JPH0682091B2 - 光フアイバ接続損失測定方法 - Google Patents
光フアイバ接続損失測定方法Info
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- JPH0682091B2 JPH0682091B2 JP1275289A JP1275289A JPH0682091B2 JP H0682091 B2 JPH0682091 B2 JP H0682091B2 JP 1275289 A JP1275289 A JP 1275289A JP 1275289 A JP1275289 A JP 1275289A JP H0682091 B2 JPH0682091 B2 JP H0682091B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光ファイバ接続損失を光パルス試験器により測
定する方法に関し、特に、光ファイバ接続損失を片側か
ら測定して求める方法にも関するものである。
定する方法に関し、特に、光ファイバ接続損失を片側か
ら測定して求める方法にも関するものである。
従来の光ファイバ接続損失の測定方法としてはカットバ
ック法および光パルス試験器法がある。
ック法および光パルス試験器法がある。
まず、カットバック法について説明する。第２図はカッ
トバック法が適用される光ファイバ接続損失測定システ
ムを示す接続図である。同図において、１は光源、２は
ダミーファイバ、３は融着接続個所、４はプローブ、５
はレベルメータ、６は仮融着個所、７は本融着個所、Ｌ
は被測定区間である。
トバック法が適用される光ファイバ接続損失測定システ
ムを示す接続図である。同図において、１は光源、２は
ダミーファイバ、３は融着接続個所、４はプローブ、５
はレベルメータ、６は仮融着個所、７は本融着個所、Ｌ
は被測定区間である。
まず、第２図（ａ）に示すように、２本の被測定光ファ
イバを個所６で仮融着し、個所M1におけるレベルをプロ
ーブ４を介してレベルメータ５で測定する。このレベル
をP1とする。次に、仮融着個所６の後部近傍個所M2で光
ファイバを切断して同様にレベルメータ５でレベルP2を
測定する。この時点で、１本に仮融着接続されていた光
ファイバは元の２本の状態となる。次に、仮融着個所６
の前部近傍個所M3で光ファイバを切断してその個所での
レベルP3を測定する。
イバを個所６で仮融着し、個所M1におけるレベルをプロ
ーブ４を介してレベルメータ５で測定する。このレベル
をP1とする。次に、仮融着個所６の後部近傍個所M2で光
ファイバを切断して同様にレベルメータ５でレベルP2を
測定する。この時点で、１本に仮融着接続されていた光
ファイバは元の２本の状態となる。次に、仮融着個所６
の前部近傍個所M3で光ファイバを切断してその個所での
レベルP3を測定する。
次に、第２図（ｂ）に示すように、２本の光ファイバを
個所７で本融着する。同様にして個所M4におけるレベル
４をメータ５で測定する。個所M5におけるレベル測定
は、融着接続個所３の下流２〜3mの個所M5で光ファイバ
を切断して、点線で示すようなレベルメータ５との接続
により行なう。これにより個所M5のレベルP5を得る。な
お、点線における個所３′は融着接続個所３に相当す
る。
個所７で本融着する。同様にして個所M4におけるレベル
４をメータ５で測定する。個所M5におけるレベル測定
は、融着接続個所３の下流２〜3mの個所M5で光ファイバ
を切断して、点線で示すようなレベルメータ５との接続
により行なう。これにより個所M5のレベルP5を得る。な
お、点線における個所３′は融着接続個所３に相当す
る。
この結果、個所３と７間の光ファイバの伝送損失L37＝P
5−P3、個所７と４間の光ファイバの伝送損失L74＝P2−
P1となり、本融着個所７の接続損失L7＝P5−P4−L37−L
74となる。このようにして接続損失を求めることができ
るが、上述したカットバック法においては次に示すよう
な問題があった。
5−P3、個所７と４間の光ファイバの伝送損失L74＝P2−
P1となり、本融着個所７の接続損失L7＝P5−P4−L37−L
