JPH0695002A - 光ピックアップ組付調整装置 - Google Patents

光ピックアップ組付調整装置

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JPH0695002A
JPH0695002A JP23916092A JP23916092A JPH0695002A JP H0695002 A JPH0695002 A JP H0695002A JP 23916092 A JP23916092 A JP 23916092A JP 23916092 A JP23916092 A JP 23916092A JP H0695002 A JPH0695002 A JP H0695002A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
objective lens
microscope
reference surface
optical pickup
microscope objective
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Pending
Application number
JP23916092A
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English (en)
Inventor
Hiroshi Akiyama
洋 秋山
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Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 顕微鏡のディスク面フォーカスにサーボ機能
を付加することにより、使い勝手と組付けの信頼性を向
上させることが可能な光ピックアップ組付調整装置。 【構成】 対物レンズ5により集光されたビームの収束
点となる基準面Pに凹凸により基準段差形状が形成され
た光透過性の基準面部材25と、基準面部材25を透過
した光ピックアップ21からの集光スポット及び照明用
光源29により照明された基準段差形状を観察するため
の顕微鏡用対物レンズ27と、この顕微鏡用対物レンズ
27から分岐されたビームを観察するモニタ31と、顕
微鏡用対物レンズ27と基準面部材25とを一体として
保持する固定部材26と、この固定部材26に顕微鏡用
対物レンズ27と基準面部材25との間隔を顕微鏡光軸
方向に可変することが可能な基準面可変機構36とを設
けた。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、顕微鏡試料台等に応用
して用いることが可能な光ピックアップ組付調整装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】従来、顕微鏡を用いた光ピックアップの
組付調整装置としては、例えば、特開平2−29494
4号公報及び特開平3−292634号公報に、それぞ
れ「光学ヘッド調整装置」なるタイトルで開示されてい
るものがある。そこで、今、従来における光ピックアッ
プの組付調整装置の一例を図4に基づいて説明する。レ
ーザ光源1から出射された光は、コリメートレンズ2に
より平行光とされ、ビームスプリッタ3により反射さ
れ、立上げミラー4により垂直に立上げられ、対物レン
ズ5により集光されてハーフミラー15の面上に光スポ
ットが照射される。そして、そのハーフミラー面で反射
された光は、対物レンズ5で再び平行光となり、立上げ
ミラー4を介して偏光ビームスプリッタ5をそのまま透
過し、信号検出光学系7内の検出レンズ8に導かれる。
この検出レンズ8を透過した集束光はビームスプリッタ
9により2分割(透過又は反射)される。この2分割さ
れた光のうち、反射された光はシリンダーレンズ10に
より非点収差が与えられて4分割受光素子11に受光さ
れ、この受光により得られた出力信号が制御機構12を
介して対物レンズアクチュエータ13に送られることに
より、対物レンズ5は周知の非点収差法によるフォーカ
シング制御が行われ、これにより対物レンズ5の光軸方
向(Z軸方向)への移動制御がなされる。また、他方の
ビームスプリッタ9をそのまま透過した光は2分割受光
素子14に受光され、その出力信号が制御機構12を介
して対物レンズアクチュエータ13に送られることによ
り、対物レンズ5はプッシュプル法によるトラッキング
制御が行われ、これにより対物レンズ5のディスク半径
方向(X軸方向)への移動制御がなされる。そして、フ
ォーカシング制御とトラッキング制御とが適正になされ
ていれば、ハーフミラー15の記録面状のトラックの中
央部に光スポットが集光して照射できるようになる。
【0003】この場合、ハーフミラー15は対物レンズ
16と拡大光学系17とよりなる顕微鏡18により基準
面Pに位置決めされている。この顕微鏡18はTVカメ
ラ19に接続され、このTVカメラ19はTVモニタ2
0に接続され、これによりハーフミラー15に集光され
たビームスポットを観察することができる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】この場合、TVモニタ
20上のビームスポット径が最良となるように、対物レ
ンズアクチュエータ13により対物レンズ5を移動制御
させることにより、光ピックアップ21の組付け調整を
正確に行うことができる。しかし、顕微鏡18の焦点位
置を基準面Pに保持し続けることは、非常に困難なこと
である。ビームスポット径が約1μmのスポットを観察
するためには、顕微鏡18自体の拡大倍率を1000倍
以上にすることが適当であり、このような高倍率の場合
には、顕微鏡18の対物レンズ16と基準面Pとの間隔
を、サブミクロン以下の精度で一定に保持し続けなけれ
ばならないが、顕微鏡18の鏡筒は重く長いため、サブ
ミクロン以下の精度で保持し続けることはなかなか困難
なことである。前述したような従来例(2つの公報)に
おいては、光ピックアップ21側を移動制御することに
より組付け調整を行っているが、使い勝手と組付け調整
の信頼性を向上させるためにはまだ十分なものであると
は言えない。
【0005】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明で
は、光源とこの光源から出射されたビームを集光する対
物レンズとを有する光ピックアップユニットと、前記対
物レンズにより集光されたビームの収束点となる基準面
に凹凸により基準段差形状が形成された光透過性の基準
面部材と、前記基準面部材を透過した前記光ピックアッ
プユニットからの集光スポット及び照明用光源により照
明された前記基準段差形状を観察するための顕微鏡用対
物レンズと、この顕微鏡用対物レンズから分岐されたビ
ームを観察するモニタとを備えた光ピックアップ組付調
整装置において、前記顕微鏡用対物レンズと前記基準面
部材とを一体として保持する固定部材を設け、この固定
部材に前記顕微鏡用対物レンズと前記基準面部材との間
隔を顕微鏡光軸方向に可変することが可能な基準面可変
機構を設けた。
【0006】請求項2記載の発明では、請求項1記載の
発明において、基準面可変機構を制御信号に応じて顕微
鏡用対物レンズと基準面部材との間で顕微鏡光軸方向に
可変させる基準面可変制御手段を設けた。
【0007】請求項3記載の発明では、請求項1記載の
発明において、顕微鏡用対物レンズ側から基準面部材の
基準面を照射しその反射光を用いて前記基準面のフォー
カス信号の検出を行う基準面フォーカス検出光学系を設
けた。
【0008】請求項4記載の発明では、請求項1記載の
発明において、顕微鏡用対物レンズを介してモニタで観
察される基準面画像から顕微鏡用対物レンズの位置を決
定する画像処理装置を設け、この画像処理装置からの制
御信号に応じてフォーカス位置まで基準面部材と顕微鏡
用対物レンズとの間隔を変化させる基準面可変制御手段
を設けた。
【0009】
【作用】請求項1記載の発明では、基準面と顕微鏡用対
物レンズとの間の間隔を一定に保つことにより経時的な
顕微鏡フォーカスずれが生じにくくなり、また、基準面
と顕微鏡対物レンズとの間隔を外部入力により調整する
ことができるため、従来の組付調整に比べて精度を一段
と向上させることが可能となる。
【0010】請求項2記載の発明では、基準面可変制御
手段を設けたことにより、請求項1記載の発明よりもさ
らに信頼性を向上させることが可能となる。
【0011】請求項3記載の発明では、基準面フォーカ
ス検出光学系を設けたことにより、周知のフォーカスエ
ラー信号の検出制御を行えるため、応答性を速めること
が可能となる。
【0012】請求項4記載の発明では、画像処理を行う
ことにより、新たに検出系を顕微鏡に組み込む必要がな
く、容易に光ピックアップの組付け調整を行うことが可
能となる。
【0013】
【実施例】本発明の第一の実施例について説明する。本
発明の具体的な構成の説明に入る前に、まず、顕微鏡を
用いての光ピックアップの組付け調整の基本的な動作原
理を図4及び図5(a)〜(c)に基づいて述べる。図
4の顕微鏡18の焦点が基準面P上に固定された状態
で、光ピックアップ21の対物レンズ5と基準面Pとの
間隔を変えると、光ピックアップ21からの光スポット
強度(波形22)は図5(a)に示すように光ピックア
ップ21の対物レンズ位置が基準面Pに対して合焦のと
きに最も強くなる。このような強度変化は、図5(b)
に示すように、図示しない光ディスクをディスク半径方
向(X軸方向)に振動させながら光ピックアップ21の
対物レンズ5をデフォーカスした時に得られるトラック
エラー信号の最大値と最小値との差の変化(波形23)
に対応する。この信号の波形23と光ピックアップ21
のフォーカスエラー信号の波形24とから、フォーカス
オフセット量Δを評価できる。そこで、このような図5
(a)の波形22と図5(b)の波形23との対応関係
を利用して、図5(c)に示すように、スポット強度の
波形22とフォーカスエラー信号の波形24とからフォ
ーカスオフセット量Δを評価することによって、ディス
ク面を振動させないため顕微鏡18の焦点ズレが生じ
ず、測定系の安定度が増加し、顕微鏡18を用いての光
ピックアップ21の組付け、評価の精度を向上させるこ
とが可能となる。従って、このような理由から、以下に
本発明の具体的な構成の説明に入る。なお、前述した従
来例(図4参照)と同一部分についての説明は省略し、
その同一部分については同一符号を用いる。
【0014】そこで、本実施例の具体的な構成を図1及
び図2に基づいて述べる(請求項1,2,4に対応す
る)。図1の光ピックアップ組付調整装置において、光
ピックアップユニットとしての光ピックアップ21の対
物レンズ5により集光されたビームの収束点となる基準
面Pには、凹凸により基準段差形状が形成された光透過
性の基準面部材25が配置されている。この基準面部材
25は固定部材26の一端に固定され、その他端側では
顕微鏡用対物レンズ27が固定されている。この顕微鏡
用対物レンズ27の後方の光路上にはハーフミラー28
が配置され、このハーフミラー28を透過した後段の光
路上には照明用光源29が設けられている。この場合、
前記顕微鏡用対物レンズ27は、基準面部材25を透過
した光ピックアップ21からの集光スポット及び照明用
光源29により照明された基準段差形状を観察するため
のものである。前記基準面部材25と、前記固定部材2
6と、前記顕微鏡用対物レンズ27と、前記ハーフミラ
ー28と、前記照明用光源29とは、顕微鏡30を構成
している。
【0015】また、前記ハーフミラー28により反射さ
れた光路上には、顕微鏡用対物レンズ27からのビーム
を観察するモニタ31が配置されている。このモニタ3
1は画像処理装置32に接続されている。この画像処理
装置32からの出力信号は、CRT33と、CPU34
とに送られる。このCPU34からの制御信号は、基準
面可変制御手段としてのピエゾ電源35に接続されてい
る。
【0016】図2は、基準面可変機構36の構成を示す
ものである。この基準面可変機構36は、固定部材26
と、この固定部材26中に埋設されたピエゾ素子37と
により構成されている。これにより、顕微鏡用対物レン
ズ27と基準面部材25との間隔Tを顕微鏡光軸方向Z
に可変することができる。
【0017】このような構成において、光ピックアップ
21の対物レンズ5から集光された光は基準面Pに配置
された基準面部材25に照射される。この照射されたビ
ームのディスク透過光は顕微鏡用対物レンズ27により
集光され、ハーフミラー28により反射されてモニタ3
1に導かれる。このモニタ31で観察される基準面画像
は、画像処理装置32を介してCPU34に送られるこ
とにより、その画像が焦点位置での画像か否かが判断さ
れる。もし、焦点位置でない場合には、基準面フォーカ
スのフォーカス信号を用いてピエゾ電源35を駆動して
基準面可変機構36をZ軸方向に変位させて顕微鏡用対
物レンズ27と基準面部材25との間隔Tを変え、これ
により、顕微鏡30の焦点が常に基準面P上に存在する
ように調整する。
【0018】上述したように、ピエゾ電源35を用いて
基準面可変機構36を変位させて基準面Pと顕微鏡用対
物レンズ27との間隔を一定に保つことによって、経時
的な顕微鏡フォーカスずれを生じにくくさせることがで
きる。しかも、基準面Pと顕微鏡対物レンズ27との間
隔を外部入力により調整することによって、顕微鏡30
を用いた従来の光ピックアップの組付けや調整並びに調
整装置の精度を一段と向上させることができると共に、
使い勝手を向上させることができる。また、ピエゾ電源
35を用いて基準面可変機構36を駆動制御することに
より、組付け調整の信頼性を一段と向上させることがで
きる。さらに、画像処理装置32を用いて画像処理を行
うため多少応答性は劣ることになるが、新たに顕微鏡内
に検出系を組み込む必要がなく、容易に光ピックアップ
組付調整装置や評価装置等に応用させることができる。
【0019】次に、本発明の第二の実施例を図3に基づ
いて説明する(請求項3記載に対応する)。なお、前述
した第一の実施例(図1参照)と同一部分についての説
明は省略し、その同一部分については同一符号を用い
る。顕微鏡30内の顕微鏡用対物レンズ27とハーフミ
ラー28との間の光路中には、ハーフミラー38が配置
されている。このハーフミラー38により反射された光
の光路上には、基準面フォーカス検出光学系39が配設
されている。この基準面フォーカス検出光学系39内に
は、レーザ光源40と、レンズ41と、ビームスプリッ
タ42と、シリンダーレンズ43と、4分割受光素子4
4とが設けられている。この基準面フォーカス検出光学
系39の後段には、基準面フォーカス制御機構45が接
続されている。この基準面フォーカス制御機構45は、
固定部材26をZ軸方向に変位させる働きがある。
【0020】このような構成において、レーザ光源40
からの光束はレンズ41によりビームの発散傾向を顕微
鏡30内の光束と一致された状態となり、その光束はビ
ームスプリッタ42を介して顕微鏡30内に導かれ、ハ
ーフミラー38により反射されて顕微鏡用対物レンズ2
7により基準面部材25に集光される。この集光された
ビームはその後反射されて顕微鏡用対物レンズ27、ハ
ーフミラー38を介して再び基準面フォーカス検出光学
系39内に導かれる。この基準面フォーカス検出光学系
39では、ビームスプリッタ42を透過した後、シリン
ダーレンズ43により非点収差が与えられ、4分割受光
素子44により受光される。この4分割受光素子44か
らの出力信号は基準面フォーカス制御機構45に送られ
ることにより、基準面可変機構36(図2参照)を駆動
制御し、これにより非点収差法によるフォーカシング制
御を行う。このフォーカシング制御方法は、非点収差法
に限らず、ナイフエッジ法、ビームサイズ法などの他の
周知の制御方法を用いてもよい。
【0021】上述したように、基準面フォーカス検出光
学系39を設けたことにより、既存のフォーカスエラー
信号の検出を行うことができるため、応答性が速く、信
頼性も高めることができる。
【0022】
【発明の効果】請求項1記載の発明は、光源とこの光源
から出射されたビームを集光する対物レンズとを有する
光ピックアップユニットと、前記対物レンズにより集光
されたビームの収束点となる基準面に凹凸により基準段
差形状が形成された光透過性の基準面部材と、前記基準
面部材を透過した前記光ピックアップユニットからの集
光スポット及び照明用光源により照明された前記基準段
差形状を観察するための顕微鏡用対物レンズと、この顕
微鏡用対物レンズから分岐されたビームを観察するモニ
タとを備えた光ピックアップ組付調整装置において、前
記顕微鏡用対物レンズと前記基準面部材とを一体として
保持する固定部材を設け、この固定部材に前記顕微鏡用
対物レンズと前記基準面部材との間隔を顕微鏡光軸方向
に可変することが可能な基準面可変機構を設けたので、
基準面と顕微鏡用対物レンズとの間の間隔を一定に保つ
ことにより経時的な顕微鏡フォーカスずれが生じにくく
なり、また、基準面と顕微鏡対物レンズとの間隔を外部
入力により調整することができるため従来の組付調整に
比べて精度を一段と向上させ、使い勝手を一段とよくす
ることができるものである。
【0023】請求項2記載の発明は、請求項1記載の発
明において、基準面可変機構を制御信号に応じて顕微鏡
用対物レンズと基準面部材との間で顕微鏡光軸方向に可
変させる基準面可変制御手段を設けたので、請求項1記
載の発明よりもさらに信頼性を向上させることができる
ものである。
【0024】請求項3記載の発明は、請求項1記載の発
明において、顕微鏡用対物レンズ側から基準面部材の基
準面を照射しその反射光を用いて前記基準面のフォーカ
ス信号の検出を行う基準面フォーカス検出光学系を設け
たので、周知のフォーカスエラー信号の検出制御を行え
るため、応答性を速め、組付けの信頼性の向上を図るこ
とができるものである。
【0025】請求項4記載の発明は、請求項1記載の発
明において、顕微鏡用対物レンズを介してモニタで観察
される基準面画像から顕微鏡用対物レンズの位置を決定
する画像処理装置を設け、この画像処理装置からの制御
信号に応じてフォーカス位置まで基準面部材と顕微鏡用
対物レンズとの間隔を変化させる基準面可変制御手段を
設けたので、このように画像処理を行うことにより、新
たに検出系を顕微鏡に組み込む必要がなくなり、容易に
光ピックアップの組付調整装置や評価装置に応用させる
ことができるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第一の実施例である光ピックアップ組
付調整装置の構成を示すブロック図である。
【図2】固定部材の基準面可変機構を示す側面図であ
る。
【図3】本発明の第二の実施例である光ピックアップ組
付調整装置の構成を示すブロック図である。
【図4】従来の光ピックアップ組付調整装置の構成を示
すブロック図である。
【図5】本発明の基本的な動作原理を示す動作説明図で
ある。
【符号の説明】
1 光源 5 対物レンズ 21 光ピックアップ 25 基準面部材 26 固定部材 27 顕微鏡用対物レンズ 29 照明用光源 31 モニタ 32 画像処理装置 35 基準面可変制御手段 36 基準面可変機構 39 基準面フォーカス検出光学系 P 基準面

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光源とこの光源から出射されたビームを
    集光する対物レンズとを有する光ピックアップユニット
    と、前記対物レンズにより集光されたビームの収束点と
    なる基準面に凹凸により基準段差形状が形成された光透
    過性の基準面部材と、前記基準面部材を透過した前記光
    ピックアップユニットからの集光スポット及び照明用光
    源により照明された前記基準段差形状を観察するための
    顕微鏡用対物レンズと、この顕微鏡用対物レンズから分
    岐されたビームを観察するモニタとを備えた光ピックア
    ップ組付調整装置において、前記顕微鏡用対物レンズと
    前記基準面部材とを一体として保持する固定部材を設
    け、この固定部材に前記顕微鏡用対物レンズと前記基準
    面部材との間隔を顕微鏡光軸方向に可変することが可能
    な基準面可変機構を設けたことを特徴とする光ピックア
    ップ組付調整装置。
  2. 【請求項2】 基準面可変機構を制御信号に応じて顕微
    鏡用対物レンズと基準面部材との間で顕微鏡光軸方向に
    可変させる基準面可変制御手段を設けたことを特徴とす
    る請求項1記載の光ピックアップ組付調整装置。
  3. 【請求項3】 顕微鏡用対物レンズ側から基準面部材の
    基準面を照射しその反射光を用いて前記基準面のフォー
    カス信号の検出を行う基準面フォーカス検出光学系を設
    けたことを特徴とする請求項1記載の光ピックアップ組
    付調整装置。
  4. 【請求項4】 顕微鏡用対物レンズを介してモニタで観
    察される基準面画像からの制御信号に応じて顕微鏡用対
    物レンズの位置を決定する画像処理装置を設け、この画
    像処理装置からフォーカス位置まで基準面部材と顕微鏡
    用対物レンズとの間隔を変化させる基準面可変制御手段
    を設けたことを特徴とする請求項1記載の光ピックアッ
    プ組付調整装置。
JP23916092A 1992-07-27 1992-09-08 光ピックアップ組付調整装置 Pending JPH0695002A (ja)

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