JPH0681040B2 - Logical operation circuit - Google Patents

Logical operation circuit

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JPH0681040B2
JPH0681040B2 JP59032447A JP3244784A JPH0681040B2 JP H0681040 B2 JPH0681040 B2 JP H0681040B2 JP 59032447 A JP59032447 A JP 59032447A JP 3244784 A JP3244784 A JP 3244784A JP H0681040 B2 JPH0681040 B2 JP H0681040B2
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fet
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孝樹 野口
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Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、特にAND・OR回路が複数段直列に接続されて
いる論理を複合の論理演算回路でVLSI等を生成するのに
好適な論理演算回路に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Use of the Invention] The present invention particularly relates to a logical operation suitable for generating a VLSI or the like by a logical operation circuit having a combination of AND / OR circuits connected in series in plural stages. Regarding the circuit.

〔発明の背景〕[Background of the Invention]

例えば、論理式H H=((A・B+C)・D+E)・F+G …(1) を実行する論理演算回路を生成する場合、従来、上記の
式(1)を展開し、 H=A・B・D・F+C・D・F+E・F+G…(2) と変形して、この式(2)をもとに第1図のように論理
演算回路を構成していた。
For example, in the case of generating a logical operation circuit that executes the logical expression H H = ((A · B + C) · D + E) · F + G (1), conventionally, the above expression (1) is expanded and H = A · B ..D.F + C.D.F + E.F + G ... (2) was modified to form a logical operation circuit as shown in FIG. 1 based on this equation (2).

第1図の論理演算回路をCMOS回路で実現すると、一般的
に第2図に示すようになる。このCMOS回路はPチヤネル
MOSFET(PMOS−FET)30とNチヤネルMOSFET(NMOS−FE
T)40を用いてNANDゲートを基本に構成されているた
め、素子数は28個、配線数(ここでいう配線数とは、各
ゲートに対する入出力線数および論理回路の最終出力信
号線数の総和である。以下、同じ意味に用いる。)は12
本と多く、例えば、VLISI上にレイアウトしたとき面積
が大きくなるという欠点がある。
When the logical operation circuit of FIG. 1 is realized by a CMOS circuit, it becomes generally as shown in FIG. This CMOS circuit is P channel
MOSFET (PMOS-FET) 30 and N-channel MOSFET (NMOS-FE)
T) 40 is used as a basic NAND gate configuration, so the number of elements is 28, and the number of wires (the number of wires here means the number of input / output lines for each gate and the final output signal line of the logic circuit). Is the sum of the following.
Many books, for example, have the disadvantage that the area becomes large when laid out on VLISI.

〔発明の目的〕[Object of the Invention]

本発明の目的は、VLSI等で高速論理演算回路を構成する
ための素子数および配線数の少ない論理演算回路を提供
することにある。
An object of the present invention is to provide a logical operation circuit having a small number of elements and a small number of wirings for constructing a high speed logical operation circuit in VLSI or the like.

〔発明の概要〕[Outline of Invention]

本発明による論理演算回路は、VLSI上で、素子数や配線
数を少なくするために、従来、NAND,NORなどの基本論理
演算回路(論理ゲート)で構成していた論理を、トラン
ジスタを基本回路とした複合論理で構成する。
In the logic operation circuit according to the present invention, in order to reduce the number of elements and the number of wirings on VLSI, the logic which has been conventionally composed of a basic logic operation circuit (logical gate) such as NAND, NOR is formed by using a transistor as a basic circuit. It is composed of complex logic.

その構成は、トランジスタを開閉スイツチと見なして、
論理がORの時は並列に、ANDの時は直列に接続した第1
のスイツチ群と、逆の状態になる開閉スイツチを用い
て、第1のスイツチ群と双対の接続関係となる第2のス
イツチ群とを直列接続し、その両端に電圧をかけ接続点
から引出された出力線により、所望の入力条件が成立し
たとき論理“1"を出力し、成立しないとき論理“0"を出
力する構成であることを特徴とする。
The structure considers the transistor as an open / close switch,
The first that is connected in parallel when the logic is OR and in series when it is AND
Switch group and a switching switch in the opposite state are used to connect in series the first switch group and the second switch group having a dual connection relationship, and a voltage is applied to both ends of the first switch group to draw it from the connection point. The output line outputs a logical "1" when a desired input condition is satisfied, and outputs a logical "0" when the desired input condition is not satisfied.

また、同じ制御信号線に接続する2種類のスイツチの間
に接続される他のスイツチの最大個数が最も少なくな
り、かつ出力信号線に接続するスイツチの個数が少なく
なる構成にすることを特徴とする。
In addition, the maximum number of other switches connected between two types of switches connected to the same control signal line is minimized, and the number of switches connected to the output signal line is reduced. To do.

本願で開示される発明のうち、代表的なものの構成は下
記の通りである。
Among the inventions disclosed in the present application, typical configurations are as follows.

