JPH068683Y2 - 温度差による穀物サイロの管理装置 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本考案は、穀物の貯蔵温度等を測定時刻に応じた各測定
ポイントにおける温度差に基づいて管理するための穀物
サイロの管理装置に関する。

（従来の技術） 穀物を貯蔵するものにサイロがある。サイロは貯蔵した
穀物を良好な状態に保つために、貯蔵温度を穀物の種
類、環境に応じて管理する必要がある。

そのために、サイロ内には高さ方向に沿って温度計また
は温度センサが複数箇所に設けられており、これら温度
計または温度センサによって、サイロ内の各測定ポイン
トにおける温度データを随時測定している。そして、測
定値は、測定時のみの温度表示を目視確認するか、また
はプリントアウトすることによって行なっており、確認
された温度に基づいて、サイロ内の温度を適宜調整し、
収容された穀物が貯蔵に適する様に保たれている。

（考案が解決しようとする問題点） しかしながら、各サイロ内の温度は、各測定ポイント毎
に現在の温度データのみが表示されているので、誰もが
穀温の上昇を把握できるわけではない。これにより、穀
温上昇に対する適切な処置が遅くなるという問題があっ
た。しかも、温度の測定ポイントは施設全体で100前後
にも達するので、目視確認により記載された各温度値ま
たはプリントアウトされた各温度データを順次比較しな
がら穀温の上昇をチェックすることは煩雑な作業であ
る。

そのため、本考案は温度の変移を誰もが容易に把握する
ための穀物サイロの管理装置を提供するものである。

（問題点を解決するための手段） 本考案は上記問題点を解決するために、一つまたは複数
のサイロを有する貯蔵設備において、各サイロの複数の
測定ポイントに温度センサを設け、 該温度センサの検知信号を演算して温度とする温度演算
手段と、該温度演算手段の出力の温度と穀物投入時の基
準温度との温度上下量を演算する上下量演算手段と、前
記温度演算手段および上下量演算手段の両演算内容を経
時的にサンプリングするための標本化手段とからなるデ
ータ処理装置を設け、前記標本化手段でサンプリングし
た各サイロの複数の測定ポイントの温度を、指定したサ
イロおよびサンプリング時刻にしたがって表示可能にし
た表示装置を設けたことを特徴とする。

（作用） 本考案は上記のように構成したものであるので、先ず、
各サイロに穀物を投入したときに設定した各サイロの基
準温度を標本化手段に伝送し、また、サイロ内の複数の
測定ポイントにおける穀温を測った検知信号を温度演算
手段に入力して各温度を演算する。基準温度は最初に測
定した穀温でも良い。

次に、温度演算手段は上記の演算内容、すなわち、各測
定ポイントにおける各温度データを、上下量演算手段と
標本化手段に伝送する。標本化手段では一定時間ごとの
温度データをサンプリングし記憶させている。また、上
下量演算手段は温度演算手段から伝送された各温度デー
タと標本化手段から入力した前記基準温度とを比較演算
すると共に、それらの各測定ポイントにおける温度と基
準温度との各温度差データを標本化手段へ伝送する。

ついで、サンプリングした温度データと温度差データを
標本化手段で整理し、サンプリング時刻と共に記憶す
る。

したがって、表示装置では各サイロの複数の測定ポイン
トにおける各温度データおよび温度差データを、基準温
度とサンプリング時刻と一緒に表示することができ、サ
イロの指定またはサンプリング時刻の指定により、全て
のサイロの温度状況を把握できる。

一方、サイロ内の穀物が悪くなっていく過程においては
腐敗熱が出るので、この腐敗熱によってサイロ内の温度
が上昇する。この温度上昇を温度センサによって検知し
確認するので、穀物の品質の劣化を防止することができ
る。また、直前の測定値と今回の測定値を複数回比較し
て同時に表示し、上昇傾向のあるものについて警報を出
すことができる。

（実施例） 以下に、本考案の一実施例を図面に基づいて詳細に説明
する。

第１図において、１は穀物サイロの管理装置である。穀
物サイロの管理装置１は複数（ｎ箇）に設けられた各サ
イロ２内の温度変移を表示するためのもので、主に温度
センサ３、データ処理装置４及び表示装置５で構成され
ている。

温度センサ３は各サイロ２内に夫々縦方向に適宜間隔を
おいて複数配列され、各温度センサ３は信号線６を介し
てデータ処理装置４に接続されている。これにより、各
サイロ２内の縦方向の温度データは、温度センサ３の検
知信号としてデータ処理装置４に伝送される。なお、温
度センサ３の数量、各間隔はサイロ２の形状、大きさ及
び温度センサの性能等によって定められる。

データ処理装置４は温度演算手段７、上下量演算手段８
及び標本化手段９で構成されている。

温度演算手段７は温度センサ３の検知信号に基づいて、
各サイロ２内の各測定ポイント（温度センサ３が設置さ
れた箇所）の温度データを演算後、その演算内容である
各測定ポイントにおける温度データを標本化手段９及び
上下量演算手段８に伝送するためのものである。

上下量演算手段８は予め任意に設定された基準温度のデ
ータと温度演算手段７の演算内容、即ち各測定ポイント
の温度データとを比較演算すると共に、その比較演算内
容を標本化手段に伝送するためのものである。

標本化手段９は温度演算手段７と上下量演算手段８との
両演算内をサンプリングすると共に、表示装置５にサン
プリング内容を表示する機能と、時計カレンダー機能と
が備えられている。

10は入力装置で、キーボードからなるものであり、デー
タ処理装置４にデータ類、命令を入力する。

表示装置５はグラフィックプリンター及びＣＲＴディス
プレイからなるもので、標本化手段９に制御され、標本
化手段９のサンプリング内容を表示する。

11は磁気ディスク等からなる記憶装置である。

上記構成に係る装置１の作用を以下に説明する。

先ず、データ処理装置４に、操作する日付け、時間を所
望により入力する。入力装置10によって各サイロ２の各
測定ポイントに設置した温度センサ３の検出信号を順に
温度演算手段７に入力させる。そして、標本化手段９に
より設定時間間隔でサンプリングして記憶装置11に格納
する。このとき、各サイロ２の基準温度を同時に格納す
る。また、上下量演算手段８において、サンプリングし
た温度データを基準温度と比較演算し、この結果も記憶
装置11に格納する。

これによって、表示装置５は、第２図に示すように、指
定したサイロ（ｎ−１）２の複数の測定ポイントに設置
した温度センサ３の温度を全て表示することができる。
また、前後のサンプリング時刻の温度差データも同時に
表示することができる。

上記の基準温度はサイロ２に貯蔵される穀物を良好に保
つためのもので、穀物の種類、貯蔵量等に応じて決定さ
れる。また、既に穀物がサイロ２内に収容されていると
きには、その穀温を設定してもよい。その場合には、入
力装置10から現在時刻を設定すると、温度演算手段７が
サイロ２内の穀温を、各温度センサ３の検知信号に基づ
いて平均穀温を演算して上下量演算手段８に基準温度と
して設定し、かつ表示装置５に現在時刻と共に表示す
る。

ついで、温度演算手段７はサイロ（ｎ−１）２内の全温
度センサ３の検知信号に基づいて、各測定ポイントの温
度を演算した後、それらの温度データ（演算内容）全て
を標本化手段９と上下量演算手段８とに信号線６を介し
て伝送すると共に、記憶装置11に格納する。

そして、上下量演算手段８は温度演算手段７から記憶装
置11に伝送格納された各温度データと、前記基準温度と
を比較演算すると共に、それらの各比較演算内容、即ち
各測定ポイントにおける温度と基準温度との各温度差デ
ータを標本化手段９に伝送する。

ついで、標本化手段９は温度演算手段７から伝送された
各温度データと、上下量演算手段から伝送された各温度
差データとを互いに対応させて、現時刻と共にサンプリ
ングする。そして、上記サンプリングはサンプリング時
間が経過する度に、同様の手順で繰返し実施される。そ
して、標本化手段９は上記サンプリング内容を、第２図
に示す様に、表示装置５に表示すると共に、記憶装置11
に格納する。これにより、全てのサンプリングデータを
任意に呼出しかつ比較することが可能になる。

なお、第２図において、（イ）欄に表わされたものは、
サイロ（ｎ−１）２内の各測定ポイントに設けられた温
度センサ３の固有記号を表わしている。また、（ロ）欄
は各温度センサ３の検知信号に基づいて温度演算手段７
が演算した各温度データで、（ハ）欄は上下量演算手段
８が演算した基準温度と各温度データとの差（上下温
度）を表わすものである。

そして、標本化手段９は所望により、入力装置10の操作
で任意のサンプリングした時刻に応じて温度データ（ロ
欄）と温度差データ（ハ欄）とを記憶装置11から呼出し
て、現時刻の同両データと共に表示装置５に同時表示す
る。ここで、表示装置５にグラフィックプリンタを用
い、かつサンプリング時間を所望により任意に定めれ
ば、定期的にサイロ２内の温度変移が表わされたデータ
がプリントアウトされる。また、温度データまたは温度
差データに異常が生じたときには、標本化手段９はＣＲ
Ｔディスプレイ、図示を省略したスピーカー等によって
警報する。

これによりサイロ２内の温度変移を容易に把握すること
ができる。

なお、サンプリングに要する時間は極めて微少なもの
で、サンプリングした時刻の表示が現在時刻の表示して
いるときには、時間的なずれはないものとする。

（考案の効果） 本考案は上記の様に構成したものであるから、複数のサ
ンプリングした時刻毎に応じて、サイロ内の各測定ポイ
ントにおける温度データを、基準温度に対する温度差と
共に、表示装置に同時表示できる。

これにより、各サイロのどの位置の穀温から変化したか
が確認でき、時間経過を追って管理できるので、この変
化した穀温が異常であるかどうかも判定でき、異常を検
知した場合は迅速に的確な処理を施すことができる。

従って、サイロの穀物の貯蔵品質管理における信頼度を
向上させることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本考案の一実施例の構成を示したブロック
図、 第２図は、データ処理装置の処理内容を表わした図であ
る。 １……穀物サイロの管理装置、２……サイロ ３……温度センサ、４……データ処理装置 ５……表示装置、７……温度演算手段 ８……上下量演算手段、９……標本化手段

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】一つまたは複数のサイロを有する貯蔵設備
   において、各サイロの複数の測定ポイントに温度センサ
   を設け、 該温度センサの検知信号を演算して温度とする温度演算
   手段と、該温度演算手段の出力の温度と穀物投入時の基
   準温度との温度上下量を演算する上下量演算手段と、前
   記温度演算手段および上下量演算手段の両演算内容を経
   時的にサンプリングするための標本化手段とからなるデ
   ータ処理装置を設け、前記標本化手段でサンプリングし
   た各サイロの複数の測定ポイントの温度を、指定したサ
   イロおよびサンプリング時刻にしたがって表示可能にし
   た表示装置を設けたことを特徴とする温度差による穀物
   サイロの管理装置。