JPH0560662A - 磁気デイスク検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】記録終了セクタも検査対象にして、磁気ディス
クの全面に亘って漏れなく欠陥の検査を正確に行う。 【構成】ＣＰＵ１に第１及び第２の判断機能を持たせ
る。第１の判断機能はＭＰエラーの発生セクタが記録終
了セクタより前後１セクタの範囲内にあるか否かを判断
する。第２の判断機能は、上記第１の判断機能で“記録
終了セクタより前後１セクタの範囲内にある”と判断し
た場合に、上記ＭＰエラーの長さが２ビット以下である
か否かを判断するとともに、長さが２ビット以下のＭＰ
エラーを偽りのエラーとして認識する。これにより、記
録終了セクタ内の記録終了点における信号の継ぎ目で、
位相がずれかつ波形に乱れが生じても、その乱れが２ビ
ット以下であれば、磁気ディスクの欠陥から生じたエラ
ーではなく、偽りのエラーとして取り扱われるので、記
録終了セクタも検査対象とする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は磁気ディスクの検査装
置に関し、特に磁気ディスクの全面に亘って漏れなく欠
陥の検査を行えるようにしたものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、この種の磁気ディスク検査装置
は、磁気ディスクについてエクストラパルスエラー，ミ
ッシングパルスエラー又はモジュレーションエラー等の
欠陥を測定する際、磁気ディスクの各トラックに沿って
同心円状に一定周波数の信号を記録し、その後、例えば
ミッシングパルスエラー（以下、ＭＰエラーという）を
測定する場合には、記録された信号を再生し、その再生
した信号のうち振幅が小さい部分をＭＰエラーとして検
出している。

【０００３】ところで、上記の如く信号を磁気ディスク
に記録する際には、信号の記録開始点と記録終了点との
両点を同一に、又は記録開始点を越えた所に記録終了点
を設定しているが、このように設定した場合には、上記
記録終了点における信号の継ぎ目で、図６に示す如く位
相がずれて波形に乱れが生じることは避けられず、これ
をそのまま測定した場合は、上記の如く信号の乱れた部
分が、磁気ディスクの欠陥から生じた真のＭＰエラーで
ないにもかかわらず、ＭＰエラーとして検出されるの
で、正確な磁気ディスクの欠陥検査ができない。

【０００４】そこで、この磁気ディスク検査装置では、
波形に乱れが生じる部分すなわち記録開始点と記録終了
点とが属する記録終了セクタを未検査領域とし、この未
検査領域を各トラック毎に同一セクタで統一している。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の磁気ディスク検査装置にあっては、上記の如
く記録終了セクタを未検査領域として設定したため、未
検査領域に磁気ディスクの欠陥から生じる真のＭＰエラ
ーがあっても検出されないので、磁気ディスクの全面に
亘り漏れなく欠陥の検査を行うことができず、欠陥の検
査精度が悪い。

【０００６】しかも、この磁気ディスク検査装置では、
未検査領域を各トラック毎に同一セクタで統一している
ため、未検査領域が磁気ディスクの半径方向に亘り直線
かつ連続的に設定されるので、そこに半径方向に長い欠
陥があっても検出されないという不具合も生じる。

【０００７】

【課題を解決するための手段】この発明は上述の事情に
鑑みてなされたもので、その目的とするところは、記録
終了セクタも検査対象にし、磁気ディスクの全面に亘り
漏れなく欠陥の検査を正確に行うことにあり、上記目的
を達成するために請求項１に記載の発明は、磁気ディス
クの各トラックに沿って同心円状に一定周波数の信号を
記録するとともに、記録された信号を再生して、ミッシ
ングパルスエラーを測定する検査装置において、上記ト
ラックに沿って信号を記録する際、記録終了角度位置を
一時的に保持するラッチ回路と、上記ミッシングパルス
エラーの発生セクタが上記記録終了角度位置より前後数
セクタの範囲内にあるか否かを判断する第１の判断手段
と、上記第１の判断手段で“記録終了角度位置より前後
数セクタの範囲内にある”と判断した場合に、上記ミッ
シングパルスエラーの長さが数ビット以下であるか否か
を判断するとともに、長さが数ビット以下のミッシング
パルスエラーを偽りのエラーとして認識する第２の判断
手段とを設けたことを特徴とする。

