JPH069129B2 - 電気絶縁体および電気絶縁体用シリコーン組成物 - Google Patents
電気絶縁体および電気絶縁体用シリコーン組成物Info
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- JPH069129B2 JPH069129B2 JP1275088A JP1275088A JPH069129B2 JP H069129 B2 JPH069129 B2 JP H069129B2 JP 1275088 A JP1275088 A JP 1275088A JP 1275088 A JP1275088 A JP 1275088A JP H069129 B2 JPH069129 B2 JP H069129B2
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01B—CABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
- H01B3/00—Insulators or insulating bodies characterised by the insulating materials; Selection of materials for their insulating or dielectric properties
-
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01B17/00—Insulators or insulating bodies characterised by their form
- H01B17/32—Single insulators consisting of two or more dissimilar insulating bodies
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は15KV以上の電圧下における使用を目的とする
高電圧電気絶縁体に関するものである。
高電圧電気絶縁体に関するものである。
高電圧電送線は歴史的にみると磁器又はガラスという絶
縁物を用いて絶縁されてきた。要求される信頼性のレベ
ルにおいて作動するため、これ等の絶縁物は電気的スト
レスの低いレベルで作動するように設計されている。
縁物を用いて絶縁されてきた。要求される信頼性のレベ
ルにおいて作動するため、これ等の絶縁物は電気的スト
レスの低いレベルで作動するように設計されている。
きれいな環境の下で使用する場合については、該ストレ
スは一般的には1インチ当り約1KVである。絶縁体が海
岸に沿った或は工業地帯におけるような汚染を受ける地
域においては、ストレスのレベルは通常1イチ当り0.
5KVのオーダーでありこれは絶縁体そのものを大きくか
つ嵩高いものとしている。
スは一般的には1インチ当り約1KVである。絶縁体が海
岸に沿った或は工業地帯におけるような汚染を受ける地
域においては、ストレスのレベルは通常1イチ当り0.
5KVのオーダーでありこれは絶縁体そのものを大きくか
つ嵩高いものとしている。
これ等の絶縁体は非常に重く又依然として高レベルの漏
れ電流が発生し、更にフラッシュオーバーにつながるド
ライバンド放電も発生している。
れ電流が発生し、更にフラッシュオーバーにつながるド
ライバンド放電も発生している。
実施に当っては、事業体は、しばしば洗浄やグリージン
グ或は室温架橋型シリコンゴムによるコーティングとい
ったような大規模な絶縁体の維持作業を定期的に実施し
ている。あるサービスの適用に際しては、事業体は過度
の漏れ電流を防止するため絶縁体を保温するように改良
する抵抗を使用することも行っていた。
グ或は室温架橋型シリコンゴムによるコーティングとい
ったような大規模な絶縁体の維持作業を定期的に実施し
ている。あるサービスの適用に際しては、事業体は過度
の漏れ電流を防止するため絶縁体を保温するように改良
する抵抗を使用することも行っていた。
他のタイプの絶縁体は以下の多くの特許や科学文献に述
べられているような使用形態に対して提案されている。
べられているような使用形態に対して提案されている。
英国特許第915052(1963年1月9日発行)は樹脂で接合
されたガラス繊維の棒状体或はチューブであって、その
棒状体或はチューブの長さ方向の全体域は主要部に亘っ
て相対的にトラッキングのない弾性高分子絶縁材料によ
る長さ方向に連続した密接したカバーを有する電気絶縁
体が示されている。
されたガラス繊維の棒状体或はチューブであって、その
棒状体或はチューブの長さ方向の全体域は主要部に亘っ
て相対的にトラッキングのない弾性高分子絶縁材料によ
る長さ方向に連続した密接したカバーを有する電気絶縁
体が示されている。
タルコットの米国特許第3511698号(1970年5月12日発
効)は硬化樹脂からなる基材と、該基材の表面に少くと
も1ミル(mils)の厚さを有するケイ化水素(SiH)基とケ
イ化アルケニル基(Sialkenyl)を含むシリコーンエラス
トマー原料と白金触媒とからなる架橋されたオルガノポ
リシロキサンエラストマーのコーティング層を有する耐
候性絶縁体が示されている。
効)は硬化樹脂からなる基材と、該基材の表面に少くと
も1ミル(mils)の厚さを有するケイ化水素(SiH)基とケ
イ化アルケニル基(Sialkenyl)を含むシリコーンエラス
トマー原料と白金触媒とからなる架橋されたオルガノポ
リシロキサンエラストマーのコーティング層を有する耐
候性絶縁体が示されている。
英国特許第1292276号(1972年10月11日発行)は表面が
トラッキングのない電気的に絶縁性を有する材料で構成
された中央支持材からなりその中央支持材上に少なくと
も1個のシェッド(shed)を有する絶縁体が開示されてい
る。このシェッド(shed)は熱により収縮するものであ
る。
トラッキングのない電気的に絶縁性を有する材料で構成
された中央支持材からなりその中央支持材上に少なくと
も1個のシェッド(shed)を有する絶縁体が開示されてい
る。このシェッド(shed)は熱により収縮するものであ
る。
エリオットの米国特許第3965065号(1976年6月22日発
効)は硬い弾性状態に変換しうるオルガノポリシロキサ
ンとアルミニウム化合物とから構成された混合物を形成
することと該混合物を少くとも30分間少くとも100℃
の温度で加熱することから構成される改良されたエラス
トマー形成用組成物を準備する方法について教示してい
る。
効)は硬い弾性状態に変換しうるオルガノポリシロキサ
ンとアルミニウム化合物とから構成された混合物を形成
することと該混合物を少くとも30分間少くとも100℃
の温度で加熱することから構成される改良されたエラス
トマー形成用組成物を準備する方法について教示してい
る。
この組成物は電気的な放電とトラッキングに対し改良さ
れた抵抗性を有する電気絶縁体の形成に有用であること
が示されている。
れた抵抗性を有する電気絶縁体の形成に有用であること
が示されている。
高電圧絶縁体を提供するポリマーの充填材方式はペネッ
クの米国特許第4001128号(1977年1月4日発効)に伸
べられている。この充填材方式はアルミニウム三水化物
(aluminum trihydrate)と化学的に処理されたシリカ充
填材との組合せを利用するものである。
クの米国特許第4001128号(1977年1月4日発効)に伸
べられている。この充填材方式はアルミニウム三水化物
(aluminum trihydrate)と化学的に処理されたシリカ充
填材との組合せを利用するものである。
汚染された状況における耐電圧特性が改良された棒状タ
イプの絶縁体については米国特許第4174464号(1979年1
1月13日発効)に開示されている。その設計は隣接する
シェッド間のピッチによって分割されたシェッド毎の漏
れ距離は3.8と5.0の間であり又与えられた点間の
距離により分割された隣接するシェッドの1つにおける
下面にある特定の点とこれに対向する他のシェッドの上
面にある特定の点との間の漏れ距離は4.5と6.0の
間であるように特定化されている。各シェッドの下面に
は波状の表面を形成する同軸状のうねが設けられてい
る。
イプの絶縁体については米国特許第4174464号(1979年1
1月13日発効)に開示されている。その設計は隣接する
シェッド間のピッチによって分割されたシェッド毎の漏
れ距離は3.8と5.0の間であり又与えられた点間の
距離により分割された隣接するシェッドの1つにおける
下面にある特定の点とこれに対向する他のシェッドの上
面にある特定の点との間の漏れ距離は4.5と6.0の
間であるように特定化されている。各シェッドの下面に
は波状の表面を形成する同軸状のうねが設けられてい
る。
ドイツ国特許第2650363号(1977年11月17日公開、1985
年9月10日発効)に対応する米国特許第4217466号(198
0年8月12日発効)は絶縁体に使用されるロッドは非け
ん化性樹脂で作られることが必要であり、又使用される
スクリーンは湿度反撥性で非けん化性ポリマーにより作
られなければならず更に該ロッドと該ロッドを保護する
スクリーンとの間に中間材料層が存在しなければならな
いことを教示している。
年9月10日発効)に対応する米国特許第4217466号(198
0年8月12日発効)は絶縁体に使用されるロッドは非け
ん化性樹脂で作られることが必要であり、又使用される
スクリーンは湿度反撥性で非けん化性ポリマーにより作
られなければならず更に該ロッドと該ロッドを保護する
スクリーンとの間に中間材料層が存在しなければならな
いことを教示している。
ポウエルとカールの米国特許第4246696号(1981年1月2
7日発効)には屋外用複合絶縁体の形成方法について教
示されている。シランにより処理された予め成型された
ガラス繊維のロッドはその表面に沿って延びているゴム
層を有しており次でゴム層を強固にした後、予め成型さ
れたスクリーンが加硫により接合される。
7日発効)には屋外用複合絶縁体の形成方法について教
示されている。シランにより処理された予め成型された
ガラス繊維のロッドはその表面に沿って延びているゴム
層を有しており次でゴム層を強固にした後、予め成型さ
れたスクリーンが加硫により接合される。
この公知例における議論はスクリーンの重要性について
教示している。
教示している。
英国特許第1601379号(1981年10月28日公開)は高電圧
絶縁体、特には以上に高い電圧に対する絶縁体のために
表面の沿面距離は少くとも2に等しいか好ましくは地表
と通電中の導電線との間の直線距離の3倍もしくはそれ
よりも大きい値であることが示されている。このことは
絶縁体が汚染されもしくは非常に汚染された状況下で使
