JPH0678101A - Ccd素子 - Google Patents

Ccd素子

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JPH0678101A
JPH0678101A JP4228812A JP22881292A JPH0678101A JP H0678101 A JPH0678101 A JP H0678101A JP 4228812 A JP4228812 A JP 4228812A JP 22881292 A JP22881292 A JP 22881292A JP H0678101 A JPH0678101 A JP H0678101A
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    • H10F39/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one element covered by group H10F30/00, e.g. radiation detectors comprising photodiode arrays
    • H10F39/10Integrated devices
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    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
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    • H04N25/71Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 1次元CCDセンサ等のCCD素子におい
て、間欠モード読み出し時の信号期間をのばす。 【構成】 転送クロックパルスが印加されるCCD構造
の水平転送レジスタの終段に出力ゲート部を介してフロ
ーティング・ディフージョン領域が接続され、フローテ
ィング・ディフージョン領域とリセットドレイン領域間
にリセットゲート部が設けられてなるCCD素子におい
て、間欠モードの読み出し時、出力ゲート部にクロック
パルスφOGを印加し、出力ゲート部の電位を低レベルと
して1画素目の信号電荷を終段の転送部に蓄積し転送ク
ロックパルスφH1,φH2,φHLで2画素目の信号電荷を
終段の転送部に転送し、この終段の転送部内において2
画素分の信号電荷の混合を行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、CCD撮像素子等のC
CD素子に関する。
【0002】
【従来の技術】CCD撮像素子、特に一次元CCDセン
サでは、間欠モードという使用方法がある。この間欠モ
ードは、リセットパルスφRSを通常モードの使用方法に
比べて2個に1個間引くことによって、フローティング
・ディフージョン領域で2画素分の信号電荷を混合して
読み出すというものである。
【0003】図6〜図7に通常モードと従来の間欠モー
ドの使用方法を示す。図6は一次元CCDセンサの終段
部分及びその出力部の構成を示す。同図において、1は
水平転送レジスタである。水平転送レジスタ1は、第1
導電形例えばP形の半導体基板2に形成した第2導電形
即ちN形のウエル領域3の主面上に絶縁膜を介して転送
電極即ち、ストレージ電極4S及びトランスファ電極4
Tを有してなる転送部5が複数配列され、2相のクロッ
クパルスφH1及びφH2(図7B,C参照)により信号電
荷を水平方向に転送するように形成される。なお、図示
の例では最終段の転送部5Lに他と独立に印加端子が設
けられ、これにクロックパルスφH2と同相のクロックパ
ルスφHL(図7A参照)が印加され、それ以外の転送部
5にクロックパルスφH1及びφH2が印加されるように構
成される。
【0004】最終段の転送部5Lは、固定のゲート電圧
(DC電圧)VOGが印加される出力ゲート部6を介して
フローティング・ディフージョン領域7に接続される。
水平転送レジスタ1よりの信号電荷は、フローティング
・ディフージョン領域に転送され、電荷−電圧変換され
出力アンプ8を通じて出力をされるようになされる。出
力部9においては、フローティング・ディフージョン領
域7に転送された信号電荷を所定電圧VRDが与えられた
リセットドレイン領域10に掃出すために、両領域7及
び10間にリセットパルスφRS(図7D参照)が印加さ
れるリセットゲート部11が形成される。
【0005】そして、通常モードでは図7D,Cに示す
ように、リセットパルスφRSがクロックパルスφHLの1
周期毎にその高レベルに同期して印加され、1画素毎
(X画素、X+1画素、X+2画素‥‥)の信号電荷に
応じたCCD出力(図7E参照)が順次読み出される。
【0006】一方、間欠モードでは図7Fに示すよう
に、リセットパルスφRSが通常モードに比べて1個置き
に間引かれた状態で印加され、フローティング・ディフ
