JPH0683943A - 印字検査装置 - Google Patents
印字検査装置Info
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- JPH0683943A JPH0683943A JP4232277A JP23227792A JPH0683943A JP H0683943 A JPH0683943 A JP H0683943A JP 4232277 A JP4232277 A JP 4232277A JP 23227792 A JP23227792 A JP 23227792A JP H0683943 A JPH0683943 A JP H0683943A
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 7
- 238000013500 data storage Methods 0.000 claims description 4
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 文字列中に部分的なずれや傾斜がある場合で
もこれらを印字不良として判定できる印字検査装置を提
供すること。 【構成】 画像データから得られる電子部品Ｂの外形に
基づいて文字列中の特定文字を包含する第１の検査範囲
を第１検査範囲設定手段で設定し、第１の検査範囲に包
含される特定文字と該文字に該当する標準文字パターン
とをマッチングさせて特定文字の位置を検出し該検出位
置に基づいて各文字または文字列に近接した第２の検査
範囲を第２検査範囲設定手段で設定し、第２の検査範囲
内の画像データを所定のしきい値に基づいてデータ変換
手段２ｂで２値化し、２値化された画像データから第２
の検査範囲内における印字部分の画素数を計数し該計数
値に基づいて良否判定手段２ｅで良否の判定を行うよう
にしている。
もこれらを印字不良として判定できる印字検査装置を提
供すること。 【構成】 画像データから得られる電子部品Ｂの外形に
基づいて文字列中の特定文字を包含する第１の検査範囲
を第１検査範囲設定手段で設定し、第１の検査範囲に包
含される特定文字と該文字に該当する標準文字パターン
とをマッチングさせて特定文字の位置を検出し該検出位
置に基づいて各文字または文字列に近接した第２の検査
範囲を第２検査範囲設定手段で設定し、第２の検査範囲
内の画像データを所定のしきい値に基づいてデータ変換
手段２ｂで２値化し、２値化された画像データから第２
の検査範囲内における印字部分の画素数を計数し該計数
値に基づいて良否判定手段２ｅで良否の判定を行うよう
にしている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、電子部品に対する印字
の良否を画像処理によって検査する印字検査装置に関す
るものである。
の良否を画像処理によって検査する印字検査装置に関す
るものである。
【０００２】
【従来の技術】電子部品には一般にその型番等を表す文
字列（文字，記号，数字等の組み合わせ）が印刷或いは
刻設の方法によって印字されている。通常、この印字の
良否検査はＣＣＤカメラ及びマイクロコンピュータ等を
用いた画像処理によって行われている。
字列（文字，記号，数字等の組み合わせ）が印刷或いは
刻設の方法によって印字されている。通常、この印字の
良否検査はＣＣＤカメラ及びマイクロコンピュータ等を
用いた画像処理によって行われている。
【０００３】例えば、ＩＣ等の電子部品の場合には、図
７に示すように、まず電子部品Ｂの印字面をＣＣＤカメ
ラで撮像し、該画像データに基づいて電子部品Ｂの左端
のリード端子Ｂａの所定位置からＸ・Ｙ方向に夫々Ｘ
１，Ｙ１だけ離れた基点Ｋを求め、該基点Ｋを基準とし
て検査範囲Ｗを設定する。この検査範囲Ｗは、印字の際
