JPH067659B2 - Reader - Google Patents

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JPH067659B2
JPH067659B2 JP59095320A JP9532084A JPH067659B2 JP H067659 B2 JPH067659 B2 JP H067659B2 JP 59095320 A JP59095320 A JP 59095320A JP 9532084 A JP9532084 A JP 9532084A JP H067659 B2 JPH067659 B2 JP H067659B2
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JP
Japan
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input
signal
parallel
analog switches
output
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啓徳 森田
隆史 佐々木
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Kyocera Corp
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Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は、複数の受光素子を用いて原稿などを光学的に
読み取るための装置に関する。
Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to an apparatus for optically reading a document or the like using a plurality of light receiving elements.

背景技術 第1図は典型的な先行技術である各ファクシミリ送信機
の構成を示す図である。ファクシミリ送信機のいわゆる
ホトセンサアレイは、複数の受光検出ユニットU1〜U
nから成る。図中において受光検出ユニットU1〜Un
の構成はその等価回路によって示されている。共通電極
1上にはアモルファスシリコン光導電体が配置されて、
原稿の幅方向に一列に配置されたホトダイオードD1〜
Dnを構成する。各ホトダイオードD1〜Dnは個別的
にアナログスイッチS1〜Snを介してライン2に接地
される。共通電極1は浮遊容量CS有し、その共通電極
1に接続されるライン3と前記ライン2との間には、負
荷抵抗RLとバイアス電源Eとが接続されている。アナ
ログスイッチS1〜Snはシフトレジスタなどによって
構成される制御回路4によって順次導通して走査され
る。たとえばアナログスイッチS1が導通されたとき、
残余のアナログスイッチS2〜Snは遮断される。次に
アナログスイッチS2が導通され、残余のすべてのアナ
ログスイッチS1,S3〜Snは遮断される。ホトダイ
オードD1〜Dnは蓄積コンデンサC11〜Cn1を有
する。またアナログスイッチS1〜Snは入力容量C1
2〜Cn2と導通抵抗R1〜Rnを有する。ホトダイオ
ードD1〜Dnが受光しているときアナログスイッチS
1〜Snが導通すると、バイアス電源Eから負荷抵抗R
Lを介して電流が流れ、受光量に対応した波形が、ライ
ン3に接続された結合コンデンサCPを介して増幅器5
に出力される。増幅器5によって増幅された前記波形は
サンプルホールド回路6に入力される。サンプルホール
ド回路は、2つの演算増幅器A1,A2と、アナログス
イッチSAと、信号をホールドするホールドコンデンサ
CAとを含み、そのアナログスイッチSAは前記制御回
路4によって制御される。増幅器5から出た信号は微分
波形であり、そのピーク値をサンプルホールド回路6に
よってホールドされる。サンプルホールド回路6によっ
てホールドされた信号はA/D(アナログ/デジタル)
変換器7に入力され、デジタル値に変換された後、デジ
タル化された画像信号として出力端子8に出力される。
第2図(1)は前記サンプルホールド回路6に入力され
る微分波形を示し、第2図(2)はそのホールド信号を
示す。このサンプルホールド回路6では前記微分波形の
ピーク電圧VPがサンプリングされるが、そのピーク電
圧VP付近の電位差ΔVは僅かの時間のずれΔtに対し
て大きく変化する。サンプル信号によるサンプリングの
タイミングが温度などによって変動すると、前記ピーク
電圧VPがサンプリングされず、そのホールドされる電
圧に大きな誤差が発生することになる。このことによっ
て検出信号に対応した画像記号を得ることができない。
BACKGROUND ART FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a typical prior art facsimile transmitter. A so-called photo sensor array of a facsimile transmitter includes a plurality of light receiving / detecting units U1 to U.
It consists of n. In the figure, the photodetection units U1 to Un
The configuration of is shown by its equivalent circuit. An amorphous silicon photoconductor is placed on the common electrode 1,
The photodiodes D1 to D1 arranged in a line in the width direction of the document.
Configure Dn. The photodiodes D1 to Dn are individually grounded to the line 2 via the analog switches S1 to Sn. The common electrode 1 has a stray capacitance CS, and a load resistance RL and a bias power supply E are connected between the line 3 and the line 2 connected to the common electrode 1. The analog switches S1 to Sn are sequentially turned on and scanned by the control circuit 4 including a shift register or the like. For example, when the analog switch S1 is turned on,
The remaining analog switches S2 to Sn are cut off. Next, the analog switch S2 is turned on, and all the remaining analog switches S1 and S3 to Sn are turned off. The photodiodes D1 to Dn have storage capacitors C11 to Cn1. Further, the analog switches S1 to Sn have an input capacitance C1.
2 to Cn2 and conduction resistances R1 to Rn. When the photodiodes D1 to Dn receive light, the analog switch S
When 1 to Sn become conductive, the bias power source E causes the load resistance R
A current flows through L, and a waveform corresponding to the amount of received light is output to the amplifier 5 via the coupling capacitor CP connected to the line 3.
Is output to. The waveform amplified by the amplifier 5 is input to the sample hold circuit 6. The sample and hold circuit includes two operational amplifiers A1 and A2, an analog switch SA, and a hold capacitor CA that holds a signal, and the analog switch SA is controlled by the control circuit 4. The signal output from the amplifier 5 is a differential waveform, and its peak value is held by the sample hold circuit 6. The signal held by the sample hold circuit 6 is A / D (analog / digital)
It is input to the converter 7, converted into a digital value, and then output to the output terminal 8 as a digitized image signal.
2 (1) shows the differential waveform input to the sample hold circuit 6, and FIG. 2 (2) shows the hold signal. The sample-hold circuit 6 samples the peak voltage VP of the differential waveform, and the potential difference ΔV near the peak voltage VP changes greatly with a slight time difference Δt. If the timing of sampling by the sample signal fluctuates due to temperature or the like, the peak voltage VP is not sampled and a large error occurs in the held voltage. This makes it impossible to obtain an image symbol corresponding to the detection signal.