ージョン領域7において2画素分(例えばX画素とX+
1画素)の信号電荷が混合され、図7Gに示すCCD出
力が読み出される。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで、間欠モード
と通常モードのクロックパルスφHL,φH1,φH2のスピ
ードが変わらなければ何ら問題はないが、セット仕様上
の要求には解像度の低い方(いわゆる間欠モード)では
読み取りスピードを上げたいという要求がある。このた
めにはクロックパルスφHL,φH1,φH2及びリセットパ
ルスφRSの周波数を上げねばならない。具体的に2倍の
スピードで駆動するとなると(いわゆる1枚の紙の情報
の読み取りスピードが2倍になる)、間欠モードでの信
号期間、即ち2画素分(例えばX画素とX+1画素)の
信号電荷が混合された信号期間T1は通常モードの1/
2になってしまう。そうすると回路系の負担が大きくな
り、信号部分をサンプルホールできなくなる可能性が生
ずる。
【0008】本発明は、上述の点に鑑み、間欠モードに
よる読み出し時において、その信号期間をのばすことが
できるCCD素子を提供するものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、転送クロック
パルスが印加されるCCD構造の電荷転送レジスタ1の
終段に出力ゲート部6を介してフローティング・ディフ
ージョン領域7が接続され、このフローティング・ディ
フージョン領域7とリセットドレイン領域10間にリセ
ットゲート部11が設けられてなるCCD素子におい
て、間欠モードによる読み出し時、出力ゲート部6にク
ロックパルスφOGを印加し、出力ゲート部6の電位を低
レベルとして1の信号電荷eX を電荷転送レジスタ1の
終段の転送部5Lに蓄積し、転送クロックパルスφHL
φH1,φH2で他の信号電荷eX+1 を終段の転送部5Lに
転送し、終段の転送部5Lで信号電荷eX とeX+1 を混
合するように成す。
【0010】また、このように電荷転送レジスタ1の終
段の転送部5Lで混合した信号電荷(eX +eX+1)をフ
ローティング・ディフージョン領域7に転送し、出力す
るようになす。
【0011】また、本発明は、CCD構造の電荷転送レ
ジスタ1の終段に出力ゲート部6を介してフローティン
グ・ディフージョン領域7が接続され、フローティング
・ディフージョン領域7とリセットドレイン領域10間
にリセットゲート部11が設けられてなるCCD素子に
おいて、電荷転送レジスタ1の前段の転送部53
4 ,55 ,56 ‥‥と後段の転送部51 ,52 に夫々
独立に転送クロックパルスを印加するようになし、間欠
モードによる読み出し時、後段の転送部51 ,52に前
段の転送部53 ,54 ,55 ,56 ‥‥に与える転送ク
ロックパルスφH1,φH2のn倍(nは整数)の周期の転
送クロックパルスφH4,φH3を印加して後段の転送部5
2 で信号電荷eX とeX+1 を混合するように成す。
【0012】この間欠モードによる読み出し時、出力ゲ
ート部6には固定電圧VOGを印加する。
【0013】
【作用】第1の発明においては、間欠モードによる読み
出し時、出力ゲート部6にクロックパルスφOGを印加
し、出力ゲート部6の電位が低レベルの状態で電荷転送
レジスタ1の終段5Lにおいて1の信号電荷eX と他の
信号電荷eX+1 の混合を行うので、出力部9から得られ
る出力信号の信号期間T2 が従来のフローティング・デ
ィフージョン領域7で混合する場合の信号期間T1 に比
べて長くなる(T2>T1 )。
【0014】また、第2の発明は、電荷転送レジスタ1
の前段の転送部53 ,54 ,55 ,56 ‥‥と後段の転
送部51 ,52 に夫々独立に転送クロックパルスを印加
するようになし、間欠モードによる読み出し時、後段の
転送部51 ,52 に前段の転送部53 ,54 ,55 ,5
6 ‥‥に与える転送クロックパルスφH1,φH2のn倍
(nは整数)の周期の転送クロックパルスφH4,φH3
印加して後段の転送部5 2 で信号電荷eX とeX+1 の混
合を行うので、出力部9から得られる出力信号の信号期
間T3 が従来のフローティング・ディフージョン領域7
で混合する場合の信号期間T1 に比して長くなる。
【0015】
【実施例】以下、図面を参照して本発明によるCCD素
子の実施例を説明する。
【0016】図1は本発明に係るCCD素子、即ちCC
D一次元センサに適用した場合の水平転送レジスタの終
段部分及びその出力部の構成図で、前述の図6と対応す
る部分には同一符号を付して示す。本例においても、図
6と同様に半導体基板2に形成された、ウエル領域3の
主面に絶縁膜を介してストレージ電極4S及びトランス
ファ電極4Tを有する転送部が複数配列され、2相のク
ロックパルスφH1及びφH2(図2A,B参照)にて信号
電荷を水平方向に順次転送するCCD構造の水平転送レ
ジスタ1と、水平転送レジスタ1の終段の転送部5Lに
接続された出力ゲート部6及びフローティング・ディフ
ージョン領域7と、フローティング・ディフージョン領
