JPH0675090B2 - ケーブル絶縁不良点探知方法および装置 - Google Patents
ケーブル絶縁不良点探知方法および装置Info
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- JPH0675090B2 JPH0675090B2 JP63227745A JP22774588A JPH0675090B2 JP H0675090 B2 JPH0675090 B2 JP H0675090B2 JP 63227745 A JP63227745 A JP 63227745A JP 22774588 A JP22774588 A JP 22774588A JP H0675090 B2 JPH0675090 B2 JP H0675090B2
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Description
【発明の詳細な説明】 （イ）産業上の利用分野 本発明は水トリー発生に起因する絶縁不良を生じたケー
ブルのように、直流低測定電圧下では極めて高抵抗を示
し、その不良点を探知することが不可能であるかまたは
標定誤差が大である場合に使用されるケーブル絶縁不良
点探知方法及び装置に関する。
ブルのように、直流低測定電圧下では極めて高抵抗を示
し、その不良点を探知することが不可能であるかまたは
標定誤差が大である場合に使用されるケーブル絶縁不良
点探知方法及び装置に関する。
（ロ）従来技術 高抵抗を示すケーブルの絶縁不良点の探知に当たっては
一般に倒立型ブリッジが高感度であるために用いられ
る。しかし、抵抗値が10MΩ以上になると零位法である
倒立ブリッジでは感度不足になり、偏位法である電位差
比較法が有力となる。
一般に倒立型ブリッジが高感度であるために用いられ
る。しかし、抵抗値が10MΩ以上になると零位法である
倒立ブリッジでは感度不足になり、偏位法である電位差
比較法が有力となる。
第２図は電位差比較法を示す回路構成図を示し、図中１
は絶縁不良ケーブル（３心ケーブルで例示する）の遮蔽
で、この中に３相の高圧導体2R、2S、2Tが含まれてい
る。この導体の内、2R、2Sは健全導体であり、2Tは測定
側端からケーブル全長（全長を100％とする）のＸ％の
位置に絶縁不良点３を有する絶縁不良導体である。遮蔽
１を往線、健全導体を帰線とてループを構成するため
に、健全導体2Sの非測定側端S100と遮蔽１の非測定側端
1100とが相互に接続され、測定端側では直列接続された
直流低電圧電源５と開閉器６とが遮蔽１の測定側端10と
健全導体2Sの測定側端S0との間に接続されている。健全
導体2Rは非測定側端1100の電位を測定側端に導くために
用いられるものであって、健全導体2Rの非測定側端R100
は遮蔽１の非測定側端1100に接続され、測定側端R0は測
定端切換スイッチ７の一方の切換端である端子L100に接
続されている。切換スイッチ７の他方の切換端である端
子L0は遮蔽１の測定側端10に接続されて、10の電位を導
いている。切換スイッチ７の固定端子と端子Ｅとの間に
は微少電圧検出手段８と迷走電流打消装置９が接続され
ている。第２図では迷走電流打消装置９は直列型（電圧
打消方式）で示したため、微少電圧検出手段８からみた
外部抵抗が極めて高くなり、該手段８の時間応答性が悪
くなりがちであるのでこれを防ぐため分流抵抗10が並列
に接続されている。なお、迷走電流打消装置９として並
列型（電流打消方式）を使用する場合は微少電流検出手
段８に並列に設けられ、この場合は分流抵抗10は不要で
ある。前記端子Ｅは一般に接地されること無く絶縁不良
導体2Tの測定側端T0に接続される。
は絶縁不良ケーブル（３心ケーブルで例示する）の遮蔽
で、この中に３相の高圧導体2R、2S、2Tが含まれてい
る。この導体の内、2R、2Sは健全導体であり、2Tは測定
側端からケーブル全長（全長を100％とする）のＸ％の
位置に絶縁不良点３を有する絶縁不良導体である。遮蔽
１を往線、健全導体を帰線とてループを構成するため