用することを目的とする絶縁物にとっては特に当てはま
ることである。
絶縁体、特には以上に高い電圧に対する絶縁体のために
表面の沿面距離は少くとも2に等しいか好ましくは地表
と通電中の導電線との間の直線距離の3倍もしくはそれ
よりも大きい値であることが示されている。このことは
絶縁体が汚染されもしくは非常に汚染された状況下で使
用することを目的とする絶縁物にとっては特に当てはま
ることである。
絶縁物をシェッド或はスクリーンとともに組立てる他の
方法がホイーラーの米国特許第4505033号(1985年3月1
9日発効)に示されている。シェッドは芯上の未加硫エ
ラストマーからなる鞘の上に成型されるか添加され次で
該組立体は加硫される。
方法がホイーラーの米国特許第4505033号(1985年3月1
9日発効)に示されている。シェッドは芯上の未加硫エ
ラストマーからなる鞘の上に成型されるか添加され次で
該組立体は加硫される。
上記した特許文献により代表される教示に加えてここ数
年の間に発行された、絶縁体の動作を判断するために綿
密に検査された、絶縁体の試験的及び商業的適用につい
て記載している多数の科学文献が存在している。
年の間に発行された、絶縁体の動作を判断するために綿
密に検査された、絶縁体の試験的及び商業的適用につい
て記載している多数の科学文献が存在している。
例えば、ニエミとオルベック(Niemi and Orbeck)は1972
年7月9日から14日にサンフランシスコ(カリフォルニ
ア州)で開催された1EEEパワーエンジニアリングソサイ
アティーの夏期会合において提供された「高電圧絶縁体
のための高表面抵抗保護コーティング」(High Surbace
Resistance Protective Coating For High Voltage Ins
ulators)という文献の中で絶縁体材料が持たなければな
らないと彼等が感じている特性についての概念とその特
性を測定するための手段について開示している。
年7月9日から14日にサンフランシスコ(カリフォルニ
ア州)で開催された1EEEパワーエンジニアリングソサイ
アティーの夏期会合において提供された「高電圧絶縁体
のための高表面抵抗保護コーティング」(High Surbace
Resistance Protective Coating For High Voltage Ins
ulators)という文献の中で絶縁体材料が持たなければな
らないと彼等が感じている特性についての概念とその特
性を測定するための手段について開示している。
彼等は絶縁体が最大8時間の間6.7KV/inの水準でス
トレスを与えられるというテストについて論じている。
1977年6月にロシアで発行されたロバート、デービス及
びデクスター(Robert,Davis and Dexter)による文献は
絶縁体を製造する際に使用することを示唆しているシリ
コーンエラストマーについて実施したテストについて論
じている。彼等はシリコーンエラストマーは最も広く多
種に亘る環境の下でもその使用を可能とする物理的、電
気的及び表面的各特性についての最良の組合せを提供す
ると結論付けしている。
トレスを与えられるというテストについて論じている。
1977年6月にロシアで発行されたロバート、デービス及
びデクスター(Robert,Davis and Dexter)による文献は
絶縁体を製造する際に使用することを示唆しているシリ
コーンエラストマーについて実施したテストについて論
じている。彼等はシリコーンエラストマーは最も広く多
種に亘る環境の下でもその使用を可能とする物理的、電
気的及び表面的各特性についての最良の組合せを提供す
ると結論付けしている。
大規模高電圧電気システム(Large High Voltage Electr
ic System)の1980年における国際会議におけるヴェー
イ、マシー及びレインダース(Weihe,Macy and Reynder
s)の論文において記録されているように、高電圧ポリマ
ー絶縁体は通常は0.25KV/inから0.75KV/inの範囲での
ストレスの下に使用されている。
ic System)の1980年における国際会議におけるヴェー
イ、マシー及びレインダース(Weihe,Macy and Reynder
s)の論文において記録されているように、高電圧ポリマ
ー絶縁体は通常は0.25KV/inから0.75KV/inの範囲での
ストレスの下に使用されている。
1982年5月のBEMA会議におけるウイーラー ブラッドウ
ェル、ダムス及びジブバルド(Wheeler,Bradwell,Dams a
nd Sibbold)による論文である「英国鉄道におけるシリ
コーンエラストマー絶縁体の屋外での高電圧への適用に
ついて」ではシリコーン絶縁体について述べられてお
り、該シリコーン絶縁体は棒状体に接着されたシリコー
ンエラストマーの層によりカバーされた樹脂で接着され
たガラス繊維で構成されておりかつ両端には端部連結具
が接着剤で接着されているものである。
ェル、ダムス及びジブバルド(Wheeler,Bradwell,Dams a
nd Sibbold)による論文である「英国鉄道におけるシリ
コーンエラストマー絶縁体の屋外での高電圧への適用に
ついて」ではシリコーン絶縁体について述べられてお
り、該シリコーン絶縁体は棒状体に接着されたシリコー
ンエラストマーの層によりカバーされた樹脂で接着され
たガラス繊維で構成されておりかつ両端には端部連結具
が接着剤で接着されているものである。
この絶縁体は両連結具間の長さが1070mm(42.1インチ)
であり0.6KV/inのストレスを与える25KV50Hzで使用
されるものである。
であり0.6KV/inのストレスを与える25KV50Hzで使用
されるものである。
新しいポリマーを基盤とする絶縁についての初期のテス
トは磁器と比較してより高い実行可能性のあることを示
していた。それ等はより高いストレスレベルで作動する
ことが出来た。長期間の実施とテストの結果により上記
参考文献により教示されたようなポリマー絶縁体はエー
ジングや汚染を伴って当初の電圧許容性を失い、又多く
の場合磁器やガラスの絶縁体と同じような機能を提供し
えなかったことが判明した。一般的な方法としてはしば
しばポリマー絶縁体はきれいな使用環境においてのみ使
用されかつ表面ストレスが0.5〜0.7KV/inの設計
で使用されるよう推奨されていた。
トは磁器と比較してより高い実行可能性のあることを示
していた。それ等はより高いストレスレベルで作動する
ことが出来た。長期間の実施とテストの結果により上記
参考文献により教示されたようなポリマー絶縁体はエー
ジングや汚染を伴って当初の電圧許容性を失い、又多く
の場合磁器やガラスの絶縁体と同じような機能を提供し
えなかったことが判明した。一般的な方法としてはしば
しばポリマー絶縁体はきれいな使用環境においてのみ使
用されかつ表面ストレスが0.5〜0.7KV/inの設計
で使用されるよう推奨されていた。
高ストレスレベルの分野における使用はぬれた状況下で
トラッキングやフラッシュオーバーが発生するため失敗
であったことを示している。そこで長期間に亘って1.
0KV/inを超える高ストレスレベルにおいて湿潤状態で
かつ汚染された状態での使用において作動しうるポリマ
ー絶縁体が必要とされている。
トラッキングやフラッシュオーバーが発生するため失敗
であったことを示している。そこで長期間に亘って1.
0KV/inを超える高ストレスレベルにおいて湿潤状態で
かつ汚染された状態での使用において作動しうるポリマ
ー絶縁体が必要とされている。
本発明における高電圧電気絶縁体は、15キロボルト以
上の対地電圧で使用するものであって、非導電性で繊維
により補強された重合体の支持ロッドと、該支持ロッド
の両端にある金属支持連結具及び該支持ロッドと該金属
連結具とに強固に接合されている連続したシリコーンエ
ラストマーのカバーとから構成されている。カバーは少
なくとも1個のシェッドを設けるように形成されており
又その形を制御するある特定化された幾何学的比率を有
している。カバーは高電圧ストレス下においてかつ潤滑
した高度に汚染された環境下においてさえも電気的な安
定性を提供することが示されている特定の架橋されたシ
リコーンエラストマー組成物で構成されている。
上の対地電圧で使用するものであって、非導電性で繊維
により補強された重合体の支持ロッドと、該支持ロッド
の両端にある金属支持連結具及び該支持ロッドと該金属
連結具とに強固に接合されている連続したシリコーンエ
ラストマーのカバーとから構成されている。カバーは少
なくとも1個のシェッドを設けるように形成されており
又その形を制御するある特定化された幾何学的比率を有
している。カバーは高電圧ストレス下においてかつ潤滑
した高度に汚染された環境下においてさえも電気的な安
定性を提供することが示されている特定の架橋されたシ
リコーンエラストマー組成物で構成されている。
本発明は、高電圧において使用される電気絶縁体に関す
るものである。使用される独特の耐アーク性シリコーン
材料が電圧の安定性を最も効果的にするデザインとの結
合により潤滑した汚染された使用環境において優れた性
能を発揮する絶縁体を提供するものである。
るものである。使用される独特の耐アーク性シリコーン
材料が電圧の安定性を最も効果的にするデザインとの結
合により潤滑した汚染された使用環境において優れた性
能を発揮する絶縁体を提供するものである。
絶縁体の長さは使用電圧やスイッチングによる過渡現象
又は雷撃により生ずる電圧インパルスにより決定され
る。絶縁体の表面は漏れ電流が最小にしかつドライバン
ド放電によるフラッシュオーバーの可能性を減少するよ
うに形作られている。そのデザインは絶縁体の表面を形
成するのに使われるシリコーン弾性体組成物の表面特性
を利用するものである。
又は雷撃により生ずる電圧インパルスにより決定され
る。絶縁体の表面は漏れ電流が最小にしかつドライバン
ド放電によるフラッシュオーバーの可能性を減少するよ
うに形作られている。そのデザインは絶縁体の表面を形
成するのに使われるシリコーン弾性体組成物の表面特性
を利用するものである。
絶縁体は使用状態の間その表面から漏れ電流を抑制し、
それによって絶縁体の使用可能期間を通して該ポリマー
の表面における電気的放電が抑制されるか或は低レベル
に維持される。耐アーク性は霧導伝率が1000マイクロジ
ーメンスで電気ストレスがサンプル長1インチ当り1.
5KVのレベルでのフォッグチャンバーテスト(fogchambe
rtest)をした時の耐トラッキング性及び耐腐触性の能力
として定義される。
それによって絶縁体の使用可能期間を通して該ポリマー
の表面における電気的放電が抑制されるか或は低レベル
に維持される。耐アーク性は霧導伝率が1000マイクロジ
ーメンスで電気ストレスがサンプル長1インチ当り1.
