JPH0676924B2 - 温度測定装置 - Google Patents
温度測定装置Info
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- JPH0676924B2 JPH0676924B2 JP61218991A JP21899186A JPH0676924B2 JP H0676924 B2 JPH0676924 B2 JP H0676924B2 JP 61218991 A JP61218991 A JP 61218991A JP 21899186 A JP21899186 A JP 21899186A JP H0676924 B2 JPH0676924 B2 JP H0676924B2
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- measuring
- measured
- furnace
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
- G01J5/05—Means for preventing contamination of the components of the optical system; Means for preventing obstruction of the radiation path
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- G—PHYSICS
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
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- G—PHYSICS
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、温度測定装置に係わり、加熱列等の炉内を移
動される被測温材の温度を精度よく測定する装置に関す
る。
動される被測温材の温度を精度よく測定する装置に関す
る。
〔従来の技術〕 例えばスラブ、ビレット等の鋼片は加熱炉等の炉で加熱
され、熱間圧延される。鋼片の加熱温度あるいは加熱炉
等の炉内における熱サイクルは、熱間圧延の作業性や製
品の材質に及ぼす影響が大きいので、その温度を高い精
度で測定する必要がある。
され、熱間圧延される。鋼片の加熱温度あるいは加熱炉
等の炉内における熱サイクルは、熱間圧延の作業性や製
品の材質に及ぼす影響が大きいので、その温度を高い精
度で測定する必要がある。
炉内の鋼片等の被加熱材の温度測定装置としては放射温
度計があり、その測定精度を高めるための検討がこれま
でもなされている。例えば炉内の被加熱材の放射温度測
定において、炉壁からの迷放射光や被加熱材（被測温
材）の放射率変動の影響を防ぐために、被測温体に接近
して遮蔽筒を設け、該遮蔽筒を介して被測温材からの放
射光エネルギーを検出する装置がある。特開昭57−1989
83では、開孔付の遮蔽板を設けた遮蔽筒を炉内に装入し
て被測温材からの放射光エネルギーを開孔を通して放射
温度計で検出し、一方、炉内雰囲気で昇温された遮蔽筒
の放射光エネルギーは、遮蔽板から放射される放射光エ
ネルギーとして他の放射温度計で検出し、この両検出さ
れた放射光エネルギー値により温度を測定するようにし
ている。これによると測温精度が高められ、また炉内雰
囲気を漏出することなく測温されるという作用効果が奏
せられる。
度計があり、その測定精度を高めるための検討がこれま
でもなされている。例えば炉内の被加熱材の放射温度測
定において、炉壁からの迷放射光や被加熱材（被測温
材）の放射率変動の影響を防ぐために、被測温体に接近
して遮蔽筒を設け、該遮蔽筒を介して被測温材からの放
射光エネルギーを検出する装置がある。特開昭57−1989
83では、開孔付の遮蔽板を設けた遮蔽筒を炉内に装入し
て被測温材からの放射光エネルギーを開孔を通して放射
温度計で検出し、一方、炉内雰囲気で昇温された遮蔽筒
の放射光エネルギーは、遮蔽板から放射される放射光エ
ネルギーとして他の放射温度計で検出し、この両検出さ
れた放射光エネルギー値により温度を測定するようにし
ている。これによると測温精度が高められ、また炉内雰
囲気を漏出することなく測温されるという作用効果が奏
せられる。
ところで、例えば加熱炉、均熱炉等で加熱される鋼片は
種々のサイズがあり、その厚みも種々である。また鋼片
等の被加熱材を炉内にて移送させるスキッドやビームに
は加熱操業によりノロ、スケールが生成し、その高さが
変化する。
種々のサイズがあり、その厚みも種々である。また鋼片
等の被加熱材を炉内にて移送させるスキッドやビームに
は加熱操業によりノロ、スケールが生成し、その高さが
変化する。