に、健全導体2Sの非測定側端S100と遮蔽１の非測定側端
1100とが相互に接続され、測定端側では直列接続された
直流低電圧電源５と開閉器６とが遮蔽１の測定側端10と
健全導体2Sの測定側端S0との間に接続されている。健全
導体2Rは非測定側端1100の電位を測定側端に導くために
用いられるものであって、健全導体2Rの非測定側端R100
は遮蔽１の非測定側端1100に接続され、測定側端R0は測
定端切換スイッチ７の一方の切換端である端子L100に接
続されている。切換スイッチ７の他方の切換端である端
子L0は遮蔽１の測定側端10に接続されて、10の電位を導
いている。切換スイッチ７の固定端子と端子Ｅとの間に
は微少電圧検出手段８と迷走電流打消装置９が接続され
ている。第２図では迷走電流打消装置９は直列型（電圧
打消方式）で示したため、微少電圧検出手段８からみた
外部抵抗が極めて高くなり、該手段８の時間応答性が悪
くなりがちであるのでこれを防ぐため分流抵抗10が並列
に接続されている。なお、迷走電流打消装置９として並
列型（電流打消方式）を使用する場合は微少電流検出手
段８に並列に設けられ、この場合は分流抵抗10は不要で
ある。前記端子Ｅは一般に接地されること無く絶縁不良
導体2Tの測定側端T0に接続される。
端子Ｅをフロートする理由は遮蔽１には有限の、時とし
ては非常に低い値である遮蔽絶縁抵抗４が必ずといって
よい位大地との間に存在し、測定回路全体の接地点は自
動的に遮蔽絶縁抵抗４の存在位置によって決まるからで
ある。遮蔽絶縁抵抗４の値が無限大か絶縁不良点３の値
より２桁以上高ければ端子Ｅを接地できるものの、通常
はこの条件は成立せず、無理に端子Ｅを接地すれば好ま
しくない迷走電流が遮蔽１に流れて誤差発生の原因とな
る。
ては非常に低い値である遮蔽絶縁抵抗４が必ずといって
よい位大地との間に存在し、測定回路全体の接地点は自
動的に遮蔽絶縁抵抗４の存在位置によって決まるからで
ある。遮蔽絶縁抵抗４の値が無限大か絶縁不良点３の値
より２桁以上高ければ端子Ｅを接地できるものの、通常
はこの条件は成立せず、無理に端子Ｅを接地すれば好ま
しくない迷走電流が遮蔽１に流れて誤差発生の原因とな
る。
第２図の回路の絶縁不良点測定方法は次ぎの通りに行
う。開閉器６を開放の状態のまま迷走電流打消装置を稼
動させて微少電圧検出手段８の指示を零とする。この
時、測定端切換スイッチ７は切換位置L0でも位置L100で
も良い。次いで、開閉器６を投入し、直流低電圧電源５
から、遮蔽１及び健全導体2Sからなるループ回路に電流
を流す。安定した指示が得られるようになった状態で切
換位置L0において微少電圧検出手段９の読み｜E0｜を
得、切換位置L100に切換えた時の読み｜E100｜を得る。
この測定結果から、絶縁不良点３の存在位置、即ち測定
側端から全長のＸ％、非測定側端から全長の（100−
Ｘ）％は として標定できる。
う。開閉器６を開放の状態のまま迷走電流打消装置を稼
動させて微少電圧検出手段８の指示を零とする。この
時、測定端切換スイッチ７は切換位置L0でも位置L100で
も良い。次いで、開閉器６を投入し、直流低電圧電源５
から、遮蔽１及び健全導体2Sからなるループ回路に電流
を流す。安定した指示が得られるようになった状態で切
換位置L0において微少電圧検出手段９の読み｜E0｜を
得、切換位置L100に切換えた時の読み｜E100｜を得る。
この測定結果から、絶縁不良点３の存在位置、即ち測定
側端から全長のＸ％、非測定側端から全長の（100−
Ｘ）％は として標定できる。
（ハ）この発明が解決しようとする課題 上述した従来のケーブル絶縁不良点探知方法および装置
では次の問題があった。
では次の問題があった。
測定対象は水トリー発生に起因する絶縁不良ケーブルで
あって、まだ電気破壊に至らず運転継続中である場合が
多い。そこで、絶縁不良点の標定作業が終われば運転再
開をしなければならないので、標定を容易にするため高
電圧をかけて抵抗値を下げる（いわゆる、焼成作業）こ
とは絶対に許されない。しかし、水トリー起因の絶縁不