ライン3からの出力には、第3図(1)に示されるよう
に、アナログスイッチS1〜Snのスイッチング動作に
起因したノイズ成分NがホトダイオードD1〜Dnの検
出信号成分Lとともに含まれることがある。第3図
(2)に示されているホールド信号によって期間W1の
間で前記波形がサンプリングされると、第3図(3)に
示すようにラインl1を0レベルとして、ノイズ成分N
が含まれた電圧Vnがホールドされることになる。この
ノイズ成分Nが含まれた電圧VnがA/D変換器7に入
力されることによって、この読取り装置のS/N(信号
/雑音)比が低下する。
The output from the line 3 may include a noise component N caused by the switching operation of the analog switches S1 to Sn together with the detection signal component L of the photodiodes D1 to Dn, as shown in FIG. . When the waveform is sampled during the period W1 by the hold signal shown in FIG. 3 (2), the line 11 is set to 0 level as shown in FIG. 3 (3) and the noise component N
Therefore, the voltage Vn including the voltage is held. When the voltage Vn including the noise component N is input to the A / D converter 7, the S / N (signal / noise) ratio of the reading device is lowered.

電界効果トランジスタなどによって実現される各アナロ
グスイッチS1〜Sn毎の入力容量C12〜Cn2およ
びその導通抵抗R1〜Rnはばらつきがある。ホトダイ
オードD1〜Dnの受光量が同一であったとしても、出
力信号のレベルが異なる結果になる。
There are variations in the input capacitances C12 to Cn2 and the conduction resistances R1 to Rn of the analog switches S1 to Sn realized by field effect transistors and the like. Even if the amount of light received by the photodiodes D1 to Dn is the same, the level of the output signal is different.

目的 本発明の目的は、受光素子からの検出信号の読取り誤差
が生じないようにした読取り装置を提供することであ
る。
OBJECT The object of the present invention is to provide a reading device in which a reading error of a detection signal from a light receiving element does not occur.

本発明の他の目的は、受光素子による検出信号を走査す
るためのスイッチの特性のばらつきが存在しても出力信
号に影響が出ないようにした読取り装置を提供すること
である。
Another object of the present invention is to provide a reading device that does not affect the output signal even if there is variation in the characteristics of the switch for scanning the detection signal by the light receiving element.

本発明のさらに他の目的は、S/N比が向上された読取
り装置を提供することである。
Yet another object of the present invention is to provide a reader having an improved S / N ratio.

