JPH069013Y2 - 真空蒸着装置 - Google Patents

真空蒸着装置

Info

Publication number
JPH069013Y2
JPH069013Y2 JP7480289U JP7480289U JPH069013Y2 JP H069013 Y2 JPH069013 Y2 JP H069013Y2 JP 7480289 U JP7480289 U JP 7480289U JP 7480289 U JP7480289 U JP 7480289U JP H069013 Y2 JPH069013 Y2 JP H069013Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
vapor deposition
film thickness
substrate holder
evaporation
target
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP7480289U
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0314146U (ja
Inventor
志朗 滝川
克任 花木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shinmaywa Industries Ltd
Original Assignee
Shinmaywa Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shinmaywa Industries Ltd filed Critical Shinmaywa Industries Ltd
Priority to JP7480289U priority Critical patent/JPH069013Y2/ja
Publication of JPH0314146U publication Critical patent/JPH0314146U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH069013Y2 publication Critical patent/JPH069013Y2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この考案は、反転式の基板ホルダを備えている真空蒸着
装置に関し、蒸着対象の膜厚を均一化するための膜厚補
正手段の改良を図ったものである。
(従来の技術) 板状の基板ホルダに一群の蒸着対象を支持し、基板ホル
ダを表裏反転させて、蒸着対象の表裏両面に蒸着を行う
形態の蒸着装置は、例えば特開昭63−307260号
公報に公知である。この種の蒸着装置は、蒸着対象の基
板ホルダに対する装着位置の違いによって、蒸着膜厚に
若干の差が生じてしまう。例えば、基板ホルダの長手方
向の中央付近では膜厚が厚く、長手方向の両端付近では
膜厚が薄くなる。
こうした膜厚のばらつきを解消するために、従来は、蒸
発源と基板ホルダとの間に膜厚補正手段を設け、この補
正手段で膜厚が厚くなる領域に向って飛翔する蒸着物質
を遮り、膜厚の均一化を図っていた。
(考案が解決しようとする課題) 膜厚のばらつきは、蒸着対象の表裏の表面形状の違いに
よっても生じる。例えば、光学レンズのように表裏が凸
弧面と凹弧面であったり、表裏で曲率が異なるような場
合等に、個々の蒸着対象で膜厚にばらつきを生じるので
ある。そのため、従来は、片面側の蒸着が終了した後膜
厚補正手段を交換し、残る片面側の蒸着を行っていた。
しかし、膜厚補正手段の交換を行うには、真空室を開放
してその着脱等を行わねばならず、交換時に真空室内に
入り込む塵埃によって蒸着対象が汚損される不具合があ
った。また、膜厚補正手段の交換を行う間、蒸着対象を
停止しなければならず、その分だけ蒸着処理に要する時
間が長びく不利もあった。
この考案は上記に鑑み提案されたものであって、蒸着対
象の表裏の表面形状が異なる場合でも、表裏の蒸着処理
を膜厚にばらつきを生じることなく連続的に行えるよう
にし、塵埃の付着による膜品質の低下を解消するととも
に、蒸着装置の生産性を向上することを目的とする。
(課題を解決するための手段) この考案では、蒸発源と基板ホルダとの間の蒸発物質の
飛翔経路中に、基板ホルダにおける面方向の膜厚不整を
補正する第1膜厚補正手段と、蒸着対象の表裏の表面形
状の違いに基づく膜厚不整を補正する第2膜厚補正手段
とをそれぞれ配置し、両膜厚補正手段のそれぞれを、蒸
着物質の飛翔経路の一部を遮る使用姿勢と、蒸着物質の
飛翔を防げない不使用姿勢とに、姿勢切換自在に構成
し、蒸着対象の表裏の成膜を連続して行えるようにす
る。
(作用) 第1膜厚補正手段で蒸発物質の飛翔経路の一部を遮って
蒸着を行うことにより、蒸着対象の例えば表面側の基板
ホルダを反転し、さらに、第2膜厚補正手段を使用姿勢
に切換えて蒸着を行うことにより、個々の蒸着対象にお
ける膜厚を均一化することができる。つまり、基板ホル
ダの反転姿勢に応じて、第1,第2の各膜厚補正手段を
択一的に使い分けることにより、蒸着対象の表裏の蒸着
を、膜厚にばらつきを生じることなく連続して行うこと
ができる。
(実施例) 第1図ないし第4図はこの考案の実施例を示す。
第1図において、真空蒸着装置は電子ビーム蒸着方式に
よって蒸着を行うものであって、隔壁1で区画された真
空室2の内部に、反転式の基板ホルダ3の一群を配置
し、その下方に蒸発源4やシャッタ5を設けている。基
板ホルダの上方に設けられるヒータパネル、及び真空室
2内の空気を排出する掃気手段等の付帯設備は図示して
いない。
一群の基板ホルダ3を周回駆動するためにベッド6を設
け、これをリングギヤ7を介して基台8で支持してい
る。基台8はリング状に形成されており、その周側面の
複数個所に設けた旋回ローラ9と、その上面の複数個所
に設けた規制ローラ10を介して、リングギヤ7を回転
自在に支持している。リングギヤ7は、隔壁1の外面に
設けたモータ11で、一組の伝動ギヤ12,13を介し
て回転駆動される。
ベッド6は、リングギヤ7に固定される下枠15と、上
部中央の上枠16とを有し、両枠15,16間に一群の
基板ホルダ3が上下反転自在に支持されている。基板ホ
ルダ3は、上枠16に向って緩やかな上り傾斜姿勢で支
持されており、ベッド6が回転駆動されるとき、偏平な
円錐面に沿って周回移動する。この周回動作を利用して
基板ホルダ3を反転操作するために、基板ホルダ3の下
枠15側の軸端に十文字状のアーム17を固定し、さら
に、このアーム17と対向する壁面にアーム操作具18
を設けている。アーム操作具18は、ソレノイドの先端
にロッド19を固定したものであり、ロッド19をアー
ム17の周回軌跡内に突出することにより、第1図に示
すように基板ホルダ3を90度ずつ回転変位させる。つ
まり、ロッド19を突出した状態で、リングギヤ7を2
回転させると、基板ホルダ3を180度反転操作でき
る。
基板ホルダ3は花弁形の板状体からなり、第3図に示す
ように、その板面に形成した装着穴21に蒸着対象22
を嵌め込み、押え板23で挟み固定して、一群の蒸着対
象22を保持している。蒸着対象22は、表裏両面に蒸
着膜が形成される部材、例えば光学レンズや理科学用鏡
であるが、半導体ウェーハのように、片面に限って蒸着
を行うものであってもよい。但し、この場合は、基板ホ
ルダ3の表裏のそれぞれに蒸着対象22を装着する。
この考案は、上記のような真空蒸着装置において、膜厚
のばらつきを補正する第1・第2の膜厚補正手段25,
26を、蒸発物質の飛翔経路中に設ける点に特徴を有す
る。
既に説明したように、基板ホルダ3は偏平な円錐面に沿
って、緩やかに傾斜した姿勢で周回移動し、この間に成
膜が行われる。しかし、各蒸着対象22における膜厚
は、基板ホルダ3にどの部分に蒸着対象22が装着され
ているかでばらつきを生じる。こうした、基板ホルダ3
における面方向の膜厚不整を補正するために、第1膜厚
補正手段25が設けられている。
また、第2膜厚補正手段26は、第3図及び第4図に示
すように、基板ホルダ3を反転操作したときの、蒸着対
象22の表裏の表面形状の違いに基づく膜厚不整を補正
するために設けられている。
両補正手段25,26は、それぞれ隔壁1を内外に貫通
するケース27と、このケース27に回転自在に支持さ
れる軸28と、軸28の内突端に固定される補正体2
9、及びケース29の外端に設けられる操作部材30な
どで構成されており、それぞれの補正体29,29が蒸
着物質の飛翔経路を遮る傾斜姿勢で、正対状に配置され
ている。第2図に示すように、両補正手段25,26
は、蒸発源4に対して左右対称位置に設けられている。
各補正手段25,26の補正体29,29は、スタンレ
ス板材を細長い木の葉形状に形成したものであるが、そ
れぞれの補正目的に対応して外形形状が異ならせてあ
る。場合によっては、板面に通口を開口し、あるいは網
体を付加するなどの微調整が施される。
両補正体29を基板ホルダ3の反転姿勢に対応して、使
用姿勢と不使用姿勢に切換え操作するために操作部材3
0が設けられている。操作部材30は、手動用のハンド
ル、あるいは軸28を90度ずつ回転操作するモータ等
のアクチュエータのいずれであってもよく、双方を備え
ていてもよい。
次に両膜厚補正手段25,26の使用態様を説明する。
例えば、第3図に示すように蒸着対象22の凹弧面側を
蒸着するとき、第1膜厚補正手段25の補正体29を使
用姿勢に切換えて、その板面が蒸着物質の飛翔経路の一
部を遮るようにする。このとき、第2膜厚補正手段26
は、第1図に示すようにその補正体29が飛翔方向と平
行となって蒸着物質の飛翔を防げない不使用に切換えて
おく。この状態で、一群の基板ホルダ3を周回させなが
ら成膜を行う。
凹弧面側の膜厚が所定値に達したら、シャッタ5を水平
回動させて蒸発源4の上方を覆い、蒸発物質の供給を一
時停止する。次いでアーム操作具18によって基板ホル
ダ3を反転操作し、同時に第1膜厚補正手段25を不使
用姿勢に切換え操作するとともに、第2膜厚補正手段2
6を使用姿勢に切換える。この状態でシャッタ5を元の
待機位置に戻し、再び蒸着物質を供給して、凸弧面側の
成膜を行う。
以上のようにした真空蒸着装置によれば、蒸着対象22
の表裏両面に均一厚みの蒸着膜を形成できる。また、第
1,第2の各膜厚補正手段25,26を切換えて表裏に
応じた膜厚補正を行うことにより、表裏の成膜を連続し
て行うことができる。また、成膜開始から成膜終了ま
で、真空室2内を密閉状態のまま維持できるので、塵埃
等による膜面の汚損等も解消できる。
(変形例) 上記の実施例では、補正体29が軸28の回りに回転す
ることで姿勢切換えを行うようにしたが、その必要はな
い。例えば、軸28の軸中心に沿って補正体29を進退
移動させ、その姿勢切換えを行うこともできる。また、
シャッタ5と同様に、不使用姿勢において補正体29が
蒸着物質の飛翔領域から完全に退避するようにすること
もできる。
補正体29の形状は、蒸着物質の飛翔特性や蒸着対象の
表面形状、あるいは基板ホルダ3の傾斜度合等に応じて
決定すべきであるので、その外形形状は実施例で説明し
た形状には限定しない。また、補正体29はルーバー構
造や格子構造等の板状以外の構造とすることもできる。
(考案の効果) 以上説明したように、この考案では、蒸着物質の飛翔経
路中に第1,第2の膜厚補正手段を設け、両補正手段を
基板ホルダの反転姿勢に応じて使用姿勢と不使用姿勢と
に切換え使用できるようにしたので、蒸着物質の表裏に
ばらつきのない均一厚みの蒸着膜を形成でき、しかも表
裏の成膜を連続して行うことができる。これにより、従
来装置において不可欠であった膜厚補正手段の交換作業
を省略することができ、その分だけ蒸着装置の稼動率を
向上し、生産性を向上できることとなった。また、前記
交換作業時に、外部から空気と共に入り込んだ塵埃で蒸
着対象が汚損されることを解消して、膜品質を高品位に
保つことができ、表裏の膜厚を均一化できることと相俟
って、蒸着対象の品質を向上できる点で有利である。
【図面の簡単な説明】
第1図ないし第4図はこの考案の実施例を示し、第1図
は真空蒸着装置の概略縦断面図、第2図は第1図におけ
るB−B線断面図、第3図は蒸着対象とその取付構造を
示す断面図、第4図は基板ホルダを反転した状態の第3
図と同等の断面図である。 2……真空室、3……基板ホルダ、4……蒸発源、22
……蒸着対象、25……第1膜厚補正手段、26……第
2膜厚補正手段。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】真空室の内部に蒸発源と、蒸着対象を保持
    する一群の基板ホルダとを有し、基板ホルダを偏平な円
    錘面に沿って回転駆動し、かつ基板ホルダの表裏を反転
    して蒸着対象の表裏に蒸着膜を形成する反転式の真空蒸
    着装置であって、 蒸発源と基板ホルダとの間の蒸発物質の飛翔経路中に、 基板ホルダにおける面方向の膜厚不整を補正する第1膜
    厚補正手段と、 蒸着対象の表裏の表面形状の違いに基づく膜厚不整を補
    正する第2膜厚補正手段とをそれぞれ配置し、 両膜厚補正手段のそれぞれが、蒸着物質の飛翔経路の一
    部を遮る使用姿勢と、蒸着物質の飛翔を妨げない不使用
    姿勢とに、姿勢切換自在に構成されている真空蒸着装
    置。
JP7480289U 1989-06-26 1989-06-26 真空蒸着装置 Expired - Lifetime JPH069013Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7480289U JPH069013Y2 (ja) 1989-06-26 1989-06-26 真空蒸着装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7480289U JPH069013Y2 (ja) 1989-06-26 1989-06-26 真空蒸着装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0314146U JPH0314146U (ja) 1991-02-13
JPH069013Y2 true JPH069013Y2 (ja) 1994-03-09

Family

ID=31614816

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7480289U Expired - Lifetime JPH069013Y2 (ja) 1989-06-26 1989-06-26 真空蒸着装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH069013Y2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006312765A (ja) * 2005-05-09 2006-11-16 Fujinon Sano Kk 真空蒸着装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0314146U (ja) 1991-02-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3889632A (en) Variable incidence drive for deposition tooling
KR100948205B1 (ko) 스퍼터링 장치
JPH031378B2 (ja)
US3807850A (en) Horizontally rotatable reflector for overhead slide projector
US5738729A (en) Coating chamber, accompanying substrate carrier, vacuum evaporation and coating method
JPH069013Y2 (ja) 真空蒸着装置
US6171462B1 (en) Device for holding lenses, especially for eye glasses to be coated in a vacuum coating or sputtering machine
TWI712700B (zh) 濺鍍裝置
US3912385A (en) Multi-media projector stand
JPH0619965B2 (ja) 走査型電子顕微鏡等における試料交換装置
KR20190091513A (ko) 렌즈를 코팅하기 위한 장비, 방법 및 용도
US20050241586A1 (en) Vacuum vapor deposition apparatus
JP5028584B2 (ja) 液晶配向膜用真空蒸着装置およびその成膜方法
JP2002505444A (ja) 真空蒸着法に使用される均しマスク
JPH05171433A (ja) 多元スパッタ装置
JP2637171B2 (ja) 多元スパッタリング装置
CN216972660U (zh) 电子束蒸发离子辅助高真空镀膜机
JPH069017Y2 (ja) 真空蒸着装置
JPS61130484A (ja) 真空蒸着装置の光学部品保持装置
JP2008291294A (ja) 真空成膜装置
JPH0726361Y2 (ja) 蒸着装置の基板反転機構
JPS6431967A (en) Manufacture of thin film
JPS616273A (ja) ワ−クの反転装置
JPS61271817A (ja) 分子線エピタキシ−装置
JPH0264091A (ja) 分子線エピタキシャル成長方法