【０００８】請求項２に記載の発明は、磁気ディスクの
各トラックに沿って同心円状に一定周波数の信号を記録
するとともに、記録された信号を再生して、ミッシング
パルスエラーを測定する検査装置において、上記各トラ
ック毎に信号の記録開始点を変更する記録開始点変更手
段を設けたことを特徴とする。

【０００９】

【作用】請求項１の発明によれば、第１の判断手段及び
第２の判断手段により、記録終了角度位置より前後数セ
クタの範囲内にあってかつ長さが数ビット以下のミッシ
ングパルスエラーを偽りのエラーとして認識する。これ
により、記録終了角度位置の記録終了点における信号の
継ぎ目で、位相がずれかつ波形に乱れが生じても、その
乱れが数ビット以下であれば、偽りのエラーとして取り
扱われる。

【００１０】請求項２の発明にあっては、記録開始位置
変更手段が各トラック毎に信号の記録開始位置を変更す
る。これにより、信号記録開始点及び信号記録終了点の
属する記録終了角度位置が磁気ディスク上で分散され
る。

【００１１】

【実施例】以下、この発明に係る磁気ディスク検査装置
の一実施例について図１ないし図５を用いて詳細に説明
する。

【００１２】この磁気ディスク検査装置は、図１に示す
如く磁気ディスク４を回転させるスピンドルモータ、角
度位置を検出するエンコーダ１１、磁気ディスク４の径
方向に対してヘッド７を前後移動させるテーブル機構
（図示省略）、及び各制御回路から構成され、磁気ディ
スク４はエンコーダ１１により円周方向をｎ分割し（以
下、分割された１つの領域をセクタという）、かつエン
コーダ１１のＩＮＤＥＸ信号発生位置を０セクタとして
いる。

【００１３】ＣＰＵ１にはバス２を介してタイミング発
生回路３が接続されており、タイミング発生回路３は、
図２及び図３に示す如くＣＰＵ１からの記録開始指令ｉ
を受けると、ゲート信号発生回路３ａがヘッド作動時間
分（磁気ディスク４の１回転＋α時間分）のゲート信号
ｊを記録制御回路５へ出力する。

【００１４】ここで、記録制御回路５は、ＣＰＵ１から
の記録開始指令又は再生開始指令に従い、ゲート信号ｊ
が出力されている間中、リード／ライト回路６を起動し
て、ヘッド７に信号記録動作を又は信号再生動作をさせ
る。この際、ヘッド７に信号記録動作をさせた場合に
は、磁気ディスク４の各トラックに沿って同心円状に一
定周波数の信号が記録され、ヘッド７に信号再生動作を
させた場合には、磁気ディスク４に記録された信号が、
再生信号としてリード／ライト回路６からアンプ８を介
してコンパレータ９及びＴＡＡ検出回路１０へ出力され
る。

【００１５】また、上記タイミング発生回路３は、遅延
回路３ｂ，第１のｎビットカウンタ３ｃ，ラッチ回路３
ｄの順で信号が流れるように接続されており、遅延回路
３ｂはエンコーダ１１からのＩＮＤＥＸ信号ａを１セク
タ分だけ送らせて遅延ＩＮＤＥＸ信号ｃを形成する。第
１のｎビットカウンタ３ｃはＣＬＯＣＫ信号ｂの立上が
りエッジで、順次遅延ＩＮＤＥＸ信号ｃによりリセット
されるまで、セクタｎ個分カウントする。ラッチ回路３
ｄは、ヘッドの記録動作が終了した時点、すなわち上記
ゲート信号ｊの立上がりエッジで、記録終了角度位置
（以下、記録終了セクタという）ｎ_E を一時的に保持す
るとともに、その記録終了セクタｎ_E をＣＰＵ１が管理
するＲＡＭ１ａへ送る。

【００１６】さらに、上記タイミング発生回路３には、
第２のｎビットカウンタ３ｅ，マグニチュードコンパレ
ータ３ｆ及びマスク信号発生回路３ｇが設けられてお
り、第２のｎビットカウンタ３ｅは、上記ＣＬＯＣＫ信
号ｂの立上がりエッジで、順次ＩＮＤＥＸ信号ａにより
リセットされるまで、セクタｎ個分カウントする。マグ
ニチュードコンパレータ３ｆは、上記ラッチ回路３ｄに
保持されている記録終了セクタｎ_E と上記第２のｎビッ
トカウンタ３ｅでカウント中のセクタｎとを比較するこ
とにより、実際の記録終了セクタｎ_E より１セクタ分だ
け先行した信号ｇを形成する。マスク信号発生回路３ｇ
は上記信号ｇを受けた時点で３セクタ分、すなわち実際
の記録終了セクタｎ_E 及び前後１セクタ分の時間幅を持
つマスク信号ｈを形成する。