発明の構成 本発明は、(a)複数の受光検出ユニットU1〜Unが
共通ライン3と接地ライン2との間に並列に接続され、 (b)各受光検出ユニットU1〜Unは、 並列の蓄積容量C11〜Cn1を有し、共通ライン3に
カソード側が接続されるホトダイオードD1〜Dnと、 並列の入力容量C12〜Cn2を有し、走査信号に応答
して導通する個別アナログスイッチS1〜Snとが直列
に接続されて構成され、 (c)ホトダイオードD1〜Dnに逆方向に電圧を与え
る直流電源Eと、負荷抵抗RLとが直列に接続されて構
成され、受光検出ユニットU1〜Unに並列に接続され
る直列回路と、 (d)受光検出ユニットU1〜Unと前記直列回路とが
共通接続される前記直流電源Eの正側の共通ライン3か
らの信号を導出する結合コンデンサCpと、 (e)結合コンデンサCpの出力を積分する積分回路9
であって、 結合コンデンサCpに直列に接続される利得設定用抵抗
R11と、 利得設定用抵抗R11に一方の入力が接続され、接地ラ
イン2が他方の入力に接続される演算増幅器10と、 演算増幅器10の前記一方入力と出力との間に接続され
る低域利得制限抵抗R12と、 低域利得制限抵抗R12に並列に接続される積分用コン
デンサCIと、 低域利得制限抵抗R12に並列に接続され、制御信号に
よって導通するリセット用アナログスイッチSWとを有
する積分回路9と、 (f)個別アナログスイッチS1〜Snに走査信号を順
次的に与えて、それらの個別アナログスイッチS1〜S
nの1つを導通し残余のすべてを遮断させながら走査
し、 この各個別アナログスイッチS1〜Snの導通期間中に
おいて、 制御信号を、個別アナログスイッチS1〜Snの導通時
に生じるノイズ成分Nの発生期間W3よりも長い期間W
2だけ発生して、リセット用アナログスイッチSWに与
え、 各制御信号の相互間の期間W4は、ホトダイオードD1
〜Dnの受光量に対応した信号成分Lを積分するに必要
な時間以上に定められる制御手段4とを含むことを特徴
とする読取り装置である。
Configuration of the Invention The present invention relates to (a) a plurality of light receiving detection units U1 to Un connected in parallel between the common line 3 and the ground line 2, and (b) each light receiving detection unit U1 to Un stores in parallel. The photodiodes D1 to Dn, which have the capacitors C11 to Cn1 and whose cathodes are connected to the common line 3, and the individual analog switches S1 to Sn, which have the input capacitors C12 to Cn2 in parallel and conduct in response to the scanning signal, are formed. (C) A DC power source E for applying a voltage to the photodiodes D1 to Dn in the reverse direction and a load resistor RL are connected in series, and are connected in parallel to the light receiving and detecting units U1 to Un. (D) a coupling capacitor for deriving a signal from the common line 3 on the positive side of the DC power source E to which the light receiving / detecting units U1 to Un are commonly connected. And Sa Cp, integrating circuit 9 integrates the output of (e) coupling capacitor Cp
And a gain setting resistor R11 connected in series to the coupling capacitor Cp, an operational amplifier 10 having one input connected to the gain setting resistor R11 and a ground line 2 connected to the other input, The low band gain limiting resistor R12 connected between the one input and the output of the amplifier 10, the integrating capacitor CI connected in parallel to the low band gain limiting resistor R12, and the low band gain limiting resistor R12 in parallel. An integrating circuit 9 having a reset analog switch SW that is connected and is turned on by a control signal, and (f) scanning signals are sequentially applied to the individual analog switches S1 to Sn to sequentially supply the individual analog switches S1 to S.
Scanning is performed while turning on one of the n and turning off all of the remaining, and during the conduction period of each of the individual analog switches S1 to Sn, a control signal is generated to generate a noise component N generated when the individual analog switches S1 to Sn are turned on. Period W longer than period W3
2 is generated and given to the reset analog switch SW, and the period W4 between the control signals is the same as that of the photodiode D1.
To Dn, and a control means 4 which is set to a time longer than necessary to integrate the signal component L corresponding to the amount of received light of Dn.