5KVのレベルでのフォッグチャンバーテスト(fogchambe
rtest)をした時の耐トラッキング性及び耐腐触性の能力
として定義される。
本発明は屋外における対地電圧が15キロボルト以上の
電圧において使用される高性能で高電圧電気絶縁体に関
するものであり、 (1)非導電性の繊維で補強された高分子重合体からな
る支持ロッド (2)該支持ロッドの両端に固接された金属性支持連結
具と (3)該支持ロッドと該各金属性支持連結具に固着され
た耐アーク性シリコーン弾性体物質からなる連続したカ
バーであって該カバーは少くとも1つのシェッドを設け
るよう形作られ、そのため以下の比率が採用されてお
り、 (ここでDsはシェッドの直径、Lsは隣接するシェッ
ドの間の最少距離、Lcは支持連結具間の漏れ距離、L
aは支持連結具間の直線距離及びDcは支持ロッド上の
カバーの直径をそれぞれ表わす。)かつシリコーン弾性
体カバーは a)ウイリアムズ可塑度(Williams plasticity)が50
以上であるジメチルビニルシロキシ末端封鎖ポリジメチ
ルシロキサン70乃至90重量部、 b)ウイリアムズ可塑度が25以上であり、 98モルパーセントのジメチルシロキサン単位と2モル
パーセントのメチルビニルシロキサン単位とを有するジ
メチルビニルシロキシ末端封鎖ポリジオルガノシロキサ
ン10乃至30重量部、 c)50m2/g以上の表面積を有しかつ上記(a)及
び(b)の反応を抑制する表面処理を施したヒュームシ
リカ13乃至17重量部 d)メチル基及びビニル基を有し、かつ約10重量パー
セントのビニル基と約16重量パーセントの水酸基を有
する水酸基で末端封鎖されたポリジオルガノシロキサン
1.5乃至2.5重量部及び e)アルミニウム三水化物90乃至220重量部からなる
混合物から構成される組成物を少くとも100℃の温度で
少なくとも30分間加熱処理せしめて得られる架橋組成
物から構成されているものである。
電圧において使用される高性能で高電圧電気絶縁体に関
するものであり、 (1)非導電性の繊維で補強された高分子重合体からな
る支持ロッド (2)該支持ロッドの両端に固接された金属性支持連結
具と (3)該支持ロッドと該各金属性支持連結具に固着され
た耐アーク性シリコーン弾性体物質からなる連続したカ
バーであって該カバーは少くとも1つのシェッドを設け
るよう形作られ、そのため以下の比率が採用されてお
り、 (ここでDsはシェッドの直径、Lsは隣接するシェッ
ドの間の最少距離、Lcは支持連結具間の漏れ距離、L
aは支持連結具間の直線距離及びDcは支持ロッド上の
カバーの直径をそれぞれ表わす。)かつシリコーン弾性
体カバーは a)ウイリアムズ可塑度(Williams plasticity)が50
以上であるジメチルビニルシロキシ末端封鎖ポリジメチ
ルシロキサン70乃至90重量部、 b)ウイリアムズ可塑度が25以上であり、 98モルパーセントのジメチルシロキサン単位と2モル
パーセントのメチルビニルシロキサン単位とを有するジ
メチルビニルシロキシ末端封鎖ポリジオルガノシロキサ
ン10乃至30重量部、 c)50m2/g以上の表面積を有しかつ上記(a)及
び(b)の反応を抑制する表面処理を施したヒュームシ
リカ13乃至17重量部 d)メチル基及びビニル基を有し、かつ約10重量パー
セントのビニル基と約16重量パーセントの水酸基を有
する水酸基で末端封鎖されたポリジオルガノシロキサン
1.5乃至2.5重量部及び e)アルミニウム三水化物90乃至220重量部からなる
混合物から構成される組成物を少くとも100℃の温度で
少なくとも30分間加熱処理せしめて得られる架橋組成
物から構成されているものである。
高電圧送電線に使用される電気的絶縁体は導電線を地表
から絶縁するという機能を失うことなく事実上数年とい
う長期間に亘って維持補修を要さず或は僅かな維持補修
により作用することが要求されている。この性能は全て
の種類の天候に面した場合でも又、天候による絶縁体に
対する苛酷な影響にもかかわらず実現されなければなら
ない。
から絶縁するという機能を失うことなく事実上数年とい
う長期間に亘って維持補修を要さず或は僅かな維持補修
により作用することが要求されている。この性能は全て
の種類の天候に面した場合でも又、天候による絶縁体に
対する苛酷な影響にもかかわらず実現されなければなら
ない。
この種の絶縁体の開発において、絶縁体を評価するに要
する時間を短縮するための試験使用の方法が要求され
る。そのテストは、絶縁体と絶縁体材料をかなりの長期
間に亘って実際に使用される間に受ける総ストレスにま
でさらすことのできる相対的に短い時間において絶縁体
と絶縁体材料を乾燥及び潤滑で汚染された状態の実際的
な条件にさらすことが出来るよう工夫されている。
する時間を短縮するための試験使用の方法が要求され
る。そのテストは、絶縁体と絶縁体材料をかなりの長期
間に亘って実際に使用される間に受ける総ストレスにま
でさらすことのできる相対的に短い時間において絶縁体
と絶縁体材料を乾燥及び潤滑で汚染された状態の実際的
な条件にさらすことが出来るよう工夫されている。
このテストでの作業は、要求されたテストをパスした絶
縁体は又要求される年数の間実際的な使用においても機
能するという期待のもとに短期間にテストされる絶縁体
を設計するための手段となっている。
縁体は又要求される年数の間実際的な使用においても機
能するという期待のもとに短期間にテストされる絶縁体
を設計するための手段となっている。
本発明の絶縁体は送電システムにおいてみられるような
対地電圧が15KV以上において使用するよう設計された
高性能、高電圧絶縁体に関するものである。
対地電圧が15KV以上において使用するよう設計された
高性能、高電圧絶縁体に関するものである。
絶縁体の外表面を形成するのに使用される、高い耐アー
ク性で低い漏れ電流のシリコーン弾性体の特定の物理的
及び電気的特性を利用するために、絶縁体は1.0KV/
インチ以上の平均表面電気ストレスをもつように設計さ
れることが出来る。
ク性で低い漏れ電流のシリコーン弾性体の特定の物理的
及び電気的特性を利用するために、絶縁体は1.0KV/
インチ以上の平均表面電気ストレスをもつように設計さ
れることが出来る。
即ち、インチで表わされた両連結具間の絶縁体表面に関
する漏れ距離の長さにより割ったキロボルトで表示され
た送電線の設計電圧は1.0KV/インチ以上である。
する漏れ距離の長さにより割ったキロボルトで表示され
た送電線の設計電圧は1.0KV/インチ以上である。
この電圧は1.5KV/インチより大きいものであっても
よい。
よい。
これは60V/ミリメーターに等しい。このレベルの電
圧ストレスは送電線絶縁体の設計のために通常使用され
るものより著しく高いものである。このことは本発明に
おける高性能であることを意味する。更に絶縁体は少く
とも1個のシェッドを存在させるように設計されるが、
シェッドを形成するために使用されるシリコーンエラス
トマーのユニークな電気特性を利用することにより出来
るだけ絶縁体を簡素で軽いものに作るように最少の数の
シェッドを使用する。
圧ストレスは送電線絶縁体の設計のために通常使用され
るものより著しく高いものである。このことは本発明に
おける高性能であることを意味する。更に絶縁体は少く
とも1個のシェッドを存在させるように設計されるが、
シェッドを形成するために使用されるシリコーンエラス
トマーのユニークな電気特性を利用することにより出来
るだけ絶縁体を簡素で軽いものに作るように最少の数の
シェッドを使用する。
金属性の端部連結具間の絶縁体の外側表面の形は以下に
示される比率の通りである。
示される比率の通りである。
ここでDsはシェッドの直径、Lsは隣接するシェッド
間の最小距離、Lcは支持連結具間の漏れ距離、Laは
支持連結具間の直線距離及びDcは支持ロッド表面のカ
バーの直径をそれぞれ示している。
間の最小距離、Lcは支持連結具間の漏れ距離、Laは
支持連結具間の直線距離及びDcは支持ロッド表面のカ
バーの直径をそれぞれ示している。
これ等のディメンジョンは第1図に示されている。Ds
/Lsの比が1.5と等しいかそれ以下であるというこ
とは、該シェッドの直径が該シェッド間の距離の1.5
倍と等しいかそれより小さくなければならないことを意
味する。又Lc/Laの比が1.7と等しいかそれ以下
であるということは、連結具間の絶縁体表面に関する漏
れ距離が連結具間の距離の1.7倍以下であることを意
味する。更にDs/Dcの比が3と等しいかそれ以下で
あるということは、シェッドの直径が支持ロッドのカバ
ーの直径の3倍と等しいかそれ以下であることを意味す
る。本発明のために特定された材料を使用することによ
り、絶縁体のシェッドは大きな直径をもったものである
必要がないことが判明した。シェッドの直径を制限する
ことによって、絶縁体の表面積が制限される。絶縁体全
体に亘って与えられた電圧については、表面積が小さけ
れば漏れ電流も小さくなるであろう。絶縁体の表面上で
ドライバンドが形成される時にアークが発生する。アー
クの強さはアークを発生させている漏れ電流に依存して
いる。もしもれ電流が低レベルに制御されるとすればア
ークエネルギーは低くなるであろうし又損害とかフラッ
シュオーバーの潜在的可能性は低くなる。
/Lsの比が1.5と等しいかそれ以下であるというこ
とは、該シェッドの直径が該シェッド間の距離の1.5
倍と等しいかそれより小さくなければならないことを意
味する。又Lc/Laの比が1.7と等しいかそれ以下
であるということは、連結具間の絶縁体表面に関する漏
れ距離が連結具間の距離の1.7倍以下であることを意
味する。更にDs/Dcの比が3と等しいかそれ以下で
あるということは、シェッドの直径が支持ロッドのカバ
ーの直径の3倍と等しいかそれ以下であることを意味す
る。本発明のために特定された材料を使用することによ
り、絶縁体のシェッドは大きな直径をもったものである
必要がないことが判明した。シェッドの直径を制限する
ことによって、絶縁体の表面積が制限される。絶縁体全
体に亘って与えられた電圧については、表面積が小さけ
れば漏れ電流も小さくなるであろう。絶縁体の表面上で
ドライバンドが形成される時にアークが発生する。アー
クの強さはアークを発生させている漏れ電流に依存して
いる。もしもれ電流が低レベルに制御されるとすればア
ークエネルギーは低くなるであろうし又損害とかフラッ
シュオーバーの潜在的可能性は低くなる。
ユニークな表面特性をもった特別なシリコーンエラスト
マーを用いて漏れ電流を低く維持することにより又表面
