JPH0682882B2 - 複数のレ−ザ装置の発振周波数間隔安定化方法及び装置 - Google Patents
複数のレ−ザ装置の発振周波数間隔安定化方法及び装置Info
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- JPH0682882B2 JPH0682882B2 JP18818787A JP18818787A JPH0682882B2 JP H0682882 B2 JPH0682882 B2 JP H0682882B2 JP 18818787 A JP18818787 A JP 18818787A JP 18818787 A JP18818787 A JP 18818787A JP H0682882 B2 JPH0682882 B2 JP H0682882B2
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- H01S5/00—Semiconductor lasers
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- H01S5/40—Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
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Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は複数のレーザ装置の各発振周波数の間隔を安定
化させる複数のレーザ装置の発振周波数間隔安定化装置
に関するものである。
化させる複数のレーザ装置の発振周波数間隔安定化装置
に関するものである。
（従来の技術） 従来は、複数のレーザ装置の周波数間隔を安定化させる
方法としては、１つのレーザ装置の発振周波数をファブ
リーペロ共振器に対して安定化し、このレーザ装置の発
振周波数に対し、他のレーザ装置の発振周波数を互いの
周波数間隔が別のファブリーペロ共振器のフリースペク
トルレンジにより与えられる周波数間隔基準と一致する
ように安定化するという方法（鳥羽ら、昭和61年度電子
通信学会通信部門全国大会予稿集・分冊２、２−204ペ
ージ）、あるいは１つのレーザ装置の周波数を安定化し
他のいくつかのレーザ装置出射光と合波し、さらにこの
光と周波数を一定周期の鋸歯状に掃引している参照用レ
ーザ装置出射光を合波し、ビート信号として得られるパ
ルス列を構成する各パルスの出現時刻が、上記安定化レ
ーザ装置に対応するパルスの出現時刻に対して一定時間
差を保っているかをモニタすることにより各レーザ装置
の発振周波数間隔を安定化する方法（シュトレーベルら
によるア イ・ オ ー・ オ ー・ シ ーイー・シ
ー・オー・シー・'85（IOOC-ECOC'85）テクニカルダイ
ジェスト第３巻（1985年）61ページ）が知られている。
方法としては、１つのレーザ装置の発振周波数をファブ
リーペロ共振器に対して安定化し、このレーザ装置の発
振周波数に対し、他のレーザ装置の発振周波数を互いの
周波数間隔が別のファブリーペロ共振器のフリースペク
トルレンジにより与えられる周波数間隔基準と一致する
ように安定化するという方法（鳥羽ら、昭和61年度電子
通信学会通信部門全国大会予稿集・分冊２、２−204ペ
ージ）、あるいは１つのレーザ装置の周波数を安定化し
他のいくつかのレーザ装置出射光と合波し、さらにこの
光と周波数を一定周期の鋸歯状に掃引している参照用レ
ーザ装置出射光を合波し、ビート信号として得られるパ
ルス列を構成する各パルスの出現時刻が、上記安定化レ
ーザ装置に対応するパルスの出現時刻に対して一定時間
差を保っているかをモニタすることにより各レーザ装置
の発振周波数間隔を安定化する方法（シュトレーベルら
によるア イ・ オ ー・ オ ー・ シ ーイー・シ
ー・オー・シー・'85（IOOC-ECOC'85）テクニカルダイ