実施例 第4図は本発明の一実施例の構成を示す図である。第4
図は第1図の構成に類似し、その対応する部分には同一
の参照符を付した。ファクシミリ送信機などにおいて原
稿などを光学的に読み取るための受光検出ユニットU1
〜Unが備えられる。ライン3には、制御回路4からの
制御信号によって走査された受光検出ユニットU1〜U
nからの信号が導出される。アナログスイッチS1〜S
nが開いているとき、蓄積コンデンサC1〜Cnはバイ
アス電源Eによってすでに充電されている。
Embodiment FIG. 4 is a diagram showing the construction of an embodiment of the present invention. Fourth
The drawing is similar to that of FIG. 1, and the corresponding portions are designated by the same reference numerals. Light receiving and detecting unit U1 for optically reading an original or the like in a facsimile transmitter or the like
~ Un are provided. The line 3 includes light receiving detection units U1 to U scanned by the control signal from the control circuit 4.
The signal from n is derived. Analog switch S1-S
When n is open, the storage capacitors C1-Cn have already been charged by the bias power supply E.

たとえばホトダイオードD1が受光したときそのホトダ
イオードD1が導通し、これによつて蓄積コンデンサC
1の電荷が放電される。このことによってホトダイオー
ドD1には、時間tの関数である光電流i(t)が流れ
る。この光電流i(t)の関数となるのはホトダイオード
D1の逆バイアス時の等価抵抗R(図示せず)、ホトダ
イオードD1の蓄積容量C11およびアナログスイッチ
S1の入力容量C12である。この光電流i(t)はつぎ
の第1式によって示される。
For example, when the photodiode D1 receives light, the photodiode D1 becomes conductive, which causes the storage capacitor C
The electric charge of 1 is discharged. This causes a photocurrent i (t), which is a function of time t, to flow in the photodiode D1. The functions of the photocurrent i (t) are the equivalent resistance R (not shown) of the photodiode D1 at the time of reverse bias, the storage capacitance C11 of the photodiode D1 and the input capacitance C12 of the analog switch S1. This photocurrent i (t) is expressed by the following first equation.

第1式において、Vはバイアス電流Eの電圧である。 In the first expression, V is the voltage of the bias current E.

この光電流i(t)が生じることによってライン3には出
力電流I(t)が生じることになる。この出力電流I(t)の
関数となるのは負荷抵抗RL、共通電力1の浮遊容量C
S、ホトダイオードD1の蓄積容量C11、アナログス
イッチのS1の入力容量C12およびアナログスイッチ
S1の導通抵抗R1である。この出力抵抗I(t)と光電
流i(t)の関係は電荷の保存則から次の第2式のように
なる。
The output current I (t) is generated in the line 3 by the generation of the photocurrent i (t). The functions of the output current I (t) are the load resistance RL and the stray capacitance C of the common power 1.
S, a storage capacitance C11 of the photodiode D1, an input capacitance C12 of the analog switch S1, and a conduction resistance R1 of the analog switch S1. The relationship between the output resistance I (t) and the photocurrent i (t) is expressed by the following second equation based on the law of conservation of charge.

I(t)dt=i(t)dt…(2) 第2式で示されるように、光電流i(t)と等しい出力電
流I(t)がライン3に導出されることによって、その出
力電流I(t)と負荷抵抗RLの積で表わされる出力電圧
V1が結合コンデンサCPを介して増幅器5で増幅さ
れ、積分回路9に出力される。このとき出力電圧V1の
積分値は次の第3式で表わされる。
I (t) dt = i (t) dt (2) As shown in the second equation, the output current I (t) equal to the photocurrent i (t) is output to the line 3 to output its output. The output voltage V1 represented by the product of the current I (t) and the load resistance RL is amplified by the amplifier 5 via the coupling capacitor CP and output to the integrating circuit 9. At this time, the integrated value of the output voltage V1 is expressed by the following third equation.

