JPH0627077A - セル寿命予測システム - Google Patents
セル寿命予測システムInfo
- Publication number
- JPH0627077A JPH0627077A JP18229192A JP18229192A JPH0627077A JP H0627077 A JPH0627077 A JP H0627077A JP 18229192 A JP18229192 A JP 18229192A JP 18229192 A JP18229192 A JP 18229192A JP H0627077 A JPH0627077 A JP H0627077A
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- JP
- Japan
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- detector
- detectors
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【目的】 複数の中の特定の検出器の校正時における応
答時間のトレンドとサンプリング時の各検出器の検出物
理量のトレンドを監視しておき，更にきめこなかなセル
寿命予測システムを提供する。 【構成】 ３カ所以上の測定点の物理量を検出する複数
の検出器１０と，前記検出器からの信号を入力するとと
もに，前記各検出器の少なくとも応答時間を監視する演
算装置１１を有する寿命予測システムにおいて，前記演
算器は前記検出物理量のトレンド演算手段１１ｂと，セ
ル寿命設定手段１１ｃを有し，各検出器の校正後に全検
出器の応答時間の平均値を求めて各検出器の応答時間と
の差を演算してそれぞれの検出器の平均値からの差を求
め，その差が予め設定した全検出器の平均の応答時間と
各検出器の応答時間の差の最大許容値を連続して所定の
回数越える場合はその検出器が劣化したことを知らせる
ための警報を発する。
答時間のトレンドとサンプリング時の各検出器の検出物
理量のトレンドを監視しておき，更にきめこなかなセル
寿命予測システムを提供する。 【構成】 ３カ所以上の測定点の物理量を検出する複数
の検出器１０と，前記検出器からの信号を入力するとと
もに，前記各検出器の少なくとも応答時間を監視する演
算装置１１を有する寿命予測システムにおいて，前記演
算器は前記検出物理量のトレンド演算手段１１ｂと，セ
ル寿命設定手段１１ｃを有し，各検出器の校正後に全検
出器の応答時間の平均値を求めて各検出器の応答時間と
の差を演算してそれぞれの検出器の平均値からの差を求
め，その差が予め設定した全検出器の平均の応答時間と
各検出器の応答時間の差の最大許容値を連続して所定の
回数越える場合はその検出器が劣化したことを知らせる
ための警報を発する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は，検出量が配置場所によ
ってあまり変化しない例えば煙道の各点に配置された複
数のＯ2検出器のうちの一つの検出器の精度や感度の低
下を他の検出器のトレンドと比較して予測する様にした
セル寿命予測システムに関すものである。
ってあまり変化しない例えば煙道の各点に配置された複
数のＯ2検出器のうちの一つの検出器の精度や感度の低
下を他の検出器のトレンドと比較して予測する様にした
セル寿命予測システムに関すものである。
【０００２】
【従来の技術】図４は従来のセル寿命予測システムの構
成例を示すものである。図において，１０はセンサ部分
と変換器からなる例えば濃淡電池式ジルコニアＯ2検出
器であり，これらの検出器は例えば煙道の途中に複数個
配置されている。各検出器からの検出信号はデータバス
１２を介して演算装置に送出されている。演算装置１１
は一定期間（例えば一月）毎に検出器の校正を行って応
答速度，セル抵抗値を測定し，更にゼロ点変動，スパン
変動の補正を行いそれぞれの値の設定値からのズレを監
視している。
成例を示すものである。図において，１０はセンサ部分
と変換器からなる例えば濃淡電池式ジルコニアＯ2検出
器であり，これらの検出器は例えば煙道の途中に複数個
配置されている。各検出器からの検出信号はデータバス
１２を介して演算装置に送出されている。演算装置１１
は一定期間（例えば一月）毎に検出器の校正を行って応
答速度，セル抵抗値を測定し，更にゼロ点変動，スパン
変動の補正を行いそれぞれの値の設定値からのズレを監
視している。
【０００３】そして，例えば図５に示す様にそれぞれの
値について１〜５段階の評点を設定している。即ち，応
答速度が５秒以内であれば評点を５，３０秒以上の場合
は評点を１とする。また，セル抵抗が０．３ｋΩ以内で
あれば評点を５とし１０ｋΩ以上では評点を１とする。
更に予め各検出器のゼロ点，スパン点を決めておき，そ
の点からのズレ量に応じて評点を決めておく。そして，
図６に示すように評点が全て４以上はセル寿命を１年以
上と予測し，評点が全て３以上の場合は，セル寿命を約
３カ月と予測し，いずれか一つの項目でも１点があった
場合はセル寿命を１カ月以内と予測する。以上の構成に
よれば校正のたびごとにセルの寿命が予測でき，検出器
が破損する前に部品交換等の適切な処置が可能である。
値について１〜５段階の評点を設定している。即ち，応
答速度が５秒以内であれば評点を５，３０秒以上の場合
は評点を１とする。また，セル抵抗が０．３ｋΩ以内で
あれば評点を５とし１０ｋΩ以上では評点を１とする。
更に予め各検出器のゼロ点，スパン点を決めておき，そ
の点からのズレ量に応じて評点を決めておく。そして，
図６に示すように評点が全て４以上はセル寿命を１年以
上と予測し，評点が全て３以上の場合は，セル寿命を約
３カ月と予測し，いずれか一つの項目でも１点があった
場合はセル寿命を１カ月以内と予測する。以上の構成に
よれば校正のたびごとにセルの寿命が予測でき，検出器
が破損する前に部品交換等の適切な処置が可能である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで，上記従来の
セル予測システムでは，セル寿命を校正時に判定してい
るため，校正期間の途中で検出器の異常が発生した場
合，その時点から次の校正までの間は検出器の異常に気
が付かないでいることになりプロセスの運転上好ましく
ない結果になる。本発明は上記従来の問題点を解決する
ためになされたもので，複数の中の特定の検出器の校正
時における応答時間のトレンドとサンプリング時の各検
出器の検出物理量のトレンドを監視しておき，それらの
トレンドからも検出器の異常を監視することにより，更
にきめこなかなセル寿命予測システムを提供することを
目的とする。
セル予測システムでは，セル寿命を校正時に判定してい
るため，校正期間の途中で検出器の異常が発生した場
合，その時点から次の校正までの間は検出器の異常に気
が付かないでいることになりプロセスの運転上好ましく
ない結果になる。本発明は上記従来の問題点を解決する
ためになされたもので，複数の中の特定の検出器の校正
時における応答時間のトレンドとサンプリング時の各検
出器の検出物理量のトレンドを監視しておき，それらの
トレンドからも検出器の異常を監視することにより，更
にきめこなかなセル寿命予測システムを提供することを
目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決する為に
本発明は，３カ所以上の測定点の物理量を検出する複数
の検出器と，前記検出器からの信号を入力するととも
に，前記各検出器の少なくとも応答時間を監視する演算
装置を有する寿命予測システムにおいて，前記演算装置
は前記検出物理量のトレンド演算手段と，セル寿命設定
手段を有し，各検出器の校正後に全検出器の応答時間の
平均値を求めて各検出器の応答時間との差を演算してそ
れぞれの検出器の平均値からの差を求め，その差が予め
設定した全検出器の平均の応答時間と各検出器の応答時
間の差の最大許容値を連続して所定の回数越える場合は
その検出器が劣化したことを知らせるための警報を発
し，予め定めたサンプリング時間毎に全検出器の物理量
測定結果の平均値と各検出器の物理量測定結果を比較
し，その差が予め設定した全検出器の平均の物理量検出
量と各検出器の物理量検出量の差の最大許容値を連続し
て所定の回数越える場合はその検出器が劣化したことを
知らせるための警報を発する手段を具備したことを特徴
とするものである。
本発明は，３カ所以上の測定点の物理量を検出する複数
の検出器と，前記検出器からの信号を入力するととも
に，前記各検出器の少なくとも応答時間を監視する演算
装置を有する寿命予測システムにおいて，前記演算装置
は前記検出物理量のトレンド演算手段と，セル寿命設定
手段を有し，各検出器の校正後に全検出器の応答時間の
平均値を求めて各検出器の応答時間との差を演算してそ
れぞれの検出器の平均値からの差を求め，その差が予め
設定した全検出器の平均の応答時間と各検出器の応答時
間の差の最大許容値を連続して所定の回数越える場合は
その検出器が劣化したことを知らせるための警報を発
し，予め定めたサンプリング時間毎に全検出器の物理量
測定結果の平均値と各検出器の物理量測定結果を比較
し，その差が予め設定した全検出器の平均の物理量検出
量と各検出器の物理量検出量の差の最大許容値を連続し
て所定の回数越える場合はその検出器が劣化したことを
知らせるための警報を発する手段を具備したことを特徴
とするものである。
【０００６】
【作用】演算装置は校正時（例えば月１回）において各
検出器の応答時間の平均値を算出し，その平均値と各測
定値の応答時間の差を演算する。また，予め設定された
サンプリング毎（例えば数秒）に全検出器のＯ2に関連
した検出信号の平均値を算出し，その平均値と各測定値
の前記検出信号の差を演算する。それらの平均値との乖
離状況を監視することにより各検出器の劣化具合を知る
ことができる。
検出器の応答時間の平均値を算出し，その平均値と各測
定値の応答時間の差を演算する。また，予め設定された
サンプリング毎（例えば数秒）に全検出器のＯ2に関連
した検出信号の平均値を算出し，その平均値と各測定値
の前記検出信号の差を演算する。それらの平均値との乖
離状況を監視することにより各検出器の劣化具合を知る
ことができる。
【０００７】
【実施例】図１は本発明によるセル寿命予測システムの
一実施例を示す構成ブロック図である。図において図４
と同一要素には同一符号を付して重複する説明は省略す
るが，この発明においては演算装置１１の中にトレンド
演算手段１１ａとトレンドを監視してセル寿命を設定す
るセル寿命設定手段１１ｃが付加されている。上記の構
成において，演算部１１ａは従来の方法と同様の機能を
有しており，校正の度毎に検出器１０からの信号を取り
入れてセル寿命を表示する。
一実施例を示す構成ブロック図である。図において図４
と同一要素には同一符号を付して重複する説明は省略す
るが，この発明においては演算装置１１の中にトレンド
演算手段１１ａとトレンドを監視してセル寿命を設定す
るセル寿命設定手段１１ｃが付加されている。上記の構
成において，演算部１１ａは従来の方法と同様の機能を
有しており，校正の度毎に検出器１０からの信号を取り
入れてセル寿命を表示する。
【０００８】そして，本発明では前記機能の他，校正の
度毎に全検出器の応答時間の平均を求めるとともに各検
出器の応答時間と前記平均応答時間との差を求める。図
２は校正時に行う流れ図を示すものである。一般に検出
器の応答時間は時間の経過とともに劣化して長くなって
いくが，ここでは測定開始に先立って行う校正時に全検
出器の応答時間の平均値（τn）から各検出器の応答時
間（τ）の差（τn‐τ）を演算手段１１ｂにて演算す
る。この演算手段には全検出器の平均の応答時間と各検
出器の応答時間の差の最大許容値を設定する設定手段が
設けられており，この設定手段で設定した値と前記全検
出器の応答時間の平均と各検出器の応答時間との差（Δ
τ）が前記設定値を越えた時にその検出器を特定して例
えばプラス１と記憶する。
度毎に全検出器の応答時間の平均を求めるとともに各検
出器の応答時間と前記平均応答時間との差を求める。図
２は校正時に行う流れ図を示すものである。一般に検出
器の応答時間は時間の経過とともに劣化して長くなって
いくが，ここでは測定開始に先立って行う校正時に全検
出器の応答時間の平均値（τn）から各検出器の応答時
間（τ）の差（τn‐τ）を演算手段１１ｂにて演算す
る。この演算手段には全検出器の平均の応答時間と各検
出器の応答時間の差の最大許容値を設定する設定手段が
設けられており，この設定手段で設定した値と前記全検
出器の応答時間の平均と各検出器の応答時間との差（Δ
τ）が前記設定値を越えた時にその検出器を特定して例
えばプラス１と記憶する。
【０００９】次の校正時も同様に演算を行い，例えば前
記特定した検出器の応答時間と平均値との差が前記最大
許容値を越えていない場合は前記プラス１と記憶した数
値を０に戻す（なかったものとする）。この場合もし再
び前記最大許容値を越えている場合はその特定した検出
器に対して１を加えプラス２とする。そしてこの最大許
容値を越える傾向が例えば５回続くようであればその特
定した検出器は劣化が始まっていると判断し警報を発す
る。
記特定した検出器の応答時間と平均値との差が前記最大
許容値を越えていない場合は前記プラス１と記憶した数
値を０に戻す（なかったものとする）。この場合もし再
び前記最大許容値を越えている場合はその特定した検出
器に対して１を加えプラス２とする。そしてこの最大許
容値を越える傾向が例えば５回続くようであればその特
定した検出器は劣化が始まっていると判断し警報を発す
る。
【００１０】また各検出器は，数秒毎のサンプリング時
にＯ2量を測定するが，ここでは同時に全検出器のＯ2検
出量の平均値(Ｏ2n）と各検出器のＯ2検出量の差(Ｏ2−
Ｏ2 n）を演算する。図３はサンプリング時に行う流れ図
を示している。演算器には全検出器が検出したＯ2量の
平均値と各検出器が検出したＯ2値の差の最大許容値を
設定する設定手段が設けられており，この設定手段で設
定した値と前記各検出器のＯ2量と全検出器のＯ2量の平
均との差（ΔＯ2）が前記設定値を越えた時にその検出
器を特定して例えばプラス１と記憶する。
にＯ2量を測定するが，ここでは同時に全検出器のＯ2検
出量の平均値(Ｏ2n）と各検出器のＯ2検出量の差(Ｏ2−
Ｏ2 n）を演算する。図３はサンプリング時に行う流れ図
を示している。演算器には全検出器が検出したＯ2量の
平均値と各検出器が検出したＯ2値の差の最大許容値を
設定する設定手段が設けられており，この設定手段で設
定した値と前記各検出器のＯ2量と全検出器のＯ2量の平
均との差（ΔＯ2）が前記設定値を越えた時にその検出
器を特定して例えばプラス１と記憶する。
【００１１】次のサンプリング時も同様に演算を行い，
例えば前記特定した検出器のＯ2検出量と平均値との差
が前記最大許容値を越えていない場合は前記プラス１と
記憶した数値を０に戻す（なかったものとする）。この
場合もし再び前記最大許容値を越えている場合はその特
定した検出器に対して１を加えプラス２とする。そして
この最大許容値を越える傾向が例えば５回続くようであ
ればその特定した検出器は劣化が始まっていると判断し
警報を発する。なお，上記実施例においてはＯ2検出器
を用いて説明したがＯ2検出器に限ることなく他の検出
器であってもよい。
例えば前記特定した検出器のＯ2検出量と平均値との差
が前記最大許容値を越えていない場合は前記プラス１と
記憶した数値を０に戻す（なかったものとする）。この
場合もし再び前記最大許容値を越えている場合はその特
定した検出器に対して１を加えプラス２とする。そして
この最大許容値を越える傾向が例えば５回続くようであ
ればその特定した検出器は劣化が始まっていると判断し
警報を発する。なお，上記実施例においてはＯ2検出器
を用いて説明したがＯ2検出器に限ることなく他の検出
器であってもよい。
【００１２】
【発明の効果】以上実施例とともに具体的に説明した様
に本発明によれば，応答時間とＯ2検出量の変化を他の
検出器の変化量と比較して劣化を判断する様にしたの
で，劣化の傾向を早めに知ることができ，きめの細かな
セル寿命予測システムを実現することができる。
に本発明によれば，応答時間とＯ2検出量の変化を他の
検出器の変化量と比較して劣化を判断する様にしたの
で，劣化の傾向を早めに知ることができ，きめの細かな
セル寿命予測システムを実現することができる。
【図１】本発明のセル寿命予測システムを示す構成ブロ
ック図である。
ック図である。
【図２】応答時間からセル寿命を判定するための流れ図
である。
である。
【図３】Ｏ2測定量からセル寿命を判定するための流れ
図である。
図である。
【図４】従来のセル寿命予測システムを示す構成ブロッ
ク図である。
ク図である。
【図５】従来のセル寿命予測システムの評価項目と評点
の一例を示す図である。
の一例を示す図である。
【図６】従来のセル寿命予測値と条件の関係を示す図で
ある。
ある。
１０ 検出器 １１ 演算装置 １１ａ トレンド演算部‐ １１ｃ セル寿命設定手段 １２ データバス
Claims (1)
- 【請求項１】３カ所以上の測定点の物理量を検出する複
数の検出器と，前記検出器からの信号を入力するととも
に，前記各検出器の少なくとも応答時間を監視する演算
装置を有する寿命予測システムにおいて，前記演算装置
は前記検出物理量のトレンド演算手段と，セル寿命設定
手段を有し，各検出器の校正後に全検出器の応答時間の
平均値を求めて各検出器の応答時間との差を演算してそ
れぞれの検出器の平均値からの差を求め，その差が予め
設定した全検出器の平均の応答時間と各検出器の応答時
間の差の最大許容値を連続して所定の回数越える場合は
その検出器が劣化したことを知らせるための警報を発
し，予め定めたサンプリング時間毎に全検出器の物理量
測定結果の平均値と各検出器の物理量測定結果を比較
し，その差が予め設定した全検出器の平均の物理量検出
量と各検出器の物理量検出量の差の最大許容値を連続し
て所定の回数越える場合はその検出器が劣化したことを
知らせるための警報を発する手段を具備したことを特徴
とするセル寿命予測システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4182291A JP3018753B2 (ja) | 1992-07-09 | 1992-07-09 | セル寿命予測システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4182291A JP3018753B2 (ja) | 1992-07-09 | 1992-07-09 | セル寿命予測システム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0627077A true JPH0627077A (ja) | 1994-02-04 |
| JP3018753B2 JP3018753B2 (ja) | 2000-03-13 |
Family
ID=16115718
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4182291A Expired - Fee Related JP3018753B2 (ja) | 1992-07-09 | 1992-07-09 | セル寿命予測システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3018753B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2022135768A (ja) * | 2021-03-05 | 2022-09-15 | 横河電機株式会社 | 酸素濃度計、酸素濃度検出システム及びジルコニアセンサの抵抗検出方法 |
-
1992
- 1992-07-09 JP JP4182291A patent/JP3018753B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2022135768A (ja) * | 2021-03-05 | 2022-09-15 | 横河電機株式会社 | 酸素濃度計、酸素濃度検出システム及びジルコニアセンサの抵抗検出方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3018753B2 (ja) | 2000-03-13 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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