積を最小に保つことによって連結具間の絶縁体の表面漏
れ電流は最小に維持される。
マーを用いて漏れ電流を低く維持することにより又表面
積を最小に保つことによって連結具間の絶縁体の表面漏
れ電流は最小に維持される。
絶縁体の構造的強度は第1図に示す維持で補強された高
分子材料からなる支持ロッド1により得られている。
分子材料からなる支持ロッド1により得られている。
繊維は電気的に非導電性である。繊維は一方の端部から
他方の端部まで連続したものであり、最大の引張り強力
を与えるため適当に樹脂が含浸されうる最大の本数から
構成されている。これ等の繊維はその表面を使用される
樹脂とともに繊維と樹脂との間に強力でボイドフリーな
接着部を与えるために適合する糊材やプライマーにより
処理される。
他方の端部まで連続したものであり、最大の引張り強力
を与えるため適当に樹脂が含浸されうる最大の本数から
構成されている。これ等の繊維はその表面を使用される
樹脂とともに繊維と樹脂との間に強力でボイドフリーな
接着部を与えるために適合する糊材やプライマーにより
処理される。
好ましい繊維はガラス繊維である。繊維は固化された樹
脂ポリマーによってボイドフリーな状態で互に拘束され
る。好ましい樹脂はポリエステル又はエポキシタイプの
ものであり双方ともボイドフリーな架橋されたロッドが
えられるようにプロトルージョン方法(Pultrusion Proc
ess)によるような溶剤なしで処理される。適切な機能を
果すために、架橋ロッドはボイドフリーでなければなら
ず又表面は平滑でクラックのないものである必要があ
る。ロッド上のいかなるクラック或はボイドもそれが高
電圧絶縁体の周囲に設定された電気的環境に曝されると
弱点となる。
脂ポリマーによってボイドフリーな状態で互に拘束され
る。好ましい樹脂はポリエステル又はエポキシタイプの
ものであり双方ともボイドフリーな架橋されたロッドが
えられるようにプロトルージョン方法(Pultrusion Proc
ess)によるような溶剤なしで処理される。適切な機能を
果すために、架橋ロッドはボイドフリーでなければなら
ず又表面は平滑でクラックのないものである必要があ
る。ロッド上のいかなるクラック或はボイドもそれが高
電圧絶縁体の周囲に設定された電気的環境に曝されると
弱点となる。
金属の端部連結具はスウェージング、金属くさび、接着
剤の使用或はそれ等の複合方式等により芯のロッドの両
端部にしっかりと固定されている。端部の連結具は破損
試験において絶縁体に対する設計荷重よりも十分に高い
荷重をロッドが繊維出来るようにロッドに取り付けられ
ている。芯のロッドは屋外の湿潤した汚染環境下におい
て絶縁体に対して要求される電気的絶縁特性を提供する
ことが出来ないので第1図の3で示すようにボイドフリ
ーなシリコーン弾性体のコーティングにより被覆されて
いる。コーティングはロッドと端部連結具との接続部を
完全に被覆するように取付けられた端部連結具と共に芯
部ロッドの表面に形成されている。
剤の使用或はそれ等の複合方式等により芯のロッドの両
端部にしっかりと固定されている。端部の連結具は破損
試験において絶縁体に対する設計荷重よりも十分に高い
荷重をロッドが繊維出来るようにロッドに取り付けられ
ている。芯のロッドは屋外の湿潤した汚染環境下におい
て絶縁体に対して要求される電気的絶縁特性を提供する
ことが出来ないので第1図の3で示すようにボイドフリ
ーなシリコーン弾性体のコーティングにより被覆されて
いる。コーティングはロッドと端部連結具との接続部を
完全に被覆するように取付けられた端部連結具と共に芯
部ロッドの表面に形成されている。
ロッドと端部連結具はシリコーン弾性体がロッドと連結
具に接着しそれにより水蒸気が浸透するおそれのあるロ
ッド或は端部連結具とシリコーン弾性体コーティングと
の間の界面にボイドが存在しないように予め予備処理を
うける。
具に接着しそれにより水蒸気が浸透するおそれのあるロ
ッド或は端部連結具とシリコーン弾性体コーティングと
の間の界面にボイドが存在しないように予め予備処理を
うける。
本発明における絶縁体は金属性の支持連結具の間の表面
漏れ距離がそれ等の間の直線距離よりも大きくなるよう
に少くとも1個のシェッドをもつことが要求される。シ
ェッドは第1図の4で示されている。
漏れ距離がそれ等の間の直線距離よりも大きくなるよう
に少くとも1個のシェッドをもつことが要求される。シ
ェッドは第1図の4で示されている。
好ましい形態としては2個のシェッドをもった絶縁体で
あり、それらは一般的に絶縁体の各端部付近に配置され
ている。他の好ましい形態は複数のシェッドをもつもの
であり、一般的にはシェッド同志及び金属連結具との間
が等距離となるような間隔で配置されている。
あり、それらは一般的に絶縁体の各端部付近に配置され
ている。他の好ましい形態は複数のシェッドをもつもの
であり、一般的にはシェッド同志及び金属連結具との間
が等距離となるような間隔で配置されている。
好ましいシェッドは略平行な上部表面及び下部表面を有
するものである。好ましくは、シェッドの下部表面は平
滑であり、つまり高電圧絶縁体に通常みうけられるよう
な筋状部は持っていない。成型作業を容易にするため
に、シェッドの表面は通常僅かに傾斜しておりそれによ
って成型型枠が加圧し、架橋した後でも簡単に離型させ
ることが出来る。
するものである。好ましくは、シェッドの下部表面は平
滑であり、つまり高電圧絶縁体に通常みうけられるよう
な筋状部は持っていない。成型作業を容易にするため
に、シェッドの表面は通常僅かに傾斜しておりそれによ
って成型型枠が加圧し、架橋した後でも簡単に離型させ
ることが出来る。
第1図に示すようにシェッドの上部表面の角度φ1は絶
縁体の芯の中心線に対し少くとも30度であり芯が垂直
方向に向いている時にはその表面は下方を指しているも
のであることが好ましい。下方を指向している角度をも
つ上部表面は表面上の水を表面の下向に流しシェッドの
外部周辺に排出することを可能にする。このような水分
の流れは絶縁体の自己洗滌を行わせる傾向を示す。
縁体の芯の中心線に対し少くとも30度であり芯が垂直
方向に向いている時にはその表面は下方を指しているも
のであることが好ましい。下方を指向している角度をも
つ上部表面は表面上の水を表面の下向に流しシェッドの
外部周辺に排出することを可能にする。このような水分
の流れは絶縁体の自己洗滌を行わせる傾向を示す。
シリコーン弾性体表面の水反撥性により、30度以上の
角度は絶縁体の表面に形成される雨とか霧や露の状況か
ら出来る水滴の下方への流れを作り出すのに十分なもの
である。第1図に示される絶縁体のシェッドの下部表面
の角度φ2は絶縁体芯に対して30〜90度であることが出
来る。この角度以下では、該表面に形成された水は流れ
去ってしまう可能性がより高い。もちろん、下部表面の
角度は上部表面の角度より大きくなくてはならないので
ありそれによりシェッドは芯部付近の厚さよりも大きな
厚さを周辺部で持つことはない。
角度は絶縁体の表面に形成される雨とか霧や露の状況か
ら出来る水滴の下方への流れを作り出すのに十分なもの
である。第1図に示される絶縁体のシェッドの下部表面
の角度φ2は絶縁体芯に対して30〜90度であることが出
来る。この角度以下では、該表面に形成された水は流れ
去ってしまう可能性がより高い。もちろん、下部表面の
角度は上部表面の角度より大きくなくてはならないので
ありそれによりシェッドは芯部付近の厚さよりも大きな
厚さを周辺部で持つことはない。
絶縁体の表面における漏れ距離は平滑表面により得られ
る漏れ距離に対して増加される必要はないので、通常の
高電圧絶縁体にあるようなシェッドの下部表面に筋状部
を設ける必要はない。
る漏れ距離に対して増加される必要はないので、通常の
高電圧絶縁体にあるようなシェッドの下部表面に筋状部
を設ける必要はない。
これ等の筋状部がないことは、又絶縁体の表面積を減少
させそれによって絶縁体全体における漏れ電流を減少さ
せることが出来る。
させそれによって絶縁体全体における漏れ電流を減少さ
せることが出来る。
絶縁体の表面を構成しているシリコーン弾性体コーティ
ングは以下の混合物からなる組成物を架橋して得られる
架橋弾性体である。
ングは以下の混合物からなる組成物を架橋して得られる
架橋弾性体である。
a)ウイリアムズ可塑度が50以上であるジメチルビニ
ルシロキシ末端封鎖ポリジメチルシロキサン70乃至9
0重量部、 b)ウイリアムズ可塑度が25以上であり、 98モルパーセントのジメチルシロキサン単位と2モル
パーセントのメチルビニルシロキサン単位とを有するジ
メチルビニルシロキシ末端封鎖ポリジオルガノシロキサ
ン10乃至30重量部、 c)50m2/g以上の表面積を有しかつ上記(a)及
び(b)の反応を抑制する表面処理を施したヒュームシ
リカ13乃至17重量部 d)メチル基及びビニル基を有し、かつ約10重量パー
セントのビニル基と約16重量パーセントの水酸基を有
する水酸基で末端封鎖されたポリジオルガノシロキサン
1.5乃至2.5重量部及び e)アルミニウム三水化物90乃至220重量部からなる
混合物から構成される組成物を少くとも100℃の温度で
少なくとも30分間加熱処理せしめて得られる架橋組成
物から構成されているものである。
ルシロキシ末端封鎖ポリジメチルシロキサン70乃至9
0重量部、 b)ウイリアムズ可塑度が25以上であり、 98モルパーセントのジメチルシロキサン単位と2モル
パーセントのメチルビニルシロキサン単位とを有するジ
メチルビニルシロキシ末端封鎖ポリジオルガノシロキサ
ン10乃至30重量部、 c)50m2/g以上の表面積を有しかつ上記(a)及
び(b)の反応を抑制する表面処理を施したヒュームシ
リカ13乃至17重量部 d)メチル基及びビニル基を有し、かつ約10重量パー
セントのビニル基と約16重量パーセントの水酸基を有
する水酸基で末端封鎖されたポリジオルガノシロキサン
1.5乃至2.5重量部及び e)アルミニウム三水化物90乃至220重量部からなる
混合物から構成される組成物を少くとも100℃の温度で
少なくとも30分間加熱処理せしめて得られる架橋組成
物から構成されているものである。
絶縁体の表面を構成する好ましいシリコーン弾性コーテ
ィングはここで述べられているような電気的高電圧絶縁
体を作ることを可能にするよう要求されるユニークな物
理的及び電気的特性を持つものとして見出された特別の
組成物である。該組成物は二種の異なるポリジメチルシ
ロキサンポリマーを含むものであり両者ともジメチルビ