【００１７】また、上記ＴＡＡ検出回路１０は、上記ア
ンプ８からの再生信号を入力して、１トラック分の再生
信号振幅の平均値（以下、ＴＡＡという）を求める回路
であり、上記バス２には比較レベル設定回路１２及びエ
ラー検出回路１３が接続されており、ＣＰＵ１は上記Ｔ
ＴＡを基にエラー検出レベルを比較レベル設定回路１２
に設定する。ここで、コンパレータ９は上記アンプ８か
らの再生信号と上記設定値との比較結果をエラー検出回
路１３へ出力する。また、上記設定値には、上記再生信
号からミッシングパルスエラー（以下、ＭＰエラーとい
う）を測定する際、上記ＴＡＡより低い値（例えばＴＡ
Ａの７０％の値）を設定しておく。

【００１８】さらに、エラー検出回路１３は、上記マス
ク信号ｈが出力されている時、上記の如き比較結果から
“再生信号が設定値よりも小さい”という情報が得られ
た場合、それをＭＰエラーとし、そのＭＰエラーの長さ
（ビット数）とエラー発生セクタとを第１エラーメモリ
１４へ格納する。この際、ＭＰエラーの長さが２ビット
以下であるときにはＣＰＵ１に対してＭＰエラーフラグ
を立てず、ＭＰエラーの長さが３ビット以上であるとき
はＣＰＵ１に対してＭＰエラーフラグを立てる。

【００１９】この一方、上記マスク信号ｈが出力されて
いない時は、“再生信号が設定値よりも小さい”という
情報が得られると、それをＭＰエラーとし、そのＭＰエ
ラーの長さ（ビット数）とエラー発生セクタとを第１エ
ラーメモリ１４へ格納するとともに、ＭＰエラーの長さ
にかかわらず、常にＣＰＵ１に対してＭＰエラーフラグ
を立てる。

【００２０】これにより、仮に上記マスク信号ｈが出力
されている時のみ、２ビット以下のＭＰエラーが発生し
た場合、それは継ぎ目による偽りのＭＰエラーと判断
し、ＭＰエラーフラグを立てず、次の処理に素早く移行
できる。

【００２１】また、図４には上記ＣＰＵ１で実行される
フローチャートが示されており、ＣＰＵ１は、このよう
なフローチャートにより主として第１及び第２の判断機
能を有し、第１の判断機能はＭＰエラーの発生セクタが
記録終了セクタｎ_E より前後１セクタの範囲内にあるか
否かを判断する。第２の判断機能は、上記第１の判断機
能で“記録終了セクタｎ_E より前後１セクタの範囲内に
ある”と判断した場合に、上記ＭＰエラーの長さが２ビ
ット以下であるか否かを判断するとともに、長さが２ビ
ット以下のＭＰエラーを偽りのエラーとして認識する。

【００２２】次に、上記の如く構成された磁気ディスク
検査装置の動作について図４及び図５に示すフローチャ
ートを基に説明する。

【００２３】この検査装置によれば、ヘッド７を測定開
始トラックへ移動した後（ステップ１００）、ＣＰＵ１
が記録開始指令をタイミング発生回路３及び記録制御回
路５に出力する。これにより、タイミング発生回路３か
ら記録時間分（磁気ディスク４の１回転＋α時間分）の
ゲート信号が記録制御回路５へ出力されている間中、記
録制御回路５がリード／ライト回路６を起動してヘッド
７に信号記録動作をさせる。このようにして、一定周波
数の信号が磁気ディスク４のトラックに沿って同心円状
に記録される。また、磁気ディスク４への記録が終了し
た時点で、タイミング発生回路３のラッチ回路３ｄが記
録終了セクタｎ_E を一時的に保持するとともに、その記
録終了セクタｎ_E をＣＰＵ１が管理するＲＡＭ１ａへ送
る（ステップ１０２）。

【００２４】その後、ＣＰＵ１が上記ＲＡＭ１ａから記
録終了セクタｎ_E を読み込み（ステップ１０４）、ＭＰ
エラー及びＭＯＤ（モジュレーション）エラーの測定を
開始する。

【００２５】すなわち、ＣＰＵ１から再生開始指令が記
録制御回路５に出力される。これにより、記録制御回路
５がリード／ライト回路６を起動してヘッド７に信号再
生動作をさせる。このようにして、磁気ディスク４に記
録された信号が、再生信号としてリード／ライト回路６
からアンプ８を介してコンパレータ９及びＴＡＡ検出回
路１０へ出力されると、コンパレータ９が上記再生信号
と設定値との比較結果をエラー検出回路１３へ出力す
る。

【００２６】また、エラー検出回路１３では、マスク信
号発生回路３ｇからマスク信号ｈが出力されている時、
上記の如き比較の結果から、“再生信号が設定値よりも
小さい”という情報が得られた場合、それをＭＰエラー
とし、その比較結果をビット列（０を設定値より低い、
１を設定値より高い）にして、第１エラーメモリ１４へ
格納する。この際、ＭＰエラーの長さが２ビット以下で
あるときにはＣＰＵ１に対してＭＰエラーフラグを立て
ず、エラーの長さが３ビット以上であるときはＣＰＵ１
に対してＭＰエラーフラグを立てる。

【００２７】また、ＭＯＤエラーを検出した場合は、Ｍ
ＯＤエラーの発生セクタを第２エラーメモリ１５に格納
するとともに、ＣＰＵ１に対してＭＯＤエラーフラグを
立てる。（ステップ１０６）。

【００２８】次に、上記の如くエラー検出回路１３から
ＣＰＵ１に対してＭＰエラーフラグが立っているか否か
を判断し（ステップ１０８）、ここで、ＭＰエラーフラ
グが立っていると判断した場合（Ｙｅｓ）、第１エラー
メモリ１４に格納されているビット列情報からＭＰエラ
ーの長さ（ビット数）と、そのＭＰエラーの発生セクタ
とを一組のエラー情報として集計するとともに、集計し
たエラー情報を上記第２エラーメモリ１５の集計エリア
に格納する。（ステップ１１０）。

【００２９】その後、ソフト上のカウンタをリセットし
てから（ステップ１１２）、上記第２エラーメモリ１５
の集計エリアより最初のエラー情報を読み出した後（ス
テップ１１４）、そのエラー情報のうち、まず先に、Ｍ
Ｐエラーの発生セクタが上記記録終了セクタｎ_E より前
後１セクタの範囲内にあるか否かを判断する（ステップ
１１６）。この際、“ＭＰエラーの発生セクタが、記録
終了セクタｎ_E より前後１セクタの範囲内にない”と判
断した場合（Ｎｏ）、エラー情報をそのままＲＡＭ１ａ
のエラー集計テーブルエリアに書き込んだ後（ステップ
１１８）、エラー情報総数と上記カウンタの値ｍとを比
較する（ステップ１２０）。ここで、比較の結果、書き
込んだエラー情報が最後のエラー情報でない場合（Ｎ
ｏ）、上記カウンタの値に１を加えて（ステップ１２
２）、ステップ１１４に戻り、次のエラー情報を読み出
す。

【００３０】ところで、上記のようなステップ１１４な
いしステップ１２２の処理を繰り返し実行している途中
で、ステップ１１６において、“ＭＰエラーの発生セク
タが、上記記録終了セクタｎ_E より前後１セクタの範囲
内にある”と判断した場合（Ｙｅｓ）、ＭＰエラーの長
さ（ビット数）が２ビット以下であるか否かを判断する
（ステップ１２４）。ここで“ＭＰエラーの長さが３ビ
ット以上である”と判断した場合（Ｎｏ）、ステップ１
１８に移行して、エラー情報をそのまま上記と同様にＲ
ＡＭ１ａのエラー集計テーブルエリアに書き込むが、
“２ビット以下である”と判断した場合（Ｙｅｓ）、そ
のＭＰエラーを偽りのエラーとして認識し、ステップ１
２２の処理に移行する。

【００３１】つまり、上記のようなステップ１１６及び
１２４において、記録終了セクタｎより前後１セクタの
範囲内にあってかつ２ビット以下のＭＰエラーは、記録
終了点における信号の継ぎ目で生じたＭＰエラーである
ため、真のＭＰエラーでなく、偽りのＭＰエラーとして
認識されている。