74となる。このようにして接続損失を求めることができ
るが、上述したカットバック法においては次に示すよう
な問題があった。
本融着個所７の接続損失を測定するためには、２回の
接続（個所6,7）と５回のパワーレベル（P1〜P5）測定
が必要であり、パワーレベルメータを光ファイバの長さ
だけ３回移動（個所M1→M2,M3→M4→M5）させて測定す
る必要があった。
接続（個所6,7）と５回のパワーレベル（P1〜P5）測定
が必要であり、パワーレベルメータを光ファイバの長さ
だけ３回移動（個所M1→M2,M3→M4→M5）させて測定す
る必要があった。
この測定方法では、光ファイバをカットすると、１個
所当たり2m程度光ファイバが短くなる。従って、測定で
約6m全長が短くなる。融着が失敗すると、さらに２〜6m
短くなる。
所当たり2m程度光ファイバが短くなる。従って、測定で
約6m全長が短くなる。融着が失敗すると、さらに２〜6m
短くなる。
融着個所6,7の他に個所M1にも測定補助者が必要であ
った。
った。
仮融着接続，本融着接続，パワーレベル測定は順々に
行なう直列作業であるので、作業時間がかかり、待ち時
間も多く、作業に無駄が多い。
行なう直列作業であるので、作業時間がかかり、待ち時
間も多く、作業に無駄が多い。
光源１とダミーファイバ２とのコネクタ接続個所８の
コネクタをはずして再度接続すると、その接続損失が変
わるので、５点のパワーレベル測定が終了するまではそ
のコネクタをはずせない。
コネクタをはずして再度接続すると、その接続損失が変
わるので、５点のパワーレベル測定が終了するまではそ
のコネクタをはずせない。
従って、多心光ファイバケーブルの接続ではパワー安
定化光源が複数台必要になり、費用および誤差が多くな
る。
定化光源が複数台必要になり、費用および誤差が多くな
る。
パワーレベルメータと光ファイバの接続部での放射損
失が測定誤差に入り易い。
失が測定誤差に入り易い。
被測定光ファイバが長距離になるとパワーの大きなレ
ーザ安定化光源が必要であるが、長時間の安定性は0.2d
B程度と悪いため測定精度が向上しない。このため、接
続損失が負の値となる事も間々あった。
ーザ安定化光源が必要であるが、長時間の安定性は0.2d
B程度と悪いため測定精度が向上しない。このため、接
続損失が負の値となる事も間々あった。
多数のレーザ光源では波長が一致しないために、1/λ
４の波長補正が行なわないと、伝送損失が得られないた
め、計算・補正の作業が必要である。
４の波長補正が行なわないと、伝送損失が得られないた
め、計算・補正の作業が必要である。
測定方向の伝送損失、接続損失の測定データしか求ま
らないため、施工方向と逆向きに通信する場合は逆向き
に光ファイバの全損失しか得られず、個々の接続部の損
失が得られない。
らないため、施工方向と逆向きに通信する場合は逆向き
に光ファイバの全損失しか得られず、個々の接続部の損
失が得られない。
パワーレベル測定値の精度が作業者の熟練度に依存す
る。
る。
次に、パルス試験器法による光ファイバ接続損失の測定
方法について説明する。第３図は光パルス試験器法が適
用される光ファイバ接続損失測定システムを示す接続図
である。同図において、11は記録計と光ファイバアナラ
イザを有する光パルス試験器、12はダミーファイバ、1
3,14はコネクタ接続個所、15,16は本融着個所、A,B,Cは
被測定光ファイバ、Ｌは被測定区間である。なお、個所
13は融着接続でもよい。
方法について説明する。第３図は光パルス試験器法が適
用される光ファイバ接続損失測定システムを示す接続図
である。同図において、11は記録計と光ファイバアナラ
イザを有する光パルス試験器、12はダミーファイバ、1
3,14はコネクタ接続個所、15,16は本融着個所、A,B,Cは
被測定光ファイバ、Ｌは被測定区間である。なお、個所
13は融着接続でもよい。
まず、第３図に示すように、コネクタ接続個所13にダミ
ーファイば12を接続し、第４図に示すような損失対距離
の特性を得る。第４図において、17は光ファイバ入射端
のフレネル反射を示し、18は光ファイバ端末のフレネル