すなわち、第1動作電位点(500)と出力点()との
間に接続された第1のスイッチ群(300)と、 上記出力点()と第2動作電位点(510)との間に接
続された第2のスイッチ群(400)とを具備してなり、 上記第1のスイッチ群(300)は第1、第2、第3、第
4の入力信号(A、B、C、D)がそれぞれゲートに印
加された第1、第2、第3、第4のPチヤネルMOSFET
(31、32、33、34)を有してなり、 上記第2のスイッチ群(400)は上記第1、第2、第
3、第4の入力信号(A、B、C、D)がそれぞれゲー
トに印加された第1、第2、第3、第4のNチヤネルMO
SFET(41、42、43、44)を有してなり、 上記第1のスイッチ群(300)において上記第1のPチ
ヤネルMOSFET(31)のソース・ドレイン径路は上記第2
のPチヤネルMOSFT(32)のソース・ドレイン径路と並
列接続され、上記第3のPチヤネルMOSFET(33)のソー
ス・ドレイン径路は上記並列接続された上記第1と第2
のPチヤネルMOSFET(31、32)のソース・ドレイン径路
と直列接続され、上記第4のPチヤネルMOSFET(34)の
ソース・ドレイン径路は上記並直列接続された第1、第
2、第3のPチヤネルMOSFET(31、32、33)のソース・
ドレイン径路と並列接続され、 上記第2のスイッチ群(400)において上記第1のNチ
ヤネルMOSFT(41)のソース・ドレイン径路は上記第2
のNチヤネルMOSFET(42)のソース・ドレイン径路と直
列接続され、上記第3のNチヤネルMOSFET(43)のソー
ス・ドレイン径路は上記直列接続された上記第1と第2
のNチヤネルMOSFET(42、43)のソース・ドレイン径路
と並列接続され、上記第4のNチヤネルMOSFET(44)の
ソース・ドレイン径路は上記直並列接続された第1、第
2、第3のNチヤネルMOSFET(41、42、43)のソース・
ドレイン径路と直列接続されてなり、 上記第1のスイッチ群(300)において上記並列接続さ
れた上記第1と第2のPチヤネルMOSFET(31、32)のソ
ース・ドレイン径路は上記第3のPチヤネルMOSFET(3
3)のソース・ドレイン径路を介して上記出力点()
に接続され、 上記第2のスイッチ群(400)において上記直並列接続
された第1、第2、第3のNチヤネルMOSFET(41、42、
43)のソース・ドレイン径路は上記第4のNチヤネルMO
SFET(44)のソース・ドレイン径路を介して上記第2動
作電位点(510)に接続されてなることを特徴とする。
That is, between the first switch group (300) connected between the first operating potential point (500) and the output point (), and between the output point () and the second operating potential point (510). And a second switch group (400) connected to each other, wherein the first switch group (300) has first, second, third and fourth input signals (A, B, C, D). ) Respectively applied to the gates of the first, second, third and fourth P-channel MOSFETs.
(31, 32, 33, 34), and the second switch group (400) receives the first, second, third and fourth input signals (A, B, C, D). The first, second, third, and fourth N channels MO applied to the respective gates
SFETs (41, 42, 43, 44) are provided, and the source / drain path of the first P-channel MOSFET (31) in the first switch group (300) is the second
Source and drain paths of the P channel MOSFT (32) are connected in parallel, and the source and drain paths of the third P channel MOSFET (33) are connected in parallel.
Of the P-channel MOSFET (31, 32) connected in series with the source-drain path of the fourth P-channel MOSFET (34) connected in parallel with the first, second, and third. Source of P-channel MOSFET (31, 32, 33)
The source / drain path of the first N-channel MOSFT (41) in the second switch group (400) is connected in parallel with the drain path.
Source and drain paths of the N channel MOSFET (42) are connected in series, and source and drain paths of the third N channel MOSFET (43) are connected in series.
Of the N-channel MOSFET (42, 43) connected in parallel with the source-drain path of the fourth N-channel MOSFET (44), and the source-drain path of the fourth N-channel MOSFET (44) connected in series with the first, second, third. Source of N-channel MOSFET (41, 42, 43)
The source / drain paths of the first and second P-channel MOSFETs (31, 32) connected in series with the drain path and connected in parallel in the first switch group (300) are the third P-channel. Channel MOSFET (3
Output point () via the source / drain path of 3)
And the first, second, and third N-channel MOSFETs (41, 42, 41) connected in series and parallel in the second switch group (400).
The source / drain path of 43) is the fourth N-channel MO above.
It is characterized in that it is connected to the second operating potential point (510) through the source / drain path of the SFET (44).

上記の如き本発明の構成によれば、第1のスイッチ群
(300)において並直列接続された複数のPチヤネルMOS
FETの接続順序と、第2のスイッチ群(400)において直
並列接続された複数のNチヤネルMOSFETとが等しくされ
ているため、複数の入力信号(A、B、C、D)のいず
れの入力信号が変化した時の出力点()の出力信号変
化の遅延時間が平均化され、最大遅延時間が短くなると
言う効果が得られる。
According to the configuration of the present invention as described above, a plurality of P channel MOSs connected in parallel in the first switch group (300) are provided.
Since the connection order of the FETs and the plurality of N-channel MOSFETs connected in series and parallel in the second switch group (400) are equal, whichever input of a plurality of input signals (A, B, C, D) is input. The delay time of the output signal change at the output point () when the signal changes is averaged, and the maximum delay time is shortened.

本発明のその他の目的と特徴は、以下の実施例から明ら
かとなろう。
Other objects and features of the present invention will be apparent from the following examples.

〔発明の実施例〕Example of Invention

以下、本発明の一実施例を図面を用いて詳細に説明す
る。
An embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

第3図(a)は、入力信号A,B,C,D,Eより、論理式 =(A・B+C)・D+E …(3) の論理を実行する複合論理回路100のシンボル図、また
第3図(b)はMOS−FETを用いて実現した回路図であ
る。第3図(b)の回路はPチヤネルMOSFET(PMOS−FE
T)31〜35とNチヤネルMOSFET(NMOS−FET)41〜45によ
り構成されている。
FIG. 3 (a) is a symbol diagram of the composite logic circuit 100 that executes the logic of the logical expression = (A * B + C) * D + E (3) from the input signals A, B, C, D, E. FIG. 3B is a circuit diagram realized by using a MOS-FET. The circuit of FIG. 3 (b) is a P-channel MOSFET (PMOS-FE).
T) 31 to 35 and N channel MOSFETs (NMOS-FET) 41 to 45.