良抵抗値は、金属抵抗や炭素被膜抵抗と異なり、極めて
電圧依存性がある。即ち、測定電圧を上昇させると抵抗
値が下がり、測定電圧を下げると抵抗値が上昇する。例
えば、1000Vメガで測定して10MΩ程度の値が得られたケ
ーブルでも10V程度の電圧で測定すると数百ＭΩに上昇
する。
あって、まだ電気破壊に至らず運転継続中である場合が
多い。そこで、絶縁不良点の標定作業が終われば運転再
開をしなければならないので、標定を容易にするため高
電圧をかけて抵抗値を下げる（いわゆる、焼成作業）こ
とは絶対に許されない。しかし、水トリー起因の絶縁不
良抵抗値は、金属抵抗や炭素被膜抵抗と異なり、極めて
電圧依存性がある。即ち、測定電圧を上昇させると抵抗
値が下がり、測定電圧を下げると抵抗値が上昇する。例
えば、1000Vメガで測定して10MΩ程度の値が得られたケ
ーブルでも10V程度の電圧で測定すると数百ＭΩに上昇
する。
第３図は直流測定電圧に対する絶縁不良抵抗値の変化の
実例を示している。この例では1000Vメガでは14MΩが測
定された。一般に標定作業で扱い得る直流電圧電源の電
圧値は50V以下である。第３図において100Vでは既に75M
Ω、10Vでは400MΩ以上に上昇している。ここで、測定
電源電圧6V以下で最高測定感度100MΩと性能標榜してい
ても実際には測定不能となる。かりに、測定電源として
100Vを用いたとしても（実際には電圧に比例してループ
通電電流が莫大となり、実用性からは外れる）、次の第
２の問題が生じる。微少電圧検出手段８により測定され
る電圧は遮蔽１の電圧降下、即ち長さＸおよび100−Ｘ
に比例する電圧であるが、Ｘが50％の場合を除き微少電
圧検出手段の読みは長さに比例しなくなり、誤差を生じ
る。第３図の例において、例えばＸが20％とすると、20
Vの電圧での抵抗値は245MΩ、80Vの電圧での抵抗値は87
MΩであるから、 と標定され、真値の20％から小さくなる方向に大きくず
れることになる。
実例を示している。この例では1000Vメガでは14MΩが測
定された。一般に標定作業で扱い得る直流電圧電源の電
圧値は50V以下である。第３図において100Vでは既に75M
Ω、10Vでは400MΩ以上に上昇している。ここで、測定
電源電圧6V以下で最高測定感度100MΩと性能標榜してい
ても実際には測定不能となる。かりに、測定電源として
100Vを用いたとしても（実際には電圧に比例してループ
通電電流が莫大となり、実用性からは外れる）、次の第
２の問題が生じる。微少電圧検出手段８により測定され
る電圧は遮蔽１の電圧降下、即ち長さＸおよび100−Ｘ
に比例する電圧であるが、Ｘが50％の場合を除き微少電
圧検出手段の読みは長さに比例しなくなり、誤差を生じ
る。第３図の例において、例えばＸが20％とすると、20
Vの電圧での抵抗値は245MΩ、80Vの電圧での抵抗値は87
MΩであるから、 と標定され、真値の20％から小さくなる方向に大きくず
れることになる。
上述のように、実用的な直流測定電圧では絶縁抵抗値が
高くなりすぎて標定が実施できない問題に加え、たとえ
標定できたとしても標定誤差が大きくなる問題があっ
た。
高くなりすぎて標定が実施できない問題に加え、たとえ
標定できたとしても標定誤差が大きくなる問題があっ
た。
この発明の目的は、直流低測定電圧下では極めて高抵抗
値を示し、その不良点を探知することが感度不足のため
不可能な場合、及び標定誤差が大である場合に使用して
も正確な測定をすることができるケーブル絶縁不良点探
知方法及び装置を提供することである。
値を示し、その不良点を探知することが感度不足のため
不可能な場合、及び標定誤差が大である場合に使用して
も正確な測定をすることができるケーブル絶縁不良点探
知方法及び装置を提供することである。
（ニ）課題を解決するための手段 この発明のケーブル絶縁不良点探知方法は、絶縁不良導
体と遮蔽との間に、その二次側出力電圧は低圧の範囲に
とどまり、かつ一次側巻線に対する巻線抵抗が10000MΩ
以上の値を保有する交流低電圧変圧器の出力を、その静