に多少のずれ及び傾斜が文字列Ｍに生じることを考慮
し、同図に示すように文字列よりもＸ・Ｙ方向に大きな
ものが用意される。次に、検査範囲Ｗ内の画像データを
所定のしきい値に基づいて２値化し、該２値化データか
ら印字部分の画素数を計数して該計数値に基づいて良否
の判定を行う。具体的には、良品における印字部分の画
素数が２０２の場合では上記の計数値が１９０〜２５０
の範囲に入る場合に印字良として判定している。
７に示すように、まず電子部品Ｂの印字面をＣＣＤカメ
ラで撮像し、該画像データに基づいて電子部品Ｂの左端
のリード端子Ｂａの所定位置からＸ・Ｙ方向に夫々Ｘ
１，Ｙ１だけ離れた基点Ｋを求め、該基点Ｋを基準とし
て検査範囲Ｗを設定する。この検査範囲Ｗは、印字の際
に多少のずれ及び傾斜が文字列Ｍに生じることを考慮
し、同図に示すように文字列よりもＸ・Ｙ方向に大きな
ものが用意される。次に、検査範囲Ｗ内の画像データを
所定のしきい値に基づいて２値化し、該２値化データか
ら印字部分の画素数を計数して該計数値に基づいて良否
の判定を行う。具体的には、良品における印字部分の画
素数が２０２の場合では上記の計数値が１９０〜２５０
の範囲に入る場合に印字良として判定している。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の印字検査方法では、検査範囲Ｗとして文字列Ｍより
も大きなものを用いているため、検査範囲Ｗを越える文
字列Ｍ全体のずれや傾斜を検査することはできても、図
８に示すように文字列Ｍ中の一文字Ｍｂに生じたずれや
一文字Ｍｅに生じた傾斜を印字不良として判定できない
欠点がある。
来の印字検査方法では、検査範囲Ｗとして文字列Ｍより
も大きなものを用いているため、検査範囲Ｗを越える文
字列Ｍ全体のずれや傾斜を検査することはできても、図
８に示すように文字列Ｍ中の一文字Ｍｂに生じたずれや
一文字Ｍｅに生じた傾斜を印字不良として判定できない
欠点がある。
【０００５】本発明は上記事情に鑑みて成されたもの
で、その目的とするところは、文字列中に部分的なずれ
や傾斜がある場合でもこれらを印字不良として判定でき
る印字検査装置を提供することにある。
で、その目的とするところは、文字列中に部分的なずれ
や傾斜がある場合でもこれらを印字不良として判定でき
る印字検査装置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
請求項１では、電子部品の印字面を撮像し画素毎の輝度
データ群から成る画像データを出力するカメラと、画像
データを記憶する画像データ記憶手段と、標準文字パタ
ーンを記憶する標準文字パターン記憶手段と、画像デー
タから得られる電子部品の外形に基づいて文字列中の特
定文字を包含する第１の検査範囲を設定する第１検査範
囲設定手段と、第１の検査範囲に包含される特定文字と
該文字に該当する標準文字パターンとをマッチングさせ
て特定文字の位置を検出し、該検出位置に基づいて各文
字または文字列に近接した第２の検査範囲を設定する第
２検査範囲設定手段と、第２の検査範囲内の画像データ
を所定のしきい値に基づいて２値化するデータ変換手段
と、２値化された画像データから第２の検査範囲内にお
ける印字部分の画素数を計数し、該計数値に基づいて良
否の判定を行う良否判定手段とから、印字検査装置を構
成している。
請求項１では、電子部品の印字面を撮像し画素毎の輝度
データ群から成る画像データを出力するカメラと、画像
データを記憶する画像データ記憶手段と、標準文字パタ
ーンを記憶する標準文字パターン記憶手段と、画像デー
タから得られる電子部品の外形に基づいて文字列中の特
定文字を包含する第１の検査範囲を設定する第１検査範
囲設定手段と、第１の検査範囲に包含される特定文字と
該文字に該当する標準文字パターンとをマッチングさせ
て特定文字の位置を検出し、該検出位置に基づいて各文
字または文字列に近接した第２の検査範囲を設定する第
２検査範囲設定手段と、第２の検査範囲内の画像データ
を所定のしきい値に基づいて２値化するデータ変換手段
と、２値化された画像データから第２の検査範囲内にお
ける印字部分の画素数を計数し、該計数値に基づいて良
否の判定を行う良否判定手段とから、印字検査装置を構
成している。
【０００７】請求項２では、電子部品の印字面を撮像し
画素毎の輝度データ群から成る画像データを出力するカ
メラと、画像データを記憶する画像データ記憶手段と、
画像データから得られる電子部品の外形に基づいて文字
列中の特定文字を包含する第１の検査範囲を設定する第
１検査範囲設定手段と、第１の検査範囲に包含される特
定文字の重心位置を検出し、該検出位置に基づいて各文
字または文字列に近接した第２の検査範囲を設定する第
２検査範囲設定手段と、第２の検査範囲内の画像データ
を所定のしきい値に基づいて２値化するデータ変換手段
と、２値化された画像データから第２の検査範囲内にお
ける印字部分の画素数を計数し、該計数値に基づいて良
否の判定を行う良否判定手段とから、印字検査装置を構
成している。
画素毎の輝度データ群から成る画像データを出力するカ
メラと、画像データを記憶する画像データ記憶手段と、
画像データから得られる電子部品の外形に基づいて文字
列中の特定文字を包含する第１の検査範囲を設定する第
１検査範囲設定手段と、第１の検査範囲に包含される特
定文字の重心位置を検出し、該検出位置に基づいて各文
字または文字列に近接した第２の検査範囲を設定する第
２検査範囲設定手段と、第２の検査範囲内の画像データ
を所定のしきい値に基づいて２値化するデータ変換手段
と、２値化された画像データから第２の検査範囲内にお
ける印字部分の画素数を計数し、該計数値に基づいて良
否の判定を行う良否判定手段とから、印字検査装置を構
成している。
【０００８】
【作用】請求項１に係る印字検査装置では、まず、画像
データから得られる電子部品の外形に基づいて文字列中
の特定文字を包含する第１の検査範囲が設定される。次
いで、この第１の検査範囲に包含される特定文字と該文
字に該当する標準文字パターンとがマッチングされて特
定文字の位置が検出され、該検出位置に基づいて各文字
または文字列に近接した第２の検査範囲が設定される。
そして、第２の検査範囲内の画像データが所定のしきい
値に基づいて２値化され、該２値化データから第２の検
査範囲内における印字部分の画素数が計数され、該計数
値に基づいて良否の判定が行われる。
データから得られる電子部品の外形に基づいて文字列中
の特定文字を包含する第１の検査範囲が設定される。次
いで、この第１の検査範囲に包含される特定文字と該文
字に該当する標準文字パターンとがマッチングされて特
定文字の位置が検出され、該検出位置に基づいて各文字
または文字列に近接した第２の検査範囲が設定される。
そして、第２の検査範囲内の画像データが所定のしきい
値に基づいて２値化され、該２値化データから第２の検
査範囲内における印字部分の画素数が計数され、該計数
値に基づいて良否の判定が行われる。
【０００９】請求項２に係る印字検査装置では、まず、
画像データから得られる電子部品の外形に基づいて文字
列中の特定文字を包含する第１の検査範囲が設定され
る。次いで、この第１の検査範囲に包含される特定文字
の重心位置が検出され、該検出位置に基づいて各文字ま
たは文字列に近接した第２の検査範囲が設定される。そ
して、２の検査範囲内の画像データが所定のしきい値に
基づいて２値化され、該２値化データから第２の検査範
囲内における印字部分の画素数が計数され、該計数値に
基づいて良否の判定が行われる。
画像データから得られる電子部品の外形に基づいて文字
列中の特定文字を包含する第１の検査範囲が設定され
る。次いで、この第１の検査範囲に包含される特定文字
の重心位置が検出され、該検出位置に基づいて各文字ま
たは文字列に近接した第２の検査範囲が設定される。そ
して、２の検査範囲内の画像データが所定のしきい値に
基づいて２値化され、該２値化データから第２の検査範
囲内における印字部分の画素数が計数され、該計数値に
基づいて良否の判定が行われる。
【００１０】
【実施例】図１には本考案を適用した印字検査装置の構
成を示してある。同図において１はカメラ、２は画像判
定装置、３は表示装置である。
成を示してある。同図において１はカメラ、２は画像判
定装置、３は表示装置である。
【００１１】カメラ１はＣＣＤ等のエリアセンサを内蔵
したもので、電子部品Ｂの印字面の画像を撮像し画素毎
の輝度データ群から成る画像データを出力する。
したもので、電子部品Ｂの印字面の画像を撮像し画素毎
の輝度データ群から成る画像データを出力する。
【００１２】画像判定装置２は、カメラ１を通じて得ら
れた画像データを記憶する画像データメモリ２ａと、画
像データメモリ２ａから抜き出された画像データを２値
化するデータ変換部２ｂと、２値化された画像データを
記憶する２値化データメモリ２ｃと、印字文字に対応す
る標準文字パターンを記憶した標準文字パターンメモリ
２ｄと、判定処理部２ｅとから構成されている。この判
定処理部２ｅはＣＰＵとプログラムを格納したメモリ等
を具備しており、第１，第２の検査範囲の設定と良否判
定を行う。
れた画像データを記憶する画像データメモリ２ａと、画
像データメモリ２ａから抜き出された画像データを２値
化するデータ変換部２ｂと、２値化された画像データを
記憶する２値化データメモリ２ｃと、印字文字に対応す
る標準文字パターンを記憶した標準文字パターンメモリ
２ｄと、判定処理部２ｅとから構成されている。この判
定処理部２ｅはＣＰＵとプログラムを格納したメモリ等
を具備しており、第１，第２の検査範囲の設定と良否判
定を行う。
【００１３】３はＣＲＴ，ＬＣＤ等から成り、画像判定
装置２における判定結果を随時表示する。
装置２における判定結果を随時表示する。
【００１４】ここで、図２乃至図５を参照して上記印字
検査装置における印字検査の手順について説明する。
検査装置における印字検査の手順について説明する。
【００１５】まず、電子部品Ｂの印字面をカメラ１で撮
像し、エリアセンサにおける画素毎の輝度データ群から
成る画像データを画像データメモリ２ａに記憶させる
（図２のｓ１，ｓ２参照）。
像し、エリアセンサにおける画素毎の輝度データ群から
成る画像データを画像データメモリ２ａに記憶させる
（図２のｓ１，ｓ２参照）。
【００１６】次に、画像データメモリ２ａから画像デー
タを読み出し、該画像データに基づいて電子部品Ｂの左
端のリード端子Ｂａの所定位置からＸ・Ｙ方向に夫々Ｘ
１，Ｙ１だけ離れた基点Ｋの座標を求める（図２のｓ
３，ｓ４、図３参照）。
タを読み出し、該画像データに基づいて電子部品Ｂの左
端のリード端子Ｂａの所定位置からＸ・Ｙ方向に夫々Ｘ
１，Ｙ１だけ離れた基点Ｋの座標を求める（図２のｓ
３，ｓ４、図３参照）。
【００１７】次に、基点Ｋの座標を基準として、文字列
Ｍの左端の「Ａ」の文字Ｍａを包含する第１の検査範囲
Ｗ１を設定する（図２のｓ５、図３参照）。この第１の
検査範囲Ｗは、文字Ｍａを余裕をもって包含できるよう
に文字ＭａよりもＸ・Ｙ方向に大きなものが用意され
る。
Ｍの左端の「Ａ」の文字Ｍａを包含する第１の検査範囲
Ｗ１を設定する（図２のｓ５、図３参照）。この第１の
検査範囲Ｗは、文字Ｍａを余裕をもって包含できるよう
に文字ＭａよりもＸ・Ｙ方向に大きなものが用意され
る。
【００１８】次に、第１の検査範囲Ｗ１に包含される文
字Ｍａに該当する「Ａ」の標準文字パターンＰを標準文
字パターンメモリ２ｄから読み出し、第１の検査範囲Ｗ
１内で標準文字パターンＰをマッチングさせて文字Ｍａ
の位置を検出する（図２のｓ６，ｓ７、図４参照）。文
字列Ｍにおける左端の文字Ｍａは電子部品毎に一定であ
るので標準文字パターンの読み出しは簡単に行なうこと
ができる。また、上記のマッチング法によれば、文字Ｍ
ａに欠け等があって字体が明瞭でない場合でも標準文字
パターンＰによって該文字Ｍａの位置を正確に割り出す
ことが可能となる。
字Ｍａに該当する「Ａ」の標準文字パターンＰを標準文
字パターンメモリ２ｄから読み出し、第１の検査範囲Ｗ
１内で標準文字パターンＰをマッチングさせて文字Ｍａ
の位置を検出する（図２のｓ６，ｓ７、図４参照）。文
字列Ｍにおける左端の文字Ｍａは電子部品毎に一定であ
るので標準文字パターンの読み出しは簡単に行なうこと
ができる。また、上記のマッチング法によれば、文字Ｍ
ａに欠け等があって字体が明瞭でない場合でも標準文字
パターンＰによって該文字Ｍａの位置を正確に割り出す
ことが可能となる。
【００１９】次に、文字Ｍａの位置、例えば重心位置や
縦・横輪郭位置に基づいて該文字Ｍａの向きに沿って右
方向に延びる横長の第２の検査範囲Ｗ２を設定する（図
２のｓ８、図５参照）。この第２の検査範囲Ｗ２は、Ｙ
方向の幅が文字Ｍａの縦寸法に近似し、Ｘ方向の幅が文
字Ｍａの横寸法（×文字数）と文字間隔との和に近似し
ており、文字列Ｍの外輪に合致している。
縦・横輪郭位置に基づいて該文字Ｍａの向きに沿って右
方向に延びる横長の第２の検査範囲Ｗ２を設定する（図
２のｓ８、図５参照）。この第２の検査範囲Ｗ２は、Ｙ
方向の幅が文字Ｍａの縦寸法に近似し、Ｘ方向の幅が文
字Ｍａの横寸法（×文字数）と文字間隔との和に近似し
ており、文字列Ｍの外輪に合致している。
【００２０】次に、第２の検査範囲Ｗ２に対応する画像
データを画像データメモリ２ａから読み出し、該データ
をデータ変換部２ｂで２値化して２値化データメモリ２
ｃに記憶させる（図２のｓ９，ｓ１０，ｓ１１）。
データを画像データメモリ２ａから読み出し、該データ
をデータ変換部２ｂで２値化して２値化データメモリ２
ｃに記憶させる（図２のｓ９，ｓ１０，ｓ１１）。
【００２１】次に、２値化データメモリ２ｃから２値化
された画像データを読み出し、該画像データから印字部
分の画素数を計数する（図２のｓ１２、ｓ１３）。そし
て、この計数値ｎがｎ１〜ｎ２の良品範囲内にあるか否
かを比較し、範囲内にある場合には印字良、外れた場合
には印字不良の判定を行う。この印字良否の判定は良品
の画素数との差を求め、該値が所定範囲内にあるか否か
で行うようにしてもよい。印字良否の判定結果は表示装
置３に随時表示される（図２のｓ１４，ｓ１５，ｓ１
６）。
された画像データを読み出し、該画像データから印字部
分の画素数を計数する（図２のｓ１２、ｓ１３）。そし
て、この計数値ｎがｎ１〜ｎ２の良品範囲内にあるか否
かを比較し、範囲内にある場合には印字良、外れた場合
には印字不良の判定を行う。この印字良否の判定は良品
の画素数との差を求め、該値が所定範囲内にあるか否か
で行うようにしてもよい。印字良否の判定結果は表示装
置３に随時表示される（図２のｓ１４，ｓ１５，ｓ１
６）。
【００２２】つまり、第２の検査範囲Ｗ２が文字列Ｍに
近接していることから、図８のように文字列Ｍ中に部分
的なずれや傾斜がある場合には、これら文字Ｍｂ，Ｍｅ
は第２の検査範囲Ｗ２からはみ出ることになり、これに
より上記の計数値が減少して印字不良と判定されること
になる。
近接していることから、図８のように文字列Ｍ中に部分
的なずれや傾斜がある場合には、これら文字Ｍｂ，Ｍｅ
は第２の検査範囲Ｗ２からはみ出ることになり、これに
より上記の計数値が減少して印字不良と判定されること
になる。
【００２３】尚、上述の実施例では、文字列に近接した
横長の第２の検査範囲を設定したものを示したが、該第