式(3)から、その論理式の否定の論理式Fは F=((+)・+)・ …(4) と変形できる。式(3)の右辺と、式(4)の右辺は双
対の関係(ANDとORが反転している論理式)になつてい
る。
From the formula (3), the negative logical formula F of the logical formula can be transformed into F = ((+) · +) ··· (4). The right side of Expression (3) and the right side of Expression (4) have a dual relationship (logical expression in which AND and OR are inverted).

第3図(b)において、各MOS−FETはスイツチを構成し
ており、NMOS−FET41〜45で構成されるスイツチ群400
は、=1即ち式(3)の右辺が成立するとき導通状態
となるスイツチ群でありこれにより接地電位510を出力
に伝える。ここでMOS−FETの接続は仕方は、直列接続は
AND、並列接続はORと対応付け、式(3)の右辺から定
めたものである。
In FIG. 3 (b), each MOS-FET constitutes a switch, and a switch group 400 constituted by NMOS-FETs 41 to 45.
Is a group of switches that are in a conductive state when = 1, that is, the right side of Expression (3) is satisfied, and thereby the ground potential 510 is transmitted to the output. Here, how to connect MOS-FET, series connection
AND and parallel connection are defined from the right side of Expression (3) in association with OR.

即ち、NOMS−FET41と42はA・B、41,42と43はA・B+
C、41,42,43と44は、(A・B+C)・D、41,42,43,4
4と45は(A・B+C)・D+Eが成り立つとき、それ
ぞれONとなるスイツチ群となつている。
That is, NOMS-FETs 41 and 42 are A / B, 41, 42 and 43 are A / B +
C, 41, 42, 43 and 44 are (A ・ B + C) ・ D, 41, 42, 43, 4
4 and 45 are switch groups that are turned on when (A / B + C) / D + E are satisfied.

同様に、PMOS−FET31〜35で構成されるスイツチ群300
は、F=1即ち式(4)の右辺が成立するとき導通状態
となるスイツチ群であり、これにより電源電位500を出
力に伝える。このときのMOS−FETの接続の仕方も、Nチ
ヤネル側と同様にして、式(4)の右辺から定めたもの
である。
Similarly, a switch group 300 composed of PMOS-FETs 31 to 35
Is a switch group that is in a conductive state when F = 1, that is, the right side of Expression (4) is satisfied, and thereby transmits the power supply potential 500 to the output. The connection method of the MOS-FET at this time is also determined from the right side of the equation (4) in the same manner as the N-channel side.

即ち、PMOS−FET31と32は+、31,32と33は(+
)・31,32,33と34は(+)・+、31,32,3
3,34と35は、((+)・+)・が成り立つと
き、それぞれONとなるスイツチ群となつている。
That is, the PMOS-FETs 31 and 32 are +, 31 and 32 and 33 are (+
) ・ 31,32,33 and 34 are (+) ・ +, 31,32,3
3,34 and 35 are switch groups that are turned on when ((+) ・ +) ・ holds.

以上のようにNMOSスイツチ群400は=1のときONとな
り、接地電位510を出力に伝え=0のとき、OFFとな
る。
As described above, the NMOS switch group 400 turns ON when = 1 and transmits the ground potential 510 to the output, and turns OFF when = 0.

また、PMOSスイツチ群300は=0のとき、ONとなり電
源電圧500を出力に伝え=1のとき、OFFとなる。
Further, the PMOS switch group 300 turns on when = 0 and transmits the power supply voltage 500 to the output, and turns off when = 1.

したがつて、これらの出力の結線論理和によつて、論理
式を実現できる。
Therefore, the logical expression can be realized by the connection logical sum of these outputs.

第3図(b)では、素子数10個、配線数6本となつてい
る。
In FIG. 3B, the number of elements is 10 and the number of wirings is 6.

したがつて、ある入力信号が肯定のとき導通するスイツ
チと否定のとき導通するスイツチを用いて、双対の論理
式が成り立つとき導通する2種類のスイツチ群を論理式
のANDとORをそれぞれ、直列と並列の接続関係で表わし
て実現し、これらのスイツチ群を用いて所望の論理が成
立したとき論理“1"を出力し、そうでないとき、論理
“0"を出力する論理演算回路を実現することができる。
Therefore, by using a switch that conducts when a certain input signal is positive and a switch that conducts when a certain input signal is negative, two types of switches that conduct when a dual logical expression holds are AND and OR of the logical expressions, respectively. It is realized by expressing it as a parallel connection relationship with and realizes a logical operation circuit that outputs a logical "1" when a desired logic is satisfied by using these switch groups and outputs a logical "0" otherwise. be able to.

ここで双対の論理式を用いた結果、同一信号に接続され
た2つのスイツチのいずれか一方が遮断されるため、NM
OSスイツチ群400とPMOSスイツチ群300の間で貫通電流が
流れることがない。
As a result of using the dual logic equation, either one of the two switches connected to the same signal is cut off, so NM
No through current flows between the OS switch group 400 and the PMOS switch group 300.

また、第3図(b)ではNMOS−FETスイツチ群400とPMOS
−FETスイツチ群300の接続において、NMOS−FETスイツ
チ群400又はPMOS−FET群300のいずれか一方について、
上下を逆に接続する方法が考えられる。
Further, in FIG. 3B, the NMOS-FET switch group 400 and the PMOS
-In connection of the FET switch group 300, for either one of the NMOS-FET switch group 400 or the PMOS-FET group 300,
It is possible to connect them upside down.