ジェスト第３巻（1985年）61ページ）が知られている。
（従来技術の問題点） しかし、上記第一の方法においては、周波数間隔の基準
を与えるファブリーペロ共振器のミラー間隔を掃引して
使用する必要があり、単なるエタロン板を使用する場合
に比べ装置が大型化する。また第二の方法においては、
周波数間隔の基準を参照用レーザ装置の周波数変化に対
する各パルスの出現時刻間隔に求めているため、各レー
ザ装置の周波数間隔が推定されうるとは言い難い。
を与えるファブリーペロ共振器のミラー間隔を掃引して
使用する必要があり、単なるエタロン板を使用する場合
に比べ装置が大型化する。また第二の方法においては、
周波数間隔の基準を参照用レーザ装置の周波数変化に対
する各パルスの出現時刻間隔に求めているため、各レー
ザ装置の周波数間隔が推定されうるとは言い難い。
（発明の目的） 本発明の目的は上記の問題点を解決することにあり、フ
ァブリーペロ共振器のミラー間隔を掃引する代わりに、
参照用レーザ装置の周波数を掃引し、ファブリーペロ共
振器としては単なるエタロン板を使用することで小型化
を図りまた、周波数間隔の基準としてファブリーペロ共
振器を使用することにより、周波数間隔を安定に設定す
ることを目的とする。
ァブリーペロ共振器のミラー間隔を掃引する代わりに、
参照用レーザ装置の周波数を掃引し、ファブリーペロ共
振器としては単なるエタロン板を使用することで小型化
を図りまた、周波数間隔の基準としてファブリーペロ共
振器を使用することにより、周波数間隔を安定に設定す
ることを目的とする。
（発明の構成） 上記の目的を達成するため、本発明は制御対象である複
数のレーザ装置の各発振周波数を、それらの間隔がほぼ
一定となるように引き込んだ後、前記複数のレーザ装置
の発振周波数間隔を時間間隔に変換し、この時間間隔を
周波数間隔基準に対応する時間と比較することにより得
られる誤差信号を一定の値となるように制御することを
特徴とする。
数のレーザ装置の各発振周波数を、それらの間隔がほぼ
一定となるように引き込んだ後、前記複数のレーザ装置
の発振周波数間隔を時間間隔に変換し、この時間間隔を
周波数間隔基準に対応する時間と比較することにより得
られる誤差信号を一定の値となるように制御することを
特徴とする。
外部からの入力信号に応じて、発振周波数間隔を安定化
する対象たる複数のレーザ装置の発振周波数を含む範囲
で発振周波数を掃引する参照用レーザ装置と、前記複数
のレーザ装置からの出射光を合波する第１の光合波器
と、該第１の光合波器からの出力を外部からの制御信号
に従っていずれかの光路に出力する光路切換用の光スイ
ッチと、該光スイッチからの第１の出力及び前記参照用
レーザ装置出力を合波し、これを複数の光路に分岐する
光回路と、該光回路の第１の出力の周波数変化を振幅変
化に変換する高フィネス光学共振器と、前記光回路の第
２の出力の周波数変化を振幅変化に変換する低フィネス
光学共振器と、前記光回路の第３の出力と前記光スイッ
チの第２の出力を合波する第２の光合波器と、少なくと
も前記低フィネス光学共振器からの出力を用いて前記複
数のレーザ装置の発振周波数を前記高フィネス光学共振
器の共振周波数近傍に近接させ、しかる後に前記参照用
レーザ装置の発振周波数掃引時の前記第２の光合波器の
出力により検出する前記複数のレーザ装置の発振周波数
間隔の、前記参照用レーザ装置の発振周波数掃引時の前
記高フィネス光学共振器の共振ピークに対応する光出力
を用いて設定した周波数間隔基準に対する誤差を一定値
に安定化させるための、前記光スイッチに印加する第１
の制御信号及び第２以下の制御信号を出力する制御装置
と、該制御装置からの前記第２以下の制御信号に従って
前記複数のレーザ装置への入力信号を変化させるレーザ
装置駆動装置とを含んで構成されることを特徴とする。
する対象たる複数のレーザ装置の発振周波数を含む範囲
で発振周波数を掃引する参照用レーザ装置と、前記複数
のレーザ装置からの出射光を合波する第１の光合波器
と、該第１の光合波器からの出力を外部からの制御信号
に従っていずれかの光路に出力する光路切換用の光スイ
ッチと、該光スイッチからの第１の出力及び前記参照用
レーザ装置出力を合波し、これを複数の光路に分岐する
光回路と、該光回路の第１の出力の周波数変化を振幅変
化に変換する高フィネス光学共振器と、前記光回路の第
２の出力の周波数変化を振幅変化に変換する低フィネス
光学共振器と、前記光回路の第３の出力と前記光スイッ
チの第２の出力を合波する第２の光合波器と、少なくと
も前記低フィネス光学共振器からの出力を用いて前記複
数のレーザ装置の発振周波数を前記高フィネス光学共振
器の共振周波数近傍に近接させ、しかる後に前記参照用
レーザ装置の発振周波数掃引時の前記第２の光合波器の
出力により検出する前記複数のレーザ装置の発振周波数
間隔の、前記参照用レーザ装置の発振周波数掃引時の前
記高フィネス光学共振器の共振ピークに対応する光出力
を用いて設定した周波数間隔基準に対する誤差を一定値
に安定化させるための、前記光スイッチに印加する第１
の制御信号及び第２以下の制御信号を出力する制御装置
と、該制御装置からの前記第２以下の制御信号に従って
前記複数のレーザ装置への入力信号を変化させるレーザ
装置駆動装置とを含んで構成されることを特徴とする。
（作用） 本発明では上述のような構成をとることにより、周波数
掃引された参照用レーザ装置と光学共振器の組合せによ
り光学共振器のフリースペクトルレンジで決まる周波数
間隔基準に対応した時間差の基準パルス列を発生させ
る。また参照用レーザ装置の出射光と制御対象である複
数のレーザ装置の出射光のビート光を光検出器で受光し
た後、低域通過フィルタを通すことにより複数のレーザ
装置の周波数間隔に対応した時間差のパルス列を発生さ
せ、これを構成する各パルスの発生時刻と上記の基準パ
ルス列の対応するパルスの発生時刻の差を誤差信号とし
て制御することにより任意の個数のレーザ装置の周波数
間隔が同時に安定化され、しかもその周波数間隔が使用
する光学共振器より厳密に規定される。
掃引された参照用レーザ装置と光学共振器の組合せによ
り光学共振器のフリースペクトルレンジで決まる周波数
間隔基準に対応した時間差の基準パルス列を発生させ
る。また参照用レーザ装置の出射光と制御対象である複
数のレーザ装置の出射光のビート光を光検出器で受光し
た後、低域通過フィルタを通すことにより複数のレーザ
装置の周波数間隔に対応した時間差のパルス列を発生さ
せ、これを構成する各パルスの発生時刻と上記の基準パ
ルス列の対応するパルスの発生時刻の差を誤差信号とし
て制御することにより任意の個数のレーザ装置の周波数
間隔が同時に安定化され、しかもその周波数間隔が使用
する光学共振器より厳密に規定される。
（実施例） 以下、本発明を実施例について詳細に説明する。第１図
は本発明の実施例の構成図である。
は本発明の実施例の構成図である。
制御方法は２段階に分かれているため、ここでは第１段
階から順を追って説明する。1.55μｍ帯波長可変分布ブ
ラッグ反射形半導体レーザ（DBR-LD）１は鋸歯状波発生
器２により印加される信号（第３図（ａ），（ｂ）の5
0,51）に従い、その出射光周波数が時間に対し、鋸歯波
状に変化するが、制御の第１段階においては、制御装置
３から供給される制御信号に従い、鋸歯状波発生器がオ
フになっているため、光を出射していない。なお、波長
可変分布ブラッグ反射型半導体レーザの構造、特性につ
いては、例えばエレクトロニクスレターズ第23巻第８号
403ページ所載の村田らによる論文に詳しい。一方、制
御対象である1.55μｍ帯分布帰還形半導体レーザ（DFB-
LD）4,5,6は、制御の第１、２段階を通じて光を出射し
ている。同DFB-LD4,5,6からの出射光はそれぞれ、光ア
イソレータ7,8,9を透過した後、第１の３入力２出力の
光合分波器10で合波される。第１の光合分波器の第１の
出力は伝送系に接続されている。光スイッチ11は制御装
置３により印加される電気信号に従い、第１の光合分波
器10の第２の出力を第１の光路12へ向かわせる。第１の
光路12を通る光は第２の２入力３出力の光合分波器13に
よりパワー比1:1:1の３出力に分岐される。第２の光合
分波器13の第１の出力34はフリースペクトルレンジ20GH
zフィネス20のファブリーペロエタロン14を透過した
後、第１の光検出器15で電気信号に変換され、また第２
の光合分波器13の第２の出力35は、周波数軸上の透過率
変化の半周期が100GHzであるようなファイバ型マッハツ
ェンダ干渉計16を透過した後、第２図の光検出器17で電
気信号に変換される。第１及び第２の光検出器15、17か
らの電気信号は制御装置３の第１及び第２の入力端子3
1,32に印加される。なお第２図はファブリーペロエタロ
ン14、ファイバ型マッハツェンダ干渉計16の共振特性を
図示したものである。制御装置３では第１、第２の入力
31、32に基づき、まずマッハツェンダ干渉計16の共振特
性40を利用しファブリーペロエタロンの共振ピーク41,4
2,43の近傍にまで、DFB-LD4,5,6の発振周波数を引込
む。以上が制御の第１段階である。次の制御の第２段階
について説明する。第２段階では制御装置３から供給さ
れる制御信号に従い、光スイッチ11からの出力光路が第
１の光路12から第２の光路18に切換えられ、また鋸歯状
波発生器２がオンになり、繰り返し周波数20KHzの鋸歯
状波をLD1に印加され、DBR-LD1が周波数掃引される。DB
R-LD1から出射された光は光アイソレータ19を透過した
後、第２の光合分波器路13によりパワー比1:1:1に３分
岐される。このうち第１の出力34はファブリーペロエタ
ロン14を透過した後光検出器15で電気信号に変換され
る。第１の光検出器15には、鋸歯状波発生器２からの出
力信号の１周期中、DBR-LD1の発振周波数がファブリー
ペロエタロン14の共振周波数に一致した時点でパルス状
の光が入力されるがこの１周期のパルスが、第２図の共
振ピーク41,42,43に対応するものになるよう鋸歯状波発
生器２の出力波形を調整しておく。また第３の出力36は
光合波器20において光スイッチ11の第２の光路の光と合
波され、第３の光検出器21において電気信号に変換され
た後、図には示していないが、遮断周波数100MHzの低域
通過フィルタに入力される。この低域通過フィルタから
はDFB-LD1からの出射光の周波数とDFB-LD4,5,6の出射光
の周波数の差がほぼ±100MHzの範囲に入っているときに
パルス状の電気信号が出力される。パルスの数は鋸歯状
波発生器２の出力信号の１周期の間に、DBR-LD1とDFB-L
D4,5,6の各々の発振周波数の差は±100MHzの範囲に入る
回数に等しく、それは３つである。低域通過フィルタを
通した第３の光検出器21の出力は制御装置３の第３の入
力端子33に印加される。制御装置３では第３の図（ａ）
に示した制御装置３の第１の入力端子31への入力及び第
38図（ｂ）に示した制御装置３の第３の入力端子33への
入力のパルス発生時刻差52,53,54を誤差信号とし、これ
らの大きさが一定の値、本実施例では零になるような制
御信号を出力する。制御装置３からの制御信号はレーザ
装置駆動装置22,23,24に入力される。レーザ装置駆動装
置22,23,24からは、制御信号に応じた駆動電流がDFB-LD
4,5,6に注入される。なおDBR-LD1,DFB-LD4,5,6はそれぞ
れ温度制御装置25,26,27,28により、変動幅0.2℃に温度
安定化されている。
階から順を追って説明する。1.55μｍ帯波長可変分布ブ
ラッグ反射形半導体レーザ（DBR-LD）１は鋸歯状波発生
器２により印加される信号（第３図（ａ），（ｂ）の5
0,51）に従い、その出射光周波数が時間に対し、鋸歯波
状に変化するが、制御の第１段階においては、制御装置
３から供給される制御信号に従い、鋸歯状波発生器がオ
フになっているため、光を出射していない。なお、波長
可変分布ブラッグ反射型半導体レーザの構造、特性につ
いては、例えばエレクトロニクスレターズ第23巻第８号
403ページ所載の村田らによる論文に詳しい。一方、制
御対象である1.55μｍ帯分布帰還形半導体レーザ（DFB-
LD）4,5,6は、制御の第１、２段階を通じて光を出射し
ている。同DFB-LD4,5,6からの出射光はそれぞれ、光ア
イソレータ7,8,9を透過した後、第１の３入力２出力の
光合分波器10で合波される。第１の光合分波器の第１の
出力は伝送系に接続されている。光スイッチ11は制御装
置３により印加される電気信号に従い、第１の光合分波
器10の第２の出力を第１の光路12へ向かわせる。第１の
光路12を通る光は第２の２入力３出力の光合分波器13に
よりパワー比1:1:1の３出力に分岐される。第２の光合
分波器13の第１の出力34はフリースペクトルレンジ20GH
zフィネス20のファブリーペロエタロン14を透過した
後、第１の光検出器15で電気信号に変換され、また第２
の光合分波器13の第２の出力35は、周波数軸上の透過率
変化の半周期が100GHzであるようなファイバ型マッハツ
ェンダ干渉計16を透過した後、第２図の光検出器17で電
気信号に変換される。第１及び第２の光検出器15、17か
らの電気信号は制御装置３の第１及び第２の入力端子3
1,32に印加される。なお第２図はファブリーペロエタロ
ン14、ファイバ型マッハツェンダ干渉計16の共振特性を
図示したものである。制御装置３では第１、第２の入力
31、32に基づき、まずマッハツェンダ干渉計16の共振特
性40を利用しファブリーペロエタロンの共振ピーク41,4
2,43の近傍にまで、DFB-LD4,5,6の発振周波数を引込
む。以上が制御の第１段階である。次の制御の第２段階
について説明する。第２段階では制御装置３から供給さ
れる制御信号に従い、光スイッチ11からの出力光路が第
１の光路12から第２の光路18に切換えられ、また鋸歯状
波発生器２がオンになり、繰り返し周波数20KHzの鋸歯
状波をLD1に印加され、DBR-LD1が周波数掃引される。DB
R-LD1から出射された光は光アイソレータ19を透過した
後、第２の光合分波器路13によりパワー比1:1:1に３分
岐される。このうち第１の出力34はファブリーペロエタ
ロン14を透過した後光検出器15で電気信号に変換され
る。第１の光検出器15には、鋸歯状波発生器２からの出
力信号の１周期中、DBR-LD1の発振周波数がファブリー
ペロエタロン14の共振周波数に一致した時点でパルス状
の光が入力されるがこの１周期のパルスが、第２図の共
振ピーク41,42,43に対応するものになるよう鋸歯状波発
生器２の出力波形を調整しておく。また第３の出力36は
光合波器20において光スイッチ11の第２の光路の光と合
波され、第３の光検出器21において電気信号に変換され
た後、図には示していないが、遮断周波数100MHzの低域
通過フィルタに入力される。この低域通過フィルタから
はDFB-LD1からの出射光の周波数とDFB-LD4,5,6の出射光
の周波数の差がほぼ±100MHzの範囲に入っているときに
パルス状の電気信号が出力される。パルスの数は鋸歯状
波発生器２の出力信号の１周期の間に、DBR-LD1とDFB-L
D4,5,6の各々の発振周波数の差は±100MHzの範囲に入る
回数に等しく、それは３つである。低域通過フィルタを
通した第３の光検出器21の出力は制御装置３の第３の入
力端子33に印加される。制御装置３では第３の図（ａ）
に示した制御装置３の第１の入力端子31への入力及び第
38図（ｂ）に示した制御装置３の第３の入力端子33への
入力のパルス発生時刻差52,53,54を誤差信号とし、これ
らの大きさが一定の値、本実施例では零になるような制
御信号を出力する。制御装置３からの制御信号はレーザ
装置駆動装置22,23,24に入力される。レーザ装置駆動装
置22,23,24からは、制御信号に応じた駆動電流がDFB-LD
4,5,6に注入される。なおDBR-LD1,DFB-LD4,5,6はそれぞ
れ温度制御装置25,26,27,28により、変動幅0.2℃に温度
安定化されている。
本実施例では３台のレーザ装置のみを周波数間隔安定化
しているが鋸歯状波発生器２から出射されるパルスの数
を変化させれば、さらに多くのレーザ装置の周波数間隔
を安定化できる。また使用するファブリーペロエタロン
の厚さを変化させることで周波数間隔を自由に設定でき
る。さらに安定化する対象であるレーザ装置も半導体レ
ーザに限定されず、外部からの信号に応じて発振周波数
が変化するレーザ装置なら、安定化可能である。
しているが鋸歯状波発生器２から出射されるパルスの数
を変化させれば、さらに多くのレーザ装置の周波数間隔
を安定化できる。また使用するファブリーペロエタロン
の厚さを変化させることで周波数間隔を自由に設定でき
る。さらに安定化する対象であるレーザ装置も半導体レ
ーザに限定されず、外部からの信号に応じて発振周波数
が変化するレーザ装置なら、安定化可能である。
（発明の効果） 以上述べてきたように本発明により、任意の個数のレー
ザ装置の周波数間隔を同時に安定化することができ、し
かもその周波数間隔は使用する光学共振器により、任意
の値に、かつ厳密に規定することができる。また、制御
の第１段階を導入することにより各レーザ装置の発振周
波数を光学共振器の所望の共振ピークに容易に引き込む
ことができる。
ザ装置の周波数間隔を同時に安定化することができ、し
かもその周波数間隔は使用する光学共振器により、任意
の値に、かつ厳密に規定することができる。また、制御
の第１段階を導入することにより各レーザ装置の発振周
波数を光学共振器の所望の共振ピークに容易に引き込む
ことができる。
第１図は本発明の実施例の構成図、第２図は実施例で用
いているファブリーペロエタロン14及びマッハツェンダ
干渉計16の共振特性、第３図（ａ）は制御の第２段階に
おける制御装置３への第１の入力31の時間変化、第３図
（ｂ）は制御の第２段階における制御装置３への第３の
入力33の時間変化を表す図である。 第１図、第２図、第３図（ａ），（ｂ）において、 １…1.55μｍ帯波長可分布ブラッグ反射形半導体レー
ザ、２…鋸歯状波発生器、３…制御装置、4,5,6…1.55
μｍ帯分布帰還形半導体レーザ、7,8,9,19…光アイソレ
ータ、10…３入力２出力光合分波器、11…光スイッチ、
13…２入力３出力光合分波器、14…ファブリーペロエタ
ロン、15,17,21…光検出器、16…ファイバ形マッハツェ
ンダ干渉計、20…光合波器、22,23,24…レーザ装置駆動
装置、25,26,27,28…温度制御装置、40…マッハツェン
ダ干渉計16の共振特性、44…ファブリーペロエタロン14
の共振特性、50,51…鋸歯状波発生器からの出力波形、5
2,53,54…誤差信号。
いているファブリーペロエタロン14及びマッハツェンダ
干渉計16の共振特性、第３図（ａ）は制御の第２段階に
おける制御装置３への第１の入力31の時間変化、第３図
（ｂ）は制御の第２段階における制御装置３への第３の
入力33の時間変化を表す図である。 第１図、第２図、第３図（ａ），（ｂ）において、 １…1.55μｍ帯波長可分布ブラッグ反射形半導体レー
ザ、２…鋸歯状波発生器、３…制御装置、4,5,6…1.55
μｍ帯分布帰還形半導体レーザ、7,8,9,19…光アイソレ
ータ、10…３入力２出力光合分波器、11…光スイッチ、
13…２入力３出力光合分波器、14…ファブリーペロエタ
ロン、15,17,21…光検出器、16…ファイバ形マッハツェ
ンダ干渉計、20…光合波器、22,23,24…レーザ装置駆動
装置、25,26,27,28…温度制御装置、40…マッハツェン
ダ干渉計16の共振特性、44…ファブリーペロエタロン14
の共振特性、50,51…鋸歯状波発生器からの出力波形、5
2,53,54…誤差信号。
Claims (2)
- 【請求項１】制御対象である複数のレーザ装置の各発振
周波数を、それらの間隔がほぼ一定となるように引き込
んだ後、前記複数のレーザ装置の発振周波数間隔を時間
間隔に変換し、この時間間隔を周波数間隔基準に対応す
る時間間隔と比較することにより得られる誤差信号を一
定の値となるように制御することを特徴とする複数のレ
ーザ装置の発振周波数間隔安定化方法。 - 【請求項２】外部からの入力に応じて、発振周波数間隔
を安定化する対象たる複数のレーザ装置の発振周波数を
含む範囲で発振周波数を掃引する参照用レーザ装置と、
前記複数のレーザ装置からの出射光を合波する第１の光
合波器と、該第１の光合波器からの出力を外部からの制
御信号に従っていずれかの光路に出力する光路切換用の
光スイッチと、該光スイッチからの第１の出力及び前記
参照用レーザ装置出力を合波し、これを複数の光路に分
岐する光回路と、該光回路の第１の出力の周波数変化を
振幅変化に変換する低フィネス光学共振器と、前記光回
路の第２の出力の周波数変化を振幅変化に変換する低フ
ィネス光学共振器と、前記光回路の第３の出力と前記光
スイッチの第２の出力を合波する第２の光合波器と、少
なくとも前記低フィネス光学共振器からの出力を用いて
前記複数のレーザ装置の発振周波数を前記高フィネス光
学共振器の共振周波数近傍に近接させ、しかる後に前記
参照用レーザ装置の発振周波数掃引時の前記第２の光合
波器の出力により検出する前記複数のレーザ装置の発振
周波数間隔の、前記参照用レーザ装置の発振周波数掃引
時の前記高フィネス光学共振器の共振ピークに対応する
光出力を用いて設定した周波数間隔基準に対する誤差を
一定値に安定化させるための、前記光スイッチに印加す
る第１の制御信号及び第２以下の制御信号を出力する制
御装置と、該制御装置からの前記第２以下の制御信号に
従って前記複数のレーザ装置への入力信号を変化させる
レーザ装置駆動装置とを含んで構成されることを特徴と
する複数のレーザ装置の発振周波数間隔安定化装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18818787A JPH0682882B2 (ja) | 1987-07-27 | 1987-07-27 | 複数のレ−ザ装置の発振周波数間隔安定化方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18818787A JPH0682882B2 (ja) | 1987-07-27 | 1987-07-27 | 複数のレ−ザ装置の発振周波数間隔安定化方法及び装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6431487A JPS6431487A (en) | 1989-02-01 |
| JPH0682882B2 true JPH0682882B2 (ja) | 1994-10-19 |
Family
ID=16219291
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18818787A Expired - Lifetime JPH0682882B2 (ja) | 1987-07-27 | 1987-07-27 | 複数のレ−ザ装置の発振周波数間隔安定化方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0682882B2 (ja) |
-
1987
- 1987-07-27 JP JP18818787A patent/JPH0682882B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6431487A (en) | 1989-02-01 |
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