【００３２】また、ステップ１０８において“エラーフ
ラグが立っていない”と判断した場合（Ｎｏ）、又はス
テップ１２０おいて“最後のエラー情報である”と判断
した場合（Ｎｏ）には、ＣＰＵ１に対して上記ＭＯＤエ
ラーフラグが立っているか否かを判断する（ステップ１
２６）。

【００３３】この際、“ＭＯＤエラーフラグが立ってい
る”と判断した場合（Ｙｅｓ）、第１エラーメモリ１４
に格納されているビット列情報からＭＯＤエラー発生セ
クタをエラー情報として集計するとともに、集計したエ
ラー情報を第２エラーメモリ１５の集計エリアに格納し
つつ、ソフト上のカウンタでエラー情報総数をカウント
する（ステップ１２８）。

【００３４】その後、上記カウンタをリセットしてから
（ステップ１３０）、上記第２エラーメモリ１５の集計
エリアより最初のエラー情報を読み出した後、そのエラ
ー情報をそのままＲＡＭ１ａのエラー集計テーブルエリ
アに書き込んでから（ステップ１３２）、上記エラー情
報総数と上記カウンタの値とを比較する（ステップ１３
４）。ここで、比較の結果、書き込んだエラー情報が最
後のエラー情報でない場合（Ｎｏ）、カウンタの値に１
を加えて（ステップ１３６）、ステップ１３２に戻り、
次のエラー情報を読み出す。

【００３５】ところで、上記ステップ１２６において
“ＭＯＤエラーフラグが立っていない”と判断した場合
（Ｎｏ）、又は上記のようなステップ１３２ないしステ
ップ１３６の処理を繰り返し実行している途中で、ステ
ップ１３４において“最後のエラー情報である”と判断
した場合には、磁気ディスクに記録された信号を全て消
去する（ステップ１３８）。

【００３６】その後、エクストラパルスエラー（以下、
ＥＰエラーという）の測定を行う。すなわち、上記の如
く信号を消去したにもかかわらず、再生信号が設定値よ
り大きい場合、それをＥＰエラーとし、コンパレータ９
による比較結果をビット列（０を設定値より低い、１を
設定値より高い）にして、第１エラーメモリ１４に格納
すると同時に、ＥＰエラーを検出した時はＣＰＵ１に対
してＥＰエラーフラグを立てる（ステップ１４０）。

【００３７】その後、ＥＰエラーがＣＰＵ１に対して立
っているか否かを判断する（ステップ１４２）。この
際、“ＥＰエラーフラグが立っている”と判断した場合
（Ｙｅｓ）、第１エラーメモリ１４に格納されているビ
ット列情報を基にＥＰエラーの長さ（ビット数）とＥＰ
エラー発生セクタとを一組のエラー情報として集計する
とともに、集計したエラー情報を第２エラーメモリ１５
の集計エリアに格納しつつ、ソフト上のカウンタでエラ
ー情報総数をカウントさせる（ステップ１４４）。

【００３８】そして、上記カウンタをリセットしてから
（ステップ１４６）、上記第２エラーメモリ１５の集計
エリアより最初のエラー情報を読み出した後、そのエラ
ー情報をそのままＲＡＭ１ａのエラー集計テーブルエリ
アに記録してから（ステップ１４８）、上記エラー情報
総数と上記カウンタの値とを比較する（ステップ１５
０）。ここで、比較の結果、書き込んだエラー情報が最
後のエラー情報でない場合（Ｎｏ）、カウンタの値に１
を加えて（ステップ１５２）、ステップ１４８に戻り、
次のエラー情報を読み出す。

【００３９】ところで、上記ステップ１４２において
“ＥＰエラーフラグが立っていない”と判断した場合
（Ｎｏ）、又は上記のようなステップ１４８ないしステ
ップ１５２の処理を繰り返し実行している途中で、ステ
ップ１５０において“最後のエラー情報である”と判断
した場合には、現在検査中のトラックが最終トラックで
あるか否かを判断し（ステップ１５４）、ここで、“最
終トラックでない”と判断した場合（Ｎｏ）、次のトラ
ックにヘッド７を移動して（ステップ１５６）、ステッ
プ１０２の処理へ戻る。また、上記ステップ１５４にお
いて“最終トラックである”と判断した場合（Ｙｅ
ｓ）、欠陥検査を終了する。