NMOS−FETスイツチ群400の上下を逆にすると、出力信号
線550にはNMOS−FETスイツチ群400のMOS−FET44,45とPM
OS−FETスイツチ群300のMOS−FET35が直接接続される構
成になる。又、POMS−FETスイツチ群300の上下を逆にす
ると、出力信号線550にはPMOS−FETスイツチ群300のMOS
−FET31,32,34とNMOS−FETスイツチ群400のMOS−FET41,
43,45が直接接続される構成になる。この方法の場合に
は、入力信号A,B,C,D,Eの変化に伴う出力信号Fの変化
が、ある入力信号に対して極端に遅くなる。
When the upper and lower sides of the NMOS-FET switch group 400 are turned upside down, the output signal line 550 is connected to the MOS-FETs 44, 45 and PM of the NMOS-FET switch group 400.
The MOS-FET 35 of the OS-FET switch group 300 is directly connected. When the POMS-FET switch group 300 is turned upside down, the MOS of the PMOS-FET switch group 300 is connected to the output signal line 550.
-FET 31, 32, 34 and NMOS-FET switch group 400 MOS-FET 41,
43 and 45 are directly connected. In the case of this method, the change of the output signal F accompanying the change of the input signals A, B, C, D, E becomes extremely slow with respect to a certain input signal.

例えば、NMOS−FETスイツチ群400の上下を逆に接続した
場合、即ち第7図のような構成にした場合、同じ入力信
号に接続する2つのMOS−FETの間に接続される他のMOS
−FETの個数が入力信号AについてはMOS−FET33,35,44,
42の4個となり、同様に、入力信号BについてはMOS−F
ET33,35,44の3個、入力信号CについてはMOS−FET35,4
4の2個、入力信号DについてはMOS−FET35の1個,入
力信号Eについては0個となる。ここで、間に接続する
MOS−FETの個数が最大となる入力信号Aに着目すると、
入力信号A,C,EがLOWレベルで入力信号B,DがHighレベル
のとき、今、入力信号AがHighに変化すると、NMOS−FE
T41は出力Fの負荷容量及びPMOS−FET31〜35、NMOS−FE
T42〜45のソースドレインがHighレベルであるため、拡
散容量に蓄えられていた電荷を放電しなければならな
い。定量的に説明すると、出力Fの負荷容量(≒Cとす
る)、PMOS−FET31のドレイン拡散容量(≒Cとす
る)、PMOS−FET32のドレイン拡散容量(≒C)、PMOS
−FET33のソース及びドレイン拡散容量(≒2C)、PMOS
−FET34のドレイン拡散容量(≒C)、PMOS−FET35のソ
ース及びドレイン拡散容量(≒2C)、NMOS−FET41のド
レイン拡散容量(≒Cとする)、NOMS−FET42のソース
及びドレイン拡散容量(≒2C)、NMOS−FET43のドレイ
ン拡散容量(≒C)、NMOS−FET44のソース及びドレイ
ン拡散容量(≒2C)及びNMOS−FET45のドレイン拡散容
量(≒C)の合計15Cの拡散容量に蓄えられていた電荷
を放電しなければならない。そのため、出力信号Fを高
速に変化させることができない。他の入力信号について
は、どのような入力信号の変化に対しても、そのとき充
放電しなければならない電荷の量は上記の場合より少な
くなり、最大の遅延時間は入力信号Aが変化した場合と
なる。
For example, when the upper and lower sides of the NMOS-FET switch group 400 are connected in reverse, that is, when the configuration shown in FIG. 7 is used, another MOS connected between two MOS-FETs connected to the same input signal is connected.
-For the input signal A, the number of FETs is MOS-FET33,35,44,
There are 4 of 42. Similarly, for input signal B, MOS-F
Three of ET33,35,44, input signal C is MOS-FET35,4
4, the input signal D is one MOS-FET 35, and the input signal E is zero. Connect here in between
Focusing on the input signal A that maximizes the number of MOS-FETs,
When the input signals A, C, E are low level and the input signals B, D are high level, when the input signal A changes to high level now, the NMOS-FE
T41 is the load capacitance of output F, PMOS-FET31-35, NMOS-FE
Since the source and drain of T42 to 45 are at high level, the electric charge stored in the diffusion capacitance must be discharged. Quantitatively speaking, the load capacitance of the output F (≈C), the drain diffusion capacitance of the PMOS-FET 31 (≈C), the drain diffusion capacitance of the PMOS-FET 32 (≈C), the PMOS
-FET33 source and drain diffusion capacitance (≈2C), PMOS
-Drain diffusion capacitance of FET34 (≈C), source and drain diffusion capacitance of PMOS-FET35 (≈2C), drain diffusion capacitance of NMOS-FET41 (≈C), source and drain diffusion capacitance of NOMS-FET42 (≈) 2C), the drain diffusion capacitance (≈C) of the NMOS-FET43, the source and drain diffusion capacitance (≈2C) of the NMOS-FET44, and the drain diffusion capacitance (≈C) of the NMOS-FET45 are stored in the total diffusion capacitance of 15C. Must be discharged. Therefore, the output signal F cannot be changed at high speed. For other input signals, the amount of charge that has to be charged / discharged at that time is smaller than that in the above case regardless of any change in the input signal, and the maximum delay time is when the input signal A changes. Becomes