▲∫ 0▼V1(t)dt=RL∫ 0▼I(t)dt…(3) 積分回路9からの出力電圧V2値は入力電圧V1の積分
した値であるから、第1図ないし第3図からその出力電
圧V2は負荷抵抗RL、ダイオードD1の蓄積容量C1
2、アナログスイッチS1の入力容量C12の関数であ
り、アナログスイッチS1の導通抵抗R1は無視でき
る。また出力電圧V2はアナログスイッチS1の入力容
量C12に影響を受ける。しかしそのアナログスイッチ
S1の入力容量C12はたとえば、ホトダイオードD1
に蓄積容量C1の1/10の大きさであり、第1式に示
されるようにその入力容量C12はホトダイオードD1
の蓄積容量C1との和で出力電圧V2に影響を与えるた
め、たとえばアナログスイッチの入力容量C12のばら
つきが±30%としても、±3%の程度しか提供を与え
ないことになる。このことによって積分回路9の出力電
圧V2には、アナログスイッチS1の特性のばらつきが
影響されない。このとき前記浮遊容量CSが何等かの理
由で大きくなったとき、読取り速度を低下させないため
に負荷抵抗RLを小さくすると、前記積分回路9からの
出力電圧V2が低下するので、共通電極1を分割してこ
の浮遊容量C12を小さくすることができる。
0 ▼ V1 (t) dt = RL ∫ 0 ▼ I (t) dt (3) The output voltage V2 value from the integrating circuit 9 is the integrated value of the input voltage V1. From FIG. 3, the output voltage V2 is the load resistance RL and the storage capacitance C1 of the diode D1.
2. It is a function of the input capacitance C12 of the analog switch S1, and the conduction resistance R1 of the analog switch S1 can be ignored. The output voltage V2 is influenced by the input capacitance C12 of the analog switch S1. However, the input capacitance C12 of the analog switch S1 is, for example, the photodiode D1.
Is 1/10 of the storage capacitance C1, and the input capacitance C12 is equal to the photodiode D1 as shown in the first equation.
Since the output voltage V2 is affected by the sum of the storage capacitance C1 and the storage capacitance C1, the provision of only ± 3% is provided even if the variation of the input capacitance C12 of the analog switch is ± 30%. As a result, the output voltage V2 of the integrating circuit 9 is not affected by variations in the characteristics of the analog switch S1. At this time, when the stray capacitance CS becomes large for some reason, if the load resistance RL is made small in order not to decrease the reading speed, the output voltage V2 from the integrating circuit 9 decreases, so that the common electrode 1 is divided. As a result, the stray capacitance C12 can be reduced.

積分回路9はたとえば第4図のように演算増幅器10、
抵抗R11,R12、コンデンサCI、スイッチSWか
ら成る。増幅器5からの信号が入力される演算増幅器1
0の反転端子には利得設定用抵抗R11が接続され、こ
の演算増幅器10の非反転端子は接地される。この演算
増幅器10と並列に低域利得制限抵抗R12と積分コン
デンサCIとリセット用アナログスイッチSWが接続さ
れる。リセット用アナログスイッチSWは、制御回路4
からのリセット制御信号Pによつて作動される。
The integrating circuit 9 includes an operational amplifier 10, as shown in FIG.
It is composed of resistors R11 and R12, a capacitor CI, and a switch SW. Operational amplifier 1 to which the signal from the amplifier 5 is input
A gain setting resistor R11 is connected to the inverting terminal of 0, and the non-inverting terminal of the operational amplifier 10 is grounded. In parallel with the operational amplifier 10, a low band gain limiting resistor R12, an integrating capacitor CI and a reset analog switch SW are connected. The reset analog switch SW is the control circuit 4
Is activated by a reset control signal P from

第5図(1)には、積分回路9の入力電圧V1の波形が
示され、第5図(2)にアナログスイッチSWを制御す
る制御信号Pの波形が示され、第5図(3)には積分回
路9の出力電圧V2の出力波形が示されている。入力電
圧V1の波形はアナログスイッチS1の導通時に生じる
ノイズ成分NとホトダイオードD1の受光量に対応した
信号成分Lとが加わった波形である。このノイズ成分N
の電圧が入力されたとき第5図(2)で示されるように
制御信号Pが入力され、アナログスイッチSWは期間W
2の間導通されることによって積分された入力電圧がリ
セットされる。このノイズ成分Nに引き続いて信号成分
Lが入力されるが、この信号成分Lが入力される前に、
アナログスイッチSWが遮断されることによって信号成
分Lが積分され、第5図(3)に示されるような出力電
圧V2の波形が出力される。積分された信号成分Lの電
圧はアナログスイッチSWが導通されるまで保持される
ので、保持された電圧がA/D変換器7に入力される。
入力された電圧はA/D変換器基準電圧l2とレベル弁
別され、その基準電圧lに対応したデジタル値に変換さ
れる。このようにホトダイオードD1〜Dnの受光量に
対応した信号成分Lに忠実な画像信号を得ることができ
る。
FIG. 5 (1) shows the waveform of the input voltage V1 of the integrating circuit 9, FIG. 5 (2) shows the waveform of the control signal P for controlling the analog switch SW, and FIG. 5 (3). Shows the output waveform of the output voltage V2 of the integrating circuit 9. The waveform of the input voltage V1 is a waveform in which a noise component N generated when the analog switch S1 is turned on and a signal component L corresponding to the amount of light received by the photodiode D1 are added. This noise component N
When the voltage of is input, the control signal P is input as shown in FIG.
Conduction for 2 resets the integrated input voltage. The signal component L is input subsequently to the noise component N, but before the signal component L is input,
By cutting off the analog switch SW, the signal component L is integrated, and the waveform of the output voltage V2 as shown in FIG. 5 (3) is output. Since the voltage of the integrated signal component L is held until the analog switch SW is turned on, the held voltage is input to the A / D converter 7.
The input voltage is level discriminated from the A / D converter reference voltage 12 and converted into a digital value corresponding to the reference voltage 1. In this way, it is possible to obtain an image signal faithful to the signal component L corresponding to the amount of light received by the photodiodes D1 to Dn.