反射を示す。また、ABは個所15の接続部全損失特性、BC
は個所16の接続部全損失特性、A1の傾きは光ファイバＡ
の伝送損失、B1の傾きは光ファイバＢの伝送損失、C1の
傾きは光ファイバＣの伝送損失を示す。
ーファイば12を接続し、第４図に示すような損失対距離
の特性を得る。第４図において、17は光ファイバ入射端
のフレネル反射を示し、18は光ファイバ端末のフレネル
反射を示す。また、ABは個所15の接続部全損失特性、BC
は個所16の接続部全損失特性、A1の傾きは光ファイバＡ
の伝送損失、B1の傾きは光ファイバＢの伝送損失、C1の
傾きは光ファイバＣの伝送損失を示す。
第５図は特性ABを拡大した特性を示し、（ａ）は順方
向、（ｂ）は逆方向を示す。この場合に順方向とは、第
３図に示すように、光パルス試験器11とダミーファイバ
12を個所13に接続した場合であり、逆方向とは、光パル
ス試験器11とダミーファイバ12を個所14に接続した場合
である。第５図において、αは散乱率補正値、βは接続
損失である。順方向における接続部全損失をγ１、逆方
向における接続部全損失をγ２とすれば、 γ１＝β＋α γ２＝β−α 従って、α＝（γ１−γ２）/2 β＝（γ１＋γ２）/2 となる。このようにして接続損失βを求めることができ
る。
向、（ｂ）は逆方向を示す。この場合に順方向とは、第
３図に示すように、光パルス試験器11とダミーファイバ
12を個所13に接続した場合であり、逆方向とは、光パル
ス試験器11とダミーファイバ12を個所14に接続した場合
である。第５図において、αは散乱率補正値、βは接続
損失である。順方向における接続部全損失をγ１、逆方
向における接続部全損失をγ２とすれば、 γ１＝β＋α γ２＝β−α 従って、α＝（γ１−γ２）/2 β＝（γ１＋γ２）/2 となる。このようにして接続損失βを求めることができ
る。
しかしながら、光パルス試験器法においても次に示すよ
うな問題があった。
うな問題があった。
両側から測定するため、光パルス試験器11を何回も運
ばなければならない。例えば第３図に示すような場合、
まず、被測定光ファイバＡとＢを接続して個所13側で順
方向特性の測定を行なう。次に、光パルス試験器11とダ
ミーファイバ12を個所16に持っていき、逆方向特性の測
定を行なう。次に、被測定光ファイバＣをＢに接続し、
光パルス試験器11とダミーファイバ12を個所13又は14に
運んで順方向特性又は逆方向特性の測定を行なう。次
に、光パルス試験器11とダミーファイバ12を個所14又は
13に運んで逆方向特性又は順方向特性の測定を行なう。
結局３回光パルス試験器11とダミーファイバ12を移動し
なければならない。なお、光パルス試験器は高価である
こと、波長が異なる場合には波長補正が必要であること
から、同一の光パルス試験器を使用する必要がある。
ばなければならない。例えば第３図に示すような場合、
まず、被測定光ファイバＡとＢを接続して個所13側で順
方向特性の測定を行なう。次に、光パルス試験器11とダ
ミーファイバ12を個所16に持っていき、逆方向特性の測
定を行なう。次に、被測定光ファイバＣをＢに接続し、
光パルス試験器11とダミーファイバ12を個所13又は14に
運んで順方向特性又は逆方向特性の測定を行なう。次
に、光パルス試験器11とダミーファイバ12を個所14又は
13に運んで逆方向特性又は順方向特性の測定を行なう。
結局３回光パルス試験器11とダミーファイバ12を移動し
なければならない。なお、光パルス試験器は高価である
こと、波長が異なる場合には波長補正が必要であること
から、同一の光パルス試験器を使用する必要がある。
光パルス試験器11は電源オンから測定まで30〜40分ヒ
ートランしなければならない。これは測定データの安定
化のためである。
ートランしなければならない。これは測定データの安定
化のためである。
各被測定光ファイバの接続個所の接続損失がわからな
いと良否の判別ができず、次の作業に進めず、効率の悪
い直列作業となる。
いと良否の判別ができず、次の作業に進めず、効率の悪
い直列作業となる。
接続損失としては両方向の平均値しか得られない。