域7に接続された出力アンプ8と、リセットドレイン領
域10と、フローティング・ディフージョン領域7に転
送された信号電荷をリセットドレイン領域10に掃出す
ためのリセットゲート部11とを有してなる。なお、最
終段の転送部5Lには他の転送部5と独立に印加端子が
設けられ、これにクロックパルスφH2と同相のクロック
パルスφHL(図2A参照)が印加され、その他の転送部
5にクロックパルスφH1,φH2が印加される。リセット
ドレイン領域10には所定電圧VRDが、リセットゲート
部11にはリセットパルスφRGが夫々印加される。
【0017】本例において、通常モードで読み出しを行
う場合は、前述の従来例と同様に行われる。即ち出力ゲ
ート部6に固定電圧VOGを印加し、リセットパルスφRS
をクロックパルスφHLの1周期毎にその高レベルに同期
して印加し(図7D参照)、1画素毎(X画素、X+1
画素、X+2画素‥‥)の信号電荷に応じた信号を順次
出力するようになされる(図7E参照)。
【0018】次に、例えば2画素分の信号を混合して読
み出す場合の間欠モードによる読み出し時には、リセッ
トゲート部11に与えるリセットパルスφRGを通常モー
ドに比べて1個置きに間引くと共に、位相をずらして、
即ち例えばクロックパルスφ HLの低レベルに同期するよ
うに印加し、また、出力ゲート部6に通常モード時の固
定電圧VOGに代えて例えば間引かれたリセットパルスφ
RSに同期するクロックパルスφOGを印加するようにな
し、電荷転送レジスタの最終段の転送部5Lにおいて2
画素分(例えばX画素とX+1画素、X+2画素とX+
3画素‥‥)の信号電荷(eX とeX+1),(eX+2 とe
X+3)‥‥を混合する。そして、この混合された信号電荷
をフローティング・ブィフージョン領域7に転送し、之
より出力アンプ8を通して出力するようになす。次に、
図2の印加パルス波形と図3のポテンシャル図を用いて
上記実施例の間欠モードにおける信号電荷の転送を説明
する。
【0019】図2に示すタイミングで水平転送レジスタ
1の転送部5に2相クロックパルスφH1,φH2及び最終
段の転送部5LにクロックパルスφHLが、出力ゲート部
6に出力ゲートパルス即ち、クロックパルスφOGが、リ
セットゲート部11にリセットパルスφRSが、夫々印加
される。
【0020】時点t1 では、各部のポテンシャルは図3
Aに示す状態となり、クロックパルスφH1が印加された
転送部5からクロックパルスφHLが印加された最終段の
転送部5LにX画素目の信号電荷eX が転送される。こ
のときのCCD出力としては前画素(X−2,X−1)
の混合され信号電荷(eX-2 +eX-1)に対応する信号が
出力されている。
【0021】次に、時点t2 では、クロックパルスφHL
が低レベルになる前に出力ゲート部6のクロックパルス
φOGを低レベルにし、図3Bに示すポテンシャル状態と
なす。
【0022】次に、時点t3 では最終段の転送部5Lの
クロックパルスφHLが低レベルとなる。出力ゲート部6
のクロックパルスφOGは既に低レベル(いわゆるグラン
ド電位)になっているため、図3Cのポテンシャル状態
となって信号電荷eX は最終段の転送部5Lのストレー
ジ電極4S下にとどまり、フローティング・ディフージ
ョン領域7へは転送されない。一方、クロックパルスφ
H1は高レベルとなるため、最終段の転送部5Lの1つ手
前の転送部のストレージ電極4S下に次のX+1画素目
の信号電荷eX+1 が転送される。
【0023】次に、時点t4 でリセットパルスφRSがオ
ンされ、図3Dのポテンシャル状態となって、前画素X
−2,X−1の混合された信号電荷(eX-2,eX-1)がリ
セットドレイン領域7に掃出される。
【0024】次に、クロックパルスφHLが低レベル状態
の時点t5 でリセットパルスφRSがオフされ、図2Eの
ポテンシャル状態となる。この時点でも、出力ゲート部
6のクロックパルスφOGが低レベルであるので、X画素
目の信号電荷eX は最終段転送部5Lのストレージ電極
4S下にとどまっている。
【0025】次に、時点t6 ではクロックパルスφHL
高レベルで、クロックパルスφH1が低レベルとなり、し
かも、クロックパルスφOGは未だ低レベルであるため、
図3Fに示すポテンシャル状態となり、X+1画素目の
信号電荷eX+1 が最終段の転送部5Lのストレージ電極
4S下に転送され、この最終段の転送部5LにおいてX
画素と(X+1)画素目の両信号電荷eX 及びeX+1
混合される。
【0026】次に、最終段の転送部5Lからフローティ
ング・ディフージョン領域7へ混合された信号電荷を転
送する前の時点t7 では、クロックパルスφOGが高レベ
ルにされる。このときのポテンシャル状態は図3Gの如
くなる。
【0027】次に、時点t8 でクロックパルスφHLが低
レベルとなり、図3Hのポテンシャル状態となり、出力
ゲート部6を通して混合された信号電荷(eX +eX+1)
がフローティング・ディフージョン領域7に転送され、
出力アンプ8を通して信号が出力される。