構成をさらに述べると、共通ライン3と接地ライン2と
の間に、複数nの受光検出ユニットU1〜Unが並列に
接続される。ホトダイオードD1〜Dnは、並列の蓄積
容量C11〜Cn1を有し、共通ライン3にカソード側
が接続される。個別的なアナログスイッチS1〜Sn
は、並列の入力容量C12〜Cn2を有し、制御回路4
からの信号に応答して1つずつ順次的に導通され、この
とき残余の個別アナログスイッチは遮断している。直流
電源EはホトダイオードD1〜Dnに逆方向に電圧を与
える。結合コンデンサCpは、共通ライン3からの信号
を導出する。
To further describe the configuration, a plurality of n light receiving detection units U1 to Un are connected in parallel between the common line 3 and the ground line 2. The photodiodes D1 to Dn have parallel storage capacitors C11 to Cn1, and the cathode side is connected to the common line 3. Individual analog switches S1 to Sn
Has a parallel input capacitance C12 to Cn2, and the control circuit 4
Are sequentially turned on one by one in response to the signal from the other terminals, while the remaining individual analog switches are turned off. The DC power source E applies a voltage to the photodiodes D1 to Dn in the reverse direction. The coupling capacitor Cp derives the signal from the common line 3.

積分回路9において、時刻設定用抵抗R11は、結合コ
ンデンサCpに直列に接続されて演算増幅器10の一方
の入力に接続される。この演算増幅器10の他方の入力
は、接地され、すなわち接地ライン2に接続される。低
域利得制限抵抗R12は、演算増幅器10の前記一方入
力と出力との間に接続され、この抵抗R12には並列
に、積分用コンデンサCIと、制御信号によって導通す
るリセット用アナログスイッチSWとが並列に接続され
る。制御回路4は、前述のような個別的なアナログスイ
ッチS1〜Snの1つを導通し、残余のすべてを遮断さ
せながら走査し、この各個別アナログスイッチS1〜S
nの導通期間中において、リセット用アナログスイッチ
SWに制御信号を与えて、第5図に示されるようにこの
制御信号の期間W2は、ノイズ成分Nの発生期間W3よ
りも長く設定されており、各制御信号の相互間の期間W
4は、信号成分Lを積分するに必要な時間以上に定めら
れる。
In the integrating circuit 9, the time setting resistor R11 is connected in series with the coupling capacitor Cp and is connected to one input of the operational amplifier 10. The other input of the operational amplifier 10 is grounded, that is, connected to the ground line 2. The low-frequency gain limiting resistor R12 is connected between the one input and the output of the operational amplifier 10, and an integrating capacitor CI and a reset analog switch SW conducted by a control signal are connected in parallel with the resistor R12. Connected in parallel. The control circuit 4 conducts one of the individual analog switches S1 to Sn as described above and scans while cutting off all the remaining analog switches S1 to Sn.
During the conduction period of n, a control signal is given to the reset analog switch SW, and the period W2 of this control signal is set longer than the generation period W3 of the noise component N as shown in FIG. Period W between control signals
4 is set to be equal to or longer than the time required to integrate the signal component L.

上述の実施例の受光検出ユニットU1〜Unは、その他
の構成を有してもよい。
The light reception detection units U1 to Un according to the above-described embodiments may have other configurations.