【００４０】したがって、上記のような実施例によれ
ば、記録終了セクタより前後数セクタの範囲内にあって
かつ長さが２ビット以下のＭＰエラーを偽りのエラーと
して認識するため、記録終了セクタ内の記録終了点にお
ける信号の継ぎ目で、位相がずれかつ波形に乱れが生じ
ても、その乱れが２ビット以下であれば、磁気ディスク
の欠陥から生じたエラーではなく、偽りのエラーとして
取り扱われるので、記録終了セクタも検査対象とするこ
とができる。

【００４１】なお、上記のようなＣＰＵ１において、ト
ラック毎に信号の記録開始点をランダム的に変更する機
能、すなわち記録開始点変更機能を持たせた場合には、
記録開始点及び記録終了点の属する記録終了セクタが磁
気ディスク上で分散されるので、記録終了セクタを未検
査領域としても、磁気ディスクの半径方向に亘る長い欠
陥を検出することが可能である。

【００４２】また、上記のような実施例では、記録終了
セクタの前後１セクタ内の２ビット長以下のエラーを偽
りのエラーと判断しているが、セクタの範囲及びエラー
ビット長は任意に変更しても良い。

【００４３】

【発明の効果】この発明に係る磁気ディスク検査装置
は、上記の如く第１及び第２の判断手段により、信号の
記録終了角度位置より前後数セクタの範囲内にあってか
つ長さが数ビット以下のミッシングパルスエラーを偽り
のエラーとして認識するため、記録終了セクタ内の記録
終了点における信号の継ぎ目で、位相がずれかつ波形に
乱れが生じても、その乱れが数ビット以下であれば、磁
気ディスクの欠陥から生じたエラーではなく、偽りのエ
ラーとして取り扱われるので、記録終了角度位置すなわ
ち記録終了セクタも検査対象とすることができる。した
がって、磁気ディスクの全面に亘り漏れなく欠陥の検査
を正確に行うことができ、欠陥の検査精度が向上する。

【００４４】特に、請求項２の発明にあっては、記録開
始位置変更手段が各トラック毎に信号の記録開始点を変
更するため、その記録開始点及び記録終了点の属する記
録終了角度位置が磁気ディスク上で分散されるので、記
録終了角度位置すなわち記録終了セクタを未検査領域と
しても、磁気ディスクの半径方向に亘る長い欠陥を検出
することが可能である。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明に係る磁気ディスク検査装置のブロッ
ク図。

【図２】タイミング回路の詳細説明図。

【図３】タイミング回路の動作タイムチャート。

【図４】ＣＰＵで実行されるフローチャート。

【図５】ＣＰＵで実行されるフローチャート。

【図６】記録終了点における信号の継ぎ目で波形が乱れ
たようすを説明する説明図。

【符号の説明】

１ ＣＰＵ（第１及び第２の判断手段、記録開始点変更
手段） ４ 磁気ディスク ３ｄ ラッチ回路

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 磁気ディスクの各トラックに沿って同心
   円状に一定周波数の信号を記録するとともに、記録され
   た信号を再生して、ミッシングパルスエラーを測定する
   検査装置において、 上記トラックに沿って信号を記録する際、記録終了角度
   位置を一時的に保持するラッチ回路と、 上記ミッシングパルスエラーの発生セクタが上記記録終
   了角度位置より前後数セクタの範囲内にあるか否かを判
   断する第１の判断手段と、 上記第１の判断手段で“記録終了角度位置より前後数セ
   クタの範囲内にある”と判断した場合に、上記ミッシン
   グパルスエラーの長さが数ビット以下であるか否かを判
   断するとともに、長さが数ビット以下のミッシングパル
   スエラーを偽りのエラーとして認識する第２の判断手段
   とを設けたことを特徴とする磁気ディスク検査装置。
2. 【請求項２】 磁気ディスクの各トラックに沿って同心
   円状に一定周波数の信号を記録するとともに、記録され
   た信号を再生して、ミッシングパルスエラーを測定する
   検査装置において、 上記各トラック毎に信号の記録開始点を変更する記録開
   始点変更手段を設けたことを特徴とする磁気ディスク検
   査装置。