コネクタ接続個所ではフレネル反射による飽和光が発
生するため、コネクタ接続個所の近く約30〜40mは測定
不能となり、測定誤差も大きい。
生するため、コネクタ接続個所の近く約30〜40mは測定
不能となり、測定誤差も大きい。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、そ
の目的とするところは、片側より順次融着し延長する光
ファイバケーブルの施工において、大幅に作業量を削減
し、測定結果の記録作業を合理化し、測定データの正確
性と客観性の向上が図れる光ファイバ接続損失測定方法
を提供することにある。
の目的とするところは、片側より順次融着し延長する光
ファイバケーブルの施工において、大幅に作業量を削減
し、測定結果の記録作業を合理化し、測定データの正確
性と客観性の向上が図れる光ファイバ接続損失測定方法
を提供することにある。
このような目的を達成するために本発明は、標準光ファ
イバと被測定光ファイバを仮接続して両側から順方向お
よび逆方向の接続部全損失を測定し、この接続部全損失
の測定を被測定光ファイバの全てについてそれぞれ行な
い、接続部全損失から各被測定光ファイバの散乱率補正
値を算出し、被測定光ファイバを所定の順に本接続し、
この本接続した被測定光ファイバの各接続部全損失を片
側のみから測定し、この各接続部全損失と各散乱率補正
値とから被測定光ファイバ同士の各接続部の接続損失を
求めるようにしたものである。
イバと被測定光ファイバを仮接続して両側から順方向お
よび逆方向の接続部全損失を測定し、この接続部全損失
の測定を被測定光ファイバの全てについてそれぞれ行な
い、接続部全損失から各被測定光ファイバの散乱率補正
値を算出し、被測定光ファイバを所定の順に本接続し、
この本接続した被測定光ファイバの各接続部全損失を片
側のみから測定し、この各接続部全損失と各散乱率補正
値とから被測定光ファイバ同士の各接続部の接続損失を
求めるようにしたものである。
本発明による方法においては、光ファイバケーブル施工
において、片側からの接続部全損失の測定により、光フ
ァイバ接続部において接続損失を正確に推定することが
できる。
において、片側からの接続部全損失の測定により、光フ
ァイバ接続部において接続損失を正確に推定することが
できる。
第１図は本発明による光ファイバ接続損失測定方法が適
用される光ファイバ接続損失測定システムを示す接続図
である。同図において、11は光パルス試験器、11aはコ
ネクタ、12a,12bは標準光ファイバ、13,14,14a,14bは融
着接続個所、20はコネクタ、CA,CBは被測定光ファイ
バ、Ｌは被測定区間である。標準光ファイバ12a,12b
は、同一の光ファイバを中間で切って２本にしたもので
あり、従って散乱係数は同一である。なお、個所13,14,
14a,14bの融着接続はコネクタ接続としてもよい。
用される光ファイバ接続損失測定システムを示す接続図
である。同図において、11は光パルス試験器、11aはコ
ネクタ、12a,12bは標準光ファイバ、13,14,14a,14bは融
着接続個所、20はコネクタ、CA,CBは被測定光ファイ
バ、Ｌは被測定区間である。標準光ファイバ12a,12b
は、同一の光ファイバを中間で切って２本にしたもので
あり、従って散乱係数は同一である。なお、個所13,14,
14a,14bの融着接続はコネクタ接続としてもよい。
まず、被測定光ファイバCAを第１図（ａ）に示すように
接続し、両方向から光ファイバCAの個所13における順方
向および逆方向の接続部全損失γCA1およびγCA2を測定
する。これは、従来の光パルス試験器法における測定法
と同様である。次に、被測定光ファイバをCAからCBへ替
え、同様にして両方向から光ファイバCBの個所13におけ
る順方向および逆方向の接続部全損失γCB1およびγCB2
を測定する。これらの測定は、工場の出荷検査、受入検
査時に行なうことができ、その時に得られたデータを利
用すればよいので、特に上記データを得るための時間を
必要としない。
接続し、両方向から光ファイバCAの個所13における順方
向および逆方向の接続部全損失γCA1およびγCA2を測定
する。これは、従来の光パルス試験器法における測定法
と同様である。次に、被測定光ファイバをCAからCBへ替
え、同様にして両方向から光ファイバCBの個所13におけ
る順方向および逆方向の接続部全損失γCB1およびγCB2
を測定する。これらの測定は、工場の出荷検査、受入検
査時に行なうことができ、その時に得られたデータを利
用すればよいので、特に上記データを得るための時間を
必要としない。
次に、上記データγCA1,γCA2,γCB1,γCB2により光フ
ァイバCA,CBにおける散乱率補正値αCA,αCBを次式によ
り求められる。
ァイバCA,CBにおける散乱率補正値αCA,αCBを次式によ
り求められる。
αCA＝（γCA1−γCA2）/2 ……（１） αCB＝（γCB1−γCB2）/2 ……（２） なお、光ファイバCA,CBにおける接続損失βCA,βCBは次
の式のようになる。
の式のようになる。
βCA＝（γCA1＋γCA2）/2 ……（３） βCB＝（γCB1＋γCB2）/2 ……（４） 同様にして、第１図（ａ）の個所14でも上記（１），
（２），（３），（４）式より散乱率補正値αCA,αCB
と接続損失βCA,βCBが求められ、個所13より求めた値
と同一となることで、散乱率補正値αCA,αCBの正確さ
を確認できる。
（２），（３），（４）式より散乱率補正値αCA,αCB
と接続損失βCA,βCBが求められ、個所13より求めた値
と同一となることで、散乱率補正値αCA,αCBの正確さ
を確認できる。
また、被測定光ファイバが十分に長ければ、被測定光フ
ァイバCA又はCBをピグテイルファイバと見なして、ファ
イバ12bを省略して測定することも可能である。
ァイバCA又はCBをピグテイルファイバと見なして、ファ
イバ12bを省略して測定することも可能である。
次に、第１図（ｂ）に示すように光ファイバCA,CB,標準
光ファイバ12a,12bを個所13,14a,14b接続し、片側より
測定し、第４図に示すような損失対距離の特性を得る。
このときは順方向の接続部全損失γCACB1のデータだけ
が得られる。逆方向の接続部全損失γCACB2は光ファイ
バCA,CBの接続部14aにおける散乱率補正値（以下「散乱
率補正係数」という）αCACBの計算値から次式による求
める。
光ファイバ12a,12bを個所13,14a,14b接続し、片側より
測定し、第４図に示すような損失対距離の特性を得る。
このときは順方向の接続部全損失γCACB1のデータだけ
が得られる。逆方向の接続部全損失γCACB2は光ファイ
バCA,CBの接続部14aにおける散乱率補正値（以下「散乱
率補正係数」という）αCACBの計算値から次式による求
める。
γCACB2＝γCACB1−２αCACB …（５） 散乱率補正係数αCACBは次式により求める。
αCACB＝αCB−αCA ……（６） 上記接続部全損失γCACB1,γCACB2から接続部14aにおけ
る接続損失βCACBを次式により求めることができる。
る接続損失βCACBを次式により求めることができる。
βCACB＝（γCACB1＋γCACB2）/2 ……（７） 接続損失βCACBから個所14aの接続の良否を判定でき
る。
る。
このように、本実施例によれば、あらかじめ敷設対象光
ファイバを構成する各々の光ファイバの散乱率補正値を
求めることにより、片側からのみの特性値測定により光
ファイバ接続部の接続損失を正確に推定することができ
る。
ファイバを構成する各々の光ファイバの散乱率補正値を
求めることにより、片側からのみの特性値測定により光
ファイバ接続部の接続損失を正確に推定することができ
る。
次に、数値を用いてより具体的に説明する。表１および
表２は光ファイバCAおよびCBの接続個所13における実測
値を示す。また、表３は光ファイバCA,CBの接続個所14a
における実測値を示す。まず、表1,表２から散乱率補正
係数αCACBを求める。（６）式から、 αCACB＝0.195dB−0.17dB＝0.025dB ……（８） 表３の順方向接続部全損失γCACB1の実測値0.74と