電容量が前記絶縁不良導体と遮蔽間の静電容量より一桁
以上大きい値を有するコンデンサを介して印加すること
により、絶縁不良点の抵抗を低位に保持した状態でフィ
ルタ回路を保有する微少電圧検出手段により絶縁不良点
を標定する。
体と遮蔽との間に、その二次側出力電圧は低圧の範囲に
とどまり、かつ一次側巻線に対する巻線抵抗が10000MΩ
以上の値を保有する交流低電圧変圧器の出力を、その静
電容量が前記絶縁不良導体と遮蔽間の静電容量より一桁
以上大きい値を有するコンデンサを介して印加すること
により、絶縁不良点の抵抗を低位に保持した状態でフィ
ルタ回路を保有する微少電圧検出手段により絶縁不良点
を標定する。
また、この発明のケーブル絶縁不良点探知装置は、絶縁
不良導体と遮蔽との間に、その二次側出力電圧を印加す
る交流低電圧変圧器と、その際に出力側に直列に挿入さ
れるコンデンサと、前記遮蔽の測定側端および非測定側
端と絶縁不良導体との間に電位差を測定する、フィルタ
回路を付加した微少電圧検出手段とを有し、前記交流低
電圧変圧器の二次側出力電圧は低圧の範囲にとどまり、
かつ一次側巻線に対する絶縁抵抗が10000MΩ以上の値を
保有するものであり、前記コンデンサはその静電容量が
前記絶縁不良導体と前記遮蔽間の静電容量より一桁以上
大きい値を有するものであり、前記フィルタ回路は前記
交流低電圧変圧器の二次側出力電圧の印加により前記微
少電圧検出手段の機能が阻害されることのない減衰特性
を保有するものである。
不良導体と遮蔽との間に、その二次側出力電圧を印加す
る交流低電圧変圧器と、その際に出力側に直列に挿入さ
れるコンデンサと、前記遮蔽の測定側端および非測定側
端と絶縁不良導体との間に電位差を測定する、フィルタ
回路を付加した微少電圧検出手段とを有し、前記交流低
電圧変圧器の二次側出力電圧は低圧の範囲にとどまり、
かつ一次側巻線に対する絶縁抵抗が10000MΩ以上の値を
保有するものであり、前記コンデンサはその静電容量が
前記絶縁不良導体と前記遮蔽間の静電容量より一桁以上
大きい値を有するものであり、前記フィルタ回路は前記
交流低電圧変圧器の二次側出力電圧の印加により前記微
少電圧検出手段の機能が阻害されることのない減衰特性
を保有するものである。
（ホ）実施例 第１図はこの発明の一実施例の測定回路の構成図を示し
ている。第２図に示した測定端切換スイッチ７の切換端
子L0と端子Ｅとの間に第１図においては交流変圧器13の
二次側出力をコンデンサ14を介して接続される。交流変
圧器13の一次側は通常の商用周波数低圧電源に接続され
る。測定端切換スイッチ７の固定接点と端子Ｅとの間に
はチョークコイル11を介して前記微少電圧検出手段８、
迷走電流打消装置９、分流抵抗10が接続され、さらに微
少電圧検出手段８にはコンデンサ12が並列に接続されて
いる。このほかの構成は第２図の場合と同様であるの
で、第２図と同一の符号を付して説明は省略する。
ている。第２図に示した測定端切換スイッチ７の切換端
子L0と端子Ｅとの間に第１図においては交流変圧器13の
二次側出力をコンデンサ14を介して接続される。交流変
圧器13の一次側は通常の商用周波数低圧電源に接続され
る。測定端切換スイッチ７の固定接点と端子Ｅとの間に
はチョークコイル11を介して前記微少電圧検出手段８、
迷走電流打消装置９、分流抵抗10が接続され、さらに微
少電圧検出手段８にはコンデンサ12が並列に接続されて
いる。このほかの構成は第２図の場合と同様であるの
で、第２図と同一の符号を付して説明は省略する。
ここで、測定電源として直流電圧に重畳して交流電圧を
印加する理由は、発明者の次の知見に基づく。
印加する理由は、発明者の次の知見に基づく。
水トリー起因の絶縁不良ケーブルの絶縁抵抗値は可変
交流電圧下で一定直流電圧で測定すると、重畳交流電圧
の上昇に伴い大幅に減少する。第４図は重畳交流電圧に
対する絶縁抵抗値の変化の一例を示し、この例では直流
測定電圧を50Vとして重畳交流電圧を0Vから500Vまで変
化させた場合の絶縁抵抗を測定したものである。交流電
圧印加のない状態で直流電圧50Vで測定した場合は14000