一方、第3図(b)の構成によれば、同様に、同じ入力
信号に接続する2つのMOS−FETの間に接続される他のMO
S−FETの個数は、入力信号AについてはMOS−FET33,35
の2個、入力信号BについてはMOS−FET33,35,41の3
個、入力信号CについてはMOS−FET35の1個、入力信号
DについてはMOS−FET35,41,42の3個,入力信号Eにつ
いては0個となる。ここで、間に接続するMOS−FETの個
数が最大となる入力信号Bに着目すると、入力信号A,D
がHighレベルで入力信号B,C,EがLOWレベルのとき、NMOS
−FET44のソースドレインはLOWレベルであるため拡散容
量には電荷が蓄積されていない。したがつて、入力信号
BがLOWレベルからHighレベルに変化するとき、放電し
なければならない電荷の量(ここではNMOS−FET42が放
電する電荷の量)は、出力Fの負荷容量(≒C)、PMOS
−FET31のドレイン拡散容量(≒C)、PMOS−FET32のド
レイン拡散容量(≒C)、PMOS−FET33のソース及びド
レイン拡散容量(≒2C)、PMOS−FET34のドレイン拡散
容量(≒C)、PMOS−FET35のソース及びドレイン拡散
容量(≒2C)、NMOS−FET41のソース及びドレイン拡散
容量(≒2C)、NMOS−FET42のドレイン拡散容量(≒
C)、NMOS−FET43のドレイン拡散容量(≒C)及びNMO
S−FET45のドレイン拡散容量(≒C)の合計13Cとなる
ので上記の構成の場合より少なくなり、出力信号Fを高
速に変化させることができる。
On the other hand, according to the configuration of FIG. 3B, similarly, another MO connected between two MOS-FETs connected to the same input signal is connected.
Regarding the number of S-FETs, for input signal A, MOS-FETs 33, 35
2 and the input signal B is 3 of MOS-FET 33, 35, 41
The input signal C is one of the MOS-FETs 35, the input signal D is three of the MOS-FETs 35, 41 and 42, and the input signal E is zero. Here, focusing on the input signal B that maximizes the number of MOS-FETs connected between them, the input signals A and D
Is high and the input signals B, C and E are low, the NMOS
-Because the source and drain of FET44 are at LOW level, no charge is stored in the diffusion capacitance. Therefore, when the input signal B changes from the LOW level to the High level, the amount of charge that must be discharged (here, the amount of charge that the NMOS-FET 42 discharges) is the load capacitance of the output F (≈C). , PMOS
-Drain diffusion capacitance of FET31 (≈C), drain diffusion capacitance of PMOS-FET32 (≈C), source and drain diffusion capacitance of PMOS-FET33 (≈2C), drain diffusion capacitance of PMOS-FET34 (≈C), PMOS -Source and drain diffusion capacity of FET35 (≈2C), source and drain diffusion capacity of NMOS-FET41 (≈2C), drain diffusion capacity of NMOS-FET42 (≈2C)
C), NMOS-FET43 drain diffusion capacitance (≈C) and NMO
Since the total drain diffusion capacitance (≉C) of the S-FET 45 is 13 C, this is smaller than in the case of the above configuration, and the output signal F can be changed at high speed.

即ち、同じ入力信号に接続する2つのスイツチの間に接
続される他のスイツチの個数が最大となる場合において
その入力信号を変化させたときの充放電容量を最小にす
るという条件を満たすように設計すれば、最大遅延時間
が短くなる。
That is, when the number of other switches connected between two switches connected to the same input signal is maximum, the condition that the charge / discharge capacity when the input signal is changed is minimized is satisfied. If designed, the maximum delay time will be short.

ここで、第3図(b)の構成において、PMOS−FETスイ
ツチ群300だけを上下逆に接続した場合、即ち第8図の
ような構成にした場合についても言及すると、同じ入力
信号に接続する2つのMOS−FETの間に接続される他のMO
S−FETの個数は、入力信号Aについては0個、入力信号
BについてはMOS−FET41の1個、入力信号Cについては
MOS−FET31の1個、入力信号DについてはMOS−FET41,4
2の2個,入力信号EについてはMOS−FET31,32の2個と
なる。従って、間に接続するMOS−FETの個数が最大とな
る入力信号Eに着目すると、入力信号A,C,EがLOWレベル
で入力信号B,DがHighレベルのとき、今、入力信号EがH
ighに変化すると、出力Fの負荷容量(≒C)、PMOS−F
ET31のソース及びドレイン拡散容量(≒2C)、PMOS−FE
T32のソース及びドレイン拡散容量(≒2C)、PMOS−FET
33のソース及びドレイン拡散容量(≒2C)、PMOS−FET3
5のソース及びドレイン拡散容量(≒2C)、PMOS−FET35
のドレイン拡散容量(≒C)、NMOS−FET41のドレイン
拡散容量(≒C)、NMOS−FET43のドレイン拡散容量
(≒C)及びNMOS−FET45のドレイン拡散容量(≒C)
の合計13Cの拡散容量に蓄えられていた電荷を放電する
ことになる。これは第3図(b)の構成と同じ電荷量で
ある。従って、出力信号Fの応答速度に違いはない。し
かしながら、第8図の出力信号線550の内部負荷容量はM
OS−FET31,32,34,41,43,45の6個分であり、第3図
(b)の構成での内部負荷容量MOS−FET35,41,43,45の
4個分よりもかなり大きいことがわかる。内部負荷容量
が大きいということは全体の応答速度が落ちることを示
している。従って、内部負荷容量が小さいように論理回
路を設計することが条件であるといえる。
Here, referring to the case where only the PMOS-FET switch group 300 is connected upside down in the configuration of FIG. 3 (b), that is, the configuration of FIG. 8 is mentioned, the same input signal is connected. Another MO connected between two MOS-FETs
The number of S-FETs is 0 for input signal A, 1 for MOS-FET 41 for input signal B, and 1 for input signal C.
One of MOS-FET31, input signal D is MOS-FET41,4
2 for the input signal E, and two for the input signal E of the MOS-FETs 31 and 32. Therefore, paying attention to the input signal E that maximizes the number of MOS-FETs connected between them, when the input signals A, C, E are LOW level and the input signals B, D are High level, the input signal E is now H
When it changes to igh, the load capacitance of output F (≈C), PMOS-F
ET31 source and drain diffusion capacitance (≈2C), PMOS-FE
T32 source and drain diffusion capacitance (≈2C), PMOS-FET
33 source and drain diffusion capacitance (≈2C), PMOS-FET3
Source and drain diffusion capacity of 5 (≈ 2C), PMOS-FET35
Drain diffusion capacitance (≈C), NMOS-FET 41 drain diffusion capacitance (≈C), NMOS-FET 43 drain diffusion capacitance (≈C) and NMOS-FET 45 drain diffusion capacitance (≈C)
Therefore, the electric charge stored in the total diffusion capacity of 13C will be discharged. This is the same amount of charge as in the configuration of FIG. Therefore, there is no difference in the response speed of the output signal F. However, the internal load capacity of the output signal line 550 in FIG. 8 is M
Six of the OS-FETs 31, 32, 34, 41, 43, 45, which are considerably larger than the four internal load capacitance MOS-FETs 35, 41, 43, 45 in the configuration of FIG. 3 (b). I understand. A large internal load capacity means that the overall response speed is reduced. Therefore, it can be said that the condition is to design the logic circuit so that the internal load capacity is small.