（８）式の値を（５）式に代入して、 γCACB2＝0.74dB−２×0.025dB＝0.69dB ……（９） 従って、γCACB1＝0.74dBと（９）式の値を（７）式に
代入して、 βCACB＝（0.74dB＋0.69dB）/2＝0.715dB ……（10） となる。
表２は光ファイバCAおよびCBの接続個所13における実測
値を示す。また、表３は光ファイバCA,CBの接続個所14a
における実測値を示す。まず、表1,表２から散乱率補正
係数αCACBを求める。（６）式から、 αCACB＝0.195dB−0.17dB＝0.025dB ……（８） 表３の順方向接続部全損失γCACB1の実測値0.74と
（８）式の値を（５）式に代入して、 γCACB2＝0.74dB−２×0.025dB＝0.69dB ……（９） 従って、γCACB1＝0.74dBと（９）式の値を（７）式に
代入して、 βCACB＝（0.74dB＋0.69dB）/2＝0.715dB ……（10） となる。
次に、実測値と計算値とを比較する。第１図（ｂ）の光
パルス試験器11からコネクタ11aを抜き、上記試験器11
にコネクタ20を差し込み、接続個所14aで測定して得ら
れた逆方向接続部全損失γCACB2の実測値0.64dBと上述
した順方向接続部全損失γCACB1の実測値0.74とから実
測によるβCACB＝0.69dBが得られる。実測によるβCACB
の値0.69dBと計算による値0.715dBを比較すると、その
差は0.025dBであり、この値はカットバック法における
測定誤差0.1dBより小さく、十分実用に供し得る。
パルス試験器11からコネクタ11aを抜き、上記試験器11
にコネクタ20を差し込み、接続個所14aで測定して得ら
れた逆方向接続部全損失γCACB2の実測値0.64dBと上述
した順方向接続部全損失γCACB1の実測値0.74とから実
測によるβCACB＝0.69dBが得られる。実測によるβCACB
の値0.69dBと計算による値0.715dBを比較すると、その
差は0.025dBであり、この値はカットバック法における
測定誤差0.1dBより小さく、十分実用に供し得る。
なお、上記実施例では被測定光ファイバCA,CBの２本の
場合について説明したが、３本以上についても、各接続
部の接続部全損失は求めることができるので、同様に本
発明を適用できる。
場合について説明したが、３本以上についても、各接続
部の接続部全損失は求めることができるので、同様に本
発明を適用できる。
以上説明したように本発明は、各被測定光ファイバの散
乱率補正値をあらかじめ求め、この散乱率補正値と敷設
対象光ファイバの順方向接続部全損失とから敷設対象光
ファイバの逆方向接続部全損失を求め、順方向および逆
方向の接続部全損失から敷設対象光ファイバの接続損失
を求めるようにしたことにより、片側より順次融着し延
長する光ファイバケーブルの施工において、片側からの
み敷設対象光ファイバの特性を測定することによりその
光ファイバ接続損失を求めることができるので、特に測
定のための光パルス試験器を移動する必要がなくなり、
大幅に作業量を削減できる効果がある。また、測定した
データを計算機により処理させるようにすれば、測定結
果の記録作業を軽減させることができ、測定データの正
確性と客観性の向上が図れる効果がある。
乱率補正値をあらかじめ求め、この散乱率補正値と敷設
対象光ファイバの順方向接続部全損失とから敷設対象光
ファイバの逆方向接続部全損失を求め、順方向および逆
方向の接続部全損失から敷設対象光ファイバの接続損失
を求めるようにしたことにより、片側より順次融着し延
長する光ファイバケーブルの施工において、片側からの
み敷設対象光ファイバの特性を測定することによりその
光ファイバ接続損失を求めることができるので、特に測
定のための光パルス試験器を移動する必要がなくなり、
大幅に作業量を削減できる効果がある。また、測定した
データを計算機により処理させるようにすれば、測定結
果の記録作業を軽減させることができ、測定データの正
確性と客観性の向上が図れる効果がある。
第１図は本発明による光ファイバ接続損失測定方法の一
