JPH0673162B2 - 磁気デイスク駆動装置の減磁試験方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、磁気ディスク駆動装置の試験方法に関し、特
に、磁気ヘッドをアクセスすることにより生じる、媒体
に記録されたデータの磁気減少の測定から磁気ディスク
駆動装置の良否を判定する減磁試験方法に関する。

（従来の技術） 円盤状の可撓性記録媒体に磁気記録によりデートを記憶
させるフロッピーディスク駆動装置において、使用中に
徐々に磁気ヘッドからの読み出し電圧が減少するという
現象がある。これは、一般に減磁現象といわれており、
記録媒体のトラック上のデータの磁束が減少することで
ある。

次に、第５図を参照して、減磁現象を説明する。第５図
は、フロッピーディスク駆動装置における磁気ヘッドと
記録媒体（フロッピーディスク）との接触面を示す概略
図である。同図において、記録媒体の各トラックにデー
タを書き込む際には、リード・ライトヘッド５によりデ
ータを書き込み、消去ヘッド６を駆動して今書き込んだ
データの両側を直流消去する。これは、トラック幅を一
定にするとともに、隣接のトラック間にガード・バンド
を設けるようにして相互の干渉を防止するためである。
また、各トラックからデータを読み取る際には、リード
・ライトヘッド５のみで読み取りを行い、消去ヘッドは
駆動しない。磁気ヘッドをアクセスしてトラックを選択
する際には、磁気ヘッドを記録媒体に接触させた状態で
各トラックを横断させる。減磁現象は、このアクセス時
に生じるのがごく普通である。この減磁現象は、磁気ヘ
ッドの各コアの残留磁気、磁気ヘッド外部の漏洩磁界に
よりコアへの磁束集中、磁気ヘッドの記録媒体への加
圧、磁気ヘッドの構造欠陥等の原因により、媒体上に記
録されている残留磁束が影響を受けて生じる。このよう
に、減磁現象の原因は、装置の磁気ヘッド側にあり、特
に消去ヘッドがアクセス時に各トラックを横断すると
き、トラック上の記録データが少しずつ減磁する。

次に、減磁現象の様子を第６図の減磁曲線により説明す
る。同図において、縦軸は磁気ヘッド出力値（％）を、
横軸は磁気ヘッドのアクセス回数を示し、書き込み直後
（D₀点）の磁気ヘッド出力値を100％としてアクセス回
数による磁気ヘッドの変化を相対的に表わしている。同
図からもわかるように、磁気ヘッド出力値はアクセス回
数の増加とともに徐々に減少し、D₂点でほぼ飽和して一
定となる。つまり、減磁現象はアクセス回数がD₂点とな
るまで生じることとなる。このD₂点とはアクセス回数に
して約5000回程度である。尚、図中C1,C2,C3は、各磁気
ディスク駆動装置に対する減磁曲線である。第７図は、
アクセス動作による減磁現象の減磁率の説明図である。
同図において、（b1）はデータ書き込み直後のヘッド出
力電圧Ａ、即ち第６図中のD₀点時の出力電圧であり、
（b2）はD₂回アクセス後のヘッド出力電圧Ｂである。こ
こで、（Ａ−Ｂ）/A×100（％）を減磁率（第６図中の
磁気ヘッド出力値（％）と同一）とする。

以上説明した減磁現象に対しては、通常磁気ディスク装
置の出荷前に試験を行っている。これは、減磁率が大き
いと（減磁の減少が激しいと）、リードエラーとなって
障害を発生する恐れがあるので、このような装置の出荷
を防止する目的で行われる。減磁率を例えば70％程度と
した場合、第６図のC3のような装置は不良品として除去
される。