MΩあった絶縁抵抗値が交流500V重畳下では400MΩに減
少している。
交流電圧下で一定直流電圧で測定すると、重畳交流電圧
の上昇に伴い大幅に減少する。第４図は重畳交流電圧に
対する絶縁抵抗値の変化の一例を示し、この例では直流
測定電圧を50Vとして重畳交流電圧を0Vから500Vまで変
化させた場合の絶縁抵抗を測定したものである。交流電
圧印加のない状態で直流電圧50Vで測定した場合は14000
MΩあった絶縁抵抗値が交流500V重畳下では400MΩに減
少している。
一定の交流電圧重畳下では直流電圧は０から100V程度
の範囲で変化しても絶縁抵抗値に大きな相異は無い。第
５図は直流測定電圧の変化に対する絶縁抵抗値の一例を
示している。第５図によると直流60V以下では直流測定
電圧を下げても絶縁抵抗値が上昇することは無く、ほぼ
一定としても良い。
の範囲で変化しても絶縁抵抗値に大きな相異は無い。第
５図は直流測定電圧の変化に対する絶縁抵抗値の一例を
示している。第５図によると直流60V以下では直流測定
電圧を下げても絶縁抵抗値が上昇することは無く、ほぼ
一定としても良い。
上述の理由により交流電圧を重畳して測定する本発明で
は、実用的に扱い易い低い直流測定電圧で、本来その電
圧下では極めて高い絶縁抵抗値を示すため感度不足で測
定不能であるか、測定できたとしても直流側電圧のケー
ブル遮蔽長さ方向の分配値の相異により標定値に大きい
誤差を与える問題を無くして測定することが可能にな
る。
は、実用的に扱い易い低い直流測定電圧で、本来その電
圧下では極めて高い絶縁抵抗値を示すため感度不足で測
定不能であるか、測定できたとしても直流側電圧のケー
ブル遮蔽長さ方向の分配値の相異により標定値に大きい
誤差を与える問題を無くして測定することが可能にな
る。
前記変圧器13の二次側出力の一端は切換端子L0、即ち遮
蔽１の測定側端10に接続したが、健全導体2Rの測定側端
R0（即ち、遮蔽１の非測定側端1100と等価である）、あ
るいは健全導体2Sの測定側端S0に接続されても良い。要
は遮蔽１と絶縁不良導体2Tとの間に適当な交流電圧が印
加されれば良い。ただし、測定端切換スイッチ７の固定
端子に接続することは切換時に交流電圧の印加が途切れ
るので安定な測定のために好ましく無い。
蔽１の測定側端10に接続したが、健全導体2Rの測定側端
R0（即ち、遮蔽１の非測定側端1100と等価である）、あ
るいは健全導体2Sの測定側端S0に接続されても良い。要
は遮蔽１と絶縁不良導体2Tとの間に適当な交流電圧が印
加されれば良い。ただし、測定端切換スイッチ７の固定
端子に接続することは切換時に交流電圧の印加が途切れ
るので安定な測定のために好ましく無い。
前記コンデンサ14は、低い直流抵抗を有する変圧器13の
二次巻線抵抗によって微少電圧検出手段８が側路されて
感度を失うことを防ぐためのものである。この静電容量
は交流出力電圧の低下が少ないように、即ち遮蔽１と絶
縁不良導体2Tの間の静電容量に比して少なくとも一桁以
上大きい値を有する必要がある。コンデンサ14は端子Ｅ
側、あるいは切換端子L0側のいずれに接続されても良
い。
二次巻線抵抗によって微少電圧検出手段８が側路されて
感度を失うことを防ぐためのものである。この静電容量
は交流出力電圧の低下が少ないように、即ち遮蔽１と絶
縁不良導体2Tの間の静電容量に比して少なくとも一桁以
上大きい値を有する必要がある。コンデンサ14は端子Ｅ
側、あるいは切換端子L0側のいずれに接続されても良
い。
前記チョークコイル11とコンデンサ12からなるフィルタ
回路が無い場合は、変圧器13の二次側電圧のほとんどが
微少電圧検出手段８に印加されることになり、該微少電
圧検出手段８が測定する直流電圧に比して大きすぎる交
流電圧の侵入のためその機能を失うことになる。従っ
て、微少電圧検出手段８の端子にはその性能を発揮する
のに影響のない程度にまで低減された微少交流電圧しか
重畳印加されないようにフィルタ回路を設計する必要が
ある。
回路が無い場合は、変圧器13の二次側電圧のほとんどが
微少電圧検出手段８に印加されることになり、該微少電
圧検出手段８が測定する直流電圧に比して大きすぎる交
流電圧の侵入のためその機能を失うことになる。従っ
て、微少電圧検出手段８の端子にはその性能を発揮する
のに影響のない程度にまで低減された微少交流電圧しか
重畳印加されないようにフィルタ回路を設計する必要が
ある。
前記交流変圧器13の二次側出力電圧の値は次のように決
定する。第４図の例を参照すると常時使用電圧即ち1900
Vの重畳下では直流50Vで僅か50MΩと測定される。しか
し、測定者の安全確保上1900Vの高い交流電圧は用いる
ことはできない。二次側出力電圧の最高電圧値としては
工場構内での最大使用低圧としての440Vに留どめ、測定
者は装置全体をマウントした絶縁シート上に乗って測定
装置と同一電位になることが感電事故を防ぐために重要
である。交流変圧器13の必要容量は、測定対象ケーブル
の静電容量値によって決定される。仮に、二次側容量を
25VAと設定すると、その電流容量は25/440＝0.0568
（Ａ）となり60Hz。440V下で0.343μＦの静電容量を充
電することができる。即ち、通常の高圧ケーブル約1Km
長に対し25VA程度の小形軽量の変圧器で足り、実用上都
合が良い。交流変圧器13の一次、二次間の絶縁抵抗性能
も重要である。通常、一次側低圧系統は一点で接地され
ているので、測定回路に好ましくない迷走電流パスを作
らないためには二次側巻線は一次側巻線（鉄芯その他金
属部分、シールド板を含む）に対し、変圧器の最高使用
温度で少なくとも10000MΩ以上の高い絶縁抵抗値を有す
ることが必要である。
定する。第４図の例を参照すると常時使用電圧即ち1900
Vの重畳下では直流50Vで僅か50MΩと測定される。しか
し、測定者の安全確保上1900Vの高い交流電圧は用いる
ことはできない。二次側出力電圧の最高電圧値としては
工場構内での最大使用低圧としての440Vに留どめ、測定
者は装置全体をマウントした絶縁シート上に乗って測定
装置と同一電位になることが感電事故を防ぐために重要
である。交流変圧器13の必要容量は、測定対象ケーブル
の静電容量値によって決定される。仮に、二次側容量を
25VAと設定すると、その電流容量は25/440＝0.0568
（Ａ）となり60Hz。440V下で0.343μＦの静電容量を充
電することができる。即ち、通常の高圧ケーブル約1Km
長に対し25VA程度の小形軽量の変圧器で足り、実用上都
合が良い。交流変圧器13の一次、二次間の絶縁抵抗性能
も重要である。通常、一次側低圧系統は一点で接地され
ているので、測定回路に好ましくない迷走電流パスを作
らないためには二次側巻線は一次側巻線（鉄芯その他金
属部分、シールド板を含む）に対し、変圧器の最高使用
温度で少なくとも10000MΩ以上の高い絶縁抵抗値を有す
ることが必要である。
次に、第１図に示す測定回路を使用して絶縁不良点を探
知する方法を説明する。まず、開閉器６を開放した状態
で交流変圧器13を稼動する。すると、交流出力電流の大
部分は遮蔽１と絶縁不良導体2Tとの間の静電容量を通じ
て流れる。なお、健全導体2Rまたは2Sと遮蔽１との間に
も静電容量は存在するものの、これらは全部同一電位に
なっているので電流は流れず、交流変圧器13の負荷とは
ならない。この交流電圧の印加により絶縁不良点の値は
測定できる値までシフトされて保持されるから、以後、
第２図で説明した従来の方法と全く同じ方法により絶縁
不良点の位置Ｘ％を標定できる。なお、微少電圧検出手
段８を誤動作させる交流電圧の侵入はフィルタ素子11、
12の組合せにより阻止され、このため微少電圧検出手段
８は微少直流分に対してのみ反応する。さらに、微少電
圧検出手段８により遮蔽長さのＸ％、（100−Ｘ）％に
比例する電圧を測定する時、直列に入る絶縁抵抗３の値
は電圧が変わっても一定であるから標定結果に誤差がは
いることは無い。
知する方法を説明する。まず、開閉器６を開放した状態
で交流変圧器13を稼動する。すると、交流出力電流の大
部分は遮蔽１と絶縁不良導体2Tとの間の静電容量を通じ