効果 以上のように本発明によれば、サンプルホールド回路に
おきかえて積分回路を配置したことによって、サンプル
ホールド回路を用いる場合に生じる読取りの誤差が、積
分回路を用いる場合には原理上生じないので、受光素子
からの信号波形に忠実な出力値が得られることができ
る。別の効果として、検出信号を走査するためのアナロ
グスイッチの特性にばらつきがあっても、積分回路を用
いることによって、そのアナログスイッチの特性のばら
つきに起因する出力信号への影響を防止することができ
る。
Effect As described above, according to the present invention, by arranging the integrating circuit instead of the sample-hold circuit, a reading error that occurs when using the sample-hold circuit does not occur in principle when using the integrating circuit. , An output value faithful to the signal waveform from the light receiving element can be obtained. As another effect, even if there is a variation in the characteristics of the analog switch for scanning the detection signal, the use of the integrating circuit can prevent the influence of the variation in the characteristics of the analog switch on the output signal. it can.

また積分回路に入力された信号をリセットするためのア
ナログスイッチを利用してノイズ成分を除去することが
でき、S/N比の向上を図ることができる。
Further, the noise component can be removed by using the analog switch for resetting the signal input to the integrating circuit, and the S / N ratio can be improved.

その他の効果として、サンプルホールド回路にあたえる
制御信号のずれに対する配慮が不要となり、高速で作動
する高価格なサンプルホールド回路を選択する場合に比
較して、積分回路を使用する場合、低価格の演算増幅器
で簡単に実現できるため製造コストの低減化を図ること
ができる。
As another effect, it is not necessary to consider the deviation of the control signal given to the sample and hold circuit, and when using the integrator circuit, it is possible to perform low-cost calculation as compared to the case of selecting a high-priced sample and hold circuit that operates at high speed. Since it can be easily realized by an amplifier, the manufacturing cost can be reduced.

さらに本発明によれば、結合コンデンサCpによってホ
トダイオードD1〜Dnの受光量に対応した信号成分L
を導出するようにしたので、各受光検出ユニットU1〜
Unに印加される直流電圧などに依存して、その信号成
分Lが変化することはなく、受光量の検出が確実に正確
に行われる。
Furthermore, according to the present invention, the signal component L corresponding to the amount of light received by the photodiodes D1 to Dn is generated by the coupling capacitor Cp.
Since each of the received light detection units U1 to U1
The signal component L does not change depending on the DC voltage applied to the Un, and the amount of received light is reliably and accurately detected.

また個別アナログスイッチS1〜Snの導通時に生じる
ノイズ成分Nの除去のために、制御信号を発生してリセ
ット用アナログスイッチSWに与える構成としたので、
比較的簡単な構成で、そのノイズ成分Nを除去すること
ができるという優れた効果もまた、達成される。
Further, in order to remove the noise component N generated when the individual analog switches S1 to Sn are turned on, the control signal is generated and given to the reset analog switch SW.
An excellent effect that the noise component N can be removed with a relatively simple structure is also achieved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は先行技術の構成を示す図、第2図は第1図に示
された先行技術の動作を説明するための波形図、第3図
は第1図に示された先行技術の動作を説明するための波
形図、第4図は本発明の一実施例の構成を示す図、第5
図は第4図に示された本発明の一実施例の動作を説明す
るための波形図である。 4……制御回路、5……増幅器、7……A/D変換器、
9……積分回路、U1〜Un……受光検出ユニット、D
1〜Dn……ホトダイオード、C11〜Cn1……蓄積
コンデンサ、S1〜Sn……アナログスイッチ、C12
〜Cn2……入力コンデンサ、R1〜Rn……導通抵
抗、RL……負荷抵抗、E……バイアス電源
FIG. 1 is a diagram showing the configuration of the prior art, FIG. 2 is a waveform diagram for explaining the operation of the prior art shown in FIG. 1, and FIG. 3 is an operation of the prior art shown in FIG. FIG. 4 is a waveform diagram for explaining FIG. 4, FIG. 4 is a diagram showing a configuration of an embodiment of the present invention, and FIG.
The drawing is a waveform diagram for explaining the operation of the embodiment of the present invention shown in FIG. 4 ... control circuit, 5 ... amplifier, 7 ... A / D converter,
9 ... Integrator circuit, U1-Un ... Received light detection unit, D
1 to Dn ... photodiode, C11 to Cn1 ... storage capacitor, S1 to Sn ... analog switch, C12
~ Cn2 ... input capacitor, R1 to Rn ... conduction resistance, RL ... load resistance, E ... bias power supply

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】(a)複数の受光検出ユニットU1〜Un
が共通ライン3と接地ライン2との間に並列に接続さ
れ、 (b)各受光検出ユニットU1〜Unは、 並列の蓄積容量C11〜Cn1を有し、共通ライン3に
カソード側が接続されるホトダイオードD1〜Dnと、 並列の入力容量C12〜Cn2を有し、走査信号に応答
して導通する個別アナログスイッチS1〜Snとが直列
に接続されて構成され、 (c)ホトダイオードD1〜Dnに逆方向に電圧を与え
る直流電源Eと、負荷抵抗RLとが直列に接続されて構
成され、受光検出ユニットU1〜Unに並列に接続され
る直列回路と、 (d)受光検出ユニットU1〜Unと前記直列回路とが
共通接続される前記直流電源Eの正側の共通ライン3か
らの信号を導出する結合コンデンサCpと、 (e)結合コンデンサCpの出力を積分する積分回路9
であって、 結合コンデンサCpに直列に接続される利得設定用抵抗
R11と、 利得設定用抵抗R11に一方の入力が接続され、接地ラ
イン2が他方の入力に接続される演算増幅器10と、 演算増幅器10の前記一方入力と出力との間に接続され
る低域利得制限抵抗R12と、 低域利得制限抵抗R12に並列に接続される積分用コン
デンサCIと、 低域利得制限抵抗R12に並列に接続され、制御信号に
よって導通するリセット用アナログスイッチSWとを有
する積分回路9と、 (f)個別アナログスイッチS1〜Snに走査信号を順
次的に与えて、それらの個別アナログスイッチS1〜S
nの1つを導通し残余のすべてを遮断させながら走査
し、 この各個別アナログスイッチS1〜Snの導通期間中に
おいて、 制御信号を、個別アナログスイッチS1〜Snの導通時
に生じるノイズ成分Nの発生期間W3よりも長い期間W
2だけ発生して、リセット用アナログスイッチSWに与
え、 各制御信号の相互間の期間W4は、ホトダイオードD1
〜Dnの受光量に対応した信号成分Lを積分するに必要
な時間以上に定められる制御手段4とを含むことを特徴
とする読取り装置。
1. (a) A plurality of light receiving and detecting units U1 to Un
Are connected in parallel between the common line 3 and the ground line 2, and (b) each of the photodetection units U1 to Un has parallel storage capacitors C11 to Cn1, and the photodiode connected to the common line 3 on the cathode side. D1 to Dn and parallel input capacitors C12 to Cn2, and individual analog switches S1 to Sn that are conductive in response to a scanning signal are connected in series and are configured in the following manner: (c) Reverse direction to the photodiodes D1 to Dn A direct-current power supply E for applying a voltage to a load resistance RL, and a series circuit connected in parallel to the light receiving and detecting units U1 to Un; and (d) the light receiving and detecting units U1 to Un and the series. A coupling capacitor Cp for deriving a signal from the common line 3 on the positive side of the DC power source E, which is commonly connected to a circuit, and (e) an integrating circuit for integrating the output of the coupling capacitor Cp. 9
And a gain setting resistor R11 connected in series to the coupling capacitor Cp, an operational amplifier 10 having one input connected to the gain setting resistor R11 and a ground line 2 connected to the other input, The low band gain limiting resistor R12 connected between the one input and the output of the amplifier 10, the integrating capacitor CI connected in parallel to the low band gain limiting resistor R12, and the low band gain limiting resistor R12 in parallel. An integrating circuit 9 having a reset analog switch SW that is connected and is turned on by a control signal, and (f) scanning signals are sequentially applied to the individual analog switches S1 to Sn to sequentially supply the individual analog switches S1 to S.
Scanning is performed while turning on one of the n and turning off all of the remaining, and during the conduction period of each of the individual analog switches S1 to Sn, a control signal is generated to generate a noise component N generated when the individual analog switches S1 to Sn are turned on. Period W longer than period W3
2 is generated and given to the reset analog switch SW, and the period W4 between the control signals is the same as that of the photodiode D1.
To Dn, and a control means 4 which is set to a time longer than necessary to integrate the signal component L corresponding to the amount of received light of Dn.
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