JPH0676304A - 光ピックアップ組付け調整装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 受光素子を含めた光ピックアップ部の組付け
精度を向上させることが可能な光ピックアップ組付け調
整装置を提供する。 【構成】 光源１と出射されたビームを集光する対物レ
ンズ５とを有する光ピックアップユニット１８と、対物
レンズ５により集光されたビームの収束点となる基準面
Ａに凹凸により基準段差機構が形成された光透過性の基
準面部材６とを備えた光ピックアップ組付け調整装置に
おいて、光ピックアップユニット１８からのビームが基
準面部材６を透過した光路上に基準面部材６上の集光ス
ポットＰを基準面Ａに対して合焦かつオントラック状態
に保持する基準面ずれ検出光学系１９を配設し、基準面
ずれ検出光学系１９から検出された信号に基づき対物レ
ンズ５のフォーカス調整及びトラック調整を行うスポッ
ト位置調整機構２０を設けた。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、顕微鏡試料台等に応用
して用いることが可能な光ピックアップ組付け調整装置
に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来における光ピックアップ組付け調整
装置の一例を図１０に基づいて説明する。レーザ光源１
から出射された光は、コリメートレンズ２により平行光
とされ、ビームスプリッタ３により反射され、立上げミ
ラー４により垂直に立上げられ、対物レンズ５により集
光されて光ディスク６の面上に光スポットが照射され
る。そのディスク面で反射された光は、対物レンズ５で
再び平行光となり、立上げミラー４を介してビームスプ
リッタ３をそのまま透過し、信号検出光学系７内の検出
レンズ８に導かれる。この検出レンズ８を透過した集束
光はビームスプリッタ９により２分割（透過又は反射）
される。この２分割された光のうち、反射された光はシ
リンダーレンズ１０により非点収差が与えられて４分割
受光素子１１に受光され、これにより得られたフォーカ
スエラー信号Ｆｏが制御機構１２を介して対物レンズア
クチュエータ１３に送られることにより、対物レンズ５
は周知の非点収差法によるフォーカシング制御が行われ
る。従って、これにより対物レンズ５の光軸方向（Ｚ軸
方向）への移動制御がなされる。一方、ビームスプリッ
タ９をそのまま透過した光は２分割受光素子１４に受光
され、これにより得られたトラックエラー信号Ｔｒが制
御機構１２を介して対物レンズアクチュエータ１３に送
られることにより、対物レンズ５はプッシュプル法によ
るトラッキング制御が行われる。従って、これにより対
物レンズ５のディスク半径方向（Ｘ軸方向）への移動制
御がなされる。

【０００３】この場合、フォーカシング制御とトラッキ
ング制御とが適正になされていれば、光ディスク６の記
録面上のトラックの中央部に光スポットが集光して照射
できるようになるが、受光素子の位置ずれなどがある
と、オフセットを生じ記録面上の光スポットは最適な状
態からずれてしまう。このような位置ずれをなくすため
には、ディスク面上で合焦、オントラック状態にあるビ
ームの戻り光を受光素子が受光した時、検出されるエラ
ー信号が０となるように組付けなければならない。特
に、フォーカスずれを検出する方法としては、非点収差
法、ナイフエッジ法、ビームサイズ法などいくつかの方
法があるが、フォーカスエラー信号、トラックエラー信
号検出用の受光素子を組付ける際には、いずれの方法に
おいてもディスク面上でスポットが合焦の時フォーカス
エラー信号が０となるように受光素子の位置調整を行う
必要がある。

【０００４】このような受光素子の位置調整を行うに
は、ディスク面に合焦、オントラック状態に集光された
ビームの反射光を用いることが望ましいが、受光素子を
組付ける際に、合焦、オントラック状態を維持し続ける
ことはなかなか困難なことである。従来の受光素子の組
付け調整方法としては、以下に述べるような各種の方法
がある。まず、第一の方法として、トラックエラー信号
検出用の受光素子を仮止めし、対物レンズ又はディスク
面をディスク半径方向に振動させた時に得られるトラッ
クエラー信号の最大、最小の差が最大となる位置（原理
的には、この位置で光スポットはディスク面に合焦）に
光ディスクと対物レンズとの間隔を調整し、フォーカス
エラー信号検出用の受光素子をフォーカスエラー信号が
０になるように組付ける方法がある。また、第二の方法
として、特開平３−２９２６３４号公報に「光学ヘッド
調整装置」なるタイトルで開示されているように、前述
した図１０に示したようなディスク面の代わりにハーフ
ミラーを用い、このハーフミラーを透過した光スポット
を２分割し、この分割された光スポットそれぞれを顕微
鏡の焦点の前後に配置したモニターにより観察し、この
モニター上のスポット面積の差分値からフォーカスエラ
ー信号検出用受光素子の組付け位置調整を行う方法があ
る。さらに、第三の方法として、特開平３−２９２６３
５号公報に「光学ヘッド調整方法」なるタイトルで開示
されているように、前述したディスク面やハーフミラー
を用いる代わりに、光ピックアップユニット内の対物レ
ンズを透過した光路上に基準反射光学系を配置し、これ
によりフォーカスエラー信号検出用受光素子の組付け位
置調整を行う方法がある。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】上述したような各種の
組付け調整方法のうち、第一の方法では、光ディスクを
振動させる場合、光ディスクと光ピックアップユニット
の対物レンズとの間は固定保持されていないため、受光
素子組付け調整時に光ピックアップユニットに多少の力
が加わることにより光スポットの焦点がディスク面から
ずれ、これにより受光素子の組付け精度は劣ることにな
る。また、アクチュエータにより対物レンズをディスク
半径方向に振動させる方法では、レンズ自体を振動させ
ているため焦点は安定せず、受光素子の組付け精度は劣
る。