なお、第3図(b)においてPMOS−FETスイッチ群300と
NMOS−FETスイッチ群400の位置を上下逆にした場合(即
ち出力信号線550にPMOS−FETスイッチ群300のMOS−FET3
1,32,34とNMOS−FETスイッチ群400のMOS−FET44,45が接
続された場合)にも、出力信号線550に応答速度は変わ
らないが、上記と同様に、出力信号線550に接続するMOS
−FETの数がMOS−FET35,41,43,45の4個からMOS−FET3
1,32,34,44,45の5個に増加して、出力信号線550の内部
負荷容量が増大し、全体の応答速度が落ちてしまうこと
がわかる。
In addition, in FIG. 3B, the PMOS-FET switch group 300 and
When the position of the NMOS-FET switch group 400 is turned upside down (that is, the MOS-FET3 of the PMOS-FET switch group 300 is connected to the output signal line 550).
1,32,34 and the MOS-FET44,45 of the NMOS-FET switch group 400 are connected), the response speed does not change to the output signal line 550, but it is connected to the output signal line 550 as above. MOS
-The number of FETs is four from MOS-FET35,41,43,45 to MOS-FET3
It can be seen that the internal load capacity of the output signal line 550 is increased and the overall response speed is reduced by increasing the number to 1, 32, 34, 44, 45.

以上のように、論理回路の応答速度が良くするために
は、同じ入力信号に接続する2つのスイッチの間に接続
される他のスイッチの個数が最大となる場合においてそ
の入力信号を変化させたときの充放電容量を最小にする
という条件と出力信号線550に接続するMOS−FETの数を
小さくするようにPMOS−FETスイッチ群300とNMOS−FET
スイッチ群400を構成するという条件を満たすようにす
ればよい。
As described above, in order to improve the response speed of the logic circuit, the input signal is changed when the number of other switches connected between two switches connected to the same input signal is maximum. In order to reduce the number of MOS-FETs connected to the output signal line 550 under the condition that the charge / discharge capacity is minimized, the PMOS-FET switch group 300 and the NMOS-FET are
It suffices to satisfy the condition of configuring the switch group 400.

従つて、本実施例によれば論理式を実現する論理回路
を上記2つの条件で決定することにより、論理規模及び
回路的性能が最も良いものが得られる。
Therefore, according to the present embodiment, by determining the logic circuit that realizes the logical expression under the above two conditions, the one having the best logic scale and circuit performance can be obtained.

第4図(a)、入力信号A,B,C,D,E,F,Gより、 =((A・B+C)・D+E)・F+G …(5) を生成する論理演算回路200のシンボル図、また第4図
(b)はMOS−FETを用いて実現した回路図である。
FIG. 4 (a), a symbol diagram of the logical operation circuit 200 for generating = ((A + B + C) * D + E) * F + G (5) from the input signals A, B, C, D, E, F, G Further, FIG. 4 (b) is a circuit diagram realized by using a MOS-FET.

本回路図は、第3図(b)で示した回路構成はそれぞれ
のスイッチ群(PMOS−FETスイツチ群300,NMOS−FETスイ
ツチ群400)について拡張したものであり、上記2つの
条件によつてスイツチ群の接続を決定したものである。
This circuit diagram is an extension of the circuit configuration shown in FIG. 3 (b) for each switch group (PMOS-FET switch group 300, NMOS-FET switch group 400). The connection of the switch group is determined.

本回路は後述する第6図に用いられている。This circuit is used in FIG. 6 described later.

第4図(b)の回路図では、素子数14個、配線数8本と
なり、第2図の従来例に比べ、約1/2の回路規模となつ
ている。
In the circuit diagram of FIG. 4 (b), the number of elements is 14 and the number of wirings is 8, which is about half the circuit scale of the conventional example of FIG.

従来は、論理式を展開(例えば、加法標準型に展開)し
て、論理演算回路を生成していたため、1つの入力信号
が多数の論理ゲート(1段目)に入力され、また、その
論理ゲート(1段目)の出力から所望の論理を生成する
論理ゲート(2段目)が必要であつたが、本実施例によ
る複合論理で構成した回路では、1つの入力信号が2つ
の論理ゲート(1段目)に入力されるだけであり、ま
た、2段目の論理ゲートが不要となり、回路全体の素子
数や配線数が少なくなる。
Conventionally, since a logical operation circuit is generated by expanding a logical expression (for example, expanding to an additive standard type), one input signal is input to a large number of logical gates (first stage), and its logical Although a logic gate (second stage) that generates a desired logic from the output of the gate (first stage) is required, in the circuit configured by the composite logic according to the present embodiment, one input signal has two logic gates. It is only input to the (first stage), and the logic gate of the second stage is unnecessary, and the number of elements and wirings in the entire circuit is reduced.

第5図は、従来のNANDゲートを基本とした4ビツトの演
算器の桁上げ先見回路の論理図である。
FIG. 5 is a logic diagram of a carry look-ahead circuit of a conventional 4-bit arithmetic unit based on a NAND gate.