て流れる。なお、健全導体2Rまたは2Sと遮蔽１との間に
も静電容量は存在するものの、これらは全部同一電位に
なっているので電流は流れず、交流変圧器13の負荷とは
ならない。この交流電圧の印加により絶縁不良点の値は
測定できる値までシフトされて保持されるから、以後、
第２図で説明した従来の方法と全く同じ方法により絶縁
不良点の位置Ｘ％を標定できる。なお、微少電圧検出手
段８を誤動作させる交流電圧の侵入はフィルタ素子11、
12の組合せにより阻止され、このため微少電圧検出手段
８は微少直流分に対してのみ反応する。さらに、微少電
圧検出手段８により遮蔽長さのＸ％、（100−Ｘ）％に
比例する電圧を測定する時、直列に入る絶縁抵抗３の値
は電圧が変わっても一定であるから標定結果に誤差がは
いることは無い。
（ヘ）効果 この発明により、水トリー発生ケーブルの絶縁不良点探
知が容易に実現できる。しかも、従来では無理に直流電
圧を上昇させて測定可能とした場合には標定誤差が大に
なる欠点があったが、この発明により解消されて精度良
い測定が可能となる。このため絶縁不良部分だけのケー
ブルの部分的取替が可能になり、また絶縁不良部分と布
設環境との関連から絶縁不良発生原因の探求ができ、さ
らに新ケーブルの布設方法に対する示唆を得る等、実用
的に種々に利点を得ることができる。
知が容易に実現できる。しかも、従来では無理に直流電
圧を上昇させて測定可能とした場合には標定誤差が大に
なる欠点があったが、この発明により解消されて精度良
い測定が可能となる。このため絶縁不良部分だけのケー
ブルの部分的取替が可能になり、また絶縁不良部分と布
設環境との関連から絶縁不良発生原因の探求ができ、さ
らに新ケーブルの布設方法に対する示唆を得る等、実用
的に種々に利点を得ることができる。
第１図はこの発明の一実施例を示す測定回路構成図、第
２図は従来の測定回路構成図、第３図は絶縁不良ケーブ
ルへ印加される直流測定電圧と絶縁抵抗の変化の関係を
示す図、第４図は絶縁不良ケーブルに印加される重畳交
流電圧と絶縁抵抗の変化の関係を例示する図、第５図は
一定の重畳交流電圧の印加のもとで直流測定電圧と絶縁
抵抗の変化の関係を例示する図である。 １…遮蔽、2R、2S…健全導体（高圧導体）、 2T…絶縁不良導体（高圧導体）、 ３…絶縁不良点、５…直流低電圧電源、 ６…開閉器、７…測定端切換スイッチ、 ８…微少電圧検出手段、９…迷走電流打消装置、 11…チョークコイル、13…交流変圧器。
２図は従来の測定回路構成図、第３図は絶縁不良ケーブ
ルへ印加される直流測定電圧と絶縁抵抗の変化の関係を
示す図、第４図は絶縁不良ケーブルに印加される重畳交
流電圧と絶縁抵抗の変化の関係を例示する図、第５図は
一定の重畳交流電圧の印加のもとで直流測定電圧と絶縁
抵抗の変化の関係を例示する図である。 １…遮蔽、2R、2S…健全導体（高圧導体）、 2T…絶縁不良導体（高圧導体）、 ３…絶縁不良点、５…直流低電圧電源、 ６…開閉器、７…測定端切換スイッチ、 ８…微少電圧検出手段、９…迷走電流打消装置、 11…チョークコイル、13…交流変圧器。
Claims (2)
- 【請求項１】絶縁不良ケーブルの遮蔽を往線、健全導体
を帰線としループを構成し、その開放端に直流低電圧電
源を接続してループに通電し、前記遮蔽の測定側端およ
び非測定側端と絶縁不良導体の間の電位差の比により絶
縁不良点を探知する方法において、 前記絶縁不良導体と前記遮蔽との間に、その二次側出力
電圧は低圧の範囲にとどまり、かつ一次側巻線に対する
巻線抵抗が10000MΩ以上の値を保有する交流低電圧変圧
器の出力を、その静電容量が前記絶縁不良導体と遮蔽間
の静電容量より一桁以上大きい値を有するコンデンサを
介して印加することにより、絶縁不良点の抵抗を低位に
保持した状態でフィルタ回路を保有する微少電圧検出手
段により絶縁不良点を標定することを特徴とするケーブ
ル絶縁不良点探知方法。 - 【請求項２】絶縁不良ケーブルの遮蔽を往線、健全導体
を帰線としてループを構成し、その開放端に直流低電圧
電源を接続してループに通電し、前記遮蔽の測定側端及
び非測定側端と絶縁不良導体との間の電位差の比により
絶縁不良点を探知する方法に用いる装置であって、 前記絶縁不良導体と前記遮蔽との間に、その二次側出力
電圧を印加する交流低電圧変圧器と、その際に出力側に
直列に挿入されるコンデンサと、前記遮蔽の測定側端お
よび非測定側端と絶縁不良導体との間に電位差を測定す
る、フィルタ回路を付加した微少電圧検出手段とを有
し、 前記交流低電圧変圧器の二次側出力電圧は低圧の範囲に
とどまり、かつ一次側巻線に対する絶縁抵抗が10000MΩ
以上の値を保有するものであり、前記コンデンサはその
静電容量が前記絶縁不良導体と前記遮蔽間の静電容量よ
り一桁以上大きい値を有するものであり、前記フィルタ
回路は前記交流低電圧変圧器の二次側出力電圧の印加に
より前記微少電圧検出手段の機能が阻害されることのな
い減衰特性を保有するものであることを特徴とするケー
ブル絶縁不良点探知装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63227745A JPH0675090B2 (ja) | 1988-09-12 | 1988-09-12 | ケーブル絶縁不良点探知方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63227745A JPH0675090B2 (ja) | 1988-09-12 | 1988-09-12 | ケーブル絶縁不良点探知方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0275974A JPH0275974A (ja) | 1990-03-15 |
| JPH0675090B2 true JPH0675090B2 (ja) | 1994-09-21 |
Family
ID=16865707
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63227745A Expired - Fee Related JPH0675090B2 (ja) | 1988-09-12 | 1988-09-12 | ケーブル絶縁不良点探知方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0675090B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20050048406A (ko) * | 2003-11-19 | 2005-05-24 | 주식회사 노튼전기 | 선로의 길이 측정장치 |
| CN113899863B (zh) * | 2021-11-12 | 2023-06-20 | 国网湖南省电力有限公司 | 基于气体特征的高压电缆隐蔽缺陷检测方法及系统 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5856116B2 (ja) * | 1977-06-27 | 1983-12-13 | 住友電気工業株式会社 | 防食層絶縁不良点の活線下標定方法 |
| JPS5482691A (en) * | 1977-12-15 | 1979-07-02 | Sumitomo Electric Ind Ltd | Measurement of fault points in cable |
| JPS60169774A (ja) * | 1984-02-13 | 1985-09-03 | Sumitomo Electric Ind Ltd | ケ−ブル絶縁不良点の活線下標定方法 |
-
1988
- 1988-09-12 JP JP63227745A patent/JPH0675090B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0275974A (ja) | 1990-03-15 |
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