２の検査範囲は図６に示すように図５の検査範囲Ｗ２か
ら文字間隔を除外したもの、即ち文字列Ｍを構成する各
文字を個々に囲む複数の範囲群（Ｗ３）で構成してもよ
く、このような第２の検査範囲Ｗ３を設定すれば文字間
隔側へのずれを正確に掴んでより正確な良否判定を行う
ことができる。
横長の第２の検査範囲を設定したものを示したが、該第
２の検査範囲は図６に示すように図５の検査範囲Ｗ２か
ら文字間隔を除外したもの、即ち文字列Ｍを構成する各
文字を個々に囲む複数の範囲群（Ｗ３）で構成してもよ
く、このような第２の検査範囲Ｗ３を設定すれば文字間
隔側へのずれを正確に掴んでより正確な良否判定を行う
ことができる。
【００２４】また、文字列の左端文字の位置を基準とし
て第２の検査範囲を設定したものを示したが、電子部品
に印字される文字列の文字の種類及び数等は予め特定で
きるので右端や中間位置にある文字を該基準文字として
使用してもよい。
て第２の検査範囲を設定したものを示したが、電子部品
に印字される文字列の文字の種類及び数等は予め特定で
きるので右端や中間位置にある文字を該基準文字として
使用してもよい。
【００２５】さらに、文字列中の特定文字の位置を標準
文字パターンとのマッチングによって検出するようにし
たものを示したが、第１の検査範囲内の文字の重心座標
を算出し該重心座標に基づいて第２の検査範囲を設定す
ることも可能であり、この場合には図１に示した標準文
字パターンメモリ２ｄ及びマッチング処理が不要とな
る。
文字パターンとのマッチングによって検出するようにし
たものを示したが、第１の検査範囲内の文字の重心座標
を算出し該重心座標に基づいて第２の検査範囲を設定す
ることも可能であり、この場合には図１に示した標準文
字パターンメモリ２ｄ及びマッチング処理が不要とな
る。
【００２６】さらにまた、第１の検査範囲をリード端子
の所定位置を基準として設定したものを示したが、該第
１の検査範囲は部品本体の角部等を基準として設定する
ようにしてよい。
の所定位置を基準として設定したものを示したが、該第
１の検査範囲は部品本体の角部等を基準として設定する
ようにしてよい。
【００２７】
【発明の効果】以上詳述したように、請求項１及び２に
係る印字検査装置によれば、文字列または各文字に近接
した第２の検査範囲を再設定するようにしているので、
文字列中に部分的なずれや傾斜がある場合でもこれらを
印字不良として正確に判定することができる。
係る印字検査装置によれば、文字列または各文字に近接
した第２の検査範囲を再設定するようにしているので、
文字列中に部分的なずれや傾斜がある場合でもこれらを
印字不良として正確に判定することができる。
【図１】印字検査装置の構成図
【図２】印字検査に係るフローチャート
【図３】印字検査手順を示す図
【図４】印字検査手順を示す図
【図５】印字検査手順を示す図
【図６】第２の検査範囲の他の例を示す図
【図７】従来の印字検査手順を示す図
【図８】従来の問題点を示す図
１…カメラ、２…画像判定装置、２ａ…画像データメモ
リ、２ｂ…データ変換部、２ｃ…２値化データメモリ、
２ｄ…標準文字パターンメモリ、２ｅ…判定処理部、Ｂ
…電子部品、Ｍ…文字列、Ｗ１…第１の検査範囲、Ｗ２
…第２の検査範囲。
リ、２ｂ…データ変換部、２ｃ…２値化データメモリ、
２ｄ…標準文字パターンメモリ、２ｅ…判定処理部、Ｂ
…電子部品、Ｍ…文字列、Ｗ１…第１の検査範囲、Ｗ２
…第２の検査範囲。
Claims (2)
- 【請求項１】 電子部品の印字面を撮像し画素毎の輝度
データ群から成る画像データを出力するカメラと、 画像データを記憶する画像データ記憶手段と、 標準文字パターンを記憶する標準文字パターン記憶手段
と、 画像データから得られる電子部品の外形に基づいて文字
列中の特定文字を包含する第１の検査範囲を設定する第
１検査範囲設定手段と、 第１の検査範囲に包含される特定文字と該文字に該当す
る標準文字パターンとをマッチングさせて特定文字の位
置を検出し、該検出位置に基づいて各文字または文字列
に近接した第２の検査範囲を設定する第２検査範囲設定
手段と、 第２の検査範囲内の画像データを所定のしきい値に基づ
いて２値化するデータ変換手段と、 ２値化された画像データから第２の検査範囲内における
印字部分の画素数を計数し、該計数値に基づいて良否の
判定を行う良否判定手段とを具備した、 ことを特徴とする印字検査装置。 - 【請求項２】 電子部品の印字面を撮像し画素毎の輝度
データ群から成る画像データを出力するカメラと、 画像データを記憶する画像データ記憶手段と、 画像データから得られる電子部品の外形に基づいて文字
列中の特定文字を包含する第１の検査範囲を設定する第
１検査範囲設定手段と、 第１の検査範囲に包含される特定文字の重心位置を検出
し、該検出位置に基づいて各文字または文字列に近接し
た第２の検査範囲を設定する第２検査範囲設定手段と、 第２の検査範囲内の画像データを所定のしきい値に基づ
いて２値化するデータ変換手段と、 ２値化された画像データから第２の検査範囲内における
印字部分の画素数を計数し、該計数値に基づいて良否の
判定を行う良否判定手段とを具備した、 ことを特徴とする印字検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4232277A JPH0683943A (ja) | 1992-08-31 | 1992-08-31 | 印字検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4232277A JPH0683943A (ja) | 1992-08-31 | 1992-08-31 | 印字検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0683943A true JPH0683943A (ja) | 1994-03-25 |
Family
ID=16936716
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4232277A Withdrawn JPH0683943A (ja) | 1992-08-31 | 1992-08-31 | 印字検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0683943A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007142717A (ja) * | 2005-11-17 | 2007-06-07 | Keyence Corp | 画像処理装置 |
| CN106530289A (zh) * | 2016-11-03 | 2017-03-22 | 刘国勇 | 一种基于点阵的喷码清晰度机器视觉检测方法 |
-
1992
- 1992-08-31 JP JP4232277A patent/JPH0683943A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007142717A (ja) * | 2005-11-17 | 2007-06-07 | Keyence Corp | 画像処理装置 |
| CN106530289A (zh) * | 2016-11-03 | 2017-03-22 | 刘国勇 | 一种基于点阵的喷码清晰度机器视觉检测方法 |
| CN106530289B (zh) * | 2016-11-03 | 2019-04-30 | 刘国勇 | 一种基于点阵的喷码清晰度机器视觉检测方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19991102 |