第5図において、pi,gi,ci(i=0,1,2,3)はそれぞれ
iビツト目の桁上げ伝搬信号、桁上げ生成信号及び桁上
げ信号である。ここで3ビツト目をMSE(Most Signific
ant Bit)とする。iビツト目の入力データをxi,yiとす
ると、(例えばxi,yiはそれぞれ「1100」「1010」の値
をとる) pi=xiyi gi=xi・yi である。ここで、は排他和を表わす記号である。した
がつて、ciは、(キヤリー入力をc-1とすると) c0=g0+p0・c-1 c1=g1+p1・g0+p1・p0・c-1 c2=g2+p2・g1+p2・p1・g0・+p2・p1・p0・c-1 である。また、P,Gを P=p3・p2・p1・p0 G=g3+p3・g2+p3・p2+g1+p3・p2・p1・g0 とすると、c3は、 c3=G+P・c-1 である。
In FIG. 5, pi, gi, ci (i = 0, 1, 2, 3) are the carry propagation signal, carry generation signal and carry signal at the i-th bit, respectively. Here, the third bit is MSE (Most Significant
ant Bit). Assuming that the input data of the i-th bit is xi, yi (for example, xi, yi take values of "1100" and "1010"), pi = xiyi gi = xi.yi. Here, is a symbol representing an exclusive sum. Therefore, ci is c 0 = g 0 + p 0 · c -1 c 1 = g 1 + p 1 · g 0 + p 1 · p 0 · c -1 c 2 = (assuming the carrier input is c -1 ). g 2 + p 2 · g 1 + p 2 · p 1 · g 0 · + p 2 · p 1 · p 0 · c -1 . If P and G are P = p 3 · p 2 · p 1 · p 0 G = g 3 + p 3 · g 2 + p 3 · p 2 + g 1 + p 3 · p 2 · p 1 · g 0 , c 3 is c 3 = G + P · c −1 .

これを第2図で示したようなCMOS回路で実現すると、素
子数は92個、配線数は27本となり、LSI化するとき、面
積が大きくなる。
If this is realized by the CMOS circuit as shown in FIG. 2, the number of elements will be 92 and the number of wiring will be 27, and the area will be large when integrated into an LSI.

ところが、上記の論理式は、 c0=p0・c-1+g0 c1=(p0・c-1+g0)・p1+g1 c2=((p0・c-1+g0)・p1+g1)・p2+g2 P=p3・p2・p1・p0 G=((p1・g0+g1)・p2+g2)・p3+g3 と変形でき,前述の第3図,第4図で示したCMOS論理回
路を用いて実現したときの桁上げ先見回路は、第6図に
示すシンボル図のようになる。
However, the above logical formula is c 0 = p 0 · c −1 + g 0 c 1 = (p 0 · c −1 + g 0 ) · p 1 + g 1 c 2 = ((p 0 · c −1 + g 0 ) ・ P 1 + g 1 ) ・ p 2 + g 2 P = p 3・ p 2・ p 1・ p 0 G = ((p 1・ g 0 + g 1 ) ・ p 2 + g 2 ) ・ p 3 + g 3 The carry look-ahead circuit realized by using the CMOS logic circuits shown in FIGS. 3 and 4 is as shown in the symbol diagram of FIG.

第6図で示す桁上げ先見回路によれば、素子数は52個、
配線数は14本となり、第5図で示した従来の回路に比べ
約1/2の回路規模となり、LSI上にレイアウトした際、面
積が小さくなるという効果がある。特に、第6図の桁上
げ先見回路のように本質的に論理段数が深く、AND回路
とOR回路が交互に幾段にもなる論理演算回路において効
果が大きい。
According to the carry look-ahead circuit shown in FIG. 6, the number of elements is 52,
The number of wires is 14, which is about half the circuit scale of the conventional circuit shown in FIG. 5, and has the effect of reducing the area when laid out on an LSI. In particular, the effect is great in a logical operation circuit such as the carry look-ahead circuit shown in FIG. 6, which has an inherently deep number of logical stages and in which AND circuits and OR circuits are alternately arranged.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上の説明から明らかなように、本発明によれば、基本
論理を組合せた論理を1つの複合論理回路で構成するた
め素子数や配線数が少なくなり、VLSI化したとき面積を
小さくできる効果がある。
As is apparent from the above description, according to the present invention, since the logic in which the basic logics are combined is configured by one composite logic circuit, the number of elements and the number of wirings are reduced, and there is an effect that the area can be reduced in the VLSI. is there.

また、同じ制御信号に接続する2種類のスイツチの間に
接続される他のスイツチの最大個数が最も少なくなり、
かつ、出力信号線に接続するスイツチの個数が少なくな
る構成をとるため、最大遅延時間が短かくなるという効
果が得られる。
Also, the maximum number of other switches connected between the two types of switches connected to the same control signal is the smallest,
Moreover, since the number of switches connected to the output signal line is reduced, the maximum delay time can be shortened.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は、従来の論理構成の一例を示すシンボル図、第
2図は、従来の回路構成例を示す回路図、第3図は複合
論理回路のシンボル図、第4図は複合論理回路の回路
図、第5図は従来の桁上げ先見回路のシンボル図、第6
図は本発明による複合論理回路を用いた桁上げ先見回路
のシンボル図、第7図は本願発明の効果を説明するため
の第1参考図、第8図は本願発明の効果を説明するため
の第2参考図である。 30……PチヤネルMOSFET(PMOS−FET)、40……Nチヤ
ネルMOSFET(NMOS−FET)、100,200……複合論理回路、
50……従来の複合回路、60……NAND回路、300……PMOS
−FETで構成されるスイツチ群、400……NMOS−FETで構
成されるスイツチ群、500……電源電圧、510……接地電
位。
FIG. 1 is a symbol diagram showing an example of a conventional logic configuration, FIG. 2 is a circuit diagram showing an example of a conventional circuit configuration, FIG. 3 is a symbol diagram of a composite logic circuit, and FIG. 4 is a composite logic circuit. Circuit diagram, FIG. 5 is a symbol diagram of a conventional carry look-ahead circuit, FIG.
FIG. 7 is a symbol diagram of a carry look-ahead circuit using a composite logic circuit according to the present invention, FIG. 7 is a first reference diagram for explaining the effect of the present invention, and FIG. 8 is for explaining the effect of the present invention. It is a 2nd reference drawing. 30 ... P-channel MOSFET (PMOS-FET), 40 ... N-channel MOSFET (NMOS-FET), 100,200 ... Complex logic circuit,
50 …… Conventional composite circuit, 60 …… NAND circuit, 300 …… PMOS
-Switch group composed of FETs, 400 ... Switch group composed of NMOS-FETs, 500 ... power supply voltage, 510 ... ground potential.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 野口 孝樹 東京都国分寺市東恋ヶ窪1丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内 (72)発明者 高橋 保 東京都小平市上水本町1479番地 日立マイ クロコンピユータエンジニアリング株式会 社内 (56)参考文献 特開 昭56−124256(JP,A) 特開 昭58−199554(JP,A) 特開 昭55−16593(JP,A) ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Takaki Noguchi 1-280 Higashi Koigakubo, Kokubunji City, Tokyo Inside Hitachi Central Research Laboratory (72) Inventor Tamotsu Takahashi 1479 Kamimizuhonmachi, Kodaira-shi, Hitachi Hitachi My Clos Computer Engineering Stock Association In-house (56) Reference JP 56-124256 (JP, A) JP 58-199554 (JP, A) JP 55-16593 (JP, A)

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】第1動作電位点と出力点との間に接続され
た第1のスイッチ群と、 上記出力点と第2動作電位点との間に接続された第2の
スイッチ群とを具備してなり、 上記第1のスイッチ群は第1、第2、第3、第4の入力
信号がそれぞれゲートに印加された第1、第2、第3、
第4のPチヤネルMOSFETを有してなり、 上記第2のスイッチ群は上記第1、第2、第3、第4の
入力信号がそれぞれゲートに印加された第1、第2、第
3、第4のNチヤネルMOSFETを有してなり、 上記第1のスイッチ群において上記第1のPチヤネルMO
SFETのソース・ドレイン径路は上記第2のPチヤネルMO
SFETのソース・ドレイン径路と並列接続され、上記第3
のPチヤネルMOSFETのソース・ドレイン径路は上記並列
接続された上記第1と第2のPチヤネルMOSFETのソース
・ドレイン径路と直列接続され、上記第4のPチヤネル
MOSFETのソース・ドレイン径路は上記並直列接続された
第1、第2、第3のPチヤネルMOSFETのソース・ドレイ
ン径路と並列接続され、 上記第2のスイッチ群において上記第1のNチヤネルMO
SFETのソース・ドレイン径路は上記第2のNチヤネルMO
SFETのソース・ドレイン径路と直列接続され、上記第3
のNチヤネルMOSFETのソース・ドレイン径路は上記直列
接続された上記第1と第2のNチヤネルMOSFETのソース
・ドレイン径路と並列接続され、上記第4のNチヤネル
MOSFETのソース・ドレイン径路は上記直並列接続された
第1、第2、第3のNチヤネルMOSFETのソース・ドレイ
ン径路と直列接続されてなり、 上記第1のスイッチ群において上記並列接続された上記
第1と第2のPチヤネルMOSFETのソース・ドレイン径路
は上記第3のPチヤネルMOSFETのソース・ドレイン径路
を介して上記出力点に接続され、 上記第2のスイッチ群において上記直並列接続された第
1、第2、第3のNチヤネルMOSFETのソース・ドレイン
径路は上記第4のNチヤネルMOSFETのソース・ドレイン
径路を介して上記第2動作電位点に接続されてなること
を特徴とする論理演算回路。
1. A first switch group connected between a first operating potential point and an output point, and a second switch group connected between the output point and a second operating potential point. And the first switch group includes first, second, third, and third gates to which the first, second, third, and fourth input signals are applied, respectively.
A second P-channel MOSFET, and the second switch group has first, second, third, and fourth gate signals to which the first, second, third, and fourth input signals are applied, respectively. A fourth N-channel MOSFET is provided, and the first P-channel MO in the first switch group is included.
The source / drain path of the SFET is the second P channel MO above.
Connected in parallel with the source / drain path of the SFET,
The source / drain paths of the P channel MOSFETs are connected in series with the source / drain paths of the first and second P channel MOSFETs connected in parallel, and the fourth P channel is connected.
The source / drain path of the MOSFET is connected in parallel with the source / drain path of the first, second, and third P-channel MOSFETs connected in parallel in series, and the first N-channel MO in the second switch group is connected.
The source / drain path of the SFET is the second N channel MO above.
Connected in series with the source / drain path of the SFET,
The source / drain path of the N-channel MOSFET is connected in parallel to the source / drain path of the first and second N-channel MOSFETs connected in series, and the fourth N-channel is connected.
The source / drain path of the MOSFET is connected in series with the source / drain path of the first, second, and third N-channel MOSFETs connected in series and parallel, and the parallel connection is made in the first switch group. The source / drain paths of the first and second P-channel MOSFETs are connected to the output point via the source / drain path of the third P-channel MOSFET, and are connected in series / parallel in the second switch group. The logic is characterized in that the source / drain paths of the first, second and third N-channel MOSFETs are connected to the second operating potential point via the source / drain paths of the fourth N-channel MOSFET. Arithmetic circuit.
【請求項2】上記論理演算回路は桁上げ先見回路を構成
することを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の論理
演算回路。
2. The logical operation circuit according to claim 1, wherein the logical operation circuit constitutes a carry look-ahead circuit.
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