JPH0690739B2 - 光学式文字読取装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は光学式文字読取装置に関し、特に光学系及び読
取りセンサ等の読取系の異常検出に関するものである。

（従来の技術） 従来の光学式文字読取装置（以下OCRと略称する）の構
成例を第３図（ａ），（ｂ）に示す。同図（ａ）は読取
部の構成を示し、同図（ｂ）は読取部以降の構成を示
す。同図において、１は文字等の読取対象が記載されて
いる帳票、２は帳票１を照射するための光源、３は帳票
１からの反射光を後述するラインセンサ４に結像させる
レンズ、４は帳票１からの反射光を電気信号に光電変換
するラインセンサＡは図示していない帳票移動機構によ
る副走査の向きを示す矢印である。５はラインセンサ31
からの画像信号を格納するイメージバツフアメモリ、６
はイメージバツフアメモリ５に格納された帳票上の文字
群から１文字単位に切り出して文字の認識を行う文字認
識部、７は後述する制御部からの指示により、ラインセ
ンサ４の副走査を制御する副走査制御部、８は文字認識
部６部及び副走査制御部７を制御する制御部である。

次に、以上のように構成されたOCRの動作を説明する。

光源２からの光が帳票１に照射され帳票１からの反射光
がレンズ３を介して、ラインセンサ４の受光面に結像さ
れる。この時ラインセンサ４により主走査して１ライン
毎に画像信号を得ると共に、図示しない帳票移動機構に
より矢印Ａの向きに副走査して帳票41の１頁分の読取を
終了することになる。

ラインセンサ４からの画像信号は、主走査及び副走査に
より、イメージバツフアメモリ５に格納され、文字認識
部６によりイメージバツフアメモリ５の文字群から文字
を１文字単位に切り出し、切り出した文字すべてについ
て文字認識する。この後、主走査及び副走査によつて、
帳票１上の新たな読み取り行がイメージバツフアメモリ
５に格納され、文字認識部６により再び切り出し、及び
１文字毎の文字認識が行われる。以上のような主走査、
副走査によりラインセンサ４から画像信号をイメージバ
ツフアメモリ５に格納し、文字認識部６で文字切り出し
及び認識を繰り返すことにより帳票１全面の文字認識が
行われる。

（発明が解決しようとする問題点） しかしながら、上記構成のOCRでは、光源から発せられ
る光が帳票１で反射し、レンズ２を通つてラインセンサ
４に到達する経路及びラインセンサの受光面に帳票１の
粉じんの堆積物や、虫、ほこり等の外部からの侵入物が
発生したり付着すると、その位置の画像信号が乱れ、帳
票上の文字イメージがイメージバツフアメモリ５内に忠
実に格納されなくなり、乱された領域のイメージバツフ
アメモリ５の文字が不読、誤読を多発し認識率を下げる
という問題点があつた。

本発明は以上述べた問題点を解決し、信頼性の高いOCR
を提供することを目的とする。

（問題点を解決するための手段） 本発明は前記問題点を解決するために、帳票上の読取対
象を光電変換して読取る読取センサと、該読取センサの
出力に基づいて帳票上の読取対象を認識する認識部とを
備えた光学式文字読取装置において、前記読取センサの
画素に対応したアドレスを持ち、各アドレス毎に読取回
数を記憶する第１のメモリと、前記画素に対応したアド
レスを持ち、各アドレス毎に不読回数を記憶する第２の
メモリと、第１及び第２のメモリの対応するアドレスの
内容を比較する比較部と、前記認識部の認識結果に基づ
いて、第１のメモリ、第２のメモリに各々読取回数、不
読回数を書き込むと共に、比較部の比較結果に基づいて
読取系の異常を検出する制御部とを設けたものである。

（作用） 本発明によれば以上のように光学式文字読取装置（OC
R）を構成したので、技術的手段は次のように作用す
る。制御部は認識部の認識結果に基づいて、例えば文字
等の読取対象が認識できれば第１のメモリの当該読取対
象の画素に対応するアドレスに読取回数として「１」を
加算し、認識できなければ第２のメモリの同一アドレス
にも不読回数として「１」を加算するように働く。ま
た、制御部は所定の読取量毎に比較部の比較結果、例え
ば第１及び第２のメモリの対応するアドレス毎の不読率
（＝不読回数／読取回数）に基づいて、不読率の高いア
ドレスにより特定位置における読取系、即ち光学系や読
取センサの受光面等の異常を検出するように働く。この
結果、読取系の異常を早期に発見できるので、より信頼
性の高いOCRを提供することが可能となる。

（実施例） 第１図は本発明の一実施例を示すOCRのブロツク図であ
る。同図において、第３図と同一の参照符号は同一性の
ある構成部分を示す。8aは装置全体を制御する制御部、
９は制御部8aに対して読取り指示を出力し、制御部8aか
らの読取結果を編集する操作部、10はイメージバツフア
メモリ５の主走査方向の画素に対応したアドレスを持
ち、その画素が認識文字画像の被対象画素として、文字
認識に係つた回数を格納する画素別読取文字数メモリ、
11はイメージバツフアメモリ５の主走査方向の画素に対
応したアドレスを持ち、その画素が認識文字画素の被対
象画素として、文字認識に係つてその文字が不読文字と
判定された回数を格納する画素別不読文字数メモリ、12
は画素別容読取文字数メモリ10と画素別不読文字数メモ
リ11の各々の対応するアドレスのデータを比較し、その
結果が予め定めた値を越えたとき、制御部8aに通知する
比較器である。

次に本実施例のOCRの動作を説明する。第２図に本実施
例の各メモリ5,10,11の関係を示す。

先ず、ラインセンサ11からの画像信号、例えば第２図の
「1234」の書かれている行の文字認識を行う場合、制御
部8aは、操作部９から与えられる帳票フオーマツト情報
の文字切り出し開始アドレスと、文字ピツチを文字認識
部６に送る。文字認識部６では、その切り出し開始アド
レスと文字ピツチをもとにして、１文字ずつ切り出して
認識し、認識結果及びその付加情報である各文字の切り
出し開始及び終了アドレスを制御部8aに返す。第２図に
おいて例えば、制御部8aが文字認識部６より一行目の１
文字目認識結果が「１」でその文字の切り出し開始アド
レスa,切り出し終了アドレスｂというレスポンスを受け
ると、主走査方向の画素に１対１に対応したアドレスを
持つ画素別読取文字数メモリ10のアドレスａからｂまで
各値に１を加える。このとき、主走査方向の画素に１対
１に対応したアドレスを持つ画素別不読文字数メモリ11
に対しては認識結果が「１」と確定したので加算は行わ
ない。仮に認識結果が不読であつたときは、画素別読取
文字数メモリ10及び画素別不読文字数メモリ11の双方の
メモリのａからｂまでの各アドレスのデータをプラス１
する。この操作を文字認識部６から得られるすべての文
字の認識結果に対して行うことにより、画素別読取文字
数メモリ10と画素別不読文字数メモリ11には、主走査方
向の各画素における文字認識に係つた回数と認識結果が
不読となつた回数が格納される。

予め定めた行数の認識をした後、制御部8aは比較器12を
起動し、画素別読取文字数メモリ10と画素別不読文字数
メモリ11の各々対向する同アドレスの内容を比較する。
即ち、各画素における誤認識率（又は不読率）である不
読数対読取数の比を比較器12で算出し、予め定められた
値より大きな値となつたとき、制御部8aにそのアドレス
を通知する。制御部8aは、この情報を操作部９に送るこ
とにより操作部９のCRTなどの表示手段によつてオペレ
ータに注意喚起する。

以上のように、本実施例によればイメージバツフアメモ
リ５の主走査方向の画素に対応したアドレスを持つ１次
元メモリである画素別読取文字数メモリ10と画素別不読
文字数メモリ11を持ち、制御部8aが操作部９から送られ
て来るフオーマツト情報と、その情報を文字認識部６に
送つて得られた認識結果から２個のメモリ10,11を更新
し、これらの各メモリの対応するアドレスの内容を比較
する比較器10によつて、特定位置における不読の多発を
監視し、光学系の光路上の異常及びラインセンサの受光
面上の異常等の読取系の異常を早期に発見することが出
来る。これによりOCRとしての信頼性の向上を図ること
が出来る。

以上の実施例は、主走査方向の画素毎に読取り文字と不
読文字数を格納するメモリを持つ場合を示したが、１つ
１つの画素毎ではなく複数画素を１つの単位とし、メモ
リの１アドレスを割り当て実施例よりも大きなスパンで
不読率を求めることも考えられる。

更に、本実施例では、ラインセンサで説明したが、主走
査及び副走査ともセンサ自体で行うエリアセンサで帳票
上の文字を読取る場合でも、同様にエリアセンサの画素
に対応する読取文字数メモリ及び不読文字数メモリを持
ち、両者の内容を比較することにより同様の効果が得ら
れることは明らかである。

（発明の効果） 以上詳細に説明したように本発明によれば、不読率の高
い特定位置における読取系の異常を早期に検出できるの
で、より信頼性を向上させることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例のOCRの構成図、第２図は第
１図の実施例の各メモリの関係を示す図、第３図
（ａ），（ｂ）は従来のOCRの構成図である。 １…帳票、２…光源、３…レンズ、４…ラインセンサ、
５…イメージバツフアメモリ、６…文字認識部、8a…制
御部、９…操作部、10…画素別読取文字数メモリ、11…
画素別不読文字数メモリ、12…比較器。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 高橋 清 東京都港区虎ノ門１丁目７番12号 沖電気 工業株式会社内 (56)参考文献 特開 昭57−132279（ＪＰ，Ａ) 特開 昭55−156482（ＪＰ，Ａ)

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】帳票上の読取対象を光電変換して読取る読
   取センサと、該読取センサの出力に基づいて帳票上の読
   取対象を認識する認識部とを備えた光学式文字読取装置
   において、 前記読取センサの画素に対応したアドレスを持ち、各ア
   ドレス毎に読取回数を記憶する第１のメモリと、 前記画素に対応したアドレスを持ち、各アドレス毎に不
   読回数を記憶する第２のメモリと、 第１及び第２のメモリの対応するアドレスの内容を比較
   する比較部と、 前記認識部の認識結果に基づいて、第１のメモリ、第２
   のメモリに各々読取回数、不読回数を書き込むと共に、
   比較部の比較結果に基づいて読取系の異常を検出する制
   御部とを設けたことを特徴とする光学式文字読取装置。