実施例が適用される光ファイバ接続損失測定システムを
示す接続図、第２図はカットバック法が適用される光フ
ァイバ接続損失測定システムを示す接続図、第３図は光
パルス試験器法が適用される光ファイバ接続損失測定シ
ステムを示す接続図、第４図は第３図の光パルス試験器
で得られた損失対距離の特性を示すグラフ、第５図は接
続損失と散乱率補正値を示す説明図である。 11……光パルス試験器、11a,20……コネクタ、12a,12b
……標準光ファイバ、13,14,14a,14b……コネクタ接続
個所、CA,CB……被測定光ファイバ、Ｌ……被測定区
間。
実施例が適用される光ファイバ接続損失測定システムを
示す接続図、第２図はカットバック法が適用される光フ
ァイバ接続損失測定システムを示す接続図、第３図は光
パルス試験器法が適用される光ファイバ接続損失測定シ
ステムを示す接続図、第４図は第３図の光パルス試験器
で得られた損失対距離の特性を示すグラフ、第５図は接
続損失と散乱率補正値を示す説明図である。 11……光パルス試験器、11a,20……コネクタ、12a,12b
……標準光ファイバ、13,14,14a,14b……コネクタ接続
個所、CA,CB……被測定光ファイバ、Ｌ……被測定区
間。
Claims (1)
- 【請求項１】標準光ファイバと被測定光ファイバを融着
又はコネクタで仮接続して光パルス試験方法で両側から
順方向および逆方向の接続部全損失を測定し、この接続
部全損失の測定を敷設対象となる被測定光ファイバの全
てについてそれぞれ行ない、前記接続部全損失から各被
測定光ファイバの散乱率補正値を算出し、前記敷設対象
となる被測定光ファイバを所定の順に本接続し、この本
接続した被測定光ファイバの各接続部全損失を光パルス
試験器により片側のみから測定し、この各接続部全損失
と前記各散乱率補正値とから被測定光ファイバ同士の各
接続部の接続損失を求めることを特徴とする光ファイバ
接続損失測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1275289A JPH0682091B2 (ja) | 1989-01-21 | 1989-01-21 | 光フアイバ接続損失測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1275289A JPH0682091B2 (ja) | 1989-01-21 | 1989-01-21 | 光フアイバ接続損失測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02193034A JPH02193034A (ja) | 1990-07-30 |
| JPH0682091B2 true JPH0682091B2 (ja) | 1994-10-19 |
Family
ID=11814145
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1275289A Expired - Fee Related JPH0682091B2 (ja) | 1989-01-21 | 1989-01-21 | 光フアイバ接続損失測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0682091B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008020226A (ja) * | 2006-07-11 | 2008-01-31 | Mitsubishi Cable Ind Ltd | Ｏｔｄｒ測定装置、ｏｔｄｒ測定に用いられる終端器及びｏｔｄｒ測定方法 |
-
1989
- 1989-01-21 JP JP1275289A patent/JPH0682091B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02193034A (ja) | 1990-07-30 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |