JPH0675002B2 - 走査光検出回路 - Google Patents
走査光検出回路Info
- Publication number
- JPH0675002B2 JPH0675002B2 JP16952889A JP16952889A JPH0675002B2 JP H0675002 B2 JPH0675002 B2 JP H0675002B2 JP 16952889 A JP16952889 A JP 16952889A JP 16952889 A JP16952889 A JP 16952889A JP H0675002 B2 JPH0675002 B2 JP H0675002B2
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- JP
- Japan
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- signal
- circuit
- laser scanning
- output
- scanning light
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- Expired - Lifetime
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Laser Beam Printer (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、電子写真装置に於けるレーザ走査光検出回路
に関するもので、特に可視領域外の波長を有する半導体
レーザを使用した場合の検出回路に関する。
に関するもので、特に可視領域外の波長を有する半導体
レーザを使用した場合の検出回路に関する。
従来、この種のレーザ走査光検出回路は第３図に示すよ
うにセンサ１と増幅回路２で構成されていた。
うにセンサ１と増幅回路２で構成されていた。
次にその動作について説明する。
レーザ走査光がセンサ１の表面のどこを通過するかによ
って受光面積が変わり増幅回路２の出力が変わる。
って受光面積が変わり増幅回路２の出力が変わる。
増幅回路２の出力は、印字を開始するタイミングに使わ
れており電子写真装置においては特に重要な信号であ
る。
れており電子写真装置においては特に重要な信号であ
る。
この為に安定性を考えた時、レーザ走査光はセンサ１の
表面の中心を通過することが望ましく、装置組立時にシ
ンクロスコープ等の機器を用いて増幅回路２の出力を見
ながらセンサの位置調整を行なっていた。
表面の中心を通過することが望ましく、装置組立時にシ
ンクロスコープ等の機器を用いて増幅回路２の出力を見
ながらセンサの位置調整を行なっていた。
さらにレーザ走査光が実際に発生しているかどうかを調
べる場合も、半導体レーザは一般に可視領域外の波長を
もつものが多く、赤外線ビュアー等の特殊な機器を用い
る必要があった。
べる場合も、半導体レーザは一般に可視領域外の波長を
もつものが多く、赤外線ビュアー等の特殊な機器を用い
る必要があった。
以上のようにレーザ走査光の発生，及びセンサ１の位置
調整は半導体レーザを用いた場合に、種々の機器を要す
るという欠点があった。
調整は半導体レーザを用いた場合に、種々の機器を要す
るという欠点があった。
本発明の目的は、種々の機器を用いることなく、レーザ
走査光の発生の確認，およびセンサ位置の調整のできる
レーザ走査光検出回路を提供することにある。
走査光の発生の確認，およびセンサ位置の調整のできる
レーザ走査光検出回路を提供することにある。
本発明の走査光検出回路は上記目的を達成するために、
レーザ走査光を検出すると共にレーザ走査周期毎に第１
の信号を出力するセンサと、その出力された第１の信号
を増幅する増幅回路と、この増幅回路で増幅された第１
の信号が予め定められた値を越えた時に第２の信号を出
力する比較回路と、前記第２の信号が入力されるとレー
ザ走査周期以上の時間接続する第３の信号を出力するワ
ンショット回路と、前記第３の信号が入力される発光素
子駆動回路と、前記第３の信号が出力されている間前記
発光素子駆動回路からの出力に従って発光する発光素子
とを備えている。
レーザ走査光を検出すると共にレーザ走査周期毎に第１
の信号を出力するセンサと、その出力された第１の信号
を増幅する増幅回路と、この増幅回路で増幅された第１
の信号が予め定められた値を越えた時に第２の信号を出
力する比較回路と、前記第２の信号が入力されるとレー
ザ走査周期以上の時間接続する第３の信号を出力するワ
ンショット回路と、前記第３の信号が入力される発光素
子駆動回路と、前記第３の信号が出力されている間前記
発光素子駆動回路からの出力に従って発光する発光素子
とを備えている。
次に本発明について図面を参照して詳細に説明する。
本発明の実施例は第１図に示されるように、センサ１と
センサ１の出力を入力とする増幅回路２と、その出力を
入力とする比較回路３と、その出力を入力とするワンシ
ョット回路４と、その出力を入力とする発光ダイオード
駆動回路５と、発光ダイオード６とを含む。
センサ１の出力を入力とする増幅回路２と、その出力を
入力とする比較回路３と、その出力を入力とするワンシ
ョット回路４と、その出力を入力とする発光ダイオード
駆動回路５と、発光ダイオード６とを含む。
次にその動作について第２図を参照して説明する。
レーザ走査光がセンサ１上を通過した時に第２図の信号
Ａが、レーザ走査周期毎に発生する。
Ａが、レーザ走査周期毎に発生する。
比較回路３は信号Ａが一定値を越えた時に信号Ｂを発生
する。ワンショット回路４は一般にいわれているリトガ
ブルワンショット機能持ち、信号Ｂの入力を契期とし
て、レーザ走査周期以上の時間，持続する信号Ｃを発生
し、信号Ｃが持続中に、次の信号Ｂが発生すると引きつ
づき信号Ｃを持続する。
する。ワンショット回路４は一般にいわれているリトガ
ブルワンショット機能持ち、信号Ｂの入力を契期とし
て、レーザ走査周期以上の時間，持続する信号Ｃを発生
し、信号Ｃが持続中に、次の信号Ｂが発生すると引きつ
づき信号Ｃを持続する。
発光ダイオード駆動回路６は信号Ｃが持続している間に
ダイオード６を発光させる。
ダイオード６を発光させる。
以上の動作により、レーザ走査光がセンサ１の表面上を
通過しているかどうかと、センサ１の出力が規定レベル
以上であるかどうかを特殊な機器を用いることなく、発
光ダイオード６の点灯によって確認できる。
通過しているかどうかと、センサ１の出力が規定レベル
以上であるかどうかを特殊な機器を用いることなく、発
光ダイオード６の点灯によって確認できる。
本発明には以上説明したように、レーザ走査光とセンサ
１の位置が適正である時に発光ダイオードを点灯させる
構成をとることにより、特殊な機器を用いることなく、
レーザ走査光とセンサ１の対応を確認できるという効果
がある。
１の位置が適正である時に発光ダイオードを点灯させる
構成をとることにより、特殊な機器を用いることなく、
レーザ走査光とセンサ１の対応を確認できるという効果
がある。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図、第２図は
本発明の一実施例に於ける動作を示す図、第３図は従来
例のブロック図である。 １……センサ、２……増幅回路、３……比較回路、４…
…ワンショット回路、５……発光ダイオード駆動回路、
６……発光ダイオード。
本発明の一実施例に於ける動作を示す図、第３図は従来
例のブロック図である。 １……センサ、２……増幅回路、３……比較回路、４…
…ワンショット回路、５……発光ダイオード駆動回路、
６……発光ダイオード。
Claims (1)
- 【請求項１】レーザ走査光を検出すると共にレーザ走査
周期毎に第１の信号を出力するセンサと、その出力され
た第１の信号を増幅する増幅回路と、この増幅回路で増
幅された第１の信号が予め定められた値を越えた時に第
２の信号を出力する比較回路と、前記第２の信号が入力
されるとレーザ走査周期以上の時間持続する第３の信号
を出力するワンショット回路と、前記第３の信号が入力
される発光素子駆動回路と、前記第３の信号が出力され
ている間前記発光素子駆動回路からの出力に従って発光
する発光素子とを備えたことを特徴とする走査光検出回
路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16952889A JPH0675002B2 (ja) | 1989-06-29 | 1989-06-29 | 走査光検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16952889A JPH0675002B2 (ja) | 1989-06-29 | 1989-06-29 | 走査光検出回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0333624A JPH0333624A (ja) | 1991-02-13 |
| JPH0675002B2 true JPH0675002B2 (ja) | 1994-09-21 |
Family
ID=15888174
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16952889A Expired - Lifetime JPH0675002B2 (ja) | 1989-06-29 | 1989-06-29 | 走査光検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0675002B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0647807U (ja) * | 1992-12-04 | 1994-06-28 | 三友工業株式会社 | レーザー光確認器 |
-
1989
- 1989-06-29 JP JP16952889A patent/JPH0675002B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0333624A (ja) | 1991-02-13 |
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