これらのために、被測温材と放射温度測定装置における
遮蔽筒との間隔が変化する。この間隔が例えば増すと炉
壁等からの放射光エネルギーが迷光して遮蔽筒内に入
り、測温精度を低下させる。一方間隔が狭くなり遮蔽筒
に被測温材が接触すると、該遮蔽筒や放射温度計を損傷
する。斯かることから前記間隔は安全サイドに広くする
傾向にあり、ある程度の測温精度の低下が避けられな
い。
遮蔽筒との間隔が変化する。この間隔が例えば増すと炉
壁等からの放射光エネルギーが迷光して遮蔽筒内に入
り、測温精度を低下させる。一方間隔が狭くなり遮蔽筒
に被測温材が接触すると、該遮蔽筒や放射温度計を損傷
する。斯かることから前記間隔は安全サイドに広くする
傾向にあり、ある程度の測温精度の低下が避けられな
い。
本発明は炉内における放射温度測定装置において、炉内
に装入する遮蔽筒を被測温材に対し進退自在として、該
遮蔽筒の先端と被測温材との間隔を常に一定として測温
精度を高めること、および例えば被測温材が薄いものか
ら厚いものに変っても、あるいは被測温材に上反り等が
あっても、該被測温材と遮蔽筒との接触を防ぎ、損傷を
回避し精度よく測温する装置を提供するものである。
に装入する遮蔽筒を被測温材に対し進退自在として、該
遮蔽筒の先端と被測温材との間隔を常に一定として測温
精度を高めること、および例えば被測温材が薄いものか
ら厚いものに変っても、あるいは被測温材に上反り等が
あっても、該被測温材と遮蔽筒との接触を防ぎ、損傷を
回避し精度よく測温する装置を提供するものである。
以下に、本発明について一実施例に基づき図面を参照し
て詳細に説明する。
て詳細に説明する。
図面において、１は炉内の被測温材であり、スキッド２
を介して移送される。３は炉壁である。４は遮蔽筒で、
被測温材１に対して進退自在である。５は放射光エネル
ギーを受光する素子例えば対物レンズ、６は光ファイバ
ーで前記対物レンズ５に直結されていて、これらは測温
機構を構成し、遮蔽筒４内の保護管例えば金属パイプ内
に設けられている。８は金属パイプ７の外周に設けられ
た断熱材で、遮蔽筒４の外被を形成している。
を介して移送される。３は炉壁である。４は遮蔽筒で、
被測温材１に対して進退自在である。５は放射光エネル
ギーを受光する素子例えば対物レンズ、６は光ファイバ
ーで前記対物レンズ５に直結されていて、これらは測温
機構を構成し、遮蔽筒４内の保護管例えば金属パイプ内
に設けられている。８は金属パイプ７の外周に設けられ
た断熱材で、遮蔽筒４の外被を形成している。
また９は遮蔽筒進退装置で、例えば電動回転機であり、
これは連結具10例えばワイヤーを介して遮蔽筒４と接続
しており、被測温材１に対して遮蔽筒４を進退させ、こ
れらの間隔11を一定とする。これとともにこの電動軸9
-1には回転角度検出器18が設けられており、この信号に
より遮蔽筒位置回路19にて遮蔽筒の現在位置を把持す
る。12は被測温材位置検出器であり、被測温材１の表面
位置を検出する。この検出器12としては例えば表面位置
検出ロッド、レーザー変位計等が用いられる。この実施
例では電動回転機13にワイヤー15を介して連結された表
面位置検出ロッド12が用いられている。そして該検出ロ
ッド12が破線で示す位置に降下し、その先端が被測温材
１と接触したときの電動軸13-1の回転角度を回転角度検
出器16で検出して表面位置を被測温材位置検出ホールド
回路20にてホールドする。この被測温材位置検出周期は
被測温物体の高さが変化する時間間隔により定められ
る。17は間隔設定器である。21は間隔制御器で間隔設定
器17で設定した間隔l3と被測温材位置ホールド回路20で
ホールドされている直近の被測温材位置l1により制御す
べき遮蔽筒位置設定器（l1−l3）を求めこの設定値と遮
蔽筒現在位置l2との偏差〔（l1−l3）−l2〕により遮蔽
筒進退装置９を駆動しl2を（l1−l2）に制御するもので
ある。これにより測温機構を設けた遮蔽筒４は被測温材
１との間隔を一定とされる。
これは連結具10例えばワイヤーを介して遮蔽筒４と接続
しており、被測温材１に対して遮蔽筒４を進退させ、こ
れらの間隔11を一定とする。これとともにこの電動軸9
-1には回転角度検出器18が設けられており、この信号に
より遮蔽筒位置回路19にて遮蔽筒の現在位置を把持す
る。12は被測温材位置検出器であり、被測温材１の表面
位置を検出する。この検出器12としては例えば表面位置
検出ロッド、レーザー変位計等が用いられる。この実施
例では電動回転機13にワイヤー15を介して連結された表
面位置検出ロッド12が用いられている。そして該検出ロ
ッド12が破線で示す位置に降下し、その先端が被測温材
１と接触したときの電動軸13-1の回転角度を回転角度検
出器16で検出して表面位置を被測温材位置検出ホールド
回路20にてホールドする。この被測温材位置検出周期は
被測温物体の高さが変化する時間間隔により定められ