【０００６】また、第二の方法では、顕微鏡焦点をハー
フミラー面に保持し続けることが困難である。図１１は
顕微鏡１４の構成例を示すものである。光ピックアップ
ユニット１５から出射したビームは光ディスク１６の面
を通過して顕微鏡用対物レンズ１７内に導かれ、約１μ
ｍの光スポットを観察するためには、顕微鏡自体の拡大
倍率を１０００倍以上にすることが適当である。このよ
うな一般的な例からもわかるように、本例において高倍
率の場合には、顕微鏡用対物レンズとハーフミラーとの
間隔をサブミクロン以下の精度で一定に保持し続けなけ
ればならないが、顕微鏡の鏡筒は重く長いため、サブミ
クロン以下の精度で保持し続けることはなかなか困難な
ことである。

【０００７】さらに、第三の方法では、基準反射光学系
内においてハーフミラー面、対物レンズとも固定されて
おり、受光素子組付け時に光ピックアップに多少の力が
加わることによる光スポットの焦点ずれがないため精度
の良い組付け調整を行えるが、しかし、この場合、対物
レンズアクチュエータが後付けとなるため、受光素子位
置調整を再度行わない限り、対物レンズアクチュエータ
の組付け精度が厳しいものとなる。

【０００８】

【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明で
は、光源とこの光源から出射されたビームを集光する対
物レンズとを有する光ピックアップユニットと、前記対
物レンズにより集光されたビームの収束点となる基準面
に凹凸により基準段差機構が形成された光透過性の基準
面部材とを備えた光ピックアップ組付け調整装置におい
て、前記光ピックアップユニットからのビームが前記基
準面部材を透過した光路上に前記基準面部材上の集光ス
ポットを前記基準面に対して合焦かつオントラック状態
に保持する基準面ずれ検出光学系を配設し、前記基準面
ずれ検出光学系から検出された信号に基づいて前記対物
レンズのフォーカス調整及びトラック調整を行うスポッ
ト位置調整機構を設けた。

【０００９】請求項２記載の発明では、光源とこの光源
から出射されたビームを集光する対物レンズとを有する
光ピックアップユニットと、前記対物レンズにより集光
されたビームの収束点となる基準面に凹凸により基準段
差機構が形成された光透過性の基準面部材とを備えた光
ピックアップ組付け調整装置において、前記光ピックア
ップユニットからのビームが前記基準面部材を透過した
光路上に前記基準面部材上の集光スポットを前記基準面
に対して合焦かつオントラック状態に保持する基準面ず
れ検出光学系を配設し、この基準面ずれ検出光学系から
検出された信号に基づいて前記光ピックアップユニット
全体をフォーカス方向及びトラッキング方向に移動させ
前記基準面に対する集光スポットの位置調整を行うスポ
ット位置調整機構を設けた。

【００１０】請求項３記載の発明では、光源とこの光源
から出射されたビームを集光する対物レンズとを有する
光ピックアップユニットと、前記対物レンズにより集光
されたビームの収束点となる基準面に凹凸により基準段
差機構が形成された光透過性の基準面部材と、照明用光
源とこの照明用光源により照明された前記基準段差機構
及び前記基準面部材を透過した前記光ピックアップユニ
ットからの集光スポット形状を観察するための顕微鏡用
対物レンズとを有する顕微鏡と、前記顕微鏡用対物レン
ズから分岐されたビームを観察するモニタとを備えた光
ピックアップ組付け調整装置において、前記顕微鏡用対
物レンズと前記基準面部材との間隔を前記顕微鏡に対し
て合焦となる位置に調整し固定保持する基準面位置調整
固定保持手段を設けた。

【００１１】請求項４記載の発明では、請求項３記載の
発明において、顕微鏡内に基準面部材を透過したビーム
の一部を分離させる光束分離部材を配置し、この光束分
離部材により分離されたビームの光路上に前記基準面部
材上の集光スポットを前記基準面に対して合焦かつオン
トラック状態に保持する基準面ずれ検出光学系を配設
し、前記基準面ずれ検出光学系から検出された信号に基
づいて対物レンズのフォーカス調整及びトラック調整を
行うスポット位置調整機構を設けた。

【００１２】請求項５記載の発明では、請求項３記載の
発明において、顕微鏡内に基準面部材を透過したビーム
の一部を分離させる光束分離部材を配置し、この光束分
離部材により分離されたビームの光路上に前記基準面部
材上の集光スポットを基準面に対して合焦かつオントラ
ック状態に保持する基準面ずれ検出光学系を配設し、こ
の基準面ずれ検出光学系から検出された信号に基づいて
光ピックアップユニット全体をフォーカス方向及びトラ
ッキング方向に移動させ前記基準面に対する集光スポッ
トの位置調整を行うスポット位置調整機構を設けた。

【００１３】請求項６記載の発明では、請求項１記載の
発明において、基準面部材は、その基準面部材を透過し
た光に対してその回折光の光強度が最大となる溝深さの
段差形状を有するようにした。

【００１４】

【作用】請求項１記載の発明においては、受光素子組付
け時に多少の振動が光ピックアップに加わっても対物レ
ンズを移動調整することにより光スポットの焦点をディ
スク面上に保持できるため、受光素子の組付け精度を高
めることが可能となる。

【００１５】請求項２記載の発明においては、光ピック
アップユニット全体を移動制御することによって、対物
レンズを基準位置に固定した状態で受光素子の組付けを
行えるため、対物レンズシフトに伴うオフセットが発生
せず、受光素子の組付け精度を向上せることが可能とな
る。

【００１６】請求項３記載の発明においては、ディスク
面と顕微鏡対物レンズとの間隔を一定に保つことができ
るため、経時的な顕微鏡フォーカスずれが生じず、顕微
鏡を用いた光ピックアップの組付けや調整の精度の向
上、さらには、評価装置の精度の向上を図ることが可能
となる。

【００１７】請求項４記載の発明においては、顕微鏡用
対物レンズを透過した光を用いて対物レンズのフォーカ
ス及びトラッキング用のアクチュエータにフィードバッ
クしてサーボをかけているため、常にディスク面上に光
スポットの焦点を結ばせ、オントラック状態に保持させ
ることができ、これにより、受光素子の組付け時に多少
の振動が光ピックアップに加わっても光スポットの焦点
をディスク面上に保持し続けることができるため、受光
素子の組付け調整を精度良く行うことが可能となる。

【００１８】請求項５記載の発明においては、光ピック
アップユニット全体を移動制御することによって、対物
レンズを基準位置に固定した状態で受光素子の組付けが
行えるため、対物レンズシフトに伴うオフセットが発生
せず、受光素子の組付け精度を向上させることが可能と
なり、しかも、顕微鏡を用いていることよりディスク面
での光スポットの状態を観察しながら光ピックアップユ
ニットの組付け調整を行うことが可能となる。

【００１９】請求項６記載の発明においては、基準面部
材を透過した光において、１次回折光の光強度を増大さ
せることができるため、トラッキング制御を一段と精度
良く行うことができ、これにより受光素子の組付け精度
を向上させることが可能となる。

【００２０】

【実施例】請求項１記載の発明の一実施例を図１に基づ
いて説明する。なお、従来技術で述べた光ピックアップ
組付け調整装置（図１０参照）の構成と同一部分につい
ての説明は省略し、その同一部分については同一符号を
用いる。

【００２１】光ピックアップユニット１８内の対物レン
ズ５から外部に出射された光は、基準面Ａ上に配置され
た基準面部材としての光ディスク６のディスク面上で集
光スポットＰを形成する。この光ディスク６を透過した
光路上には、集光スポットＰを前記基準面Ａに対して合
焦かつオントラック状態に保持する基準面ずれ検出光学
系１９が配置されている。この基準面ずれ検出光学系１
９には、対物レンズ５のフォーカス調整及びトラック調
整を行うスポット位置調整機構としての制御機構２０が
接続されている。