【0028】上述の実施例によれば、間欠モードの読み
出し時、2画素分の信号電荷(eX)及び(eX+1 )を
水平転送レジスタ1の最終段の転送部5Lで混合し、混
合された状態でフローティング・ディフージョン領域7
へ転送し、出力アンプ8を通して出力することにより、
従来のフローティング・ディフージョン領域7で混合し
た場合に比して信号期間T2 をのばすことができる(T
2 >T1 )。従って、従来に比して回路系の負担を軽減
することができ、間欠モードでの読み取りスピードを上
げることができる。
【0029】上例では、2画素分の信号電荷を混合する
場合に適用したが、その他、3画素以上の信号電荷を混
合する場合にも適用可能である。
【0030】尚、上例ではリセットパルスφRSをオフす
る時点を時点t4 と時点t5 との間で行ったが、時点t
7 との時点t8 のクロックパルスφHLが低レベルになる
前までにリセットパルスφRSをオフしてもなんら問題は
ない。即ち信号期間T2 は短くならない。
【0031】また、上例では、図1に示すような不純物
プロファイルとしているが、これに限らない。要は図3
に示すようなポテンシャルプロファイルが実現できさえ
すればよく、例えばゲートに印加する電圧をφOG
φHL,φH1,φH2等で変化させるようにしても実現可能
である。
【0032】図4及び図5は本発明の他の実施例であ
る。本例は水平転送レジスタ1の最終段の転送部5Lに
限らず、いわゆる後段の転送部5で信号電荷の混合を行
うようにした場合である。
【0033】図4は本例の構成を示すものである。本例
は、特に2相のクロックパルスで駆動する水平転送レジ
スタに対して、その最終段を含む後段の転送部、本例で
は転送部51 と52 へのクロックパルスの印加端子と、
それ以前の転送部53 ,54,55 ,56 ‥‥へのクロ
ックパルスの印加端子とを別にして設ける。その他の構
成は図1と同様であるので同一符号を付して詳細説明は
省略する。
【0034】本例において、通常モードの使用時には、
全転送部(51 〜56 ‥‥)に2相のクロックパルスφ
H1及びφH2を与えて前述と同様の通常モード読み出しを
行う。
【0035】しかして、間欠モードにおける読み出し
時、例えば2画素分の信号を混合して読み出すときに
は、水平転送レジスタ1の後段の転送部51 及び52
それ以前の前段の転送部53 ,54 ,55 ,56 ‥‥に
印加されるクロックパルスφH1,φH2(周期TC1)の2
倍の周期TC2(>TC1)のクロックパルスφH3,φ
H4(図5C,D参照)を印加する。出力ゲート部6には
固定電圧VOG(図5E参照)を印加する。
【0036】この構成によれば、図5のクロック波形図
で示すように、時点t1 ではクロックパルスφH1が低レ
ベルで、クロックパルスφH3が高レベルとなり、転送部
3のX画素目の信号電荷eX が転送部52 のストレー
ジ電極4Sに転送される。
【0037】次に、時点t2 では、クロックパルスφH1
が低レベルでクロックパルスφH3が高レベルのままであ
るので、転送部53 のX+1画素目の信号電荷e
X+1 が、転送部52 のストレージ電極4S下に転送さ
れ、この転送部52 においてX画素とX+1画素の両信
号電荷eX 及びeX+1 が混合される。
【0038】そして、時点t3 でφH3が低レベルに、φ
H4が高レベルになり、混合された信号電荷(eX +e
X+1)が最終段の転送部51 に転送され、さらに時点t4
でフローティング・ディフージョン領域7に転送されて
出力アンプ8より出力される。
【0039】この構成によれば、水平転送レジスタ1の
後段の転送部52 で2画素分の信号電荷を混合し、混合
した状態でフローティング・ディフージョン領域7へ転
送するので、前述の従来の場合に比して信号期間T3
のばすことができる(T3 >T1 )。
【0040】尚、上例ではクロックパルスφH3,φH4
転送部52 ,51 を設けるようにしたがクロックパルス
φH4の転送部51 を省略することもできる。このときに
は、クロックパルスφH3の転送部が最終段となり、従っ
て、最終段で信号電荷の混合が行われることになる。
【0041】また、図5では間欠モードの読み出しで2
画素分の信号電荷を混合するようにしたが、クロックパ
ルスφH3,φH4をクロックパルスφH1,φH2のn倍(n
は整数)の周期のクロックパルスとすることにより、3
画素分以上の信号電荷を混合する場合にも適用できる。
【0042】
【発明の効果】本発明によれば、間欠モードによる読み
出し時、電荷転送レジスタの転送部において信号電荷の
混合を行うことにより、出力信号の信号期間を従来に比
してのばすことができる。従って、回路系の負担を軽減
して、間欠モードでの読み出しスピードを上げることが
可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のCCD素子の一例を示す構成図であ
る。
【図2】図1のCCD素子に係る間欠モードにおける印
加パルス波形及びCCD出力波形を示す波形図である。
【図3】図1のCCD素子の動作説明に供するポテンシ
ャル図である。
【図4】本発明のCCD素子の他の例を示す構成図であ
る。
【図5】図4のCCD素子に係る間欠モードにおける印
加パルス波形及びCCD出力波形を示す波形図である。
【図6】従来例のCCD素子の構成図である。
【図7】通常モード及び従来の間欠モードにおける印加
パルス波形とCCD出力波形を示す波形図である。
【符号の説明】
1 水平転送レジスタ 2 P形半導体基板 3 N形ウエル領域 4S ストレージ電極 4T トランスファ電極 5 転送部 5L 最終段の転送部 6 出力ゲート部 7 フローティング・ディフージョン領域 8 出力アンプ 9 出力部 10 リセットドレイン領域 11 リセットゲート部 φH1,φH2 2相クロックパルス φHL クロックパルス φOG 出力ゲート部のクロックパルス VOG 出力ゲート部の固定電圧 φRS リセットパルス VRD リセットドレイン領域の電圧

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 転送クロックパルスが印加されるCCD
    構造の電荷転送レジスタの終段に出力ゲート部を介して
    フローティング・ディフージョン領域が接続され、該フ
    ローティング・ディフージョン領域とリセットドレイン
    領域間にリセットゲート部が設けられてなるCCD素子
    において、間欠モードによる読み出し時、上記出力ゲー
    トにクロックパルスを印加し、出力ゲート部の電位を低
    レベルとして1の信号電荷を上記電荷転送レジスタの終
    段の転送部に蓄積し、上記転送クロックパルスで他の信
    号電荷を上記終段の転送部に転送し、上記終段の転送部
    で信号電荷を混合することを特徴とするCCD素子。
  2. 【請求項2】 電荷転送レジスタの終段の転送部で混合
    した信号電荷をフローティング・ディフージョン領域に
    転送して出力することを特徴とする請求項1記載のCC
    D素子。
  3. 【請求項3】 CCD構造の電荷転送レジスタの終段に
    出力ゲート部を介してフローティング・ディフージョン
    領域が接続され、該フローティング・ディフージョン領
    域とリセットドレイン領域間にリセットゲート部が設け
    られてなるCCD素子において、上記電荷転送レジスタ
    の前段の転送部と後段の転送部に夫々独立に転送クロッ
    クパルスを印加するようになし、間欠モードによる読み
    出し時、上記後段の転送部に上記前段の転送部に与える
    転送クロックパルスのn倍(nは整数)の周期の転送ク
    ロックパルスを印加して上記後段の転送部で信号電荷を
    混合することを特徴とするCCD素子。
  4. 【請求項4】 間欠モードによる読み出し時、出力ゲー
    ト部には固定電圧が印加されることを特徴とする請求項
    3記載のCCD素子。
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JP2001054021A (ja) * 1999-08-12 2001-02-23 Seiko Epson Corp 固体撮像装置及びその駆動方法
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5625414A (en) * 1995-01-30 1997-04-29 Eastman Kodak Company Imaging device using asymmetrical timing for pixel summing

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57148478A (en) * 1981-03-09 1982-09-13 Canon Inc Solid image pickup device
JPH04256364A (ja) * 1991-02-08 1992-09-11 Sharp Corp 固体撮像装置の信号読み出し方法
EP0522552B1 (en) * 1991-07-12 1998-01-07 Sony Corporation Charge transfer device

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001054021A (ja) * 1999-08-12 2001-02-23 Seiko Epson Corp 固体撮像装置及びその駆動方法
US8054364B2 (en) 2007-03-27 2011-11-08 Fujifilm Corporation Image apparatus and drive control method for image pickup device with horizontal addition of pixel data

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