以下、従来の減磁試験方法を第８図に示すフローチャー
トに従って説明する。用いる記録媒体は、同心円状に複
数のトラックを有するフロッピーディスクとし、最外周
をトラック“00"と、最内周をトラック“39"とする。先
ず、磁気ヘッドをトラック38にアクセスして（ステップ
81）、このトラック38の全周にデータを書き込む（ステ
ップ82）。尚、トラック38を使用するのは、このトラッ
クが記録媒体の最内周に近く、記録密度が高いため、減
磁率が大きくなった場合、データの読取りエラーが最悪
のケースとなるからである。トラック38に書き込んだ直
後の出力波形を読取り（ステップ83）、これを第７図
（b1）に示す出力電圧Ａとしてメモリに格納してお。次
に、トラック38を中心としてトラック37と39の間を往復
してアクセスさせる（ステップ84）。この往復アクセス
を指定回（ｎ回）繰り返した後、磁気ヘッドをトラック
38へ戻してアクセスを停止させる（ステップ85）。この
時の磁気ヘッド出力波形を読取り（ステップ86）、これ
を第７図（b2）に示す出力電圧Ｂとする。そして、メモ
リに格納された出力電圧Ａと出力電圧Ｂとにより、減磁
率を算出し（ステップ87）、その結果装置の良否を判定
する（ステップ88）。

（発明が解決しようとする問題点） しかしながら、以上述べた減磁試験方法には次のような
問題点があった。

ある特定トラックの前後に指定回往復アクセスして減磁
率を測定する試験方法では、必要なアクセス回数を実施
するのに非常に時間が掛かり、例えば第６図に示すD₂点
に達するまでの時間は約５分間を要する（アクセス回数
は約5,000回）。更に、この試験方法による往復アクセ
ス動作は、記録媒体の回転とは無関係に行われるので、
磁気ヘッドがトラックの一周上を万辺なく横切るように
させるためには多数回のアクスを必要としなければなら
ない。このため、生産性が上がらず磁気ディスク駆動装
置の量産のネックとなっていた。

そこで、第６図に示すD₁点でアクセスを打ち切って、こ
の時の減磁率から最終のD₂点の減磁率を推定する方法を
とることも可能であるが、この方法でもD₁点に達するま
で約２分間要し、更に測定の信頼性が欠けるという問題
点があった。

本発明は、上記問題点を解決し、磁気記録データの磁気
減少を発生させるための試験時間が短くかつ信頼性の優
れた磁気ディスク駆動装置の減磁試験方法を提供するこ
とを目的とする。

（問題点を解決するための手段） 本発明は前記問題点を解決するために、以下のようにし
て磁気ディスク駆動装置の試験を行う。

先ず、回転する記録媒体の特定トラックにデータを書き
込み、磁気ヘッドが特定トラックを往復して横切るアク
セス動作を、記録媒体の１回転につき少なくとも１回検
知されるインデックス信号に基づき、磁気ヘッドが特定
トラックの所定領域をアクセスするようにアクセスの指
定回数に応じて遅延して開始する。

そして、指定回数のアクセス終了後、アクセスされた特
定トラックでの磁気ヘッドの出力値と、アクセスされな
かった特定トラックでの磁気ヘッドの出力値とを比較す
ることにより特定トラックに書き込まれたデータの磁気
減少を測定し、この測定によって磁気ディスク駆動装置
の良否を判定する減磁試験方法である。

（作用） 本発明によれば、以上のようにして磁気ディスク駆動装
置の減磁試験方法を構成するので、作用は次のようにな
る。

先ず、記録媒体を磁気ディスク駆動装置に投入し、回転
する記録媒体の特定トラック上にデータを書き込む。磁
気ヘッドが特定トラックを中心にして、この特定トラッ
クの内外周のトラックを往復して横切るアクセス動作
の、例えば第１回目のアクセス動作を、インデックス信
号検知からT1時間遅延後開始させる。そして第２回目の
アクセス動作を次のインデックス信号検知から更に、例
えば２×T1時間遅延後開始させる。以後、第３回目から
指定回数までのアクセスは、前述のようにインデックス
信号検知からアクセス回数に応じた遅延時間後に開始さ
せる。また、以上の指定回数分のアクセスは、データが
書き込まれた特定トラックの所定領域についてだけ行わ
れるように、例えば遅延時間を調整しておく。指定回数
のアクセス終了後、アクセスされた特定トラックでの磁
気ヘッド出力値と、アクセスされなかった特定トラック
での磁気ヘッドの出力値とを比較し、特定トラックに書
き込まれたデータの磁気減少を測定し、これによって磁
気ディスク駆動装置の良否を判定する。

このように本発明によれば、磁気ヘッドのアクセスがア
ンデックス信号に基づき各アクセス回数に応じて遅延し
て開始されるので、特定トラックのある領域では無駄な
く磁気ヘッドのアクセスを行うことができ、これによっ
て必要なアクセス回数も減少させることができる。従っ
て、従来の問題点を解決できるのである。

（実施例） 以下、本発明の一実施例を図面を参照して詳細に説明す
る。

第１図に本発明の一実施例による磁気ディスク駆動装置
の減磁試験方法のフローチャートを、第２図に本発明の
一実施例による磁気ヘッドのアクセスのタイムチャート
を示す。第３図は、第１図の手順を実施するときの減磁
試験機とフロッピーディスク駆動装置との接続を示す。
第３図において、減磁試験機１は、信号ケーブル３及び
電源ケーブル４を介してフロッピーディスク駆動装置と
接続される。本実施例による減磁試験方法は、フロッピ
ーディスクの１回転につき１回検知されるインデックス
信号を基点として、アクセス回数に応じて磁気ヘッドの
各アクセス開始を遅延させるものである。以下、本実施
例による減磁試験方法を第１図に示すフローチャートの
ステップに従い、第２図のタイムチャートを参照しなが
ら説明する。本試験は、従来と同様にトラック数40を有
するフロッピーディスクを記録媒体として用い、トラッ
ク38の減磁を測定する。

フロッピーディスクを装置に挿入し、電源を投下して試
験を開始させる。先ず、回転しているフロッピーディス
クに対して、磁気ヘッドをトラック38にアクセスし（ス
テップ11）、このトラック38の一周にデータを書き込む
（ステップ12）。次に、磁気ヘッドをトラック37へアク
セスし（ステップ13）、インデックス信号が来るのを持
つ（ステップ14）。インデックス信号は、フロッピーデ
ィスクの１回転につき１回出力される信号であり、フロ
ッピーディスク上の孔を光で検出してパルス変換したも
のである。このインデックス信号を第２図（ａ）に示
す。図中、Tpは１回転の周期を示す。インデックス信号
が検知されると、磁気ヘッドはT1時間だけ遅延されて
（ステップ15）、トラック39へアクセスされる（ステッ
プ16）。アクセス後、磁気ヘッドをトラック39にTH1時
間だけ保持し（ステップ17）、再びトラック37へアクセ
スする（ステップ18）。以上のステップ15からステップ
18までのアクセス動作は、第２図のアクセス（１）に示
される。

このようにして、第１回目のアクセス動作が終了する
と、次に第２回目のアクセス動作が前述のステップ14か
らステップ19に従って実行される。この動作を第２図の
アクセス（２）に示す。同図に示すように、トラック37
に位置した磁気ヘッドは、次のインデックス信号が来る
と、それからT2時間（T1×２）だけ遅延されてトラック
39にアクセスされる。以後の動作は、第１回目のアクセ
スと同様である。

第３回目のアクセスは、第２回目より更にT1時間遅れて
インデックス信号のパルスからT3時間後に開始される
（第２図のアクセス（３））。以後同様に往復のアクセ
スがｎ回に達するまで、Tn時間（Tn＝ｎ×T1）遅れてア
クセスが行われる。尚、この往復アクセス回数ｎ、アク
セス遅延ピッチT1及び保持時間TH1は実験により決定さ
れ、本実施例では第ｎ回目のトラック37からトラック39
へのアクセス時点が、第１回目のトラック39からトラッ
ク37へのアクセス時点と重なり、トラック38の１周の前
半分を磁気ヘッドがすべて横切るようにしてある。この
ため、トラック38の後半分は磁気ヘッドが１回も横切ら
ないこととなる（第２図参照）。トラック38の所定領域
についてだけアクセスさせることは、ホールド時間TH1
あるいは周期Tpを調整することにより実現できる。

このようにして第ｎ回の往復アクセスが行われる（ステ
ップ19）、磁気ヘッドはトラック38へアクセスされ（ス
テップ20）、そこで出力波形が読取られる（ステップ2
1）。この出力波形図を第４図に示す。図中、（b1）は
テスト開始前のデータ書き込み直後のヘッド出力電圧Ａ
を、（b2）はテスト後のヘッド出力電圧Ｂを示す。尚、
（b2）の出力波形は、前述したように、前半の部分がア
クセスによる減磁のため出力電圧Ｂに減少し、後半の部
分はアクセスされていないので出力電圧Ａのままとなっ
ている。そこで、減磁率は（b2）の出力波形から（Ａ−
Ｂ）/A×100（％）を算出することができ（ステップ2
2）、これを例えば第４図に示す減磁試験機１のディス
プレイに表示することにより（ステップ23）、当該ディ
スク駆動装置の良否が判定される（ステップ24）。

以上、詳細に説明したように、本実施例によれば磁気記
録データの減磁を発生させるアクセス動作を、インデッ
クス信号のパルスを基点としてアクセス回数に応じて遅
延して開始させるようにしたので、磁気ヘッドが無駄な
くトラックを横切ることができ、必要なアクセス回数も
少なくて済む。また、５インチ径のフロッピーディスク
駆動装置において、T1を0.5ms（第２図のアクセス遅延
ピッチ）、アクセス回数ｎを100回程度で、減磁試験が
十分であることが実験により確認されている。この場
合、インデックス信号のパルス周期Tpが200msなので試
験時間は約20秒で良く、従来の５分から20秒に短縮され
たことになる。

（発明の効果） 以上、詳細に説明したように、本発明によれば記録媒体
の特定トラックに書き込まれたデータの磁気減少を発生
させるアクセス動作を、インデックス信号に基づきアク
セス回数に応じて遅延させて開始するようにしたので、
磁気ヘッドが特定トラックの所定の領域を無駄なくアク
セスすることができ、必要なアクセス回数も少なくて済
む。また、特定トラックに書き込まれたデータの磁気減
少を測定するにあたって、従来のようにデータ書き込み
直後の磁気ヘッドの出力値をメモリに格納する必要がな
くなり、指定回数のアクセス終了後に特定トラックでの
アクセスされた領域とアクセスされなかった領域の各磁
気ヘッドの出力値を比較することができる。この結果、
試験時間が短縮され、更に磁気ディスク駆動装置の生産
性向上が期待できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による減磁試験方法のフローチャート、
第２図は本発明による磁気ヘッドのアクセスのタイムチ
ャート、第３図は本発明の試験方法を実施するための試
験機の構成を示す図、第４図は本発明によるヘッド出力
電圧の変化を示す図、第５図は磁気ヘッドの説明図、第
６図は減磁曲線図、第７図は従来のアクセス動作による
ヘッド出力電圧の変化を示す図、第８図は従来の減磁試
験方法のフローチャートである。 １……減磁試験機、２……フロッピーディスク駆動装
置、３……信号ケーブル、４……電源ケーブル。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】回転する記録媒体の特定トラックにデータ
   を書き込み、 磁気ヘッドが特定トラックを往復して横切るアクセス動
   作を、記録媒体の１回転につき少なくとも１回検知され
   るインデックス信号に基づき、磁気ヘッドが特定トラッ
   クの所定領域をアクセスするようにアクセスの指定回数
   に応じて遅延して開始し、 指定回数のアクセス終了後、アクセスされた特定トラッ
   クでの磁気ヘッドの出力値と、アクセスされなかった特
   定トラックでの磁気ヘッドの出力値とを比較することに
   より特定トラックに書き込まれたデータの磁気減少を測
   定し、 これによって磁気ディスク駆動装置の良否を判定するこ
   とを特徴とする磁気ディスク駆動装置の減磁試験方法。