【００２２】ここで、基準面ずれ検出光学系１９につい
て説明する。光ピックアップユニット１８内の対物レン
ズ５を介して出射された光は、光ディスク６を透過した
後、基準面ずれ検出光学系１９内のレンズ２１に導かれ
ることによりコリメートされ、このコリメートされた光
はミラー２２により反射され、検出レンズ２３により集
束傾向が与えられ、ビームスプリッタ２４により２分割
される。２分割された光束のうちの透過光はシリンダー
レンズ２５により非点収差を与えられ、４分割受光素子
２６により受光される。これにより、その４分割受光素
子２６から得られたフォーカスエラー信号Ｆｏは制御機
構２０に送られることにより、光ピックアップユニット
１８内の対物レンズアクチュエータ１３を駆動制御し、
対物レンズ５をＺ軸方向に移動して非点収差法によるフ
ォーカシング制御を行い、これによりディスク面上に集
光スポットを保持する。なお、フォーカス制御法は、非
点収差法に限らず、ナイフエッジ法、ビームサイズ法な
どの制御方法でもよい。

【００２３】一方、ビームスプリッタ２４により反射さ
れた光は２分割受光素子２７に受光される。この２分割
受光素子２７から得られたトラックエラー信号Ｔｒは、
制御機構２０に送られることにより、対物レンズアクチ
ュエータ１３を駆動制御して対物レンズ５をＸ軸方向に
移動させ、プッシュプル法によるトラッキング制御を行
い、これによりディスク面上に集光した光スポットをオ
ントラック状態に保持する。

【００２４】上述したように、基準面ずれ検出光学系１
９を設けたことにより、受光素子組付け時に多岐用の振
動が光ピックアップユニット１８に加わっても光スポッ
トの焦点がディスク面上に保持されているため、受光素
子の組付け調整を精度良く行うことができる。

【００２５】次に、請求項３記載の発明の一実施例を図
２〜図６に基づいて説明する。なお、請求項１記載の発
明と同一部分についての説明は省略し、その同一部分に
ついては同一符号を用いる。

【００２６】光ピックアップユニット１８内の対物レン
ズ５を透過した光の光路上には、顕微鏡２８が配置され
ている。この顕微鏡２８内には、基準面Ａに位置する基
準面部材２９（前述した光ディスク６に相当する）と、
顕微鏡用対物レンズ３０と、照明用光源３１と、ハーフ
ミラー３２とが設けられている。前記基準面部材２９と
前記顕微鏡用対物レンズ３０とは、基準面位置調整固定
保持手段としての固定保持部材３３により固定保持され
ている。また、前記ハーフミラー３２により顕微鏡２８
の外部に出射された光の光路上には、分岐されたビーム
形状を観察するモニタ３４が配置され、このモニタ３４
にはＣＲＴ３５が接続されている。

【００２７】このような構成において、顕微鏡２８内に
固定保持部材３３を設けた理由について述べる。顕微鏡
２８を用いディスク面上の光スポットを観察しながら受
光素子などの組付け調整を行う時、顕微鏡２８の焦点が
ディスク面に合っていることが重要であり、また、組付
け調整中にその状態を保持することが必要である。前述
した図１１の顕微鏡１４の構成では、顕微鏡１４の焦点
をディスク面に合わせる手段として、顕微鏡１４の鏡筒
部分全体、又は、ディスク面を図示しないモータにより
上下させている。しかし、鏡筒部分は重く長いため、振
動などによりディスク面と顕微鏡用対物レンズ３０との
間隔をサブミクロン以下に制御することは難しく、しか
も、機械的なモータを用いているため、バッククラッシ
ュが存在し、繰返し合焦動作を行っても常に合焦状態を
維持することは難しい。

【００２８】そこで、本実施例では、ディスク面フォー
カスに対してサーボをかけ合焦状態を維持するのではな
く、基準面部材２９と顕微鏡用対物レンズ３０との間の
距離を合焦状態になる位置で固定保持部材３３で機械的
に保持するようにしたものである。従って、このような
ことから、基準面部材２９と顕微鏡用対物レンズ３０と
の間隔が一定に保たれることになるため、長時間顕微鏡
２８の焦点を基準面上に固定することが可能となり、こ
れにより、経時的な顕微鏡フォーカスずれが生じず、顕
微鏡１４を用いた従来の光ピックアップ組付け、調整、
さらには、評価装置の精度を向上させることができる。

【００２９】次に、固定保持部材３３の具体例について
説明する。まず、図３は、第一の具体例を示す図３に基
づいて述べる。固定保持部材３３は、顕微鏡用対物レン
ズ３０の外径を内径とする円筒形状からなり、円筒の側
面にて顕微鏡用対物レンズ３０をねじ３６により固定
し、円筒の底面には基準面部材２９が貼り付けられてい
る。この場合、顕微鏡用対物レンズ３０はディスクの記
録面に焦点があった位置でねじ止めされている。

【００３０】図４は、第二の具体例を示すものである。
固定保持部材３３は、顕微鏡用対物レンズ３０の外径を
内径とする円筒に片持ち状態で支持される試料台（ディ
スク片を貼付る場所）よりなる。この場合にも、ディス
クの記録面に焦点があった位置でねじ３６により止め
る。さらに、ここでは、支持部分に隙間３７を開け、そ
の隙間３７を図示しないピエゾなどで押すことにより、
レンズ面と底面との間の間隔を微小量変化させ、これに
よりフォーカスの微小調整を行うことができる。

【００３１】図５は、第三の具体例を示すものである。
固定保持部材３３は、顕微鏡用対物レンズ３０の外径を
内径とする円筒に１軸の可動ステージ３８を顕微鏡光軸
方向に取付けた構成からなっている。この場合、可動ス
テージ３８を精密な図示しないマイクロメータなどで微
動させることにより、フォーカスの微小調整を行うこと
ができる。

【００３２】図６は、第四の具体例を示すものである。
これまでの３つの具体例では、固定保持部材３３は顕微
鏡用対物レンズ３０の外周面に固定保持するものであっ
たが、ここでは、そのような取付け部分を顕微鏡用対物
レンズ３０に限定せず、顕微鏡２８の本体部分に直接取
付けるような構成としたものである。従って、上述した
ように、固定保持部材３３を設けたことにより、各種の
構成をとることができ、その応用範囲を一段と広げるこ
とができるようになる。

【００３３】次に、請求項４記載の発明の一実施例を図
７に基づいて説明する。本実施例は、請求項３記載の発
明の装置（図２参照）に、請求項１記載の発明で述べた
構成要件（図１参照）を付加させたものである。すなわ
ち、顕微鏡２８内の顕微鏡用対物レンズ３０とハーフミ
ラー３２との間の光路中には、光束分離部材としてのハ
ーフミラー３９が配置されている。このハーフミラー３
９により分岐された光路中には、基準面ずれ検出光学系
１９が設けられ、この基準面ずれ検出光学系１９は、ス
ポット位置調整機構としての制御機構２０に接続されて
いる。

【００３４】このような構成において、基準面ずれ検出
光学系１９は、請求項１記載の発明の場合と同様な動作
を行い、フォーカスエラー信号Ｆｏと、トラックエラー
信号Ｔｒとが検出される。フォーカスエラー信号Ｆｏは
制御機構２０に送られることにより、光ピックアップユ
ニット１８内の対物レンズアクチュエータ１３を駆動制
御して対物レンズ５をＺ軸方向に移動させ非点収差法に
よるフォーカシング制御を行い、これにより基準面部材
２９上に集光スポットを位置させる。一方、トラックエ
ラー信号Ｔｒは制御機構２０に送られることにより、対
物レンズアクチュエータ１３を駆動制御して対物レンズ
５をＸ軸方向に移動させプッシュプル法によるトラッキ
ング制御を行い、基準面部材２９の面上に集光した光ス
ポットをオントラック状態で保持する。

【００３５】従って、このようなことから、請求項１，
３記載の発明と同様な効果、すなわち、顕微鏡２８を用
いた従来の光ピックアップの組付け、調整、評価装置の
精度を向上させることができると共に、基準面部材２９
の透過光を用いてフォーカスサーボ、トラッキングサー
ボをかけて、集光スポットを常にディスク面上に焦点を
結びオントラック状態に保持させるため、受光素子組付
け時に多少の振動が光ピックアップユニット１８に加わ
っても、光スポットの焦点を基準面部材２９面上に保持
させ続けることができ、これにより受光素子の組付けを
精度良く行うことができる。

【００３６】次に、請求項６記載の発明の一実施例につ
いて述べる。本実施例では、これまで述べてきた基準面
部材２９の形状を変えたものである。すなわち、基準面
部材２９は、その基準面部材２９を透過した光に対して
その回折光の光強度が最大となる溝深さの段差形状を有
するように形成したものである。

【００３７】このように回折光の光強度が最大となる溝
深さの段差形状に形成した理由について述べる。光ディ
スクのトラック制御に対しては、プッシュプル法を用い
るのが一般的である。この場合、ディスク溝による光ス
ポットの１次回折光が重要な役割を担っている。一般の
ディスクは、反射光に対して１次回折光が最大になるよ
うに溝深さが設計されている。例として、光ディスクの
トラック溝の深さは、記録面による１次反射光の光強度
が最大となるように約λ／８（λ：半導体レーザ波長）
となっている。従って、ディスク透過光を用いた場合、
透過回折光の強度は弱く、プシュプル法では精度良くト
ラック制御を行うことができない。そこで、本実施例で
は、透過回折光の光強度が強く現れるように設計された
溝深さを有する基準面部材２９を用いることによって、
透過光おいて、１次回折光の光強度が増大することにな
り、これによりトラッキング制御を一段と精度良く行う
ことができ、しかも、受光素子の組付け精度を向上させ
ることができる。

【００３８】次に、請求項２記載の発明の一実施例を図
８に基づいて説明する。なお、請求項１記載の発明（図
１参照）と同一部分についての説明は省略し、その同一
部分については同一符号を用いる。

【００３９】前述した請求項１記載の発明では、基準面
ずれ検出光学系１９を制御機構２０に接続し対物レンズ
５を駆動制御していたが、本実施例では、その光学系を
スポット位置調整機構としての光ピックアップ制御機構
４０に接続し、これにより光ピックアップユニット１８
全体を駆動制御させるようにしたものである。

【００４０】すなわち、４分割受光素子２６から得られ
たフォーカスエラー信号Ｆｏ、及び、２分割受光素子２
７から得られたトラックエラー信号Ｔｒを光ピックアッ
プ制御機構４０に送ることにより、光ピックアップ制御
機構４０は、図示しないアクチュエータを駆動して光ピ
ックアップユニット１８全体をフォーカス方向（Ｚ方
向）、及び、トラッキング方向（Ｘ方向）に移動制御さ
せる。これにより、光ピックアップユニット１８から出
射された光スポットを常に合焦点、オントラック状態に
保持させることができる。なお、この光ピックアップユ
ニット１８全体の移動時には、対物レンズ５は所定の基
準位置に固定した方が効果がよい。

【００４１】前述した請求項１記載の発明では、対物レ
ンズアクチュエータ１３には基準位置Ａがあり、その基
準位置Ａから対物レンズ５がシフトすると、それに伴い
受光位置でビームがシフトし、フォーカスエラー信号Ｆ
ｏ、トラックエラー信号Ｔｒにオフセットが発生する可
能性があったが、本実施例のように、光ピックアップユ
ニット１８全体を移動制御することによって、対物レン
ズ５を基準位置Ａに固定した状態で受光素子の組付けを
行えるため、対物レンズシフトに伴うオフセットが発生
せず、受光素子の組付け精度を向上させることができ
る。また、応答速度においては、請求項１の発明の対物
レンズ５を制御する方法に比べてやや劣るが、本実施例
のように対物レンズ５を動かさない分だけオフセットが
発生しにくいという有利な点がある。

【００４２】次に、請求項５記載の発明の一実施例を図
９に基づいて説明する。なお、請求項２（図８参照）及
び請求項３（図７参照）記載の発明と同一部分について
の説明は省略し、その同一部分については同一符号を用
いる。

【００４３】前述した請求項３記載の発明では、基準面
ずれ検出光学系１９を制御機構２０に接続し対物レンズ
５を駆動制御していたが、本実施例では、その光学系を
スポット位置調整機構としての光ピックアップ制御機構
４０に接続し、これにより光ピックアップユニット１８
全体を駆動制御させるようにしたものである。

【００４４】これにより、請求項２記載の発明と同様
に、光ピックアップユニット１８全体をフォーカス方
向、トラッキング方向に移動制御させ、光ピックアップ
ユニット１８からの光スポットを常に合焦点、オントラ
ック状態に保持させることができる。

【００４５】上述したように、顕微鏡２８を用いている
ことよりディスク面での光スポットの状態を観察しなが
ら光ピックアップユニット１８の組付け調整を行えると
共に、光ピックアップユニット１８全体を移動制御する
ことによって、対物レンズ５を基準位置Ａに固定した状
態で受光素子の組付けが行えるため、対物レンズシフト
に伴うオフセットが発生せず、受光素子の組付け精度を
向上させることができる。

【００４６】

【発明の効果】請求項１記載の発明は、光源とこの光源
から出射されたビームを集光する対物レンズとを有する
光ピックアップユニットと、前記対物レンズにより集光
されたビームの収束点となる基準面に凹凸により基準段
差機構が形成された光透過性の基準面部材とを備えた光
ピックアップ組付け調整装置において、前記光ピックア
ップユニットからのビームが前記基準面部材を透過した
光路上に前記基準面部材上の集光スポットを前記基準面
に対して合焦かつオントラック状態に保持する基準面ず
れ検出光学系を配設し、前記基準面ずれ検出光学系から
検出された信号に基づいて前記対物レンズのフォーカス
調整及びトラック調整を行うスポット位置調整機構を設
けたので、受光素子組付け時に多少の振動が光ピックア
ップに加わっても光スポットの焦点をディスク面上に保
持でき、これにより受光素子の組付けを精度良く行うこ
とができるものである。

【００４７】請求項２記載の発明は、光源とこの光源か
ら出射されたビームを集光する対物レンズとを有する光
ピックアップユニットと、前記対物レンズにより集光さ
れたビームの収束点となる基準面に凹凸により基準段差
機構が形成された光透過性の基準面部材とを備えた光ピ
ックアップ組付け調整装置において、前記光ピックアッ
プユニットからのビームが前記基準面部材を透過した光
路上に前記基準面部材上の集光スポットを前記基準面に
対して合焦かつオントラック状態に保持する基準面ずれ
検出光学系を配設し、この基準面ずれ検出光学系から検
出された信号に基づいて前記光ピックアップユニット全
体をフォーカス方向及びトラッキング方向に移動させ前
記基準面に対する集光スポットの位置調整を行うスポッ
ト位置調整機構を設けたので、このように光ピックアッ
プユニット全体を移動制御することにより、対物レンズ
を基準位置に固定した状態で受光素子の組付けを行え、
これにより、対物レンズシフトに伴うオフセットが発生
せず、受光素子の組付け精度を向上させることができる
ものである。

【００４８】請求項３記載の発明は、光源とこの光源か
ら出射されたビームを集光する対物レンズとを有する光
ピックアップユニットと、前記対物レンズにより集光さ
れたビームの収束点となる基準面に凹凸により基準段差
機構が形成された光透過性の基準面部材と、照明用光源
とこの照明用光源により照明された前記基準段差機構及
び前記基準面部材を透過した前記光ピックアップユニッ
トからの集光スポット形状を観察するための顕微鏡用対
物レンズとを有する顕微鏡と、前記顕微鏡用対物レンズ
から分岐されたビームを観察するモニタとを備えた光ピ
ックアップ組付け調整装置において、前記顕微鏡用対物
レンズと前記基準面部材との間隔を前記顕微鏡に対して
合焦となる位置に調整し固定保持する基準面位置調整固
定保持手段を設けたので、ディスク面と顕微鏡対物レン
ズとの間隔を一定に保つことができるため、経時的な顕
微鏡フォーカスずれが生じず、顕微鏡を用いた光ピック
アップの組付けや調整の精度の向上、さらには、評価装
置の精度の向上を図ることができるものである。

【００４９】請求項４記載の発明は、請求項３記載の発
明において、顕微鏡内に基準面部材を透過したビームの
一部を分離させる光束分離部材を配置し、この光束分離
部材により分離されたビームの光路上に前記基準面部材
上の集光スポットを前記基準面に対して合焦かつオント
ラック状態に保持する基準面ずれ検出光学系を配設し、
前記基準面ずれ検出光学系から検出された信号に基づい
て対物レンズのフォーカス調整及びトラック調整を行う
スポット位置調整機構を設けたので、顕微鏡用対物レン
ズを透過した光を用いてフォーカス用及びトラッキング
用のアクチュエータにフィードバックしてサーボをかけ
ているため、常にディスク面上に光スポットの焦点を結
ばせ、オントラック状態に保持させることができ、これ
により、受光素子の組付け時に多少の振動が光ピックア
ップに加わっても光スポットの焦点をディスク面上に保
持し続けることができるため、受光素子の組付け調整を
精度良く行うことができるものである。

【００５０】請求項５記載の発明は、請求項３記載の発
明において、顕微鏡内に基準面部材を透過したビームの
一部を分離させる光束分離部材を配置し、この光束分離
部材により分離されたビームの光路上に前記基準面部材
上の集光スポットを基準面に対して合焦かつオントラッ
ク状態に保持する基準面ずれ検出光学系を配設し、この
基準面ずれ検出光学系から検出された信号に基づいて光
ピックアップユニット全体をフォーカス方向及びトラッ
キング方向に移動させ前記基準面に対する集光スポット
の位置調整を行うスポット位置調整機構を設けたので、
このように光ピックアップユニット全体を移動制御する
ことにより、対物レンズを基準位置に固定した状態で受
光素子の組付けが行え、これにより対物レンズシフトに
伴うオフセットが発生せず、受光素子の組付け精度を向
上させることができ、しかも、顕微鏡を用いていること
よりディスク面での光スポットの状態を観察しながら光
ピックアップユニットの組付け調整を行うことができる
ものである。

【００５１】請求項６記載の発明は、請求項１記載の発
明において、基準面部材は、その基準面部材を透過した
光に対してその回折光の光強度が最大となる溝深さの段
差形状を有するようにしたので、基準面部材を透過した
光において、１次回折光の光強度を増大させ、トラッキ
ング制御を一段と精度良く行うことができ、これによ
り、受光素子の組付け精度をさらに一段と向上させるこ
とができるものである。