る。17は間隔設定器である。21は間隔制御器で間隔設定
器17で設定した間隔l3と被測温材位置ホールド回路20で
ホールドされている直近の被測温材位置l1により制御す
べき遮蔽筒位置設定器（l1−l3）を求めこの設定値と遮
蔽筒現在位置l2との偏差〔（l1−l3）−l2〕により遮蔽
筒進退装置９を駆動しl2を（l1−l2）に制御するもので
ある。これにより測温機構を設けた遮蔽筒４は被測温材
１との間隔を一定とされる。
第２図は横挿入方式の例である。この方式は遮蔽筒４を
支点22で支え操作シリンダー23にて遮蔽筒先端と被測温
物体間の間隔11を制御する。間隔11の検出はこの例は光
学式ギャップ計24を用いており遮蔽筒４内の対物レンズ
25及び光量を導く光ファイバー26で構成されている。こ
の光学式ギャップ計24の出力は間隔設定器17の出力と間
隔制御器21にて比較されその差に応じた出力を操作シリ
ンダー23へ出力を制御を行なう。
支点22で支え操作シリンダー23にて遮蔽筒先端と被測温
物体間の間隔11を制御する。間隔11の検出はこの例は光
学式ギャップ計24を用いており遮蔽筒４内の対物レンズ
25及び光量を導く光ファイバー26で構成されている。こ
の光学式ギャップ計24の出力は間隔設定器17の出力と間
隔制御器21にて比較されその差に応じた出力を操作シリ
ンダー23へ出力を制御を行なう。
本発明は以上のようであるので、被測温体と放射光エネ
ルギーを検出し測温する機構を設けた遮蔽筒との間隔が
一定に保たれて、温度の測定精度が高くなる。また被測
温体が例えば上反り、あるいは曲りを呈していても遮蔽
筒に接触することがなく損傷が生じない等の作用効果が
ある。
ルギーを検出し測温する機構を設けた遮蔽筒との間隔が
一定に保たれて、温度の測定精度が高くなる。また被測
温体が例えば上反り、あるいは曲りを呈していても遮蔽
筒に接触することがなく損傷が生じない等の作用効果が
ある。
第１図は本発明の一実施例を示す説明図、第２図は本発
明の他の実施例を示す説明図。 図面で５は放射光を受光する素子、４は遮蔽筒、１は被
測温材、12は被測温材位置検出器、19は遮蔽筒位置検出
器、17は間隔設定器、21は間隔制御器である。
明の他の実施例を示す説明図。 図面で５は放射光を受光する素子、４は遮蔽筒、１は被
測温材、12は被測温材位置検出器、19は遮蔽筒位置検出
器、17は間隔設定器、21は間隔制御器である。
Claims (1)
- 【請求項１】放射光を受光する素子が設けられ、進退装
置に連結された遮蔽筒と、被測温材の表面位置を検出す
る被測温材位置検出器と、間隔設定器と、被測温材位置
検出器からの信号と遮蔽筒位置回路からの信号を入力
し、遮蔽筒と被測温材との間隔を一定に制御する間隔制
御器と、間隔制御器からの信号によって遮蔽筒と被測温
材との間隔を一定にする昇降機構とからなることを特徴
とする温度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61218991A JPH0676924B2 (ja) | 1986-09-17 | 1986-09-17 | 温度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61218991A JPH0676924B2 (ja) | 1986-09-17 | 1986-09-17 | 温度測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6373123A JPS6373123A (ja) | 1988-04-02 |
| JPH0676924B2 true JPH0676924B2 (ja) | 1994-09-28 |
Family
ID=16728556
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61218991A Expired - Lifetime JPH0676924B2 (ja) | 1986-09-17 | 1986-09-17 | 温度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0676924B2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5484981U (ja) * | 1977-11-28 | 1979-06-15 |
-
1986
- 1986-09-17 JP JP61218991A patent/JPH0676924B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6373123A (ja) | 1988-04-02 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |