直
交軸Ｘ−Ｘ及びＹ−Ｙの座標系は、位置Ｘ′−Ｘ′及び
Ｙ′−Ｙ′を占める軸Ｘ−Ｘ及びＹ−Ｙを振幅θで回転
させる。
ベット12の中央Ａを貫通すれば、各々巻線S1〜S4はリベ
ット12から充分離れているので、プローブCFが当てられ
た表面部分はこのプローブに対して均質であると示す。
従って、もし装置23の作用によりプローブCFが正確に平
衡化されると、端子６及び７の間に非平衡な信号は発生
しない。プローブCFの対応する軸と同一である直交軸Ｘ
−Ｘ、Ｙ−Ｙ（第７図参照）の座標系において、非平衡
な信号は上記軸の原点０により示される。上述したよう
に直角位相を用いた二重同期デモジュレータ18の出力に
おいて移相器19により修正された位相のずれに対し、直
交軸Ｘ−Ｘ及びＹ−Ｙの座標系は、位置Ｘ′−Ｘ′及び
Ｙ′−Ｙ′を占める軸Ｘ−Ｘ及びＹ−Ｙを振幅θで回転
させる。
プローブCFが、第５図において右方向にある中心がＡ′
であるリベット12の方向に動く時、端子６及び７の非平
衡化信号の特徴点は、カーブK1の部分を示し（第６図及
び第７図参照）、このカーブK1は軸の原点０から始ま
り、軸Ｘ−Ｘ域はＸ′−Ｘ′から離れて進み、その後に
Ｑにおいて軸と結合する。この時、巻線Ｐの軸は、相隣
接するリベット12の離間距離の1/4に位置する線11の点
Ｂに到達する。もしプローブCFがその進行を続けると、
上記の非平衡化信号の特徴点は、軸Ｙ−Ｙ或はＹ′−
Ｙ′に接近して動くカーブK2（軸Ｘ−Ｘ或はＸ′−Ｘ′
に対してK1の反対部分）の部分を示す。このカーブK2の
部分は、巻線Ｐの軸が２つの相隣り合うリベット12の離
間距離の中央である点Ｃに達する時に、Ｒで止まる。
であるリベット12の方向に動く時、端子６及び７の非平
衡化信号の特徴点は、カーブK1の部分を示し（第６図及
び第７図参照）、このカーブK1は軸の原点０から始ま
り、軸Ｘ−Ｘ域はＸ′−Ｘ′から離れて進み、その後に
Ｑにおいて軸と結合する。この時、巻線Ｐの軸は、相隣
接するリベット12の離間距離の1/4に位置する線11の点
Ｂに到達する。もしプローブCFがその進行を続けると、
上記の非平衡化信号の特徴点は、軸Ｙ−Ｙ或はＹ′−
Ｙ′に接近して動くカーブK2（軸Ｘ−Ｘ或はＸ′−Ｘ′
に対してK1の反対部分）の部分を示す。このカーブK2の
部分は、巻線Ｐの軸が２つの相隣り合うリベット12の離
間距離の中央である点Ｃに達する時に、Ｒで止まる。
巻線Ｐの上記軸が点Ｃから点Ｄ（２つの相隣り合うリベ
ット12の離間距離の3/4に相当する）に動く時、上記特
徴点は、逆方向において、点Ｒから点ＱまでカーブK2の
部分を示す。最後に、巻線Ｐから点ＤからＡ′まで動く
時、上記特徴点は、ＱからＯに向けてのカーブK1部分を
示す。
ット12の離間距離の3/4に相当する）に動く時、上記特
徴点は、逆方向において、点Ｒから点ＱまでカーブK2の
部分を示す。最後に、巻線Ｐから点ＤからＡ′まで動く
時、上記特徴点は、ＱからＯに向けてのカーブK1部分を
示す。
このように、プローブCFが多数の同一で一定の距離離れ
ているリベット12を有する線11に沿って動く時には、端
子６及び７間の非平衡化信号の特徴点は、０からＱへと
カーブK1部分、次にＱからＲへとカーブK2部分、次にＲ
からＱへとカーブK2部分、次にＱからＯへとカーブK1部
分、次にＯからＱへとカーブK1部分を繰返して順次示
す。しかし、プローブの位置決め、リベット12及びパネ
ル10を構成する材質、リベット間の距離、その他の考え
られる変化により、ある程度のばらつきがあり、K1及び
K2の部分は必ずしも完全に同一ではないし全てのサイク
ルで重なるとは限りない。
ているリベット12を有する線11に沿って動く時には、端
子６及び７間の非平衡化信号の特徴点は、０からＱへと
カーブK1部分、次にＱからＲへとカーブK2部分、次にＲ
からＱへとカーブK2部分、次にＱからＯへとカーブK1部
分、次にＯからＱへとカーブK1部分を繰返して順次示
す。しかし、プローブの位置決め、リベット12及びパネ
ル10を構成する材質、リベット間の距離、その他の考え
られる変化により、ある程度のばらつきがあり、K1及び
K2の部分は必ずしも完全に同一ではないし全てのサイク
ルで重なるとは限りない。
本発明によれば、このようにして、同一の方法で作られ
たリベット12の多数の線11が、カーブK1及びK2の部分の
包絡線Ｋを知るために検査される。更に、包絡線Ｋの長
さLOの例えば1/3という分数に等しい大きさXO並びに軸
Ｘ−Ｘに対する高さYOが計測される。この大きさXOはス
レッシュホールドSROを決定するためのものであり、こ
の値を越えた場合は、端子６と７との間に生じる非平衡
化信号がリベットの存在に対応することが、明確とな
る。更に、高さYOはスレッシュホールドSCOを決定する
ためのものであり、この値を越えると特徴点は正常なリ
ベットを表わすカーブK1及びカーブK2に属さないことが
明確となる。
たリベット12の多数の線11が、カーブK1及びK2の部分の
包絡線Ｋを知るために検査される。更に、包絡線Ｋの長
さLOの例えば1/3という分数に等しい大きさXO並びに軸
Ｘ−Ｘに対する高さYOが計測される。この大きさXOはス
レッシュホールドSROを決定するためのものであり、こ
の値を越えた場合は、端子６と７との間に生じる非平衡
化信号がリベットの存在に対応することが、明確とな
る。更に、高さYOはスレッシュホールドSCOを決定する
ためのものであり、この値を越えると特徴点は正常なリ
ベットを表わすカーブK1及びカーブK2に属さないことが
明確となる。
第８図から第10図までは各々第５図から第７図までと対
応しており、パネル10においてリベット12が貫通する穴
からクラック13が発達している場合の検出方法を示す。
ここで、特徴点により示されたカーブＬは、正常なリベ
ットにおけるカーブK1及びカーブK2と大きく異なってお
り、軸Ｙ−Ｙ又はＹ′−Ｙ′に平行なスレッシュホール
ドSCO並びに軸Ｘ−Ｘ又はＸ′−Ｘ′に平行なスレッシ
ュホールドSROより大きく越えていることが理解され
る。
応しており、パネル10においてリベット12が貫通する穴
からクラック13が発達している場合の検出方法を示す。
ここで、特徴点により示されたカーブＬは、正常なリベ
ットにおけるカーブK1及びカーブK2と大きく異なってお
り、軸Ｙ−Ｙ又はＹ′−Ｙ′に平行なスレッシュホール
ドSCO並びに軸Ｘ−Ｘ又はＸ′−Ｘ′に平行なスレッシ
ュホールドSROより大きく越えていることが理解され
る。
このようにスレッシュホールドSROを越えるという事実
は、リベット12が正常であるかクラックを有するか否か
に関係なく、リベット12が存在していることを意味し、
一方、スレッシュホールドSCOを越えるという事実は、
クラック13を意味している。更に、第10図の交差したグ
ループの回転方向を分析することにより、クラック13の
方向を正確に決定できる。
は、リベット12が正常であるかクラックを有するか否か
に関係なく、リベット12が存在していることを意味し、
一方、スレッシュホールドSCOを越えるという事実は、
クラック13を意味している。更に、第10図の交差したグ
ループの回転方向を分析することにより、クラック13の
方向を正確に決定できる。
本発明によれば、２つのスレッシュホールドSRO及びSCO
が、リベット接合部の非破壊検査に使用される。このた
めに、例えば、第11図にそのブロック図が表わされてい
るような装置が使用される。
が、リベット接合部の非破壊検査に使用される。このた
めに、例えば、第11図にそのブロック図が表わされてい
るような装置が使用される。
プローブCFはガイドロッド27に沿って移動するプローブ
ホルダ26に取り付けられ、このガイドロッド27は、検査
されるべきリベットの線11と平行であるので、上記プロ
ーブの軸Ｘ−Ｘは、常に上記軸線11と一致する。ガイド
ロッド27は、計測手段28と連動する。この計測手段は、
例えば米国特許第3,898,555号明細書に記載されている
ような電位差を利用したものであり、上記ロッド27に沿
うプローブCFの各々の瞬間における横座標を伝えること
が可能な手段かである。プローブCFはリンク15（第４図
も参照）により接続された装置14により制御され且つ読
み取りがなされる。第11図の装置は、更にマイクロプロ
セッサ29を有し、このマイクロプロセッサ29にはアナロ
グ／デジタル変換器を経て装置28から発せられたプロー
ブCFの横座標及び上記プローブの非４衡化信号の成分Ｘ
及びＹが伝えられる。マイクロプロセッサ29は、検査さ
れるべき線11の判別というようなデータ32をキーボード
31へ伝えるようにこのキーボード31と接続され、また例
えばハードディスクタイプの記憶ユニット33、プログラ
ム用のデイスケット34、プリンタ35、及びディスプレイ
装置36へと接続される。
ホルダ26に取り付けられ、このガイドロッド27は、検査
されるべきリベットの線11と平行であるので、上記プロ
ーブの軸Ｘ−Ｘは、常に上記軸線11と一致する。ガイド
ロッド27は、計測手段28と連動する。この計測手段は、
例えば米国特許第3,898,555号明細書に記載されている
ような電位差を利用したものであり、上記ロッド27に沿
うプローブCFの各々の瞬間における横座標を伝えること
が可能な手段かである。プローブCFはリンク15（第４図
も参照）により接続された装置14により制御され且つ読
み取りがなされる。第11図の装置は、更にマイクロプロ
セッサ29を有し、このマイクロプロセッサ29にはアナロ
グ／デジタル変換器を経て装置28から発せられたプロー
ブCFの横座標及び上記プローブの非４衡化信号の成分Ｘ
及びＹが伝えられる。マイクロプロセッサ29は、検査さ
れるべき線11の判別というようなデータ32をキーボード
31へ伝えるようにこのキーボード31と接続され、また例
えばハードディスクタイプの記憶ユニット33、プログラ
ム用のデイスケット34、プリンタ35、及びディスプレイ
装置36へと接続される。
本発明による方法の最初の工程において、プローブCF
を、クラック（新しい航空機の接合部）の存在しない長
い距離の及び／或は多くの線11の前を進ませることによ
り、マイクロプロセッサ29が、スレッシュホールドSRO
及びSCOを決定でき、それらを記憶する。プローブCF
が、検査されるべき航空機のパネル10を接合する働きを
するリベット12の線11を検査した時、続いてマイクロプ
ロセッサ29は、各々の瞬間において非平衡化信号Ｘ及び
Ｙの成分をスレッシュホールドSRO及びSCOと比較し、さ
らに、上記マイクロプロセッサは、このようにリベット
12を検出及びカウントすると共にクラック13を検出す
る。このマイクロプロセッサは、これらのデータを周辺
装置33、35及び36へ供給する。
を、クラック（新しい航空機の接合部）の存在しない長
い距離の及び／或は多くの線11の前を進ませることによ
り、マイクロプロセッサ29が、スレッシュホールドSRO
及びSCOを決定でき、それらを記憶する。プローブCF
が、検査されるべき航空機のパネル10を接合する働きを
するリベット12の線11を検査した時、続いてマイクロプ
ロセッサ29は、各々の瞬間において非平衡化信号Ｘ及び
Ｙの成分をスレッシュホールドSRO及びSCOと比較し、さ
らに、上記マイクロプロセッサは、このようにリベット
12を検出及びカウントすると共にクラック13を検出す
る。このマイクロプロセッサは、これらのデータを周辺
装置33、35及び36へ供給する。
第１図は、本発明によるうず電流を用いたプローブの斜
視構成図である。 第２図及び第３図は、第１図のプローブにより発せられ
た電流の線上においての、正常なリベット及びクラック
を有するリベットの影響を各々示した構成図である。 第４図は、第１図のプローブを制御し且つ読み取るため
の装置を示すブロック図である。 第５図乃至第７図は、第１図のプローブがクラックを有
しないリベットの列に沿って移動する時の、上記プロー
ブ及び第４図の装置における機能を示す線図である。 第８図乃至第10図は、第１図のプローブがクラックを有
するリベットを検査した時の、上記プローブ及び第４図
の装置における機能を示す線図である。 第11図は、本発明によるうず電流を用いた非破壊検査の
ための装置を示す概略図である。 ２……表面 CF……プローブ Ｐ……注入用１次巻線 S1、S2、S3、S4……検出用２次巻線 ３……本体 ４、５……注入用１次巻線の端子 ６、７……検出用２次巻線の端子 ８……誘起電流 ９……異質な表面 10……パネル 11……リベットの線 12……リベット 13……クラック 14……制御読取装置 15……リンク 16……電気発生器 17……アンプ 18……二重同期デモジュレータ 19……移相器 20……アダプタ用検出器 21……インピーダンスアダプタシステム 22……検出アンプ 23……プローブCFを平衡化するための装置 24……補助フイルタ 25……アンプ 26……プローブホルダ 27……ガイドロッド 28……計測手段 29……マイクロプロセッサ 30……アナログ／デジタル変換器 31……キーボード 32……データ 33……記憶ユニット 34……プログラム用デイスケット 35……プリンタ 36……ディスプレイ装置
視構成図である。 第２図及び第３図は、第１図のプローブにより発せられ
た電流の線上においての、正常なリベット及びクラック
を有するリベットの影響を各々示した構成図である。 第４図は、第１図のプローブを制御し且つ読み取るため
の装置を示すブロック図である。 第５図乃至第７図は、第１図のプローブがクラックを有
しないリベットの列に沿って移動する時の、上記プロー
ブ及び第４図の装置における機能を示す線図である。 第８図乃至第10図は、第１図のプローブがクラックを有
するリベットを検査した時の、上記プローブ及び第４図
の装置における機能を示す線図である。 第11図は、本発明によるうず電流を用いた非破壊検査の
ための装置を示す概略図である。 ２……表面 CF……プローブ Ｐ……注入用１次巻線 S1、S2、S3、S4……検出用２次巻線 ３……本体 ４、５……注入用１次巻線の端子 ６、７……検出用２次巻線の端子 ８……誘起電流 ９……異質な表面 10……パネル 11……リベットの線 12……リベット 13……クラック 14……制御読取装置 15……リンク 16……電気発生器 17……アンプ 18……二重同期デモジュレータ 19……移相器 20……アダプタ用検出器 21……インピーダンスアダプタシステム 22……検出アンプ 23……プローブCFを平衡化するための装置 24……補助フイルタ 25……アンプ 26……プローブホルダ 27……ガイドロッド 28……計測手段 29……マイクロプロセッサ 30……アナログ／デジタル変換器 31……キーボード 32……データ 33……記憶ユニット 34……プログラム用デイスケット 35……プリンタ 36……ディスプレイ装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭54−92296（ＪＰ，Ａ) 特開 昭53−121687（ＪＰ，Ａ) 特開 昭56−141553（ＪＰ，Ａ) 米国特許4107605（ＵＳ，Ａ)
Claims (5)
- 【請求項１】等距離に一列に並んだリベット留めされた
接合部等の列をうず電流を用いたプローブにより非破壊
検査する方法において、 うず電流を用いたプローブが、上記リベットの列に沿っ
て進む場合に、一方では、検査されるリベットがクラッ
クを有さないとき（サイクルK1＋K2）は、上記プローブ
が直交軸Ｘ−Ｘ及びＹ−Ｙの座標系の軸Ｘ−Ｘに平行に
移動すると、上記プローブは軸Ｘ−Ｘに沿って延びる平
坦で細長い１サイクルの信号を送ることが可能であり、
他方では、検査されるリベットがクラックを有するとき
（サイクルＬ）は、軸Ｘ−Ｘ及び軸Ｙ−Ｙのそれぞれの
方向にそれ自身が広く拡がって交差するループを形成す
る１サイクルの信号を送ることが可能であり、 上記方法が、更に、 最初に、上記プローブを用いて、非破壊検査されるべき
接合部と類似した多数の制御用接合部が確かにクラック
を有しないことを検査し、さらに、複数の対応する平坦
で細長いサイクル（K1＋K2）を記録する工程と、 上記複数の平坦で細長いサイクルの包絡線から、その値
を越えたらプローブからの信号がリベットの存在を示す
ことを明確にするような軸Ｘ−Ｘに沿う第１のスレッシ
ュホールドSROを決定すると共に、その値を越えたらプ
ローブからの信号がクラックの存在を示すことを明確に
するような軸Ｙ−Ｙに沿う第２のスレッシュホールドS
COを決定する工程と、 その後、検査するべきリベットの列に沿って上記プロー
ブを進め、さらに軸Ｘ−Ｘ及び軸Ｙ−Ｙに沿ってプロー
ブからの信号の成分を連続的に計測する工程と、 プローブからの信号の上記成分をスレッシュホールドS
RO及びSCOを各々比較してクラックの存在の有無を推定
する工程と、 上記比較の結果を記録若しくは表示する工程と、 を有する非破壊検査方法。 - 【請求項２】直交軸Ｘ−Ｘ及びＹ−Ｙの座標系の軸Ｘ−
Ｘに沿って並んだリベット留めされた接合部等の列を非
破壊検査する装置において、 うず電流を用いたプローブであって、このプローブが、
その周囲の４個の検出用２次巻線で取り囲まれた中央の
注入用１次巻線を有し、この２次巻線は、１次巻線を中
心とする同一円周上に等しい角度で配置され且つ直角に
交わる２つの直径（Ｘ−Ｘ及びＹ−Ｙ）上に２個ずつ配
置され、上記２つの直径の１つであるＸ−Ｘは一列に並
んだリベットに一致するように決定され、直径方向に対
向する２個の２次巻線は、互いに同方向であり且つ他の
２個の２次巻線とは逆方向であり、さらに、上記４個の
２次巻線が、２個の連続する巻線が反対方向となるよう
に直列に接続されているプローブと、 このプローブを上記軸Ｘ−Ｘに沿って移動させる移動手
段と、 上記プローブは、このプローブを制御し且つ読み取る制
御読取手段に連結され、この制御読取手段とプローブ
が、プローブが上記リベットの列に沿って進む場合に、
サイクルの信号を発生し、このサイクルの信号は、検査
されるリベットがクラックを有さないとき（サイクルK1
＋K2）は軸Ｘ−Ｘと平行な方向に延びる平坦で細長い第
１の形状を有し、一方、検査されるリベットがクラック
を有するとき（サイクルＬ）は、軸Ｘ−Ｘ及び軸Ｙ−Ｙ
のそれぞれに平行な方向にそれ自身が広く拡がって交差
するループ形状の第２の形状を有し、この制御読取手段
が、プローブが上記リベットの列に沿って進む場合に軸
Ｘ−Ｘにおける上記サイクル信号の成分Ｘと軸Ｙ−Ｙに
おける上記サイクル信号の成分Ｙを発生し、 第１のスレッシュホールドSROと第２のスレッシュホー
ルドSCOとを記憶するメモリー手段であって、この第１
のスレッシュホールドSROは、上記成分Ｘがこの第１の
スレッシュホールドSROの値を越えたらリベットの存在
を示すように軸Ｘ−Ｘに沿って決定され、第２のスレッ
シュホールドSCOは、上記成分Ｙがこの第２のスレッシ
ュホールドSCOの値を越えたらクラックの存在を示すよ
うに軸Ｙ−Ｙに沿って決定される上記メモリー手段と、 上記制御読取手段が、更に上記サイクル信号の成分Ｘ及
び成分Ｙを連続的に計測し、 上記成分X,Yを上記スレッシュホールドSRO及びSCOと比
較する比較手段と、 上記比較の結果を記録若しくは表示する手段と、 を有する非破壊検査装置。 - 【請求項３】特許請求の範囲第２項記載の装置におい
て、注入用１次巻線が検出用２次巻線から離れている距
離が、リベット列における２つの相隣り合うリベットの
離間距離の半分に等しい非破壊検査装置。 - 【請求項４】特許請求の範囲第２項記載の装置におい
て、上記制御読取手段は、制御可能な位相シフト装置を
有する非破壊検査装置。 - 【請求項５】特許請求の範囲第２項記載の装置におい
て、上記メモリー手段及び比較手段が、マイクロプロセ
ッサにより形成される非破壊検査装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR8303043A FR2541772B1 (fr) | 1983-02-24 | 1983-02-24 | Procede et dispositif pour l'examen non destructif de jonctions rivetees ou analogues au moyen d'une sonde a courants de foucault |
| FR8303043 | 1983-02-24 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59163560A JPS59163560A (ja) | 1984-09-14 |
| JPH0672872B2 true JPH0672872B2 (ja) | 1994-09-14 |
Family
ID=9286227
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59034120A Expired - Fee Related JPH0672872B2 (ja) | 1983-02-24 | 1984-02-24 | 非破壊検査方法及び装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4677379A (ja) |
| EP (1) | EP0117786B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0672872B2 (ja) |
| CA (1) | CA1210068A (ja) |
| DE (1) | DE3470606D1 (ja) |
| FR (1) | FR2541772B1 (ja) |
Families Citing this family (29)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2570501B1 (fr) * | 1984-09-20 | 1987-12-18 | Siderurgie Fse Inst Rech | Procede de detection de defauts de surface par courants de foucault et dispositif mettant en oeuvre ce procede |
| FR2570500B1 (fr) * | 1984-09-20 | 1987-03-20 | Siderurgie Fse Inst Rech | Procede et dispositif de detection de defauts typiques sur un produit en defilement, notamment pour la detection de criques sur une brame |
| DE3525376A1 (de) * | 1985-07-16 | 1987-01-29 | Nukem Gmbh | Verfahren und vorrichtung zur zerstoerungsfreien pruefung von ferromagnetischen koerpern mit oberflaechenabschnitten, die an kanten und/oder ecken aneinandergrenzen |
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