【図面の簡単な説明】

【図１】請求項１記載の発明の一実施例を示す構成図で
ある。

【図２】請求項３記載の発明の一実施例を示す構成図で
ある。

【図３】請求項３記載の発明の第一の具体例を示す構成
図である。

【図４】請求項３記載の発明の第二の具体例を示す構成
図である。

【図５】請求項３記載の発明の第三の具体例を示す構成
図である。

【図６】請求項３記載の発明の第四の具体例を示す構成
図である。

【図７】請求項４記載の発明の一実施例を示す構成図で
ある。

【図８】請求項２記載の発明の一実施例を示す構成図で
ある。

【図９】請求項３記載の発明の一実施例を示す構成図で
ある。

【図１０】従来の光ピックアップ組付け調整装置を示す
構成図である。

【図１１】従来の顕微鏡の構成例を示す側面図である。

【符号の説明】

１ 光源 ５ 対物レンズ ６ 基準面部材 １８ 光ピックアップユニット １９ 基準面ずれ検出光学系 ２０ スポット位置調整機構 ２８ 顕微鏡 ２９ 基準面部材 ３０ 顕微鏡対物レンズ ３１ 照明用光源 ３３ 基準面位置調整固定保持手段 ３９ 光束分離部材 ４０ スポット位置調整機構

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光源とこの光源から出射されたビームを
   集光する対物レンズとを有する光ピックアップユニット
   と、前記対物レンズにより集光されたビームの収束点と
   なる基準面に凹凸により基準段差機構が形成された光透
   過性の基準面部材とを備えた光ピックアップ組付け調整
   装置において、前記光ピックアップユニットからのビー
   ムが前記基準面部材を透過した光路上に前記基準面部材
   上の集光スポットを前記基準面に対して合焦かつオント
   ラック状態に保持する基準面ずれ検出光学系を配設し、
   この基準面ずれ検出光学系から検出された信号に基づい
   て前記対物レンズのフォーカス調整及びトラック調整を
   行うスポット位置調整機構を設けたことを特徴とする光
   ピックアップ組付け調整装置。
2. 【請求項２】 光源とこの光源から出射されたビームを
   集光する対物レンズとを有する光ピックアップユニット
   と、前記対物レンズにより集光されたビームの収束点と
   なる基準面に凹凸により基準段差機構が形成された光透
   過性の基準面部材とを備えた光ピックアップ組付け調整
   装置において、前記光ピックアップユニットからのビー
   ムが前記基準面部材を透過した光路上に前記基準面部材
   上の集光スポットを前記基準面に対して合焦かつオント
   ラック状態に保持する基準面ずれ検出光学系を配設し、
   この基準面ずれ検出光学系から検出された信号に基づい
   て前記光ピックアップユニット全体をフォーカス方向及
   びトラッキング方向に移動させ前記基準面に対する集光
   スポットの位置調整を行うスポット位置調整機構を設け
   たことを特徴とする光ピックアップ組付け調整装置。
3. 【請求項３】 光源とこの光源から出射されたビームを
   集光する対物レンズとを有する光ピックアップユニット
   と、前記対物レンズにより集光されたビームの収束点と
   なる基準面に凹凸により基準段差機構が形成された光透
   過性の基準面部材と、照明用光源とこの照明用光源によ
   り照明された前記基準段差機構及び前記基準面部材を透
   過した前記光ピックアップユニットからの集光スポット
   形状を観察するための顕微鏡用対物レンズとを有する顕
   微鏡と、前記顕微鏡用対物レンズから分岐されたビーム
   を観察するモニタとを備えた光ピックアップ組付け調整
   装置において、前記顕微鏡用対物レンズと前記基準面部
   材との間隔を前記顕微鏡に対して合焦となる位置に調整
   し固定保持する基準面位置調整固定保持手段を設けたこ
   とを特徴とする光ピックアップ組付け調整装置。
4. 【請求項４】 顕微鏡内に基準面部材を透過したビーム
   の一部を分離させる光束分離部材を配置し、この光束分
   離部材により分離されたビームの光路上に前記基準面部
   材上の集光スポットを基準面に対して合焦かつオントラ
   ック状態に保持する基準面ずれ検出光学系を配設し、こ
   の基準面ずれ検出光学系から検出された信号に基づいて
   対物レンズのフォーカス調整及びトラック調整を行うス
   ポット位置調整機構を設けたことを特徴とする請求項３
   記載の光ピックアップ組付け調整装置。
5. 【請求項５】 顕微鏡内に基準面部材を透過したビーム
   の一部を分離させる光束分離部材を配置し、この光束分
   離部材により分離されたビームの光路上に前記基準面部
   材上の集光スポットを基準面に対して合焦かつオントラ
   ック状態に保持する基準面ずれ検出光学系を配設し、こ
   の基準面ずれ検出光学系から検出された信号に基づいて
   光ピックアップユニット全体をフォーカス方向及びトラ
   ッキング方向に移動させ前記基準面に対する集光スポッ
   トの位置調整を行うスポット位置調整機構を設けたこと
   を特徴とする請求項３記載の光ピックアップ組付け調整
   装置。
6. 【請求項６】 基準面部材は、その基準面部材を透過し
   た光に対してその回折光の光強度が最大となる溝深さの
   段差形状を有することを特徴とする請求項１記載の光ピ
   ックアップ組付け調整装置。