ニルシロキシ末端封鎖を持っている。ポリマー(a)は
ウイリアムズ可塑度が50以上であり好ましくはウイリ
アムズ可塑度が約80を与える粘度をもつポリマーであ
る。他のポリマー(b)は未端封鎖剤として又、チェイ
ンに沿って存在するポリマー中に約2モルパーセントの
ビニル基を与えるに十分な量のビニル基を有している。
付加的なビニルポリマーは架橋ポリマーに対して高度の
クロスリンク密度を与える。
ィングはここで述べられているような電気的高電圧絶縁
体を作ることを可能にするよう要求されるユニークな物
理的及び電気的特性を持つものとして見出された特別の
組成物である。該組成物は二種の異なるポリジメチルシ
ロキサンポリマーを含むものであり両者ともジメチルビ
ニルシロキシ末端封鎖を持っている。ポリマー(a)は
ウイリアムズ可塑度が50以上であり好ましくはウイリ
アムズ可塑度が約80を与える粘度をもつポリマーであ
る。他のポリマー(b)は未端封鎖剤として又、チェイ
ンに沿って存在するポリマー中に約2モルパーセントの
ビニル基を与えるに十分な量のビニル基を有している。
付加的なビニルポリマーは架橋ポリマーに対して高度の
クロスリンク密度を与える。
ポリマー(b)はウイリアムズ可塑度25以上好ましく
は約28を与える粘度を持っている。ポリマー(a)の
量は70乃至90重量部であり好ましくは80乃至90
重量部であり、更に好ましくは85重量部である。
は約28を与える粘度を持っている。ポリマー(a)の
量は70乃至90重量部であり好ましくは80乃至90
重量部であり、更に好ましくは85重量部である。
ポリマー(b)の量は10乃至30重量部であり好まし
くは10乃至20重量部、更に好ましくは15重量部で
ある。該組成物は表面積が50m2/g以上を有しそし
て(a)と(b)との反応を防止する処理を施された表
面を有するヒュームシリカを13乃至17重量部含んで
いる。
くは10乃至20重量部、更に好ましくは15重量部で
ある。該組成物は表面積が50m2/g以上を有しそし
て(a)と(b)との反応を防止する処理を施された表
面を有するヒュームシリカを13乃至17重量部含んで
いる。
ヒュームシリカは通常シリコーンゴムの補強材として使
用される異なるタイプのいかなるヒュームシリカを使用
することができる。該シリカはポリマー(a)と(b)
との反応を妨げるため表面が処理される。シリカを含む
シリコーンポリマーの反応は、未加硫の混合物を熟成に
際してクレープ(to crepe)させるような公知の反応であ
る。
用される異なるタイプのいかなるヒュームシリカを使用
することができる。該シリカはポリマー(a)と(b)
との反応を妨げるため表面が処理される。シリカを含む
シリコーンポリマーの反応は、未加硫の混合物を熟成に
際してクレープ(to crepe)させるような公知の反応であ
る。
シリカ表面を処理するためシリカはヘキサメチルジシラ
ジン(hexamethyldisilazane)の如きものを用いて予備処
理されうるし或は25℃で約0.04Pa・sの粘度をもつヒ
ドロキシル基で末端封鎖されたポリジメチルシロキサン
液体と約4重量パーセントのシリコーン結合ヒドロキシ
ル基を成分(f)とするようなヒドロキシ含有液体を含
ませることにより同時に処理されうる。
ジン(hexamethyldisilazane)の如きものを用いて予備処
理されうるし或は25℃で約0.04Pa・sの粘度をもつヒ
ドロキシル基で末端封鎖されたポリジメチルシロキサン
液体と約4重量パーセントのシリコーン結合ヒドロキシ
ル基を成分(f)とするようなヒドロキシ含有液体を含
ませることにより同時に処理されうる。
好ましい量は7乃至9重量部である。
ヒュームシリカ(fumesilica)は好ましくは250m2/gの
表面積を有するものであり15重量部のシリカと8重量
部の同時処理剤(f)とにより同時に処理されたもので
あることが最も好ましい。
表面積を有するものであり15重量部のシリカと8重量
部の同時処理剤(f)とにより同時に処理されたもので
あることが最も好ましい。
成分(d)は非均質(non-homogenous)な方法でより多く
のクロスリンクを導入することによりより強力な架橋製
品を加えるものと考えられる。
のクロスリンクを導入することによりより強力な架橋製
品を加えるものと考えられる。
これは1.5乃至2.5重量部より好ましくは2重量部
存在させる。
存在させる。
この組成物における必須の成分は90乃至220重量部の
アルミニウムトリハイドレート(e)であり、好ましく
は180乃至220重量部、より好ましくは200重量部であ
る。
アルミニウムトリハイドレート(e)であり、好ましく
は180乃至220重量部、より好ましくは200重量部であ
る。
アルミニウムハイドレートはシリコーンエラストマーの
耐アーク性を改善するものとして知られている。本発明
の組成物においては、アルミニウムハイドレートは混合
物が少くとも100℃の温度で少くとも30分間熱処理を
うける前に準備容器中の混合物に付加されることが必要
である。
耐アーク性を改善するものとして知られている。本発明
の組成物においては、アルミニウムハイドレートは混合
物が少くとも100℃の温度で少くとも30分間熱処理を
うける前に準備容器中の混合物に付加されることが必要
である。
本発明における絶縁体のシリコーン表面は試験電極の間
において6インチの長さを有する1インチ直径のロッド
として評価された時に以下に示す性能の可能性をもつこ
とを要求されるシリコーン弾性体材料である。
において6インチの長さを有する1インチ直径のロッド
として評価された時に以下に示す性能の可能性をもつこ
とを要求されるシリコーン弾性体材料である。
フォッグチャンバーテストにおいて1.5KV/インチの
ストレスが与えられ1センチメーター当り200マイクロ
ジーメンスの導電率及び16時間、30サイクルの電圧
をかけそして8時間回復させた場合 1. 2ミリアンペアーより大きい漏れ電流を達成するた
め50時間以上であり、 2. 15ミリアンペアー以上の放電パルスを達成するた
め100時間以上であり、 3. 30サイクルの間における総合積算電流が7000クー
ロン以下であり、 4. テスト中にフラッシュオーバーが皆無であること、 又フォッグチャンバーテストにおいて1.5KV/インチ
のストレスで1センチメーター当り1000マイクロジーメ
ンスの導電率及び16時間30サイクルの電圧をかけ8
時間回復させた場合 1. 表面にトラッキングがなく 2. ロッドにフラッシュオーバーがなく 3. 重量損失が4パーセント以下でかつ表面に体積した
異質の汚れが1パーセント以下(SECAテストにより判別
したもの)である。
ストレスが与えられ1センチメーター当り200マイクロ
ジーメンスの導電率及び16時間、30サイクルの電圧
をかけそして8時間回復させた場合 1. 2ミリアンペアーより大きい漏れ電流を達成するた
め50時間以上であり、 2. 15ミリアンペアー以上の放電パルスを達成するた
め100時間以上であり、 3. 30サイクルの間における総合積算電流が7000クー
ロン以下であり、 4. テスト中にフラッシュオーバーが皆無であること、 又フォッグチャンバーテストにおいて1.5KV/インチ
のストレスで1センチメーター当り1000マイクロジーメ
ンスの導電率及び16時間30サイクルの電圧をかけ8
時間回復させた場合 1. 表面にトラッキングがなく 2. ロッドにフラッシュオーバーがなく 3. 重量損失が4パーセント以下でかつ表面に体積した
異質の汚れが1パーセント以下(SECAテストにより判別
したもの)である。
約4分の1インチの厚さの成型された平板として評価さ
れた時シリコーン弾性材料は以下の特性を有する。
れた時シリコーン弾性材料は以下の特性を有する。
耐トラッキング性試験において、ASTM D 2303に従って
4.4KV、1分間8ストロークで試験を行った場合 1. 破損までに1000分以上 上述したテストにより上記の要求を満すシリコーンエラ
ストマー組成物は本発明の絶縁体におけるシリコーン弾
性体カバーとして使用することができる。
4.4KV、1分間8ストロークで試験を行った場合 1. 破損までに1000分以上 上述したテストにより上記の要求を満すシリコーンエラ
ストマー組成物は本発明の絶縁体におけるシリコーン弾
性体カバーとして使用することができる。
例えば第1図に示すような完成された絶縁体はフォッグ
チャンバーテストにおいて1センチメーター当り200マ
イクロジーメンスのフォグ導電率の下で1.5KV/イン
チのストレスを与えた場合に漏れ電流を10時間以上に
おいて2マイクロアンペアー以下のレベルに押えるもの
であり、250時間の総合テスト期間の間、50ミリアン
ペアーを越えるもれパルスがなく、総合堆積電流が50
以下を示すものである。
チャンバーテストにおいて1センチメーター当り200マ
イクロジーメンスのフォグ導電率の下で1.5KV/イン
チのストレスを与えた場合に漏れ電流を10時間以上に
おいて2マイクロアンペアー以下のレベルに押えるもの
であり、250時間の総合テスト期間の間、50ミリアン
ペアーを越えるもれパルスがなく、総合堆積電流が50
以下を示すものである。
このテストに使用されるシリコーン弾性体材料は1イン
チの直径を有する試験ロッドに最終的絶縁体として成型
されるのに使用されるものと同じ成型条件を用いて成型
されたものである。
チの直径を有する試験ロッドに最終的絶縁体として成型
されるのに使用されるものと同じ成型条件を用いて成型
されたものである。
適切なフォグチャンバーと試験手順は下記の実施例4に
説明されている。
説明されている。
絶縁体の表面条件は広くESCA(Electron Spectroscopy f
or Chemical Anaeysis)として知られているX線誘導光
電子分光による分折技術を用いて決定される。この技術
においては、試料から発する低エネルギーの電子は表面
近くの1〜10原子層(one-to-ten atomlayer)領域にお
いて組成情報を提供するために分析される。コアー(内
側殻)電子は試料中の全ての原子から放出されそしてこ
れ等の光放出電子の運動エネルギーを分析することによ
り多数の重要な特性に関する情報が得られる。
or Chemical Anaeysis)として知られているX線誘導光
電子分光による分折技術を用いて決定される。この技術
においては、試料から発する低エネルギーの電子は表面
近くの1〜10原子層(one-to-ten atomlayer)領域にお
いて組成情報を提供するために分析される。コアー(内
側殻)電子は試料中の全ての原子から放出されそしてこ
れ等の光放出電子の運動エネルギーを分析することによ
り多数の重要な特性に関する情報が得られる。
測定値のピークの正確な位置は存在している要素だけで
なくそれ等の化学的環境を識別する。この試験はその化
学的組成物によって表面の性質を決定する。
なくそれ等の化学的環境を識別する。この試験はその化
学的組成物によって表面の性質を決定する。
上述した耐トラッキング性試験はASTM D 2303にもとづ
くものである。この最近版はASTM基準の年鑑セクション
10の中に見られる。
くものである。この最近版はASTM基準の年鑑セクション
10の中に見られる。
汚染ポンプが1分間8ストロークの割合で操作され0.60
ml/分の流れを生じさせる。電圧は4.5KVに設定され
る。試料はタイム−トラック方法の下でテストされる絶
縁体材料はトラッキングや厳しい腐触ないしに1000分以
上耐えることが要求される。
ml/分の流れを生じさせる。電圧は4.5KVに設定され
る。試料はタイム−トラック方法の下でテストされる絶
縁体材料はトラッキングや厳しい腐触ないしに1000分以
上耐えることが要求される。
以下の実施例は説明の目的の為にのみ示すものであって
特許請求範囲において正当に設定された本発明を限定す
るものとして解釈されるべきではない。
特許請求範囲において正当に設定された本発明を限定す
るものとして解釈されるべきではない。
実施例中全ての部は重量部である。
実施例1 同一充填剤を含むエチレンプロピレンエラストマー構成
体及びシリコーン構成体からなる垂直懸垂型絶縁体をそ
れぞれ準備し、電圧ストレスの下において湿潤した汚染
状態に対する相対的抵抗を比較するため使用条件での下
でテストされた。
体及びシリコーン構成体からなる垂直懸垂型絶縁体をそ
れぞれ準備し、電圧ストレスの下において湿潤した汚染
状態に対する相対的抵抗を比較するため使用条件での下
でテストされた。
絶縁体は115KVで使用するために設計されたものであっ
た。これら試料は対地電圧66KVで強く汚染された条件
の下でテストされた。該絶縁体の両端連結具間の直線距
離は37.75インチであった。又4.5インチの直径をも
つ9個のシェッドと3.5インチの直径をもつ8個のシ
ェッドが存在していた。該小径のシェッドは各大径のシ
ェッドの間に配置されていた。更に各シェッド間の最短
距離は1インチであった。
た。これら試料は対地電圧66KVで強く汚染された条件
の下でテストされた。該絶縁体の両端連結具間の直線距
離は37.75インチであった。又4.5インチの直径をも
つ9個のシェッドと3.5インチの直径をもつ8個のシ
ェッドが存在していた。該小径のシェッドは各大径のシ
ェッドの間に配置されていた。更に各シェッド間の最短
距離は1インチであった。
又大径のシェッドの上部表面は芯に対して約55度の角
度をもっており一方小径のシェッドは約45度の角度を
持っていた。
度をもっており一方小径のシェッドは約45度の角度を
持っていた。
各々のシェッドの下部表面はほぼ上部表面に対して平行
であった。
であった。
支持連結具間のもれ距離は67.5インチであった。
シリコーンエラストマー組成物は本発明の絶縁体を作る
のに使用される方法の範囲に入る手順を用いて準備され
た。即ち該組成物はウイリアムズ可塑度が80であるジ
メチルビニルシロキシ末端封鎖ポリジメチルシロキサン
85部、ウイリアムズ可塑度が28である98モルパー
セントのジメチルシロキサン単位と2モルパーセントの
メチルビニルシロキサン単位とからなるジメチルビニル
シロキシ末端封鎖ポリジオルガノシロキサン15部、2
5℃における粘度が約0.04Pa・sでかつ4重量パーセン
トのシリコーン結合ヒドロキシル基を有するヒドロキシ
末端封鎖ポリジメチルシロキサン溶液8部ヒドロキシ末
端封鎖メチル及びビニル基を有しかつ約10重量パーセ
ントのビニル基と約16重量パーセントのヒドロキシル
基とを有するポリジオルガノシロキサン2部、表面積が
250m2/gを有するヒュームシリカ15部及びアルミニ
ウムハイドレート200部とを混練器により混合すること
で準備した。混合後約175で約1時間半加熱処理を行っ
た。冷却後、組成物100部に対し粉末担体における50
パーセントの2,5ビス(タルト−ブチルペロキシ(ter
t-bytyl-peroxy))−2,5−ジメチルヘキサンからな
る触媒0.45部を混合した。
のに使用される方法の範囲に入る手順を用いて準備され
た。即ち該組成物はウイリアムズ可塑度が80であるジ
メチルビニルシロキシ末端封鎖ポリジメチルシロキサン
85部、ウイリアムズ可塑度が28である98モルパー
セントのジメチルシロキサン単位と2モルパーセントの
メチルビニルシロキサン単位とからなるジメチルビニル
シロキシ末端封鎖ポリジオルガノシロキサン15部、2
5℃における粘度が約0.04Pa・sでかつ4重量パーセン
トのシリコーン結合ヒドロキシル基を有するヒドロキシ
末端封鎖ポリジメチルシロキサン溶液8部ヒドロキシ末
端封鎖メチル及びビニル基を有しかつ約10重量パーセ
ントのビニル基と約16重量パーセントのヒドロキシル
基とを有するポリジオルガノシロキサン2部、表面積が
250m2/gを有するヒュームシリカ15部及びアルミニ
ウムハイドレート200部とを混練器により混合すること
で準備した。混合後約175で約1時間半加熱処理を行っ
た。冷却後、組成物100部に対し粉末担体における50
パーセントの2,5ビス(タルト−ブチルペロキシ(ter
t-bytyl-peroxy))−2,5−ジメチルヘキサンからな
る触媒0.45部を混合した。
約95重量部のポリマーと約180重量部のアルミニウム
トリハイドレート充填物とを含んでいるエチレン−プロ
ピレン−ダイマー組成物が比較用絶縁体を準備するため
に使用された。
トリハイドレート充填物とを含んでいるエチレン−プロ
ピレン−ダイマー組成物が比較用絶縁体を準備するため
に使用された。
この絶縁体は対地電圧66KVのテスト電圧の下に試験設
備に設置された。該絶縁体は電気的に絶えずストレスを
与えられた。試験設備は塩による汚損はもとより周期的
に霧に当てられるように海岸に沿って設けられた。0.
5KV/インチで使用される標準的な磁器性懸垂型絶縁体
は一年以下のテストにおいてフラッシュオーバーが生じ
破損した。1KV/インチで使用されると1〜3ケ月で一
般的にだめになった。これ等の絶縁体は破損に関して周
期的に検査された。その記録は絶縁体に関してフラッシ
ュオーバーが存在するかどうかについてとり続けられ
た。その結果の分析が第1表に要約されている。その結
論はシリコーンエラストマーの絶縁体はエチレン−プロ
ピレンエラストマーによる同一構造の絶縁体より良好に
作動することを示している。
備に設置された。該絶縁体は電気的に絶えずストレスを
与えられた。試験設備は塩による汚損はもとより周期的
に霧に当てられるように海岸に沿って設けられた。0.
5KV/インチで使用される標準的な磁器性懸垂型絶縁体
は一年以下のテストにおいてフラッシュオーバーが生じ
破損した。1KV/インチで使用されると1〜3ケ月で一
般的にだめになった。これ等の絶縁体は破損に関して周
期的に検査された。その記録は絶縁体に関してフラッシ
ュオーバーが存在するかどうかについてとり続けられ
た。その結果の分析が第1表に要約されている。その結
論はシリコーンエラストマーの絶縁体はエチレン−プロ
ピレンエラストマーによる同一構造の絶縁体より良好に
作動することを示している。
エチレン−プロピレンダイマーからなる絶縁体はテスト
期間中多くの回数に亘って発生したフラッシュオーバー
について良好に機能しなかった。
期間中多くの回数に亘って発生したフラッシュオーバー
について良好に機能しなかった。
シリコーンによる絶縁体はフラッシュオーバーやトラッ
キング或は穴開きが生じないように機能した。
キング或は穴開きが生じないように機能した。
実施例2 試験用絶縁体は、ここで請求されている形式のシリコー
ンエラストマー絶縁体材料が長期間の拡大されたトラッ
キングホィールテストの間ドライバンドフォーメーショ
ンにより生ずる放電の影響に耐えられるかどうかの可能
性を評価するために準備された。
ンエラストマー絶縁体材料が長期間の拡大されたトラッ
キングホィールテストの間ドライバンドフォーメーショ
ンにより生ずる放電の影響に耐えられるかどうかの可能
性を評価するために準備された。
該絶縁体の芯部はガラス繊維で補強された環状脂肪族エ
ポキシからなる0.67インチの直径を有するロッドであっ
た。
ポキシからなる0.67インチの直径を有するロッドであっ
た。
標準的な金属性の高電圧用端部連結具が芯部ロッドの各
端部に設けられていた。エポキシ組成物は芯部の表面に
約0.25インチの厚みをもつ層を形成するよう成型され
た。総合的に形成された芯のカバーとシェッドが次で実
施例1のシリコーン組成物を用いて芯部上に成型され
た。芯部カバーの直径は1.25インチであった。シェッド
の数は4個でそれぞれのシェッドは3インチの直径をも
つ各シェッド間の距離は2インチであった。
端部に設けられていた。エポキシ組成物は芯部の表面に
約0.25インチの厚みをもつ層を形成するよう成型され
た。総合的に形成された芯のカバーとシェッドが次で実
施例1のシリコーン組成物を用いて芯部上に成型され
た。芯部カバーの直径は1.25インチであった。シェッド
の数は4個でそれぞれのシェッドは3インチの直径をも
つ各シェッド間の距離は2インチであった。
シェッドの上部表面は芯部に対し約55度の角度であり
又シェッドの下部表面は芯部に対し約90度の角度であ
った。
又シェッドの下部表面は芯部に対し約90度の角度であ
った。
又各端部連結具の間の総合もれ通路距離は12.5インチで
あった。
あった。
この絶縁体の設計比率は次の通りであった。
これ等4個の絶縁体がトラッキングホィールテストで評
価された。このテストにおいて、4個の絶縁体は互いに
直角になるよう半径方向に延展されるようにその一つの
端部をホィールに固着せしめた。ホィールはそれぞれの
絶縁体が与えられた場所に位置するように15秒間回転
される。
価された。このテストにおいて、4個の絶縁体は互いに
直角になるよう半径方向に延展されるようにその一つの
端部をホィールに固着せしめた。ホィールはそれぞれの
絶縁体が与えられた場所に位置するように15秒間回転
される。
第1の位置は浸漬位置である。浸漬タンクはその位置が
絶縁体をタンクの塩分含有溶液に沈められるようにホィ
ールの下部に置かれている。
絶縁体をタンクの塩分含有溶液に沈められるようにホィ
ールの下部に置かれている。
該塩水は30℃に加熱され、かつ1センチメートル当り
2000±500マイクロジーメンスの導電率を与えるために
1パーセントの食塩を含んでいた。
2000±500マイクロジーメンスの導電率を与えるために
1パーセントの食塩を含んでいた。
第2の位置はドリップ(水切り)位置である。ここでは
過剰の塩水が絶縁体から水切りされる。
過剰の塩水が絶縁体から水切りされる。
ドライバンドが漏れ電流密度が高い場合には形成され
る。高電流ドライバンドにわたるスパーキングは通常シ
ェッド材料に対しトラッキング又は/及び腐触を来すも
のである。
る。高電流ドライバンドにわたるスパーキングは通常シ
ェッド材料に対しトラッキング又は/及び腐触を来すも
のである。
第3の位置は付勢位置である。絶縁体を通して電圧を与
えるため絶縁体の外部端を電気的に接続させる。付勢期
間中ドライバンドに亘るスパーキングは成型枠取りはず
し線、シェッド間の連結部及び端部のシールに沿って集
中する。
えるため絶縁体の外部端を電気的に接続させる。付勢期
間中ドライバンドに亘るスパーキングは成型枠取りはず
し線、シェッド間の連結部及び端部のシールに沿って集
中する。
トラッキングは絶縁体の表面に沿って破損を生じさせ
る。腐触は水の浸入を来し、ロッドとシェッドの界面に
沿った電気的破損を来す。
る。腐触は水の浸入を来し、ロッドとシェッドの界面に
沿った電気的破損を来す。
第4の位置は冷却位置である。放電により加熱されたシ
ェッドの材料は冷却をうける。絶縁体の接着部分はこの
ようにして熱的サイクルに曝される。
ェッドの材料は冷却をうける。絶縁体の接着部分はこの
ようにして熱的サイクルに曝される。
本試験方法における多くの材料を用いたことによる経験
から、約0.5KV/インチのストレスレベルにおいて良
好なデザインを不良なものから区別するには60000サイ
クルが十分であることが判明した。
から、約0.5KV/インチのストレスレベルにおいて良
好なデザインを不良なものから区別するには60000サイ
クルが十分であることが判明した。
シリコーン絶縁体が20KVの試験電圧の下で(1.5KV
/インチ)テストされた場合表面の汚染によって約7000
サイクル後にフラッシュオーバーが発生した。このテス
ト方法においてはテストが継続される以前に絶縁体を洗
滌しておく必要がある。
/インチ)テストされた場合表面の汚染によって約7000
サイクル後にフラッシュオーバーが発生した。このテス
ト方法においてはテストが継続される以前に絶縁体を洗
滌しておく必要がある。
もし絶縁体が厳しいトラッキング或は腐触を示すようで
あればそのテストを中止し、絶縁体を洗浄滌後再びテス
トを続ければよい。
あればそのテストを中止し、絶縁体を洗浄滌後再びテス
トを続ければよい。
80,000サイクル後、絶縁体は取りはずされ、洗滌後検査
された。腐触或はトラッキングのいづれかにより証明さ
れるような材料的損害は全くなかった。
された。腐触或はトラッキングのいづれかにより証明さ
れるような材料的損害は全くなかった。
実施例3 試験用絶縁体は絶縁体の表面としてエポキシ組成物を用
いる従前の方法と本発明の方法とを比較するため準備さ
れた。絶縁体は環状脂肪族エポキシ組成物から成型され
た。芯部は直径0.67インチのガラス繊維で補強されたロ
ッドであった。標準的金属性高電圧端部連結具がその間
隔が7.5インチであるように芯部の各端部に設けられ
ていた。次でエポキシ組成物が3.0インチの直径を有
し相互の間隔が1.0インチである等間隔に隔てられて
設けられた7個のシェッドを形成するために芯部上に成
型された。芯部表面のカバーの直径は1.0インチであ
った。シェッドの上部表面は芯部に対して約55度の角
度であり又シェッドの下部表面は芯部に対し約90度の
角度であった。
いる従前の方法と本発明の方法とを比較するため準備さ
れた。絶縁体は環状脂肪族エポキシ組成物から成型され
た。芯部は直径0.67インチのガラス繊維で補強されたロ
ッドであった。標準的金属性高電圧端部連結具がその間
隔が7.5インチであるように芯部の各端部に設けられ
ていた。次でエポキシ組成物が3.0インチの直径を有
し相互の間隔が1.0インチである等間隔に隔てられて
設けられた7個のシェッドを形成するために芯部上に成
型された。芯部表面のカバーの直径は1.0インチであ
った。シェッドの上部表面は芯部に対して約55度の角
度であり又シェッドの下部表面は芯部に対し約90度の
角度であった。
総合的な端部連結具間の漏れ通路距離は16.25インチで
あった。この絶縁体をAとする。絶縁体Dである複製品
が作られた。
あった。この絶縁体をAとする。絶縁体Dである複製品
が作られた。
短い漏れ通路をもつエポキシ絶縁体は3個のシェッドを
取り除き3.0インチの直径を有するシェッドをシェッ
ド間の距離が2.0インチで等間隔で残るように成型を
修正して準備された。
取り除き3.0インチの直径を有するシェッドをシェッ
ド間の距離が2.0インチで等間隔で残るように成型を
修正して準備された。
該シェッドは上記のものと同一寸法で同一形状である。
総合的な端部連結具間の漏れ通路距離は12.5インチであ
った。これを絶縁体Bとする。この複製品をEとする。
この絶縁の設計比は次の通りである。
総合的な端部連結具間の漏れ通路距離は12.5インチであ
った。これを絶縁体Bとする。この複製品をEとする。
この絶縁の設計比は次の通りである。
本発明の方法に含まれるシリコーン絶縁体は、4個のシ
ェッドを有するエポキシ絶縁体を準備するために上記で
説明された4個のシェッド用型枠を用い実施例1の組成
物を成型することにより準備された。これを絶縁体Cと
し、その複製品をFとする。
ェッドを有するエポキシ絶縁体を準備するために上記で
説明された4個のシェッド用型枠を用い実施例1の組成
物を成型することにより準備された。これを絶縁体Cと
し、その複製品をFとする。
これ等6種類の絶縁体が上述したフォッグチャンバーの
中でテストされた。各絶縁体はフォッグチャンバーの中
心付近で垂直な位置関係で円形に懸り下げられた。
中でテストされた。各絶縁体はフォッグチャンバーの中
心付近で垂直な位置関係で円形に懸り下げられた。
各絶縁体の上端部は高電圧端子からその中心が懸り下げ
られている金属ホィールに接続されていた。
られている金属ホィールに接続されていた。
各絶縁体の下端部はテスト中において各絶縁体の表面上
を流れる電流を測定するのに使われる計測システムを通
して接地されていた。
を流れる電流を測定するのに使われる計測システムを通
して接地されていた。
チャンバー中に霧を発生するために使用されるスプレー
ノズルがチャンバーの中心に向けられていた。水は1セ
ンチメーター当り200マイクロジーメンスの導電率を持
っていた。又電圧は20キロボルトに設定されていた。
ノズルがチャンバーの中心に向けられていた。水は1セ
ンチメーター当り200マイクロジーメンスの導電率を持
っていた。又電圧は20キロボルトに設定されていた。
第2表は時間毎のテスト期間中におけるクーロンで表わ
される堆積電荷を示している。
される堆積電荷を示している。
シリコーン絶縁体における漏れ電流はフラッシュオーバ
ーを低減させるようなエポキシ絶縁体より低い数値を示
した。
ーを低減させるようなエポキシ絶縁体より低い数値を示
した。
実施例4 実施例1のシリコーン弾性体組成物は直径1インチのロ
ッドの形において評価される。比較用のロッド又準備さ
れた。
ッドの形において評価される。比較用のロッド又準備さ
れた。
組成物Bは120重量部のアルミニウムトリハイドレート
が充填されたエチレン−プロピレン−ダイマーのポリマ
ーであった。
が充填されたエチレン−プロピレン−ダイマーのポリマ
ーであった。
組成物Cはベースに対する100重量部のシリコーン組成
物とベースに付加された120重量部のアルミニウムトリ
ハイドレート充填剤である。ベースは約0.4モルパー
セントのビニル基と残りがジメチルビニルシロキシ末端
封鎖剤を伴ったメチル基とを有しウイリアムズ可塑度が
150である100重量部のポリジオルガノシロキサンゴムと
7.5重量部の25℃における粘度が約0.04Pa・sでかつ
充填剤の処理剤として4重量パーセントのシリコーン結
合を有するヒドロキシル基を含んだヒドロキシル末端封
鎖ポリジメチルシロキサン溶液と23重量部の表面積が
約250m2/gであるヒュームシリカとから構成されてい
る。該ベースは混合され次で充填剤を処理するため加熱
されたその後アルミニウムトリハイドレートがベースに
混合される前に揮発成分は除かれる。
物とベースに付加された120重量部のアルミニウムトリ
ハイドレート充填剤である。ベースは約0.4モルパー
セントのビニル基と残りがジメチルビニルシロキシ末端
封鎖剤を伴ったメチル基とを有しウイリアムズ可塑度が
150である100重量部のポリジオルガノシロキサンゴムと
7.5重量部の25℃における粘度が約0.04Pa・sでかつ
充填剤の処理剤として4重量パーセントのシリコーン結
合を有するヒドロキシル基を含んだヒドロキシル末端封
鎖ポリジメチルシロキサン溶液と23重量部の表面積が
約250m2/gであるヒュームシリカとから構成されてい
る。該ベースは混合され次で充填剤を処理するため加熱
されたその後アルミニウムトリハイドレートがベースに
混合される前に揮発成分は除かれる。
組成物は1インチの直径をもつロッドに成型された。6
インチの長さの試料片は各端部をカーボンディスク電極
と該ディスクを通してステンレススチール製ねじを該ロ
ッドの端部に押し込むことにより連結した。その試料は
次でフォッグチャンバーの中心部において上記電極の上
端部を共通の高電圧通路(bus)と接続することによ
り円形に懸り下げた。フォッグチャンバーは3.2mmの
厚さのプレキシガラスシートから作られた2.54メーター
の側部長さを有する側板を有する隔室であった。霧はI
EC発行507,1975に従って作られたノズルにより作られ
た。該フォッグチャンバーは7.94mmの内部直径を有しか
つ2.54mの直径をもつリングを形成している1組のステ
ンレススチール製チューブ上に等間隔に配置された4個
のノズルを持っていた。
インチの長さの試料片は各端部をカーボンディスク電極
と該ディスクを通してステンレススチール製ねじを該ロ
ッドの端部に押し込むことにより連結した。その試料は
次でフォッグチャンバーの中心部において上記電極の上
端部を共通の高電圧通路(bus)と接続することによ
り円形に懸り下げた。フォッグチャンバーは3.2mmの
厚さのプレキシガラスシートから作られた2.54メーター
の側部長さを有する側板を有する隔室であった。霧はI
EC発行507,1975に従って作られたノズルにより作られ
た。該フォッグチャンバーは7.94mmの内部直径を有しか
つ2.54mの直径をもつリングを形成している1組のステ
ンレススチール製チューブ上に等間隔に配置された4個
のノズルを持っていた。
耐食性の供給ポンプが塩水を貯蔵槽からノズルに供給し
た。流量比率は0.58MPa(80psig)に調整された。水はテ
スト中再利用された。テスト用の電力供給は10KVA、
0から208V可変電圧(variac)により制御される14.4KV
/230V、37.5KVAの配電変圧器であった。
た。流量比率は0.58MPa(80psig)に調整された。水はテ
スト中再利用された。テスト用の電力供給は10KVA、
0から208V可変電圧(variac)により制御される14.4KV
/230V、37.5KVAの配電変圧器であった。
使用されたデーター採取システムは1982年のElectrical
Institution Conferenceの1EEE国際シンポジウムにお
けるReynart,Orbeck、及びSeifferly等の「塩−フォッ
グチャンバーテストによる屋外高電圧絶縁体への適用の
ためのポリマーシステムに関する評価」の試料(Evaluat
ion of Polymer System for Outdoor H.V. Insulators
Application by Salt-fog Chamber Testing)の中に示さ
れているものと同じであった。得られたデーターは積極
的及び消極的な各半周期の双方について電流値について
のピーク値の平均値を即時に与えるものであった。
Institution Conferenceの1EEE国際シンポジウムにお
けるReynart,Orbeck、及びSeifferly等の「塩−フォッ
グチャンバーテストによる屋外高電圧絶縁体への適用の
ためのポリマーシステムに関する評価」の試料(Evaluat
ion of Polymer System for Outdoor H.V. Insulators
Application by Salt-fog Chamber Testing)の中に示さ
れているものと同じであった。得られたデーターは積極
的及び消極的な各半周期の双方について電流値について
のピーク値の平均値を即時に与えるものであった。
電流は累積的電荷をうるためテスト期間中積算された。
電流値についての予めセットされた制限間における漏れ
電流パルスの数も又得られた。
電流値についての予めセットされた制限間における漏れ
電流パルスの数も又得られた。
6インチ長さのロッドは1インチ当り1.5KVのストレ
スを与えるために9KVrmsの電圧に曝された。第1のテ
ストにおいてフォッグの導電率は給水柱からの水を使用
して得たもので1センチメートル当り250マイクロジー
メンスであった。
スを与えるために9KVrmsの電圧に曝された。第1のテ
ストにおいてフォッグの導電率は給水柱からの水を使用
して得たもので1センチメートル当り250マイクロジー
メンスであった。
第2のテストにおいては導電率を増加するため食塩を使
用し導電率を1センチメートル当り1000マイクロジーメ
ンスとした。
用し導電率を1センチメートル当り1000マイクロジーメ
ンスとした。
テストサイクルは霧及び電圧ストレスの下において16
時間とそれに続く霧或は電圧ストレスのない状態での8
時間とから構成されている。テストは30サイクルの間
実行された。テストの結果は、250マイクロジーメンス
の霧に対するものとして第3表に示されている。
時間とそれに続く霧或は電圧ストレスのない状態での8
時間とから構成されている。テストは30サイクルの間
実行された。テストの結果は、250マイクロジーメンス
の霧に対するものとして第3表に示されている。
この電圧レベルにおいて1000マイクロジーメンスを用い
て評価されたロッドは継続する連続的なドライバンド放
電からの厳しいアーキングに曝される。この厳しいアー
キングは使用されている組成物によりトラッキングと腐
触を生じさせる。上述したシリコーンロッドはテストさ
れた時でも重大なトラッキングや腐食はなかったが、他
のタイプのポリマーはもとより、他の充填剤の量とかタ
イプを有する他の組成物のロッドはこのテストにおいて
破損するほど腐触された。
て評価されたロッドは継続する連続的なドライバンド放
電からの厳しいアーキングに曝される。この厳しいアー
キングは使用されている組成物によりトラッキングと腐
触を生じさせる。上述したシリコーンロッドはテストさ
れた時でも重大なトラッキングや腐食はなかったが、他
のタイプのポリマーはもとより、他の充填剤の量とかタ
イプを有する他の組成物のロッドはこのテストにおいて
破損するほど腐触された。
1000マイクロジーメンスの霧に対するテストの結果は第
4表に示されている。
4表に示されている。
ロッドの表面組成はESCAとして広く知られているX線誘
電光電子分光のような公知の分析技術を用いて決定され
る。
電光電子分光のような公知の分析技術を用いて決定され
る。
この技術において試料から放出された低エネルギーの電
子は表面に近い1〜10原子層(one-to-ten atomlayer)
領域における組成物情報を提供するために分析される。
子は表面に近い1〜10原子層(one-to-ten atomlayer)
領域における組成物情報を提供するために分析される。
高真空システム内の固形試料は高度集束状X線の照射を
うける。コアー(内部殻)電子は試料中の全ての原子か
ら放出され、そしてこれ等の光放出電子に関する運動エ
ネルギーの分析は多くの重要な特性に関する情報を提供
する。
うける。コアー(内部殻)電子は試料中の全ての原子か
ら放出され、そしてこれ等の光放出電子に関する運動エ
ネルギーの分析は多くの重要な特性に関する情報を提供
する。
測定されたピークの正確な位置は存在する要素だけでな
くそれ等の化学的環境も識別する。
くそれ等の化学的環境も識別する。
このテストはその化学的組成物により表面の性質を決定
する。霧に曝した後のロッドの表面テストの結果は第5
表に示されている。霧に曝す前のシリコーンロッドは約
25パーセントの酸素、25パーセントのシリコーン及
び50パーセントの炭素をもつという分析結果が得られ
るであろう。
する。霧に曝した後のロッドの表面テストの結果は第5
表に示されている。霧に曝す前のシリコーンロッドは約
25パーセントの酸素、25パーセントのシリコーン及
び50パーセントの炭素をもつという分析結果が得られ
るであろう。
ナトリウムとカルシウムの塩水の霧から来たものと推定
される。又アルミニウムは組成物中のアルミニウムトリ
ハイドレート充填剤から来たものである。EPDMにおける
シリカはテスト中の水の汚れから来たものにちがいな
い。
される。又アルミニウムは組成物中のアルミニウムトリ
ハイドレート充填剤から来たものである。EPDMにおける
シリカはテスト中の水の汚れから来たものにちがいな
い。
もしナトリウムとカルシウムの量が表示のように使用さ
れるとすればテストはEPDMが両レベルにおける霧汚染の
間その表面に高度の汚染が蓄積されるということを示し
ている。この汚染物の堆積はフラッシュオーバーを来す
であろうより多くの漏れ電流とドライバンド活動を生じ
させることになろう。
れるとすればテストはEPDMが両レベルにおける霧汚染の
間その表面に高度の汚染が蓄積されるということを示し
ている。この汚染物の堆積はフラッシュオーバーを来す
であろうより多くの漏れ電流とドライバンド活動を生じ
させることになろう。
耐トラック性はASTM(American Saciety for Testing an
d Materials)のASTM D 2303に従って決定された。その
最近版はASTM標準の年間10セクションで見られる。シ
リコーン材料の高い水反撥性の故に試料は汚染された溶
液が試料の表面を流れ下るように反転された。汚染ポン
プは1分間8ストロークの比率で操作され0.60ml/分の
流量を形成した。電圧は4.5KVに設定され試料はタイ
ム−トラック方法の下でテストされた。シリコーン組成
物はこのテストのために約0.075インチの厚さを持った
厚板に成型された。テストはその時になっても試料はま
だ破損されなかったので4000分後に中止された。
d Materials)のASTM D 2303に従って決定された。その
最近版はASTM標準の年間10セクションで見られる。シ
リコーン材料の高い水反撥性の故に試料は汚染された溶
液が試料の表面を流れ下るように反転された。汚染ポン
プは1分間8ストロークの比率で操作され0.60ml/分の
流量を形成した。電圧は4.5KVに設定され試料はタイ
ム−トラック方法の下でテストされた。シリコーン組成
物はこのテストのために約0.075インチの厚さを持った
厚板に成型された。テストはその時になっても試料はま
だ破損されなかったので4000分後に中止された。
第1図は本発明における要求される1つのシェッドを有
する典型的な絶縁体を示す。更に任意的なシェッドも示
されている。又該絶縁体の形状を定義するために使用さ
れるディメンジョンも示されている。 第2図は他のシェッド形状を有す図である。 1…ロッド、 2…端部連結具、 3…ロッドのカバー、4…シェッド。
する典型的な絶縁体を示す。更に任意的なシェッドも示
されている。又該絶縁体の形状を定義するために使用さ
れるディメンジョンも示されている。 第2図は他のシェッド形状を有す図である。 1…ロッド、 2…端部連結具、 3…ロッドのカバー、4…シェッド。
Claims (8)
- 【請求項1】(1)非導電性の繊維で補強された高分子
重合体からなる支持ロッド、 (2)該支持ロッドの両端に固接された金属性支持連結
具と、 (3)該支持ロッドと該各金属性支持連結具に固着され
た耐アーク性シリコーン弾性体物質からなる連続したカ
バーであって該カバーは少くとも1つのシェッドを設け
るよう形作られ、そのため以下の比率が採用されてお
り、 ここでDsはシェッドの直径、Lsは等間隔に置かれて
いる隣接するシェッドの間の距離、Lcは支持連結具間
の漏れ距離、Laは支持連結具間の直線距離及びDcは
支持ロッド上のカバーの直径をそれぞれ表わし、かつシ
リコーン弾性体カバーは a)ウイリアムズ可塑度が50以上であるジメチルビニ
ルシロキシ末端封鎖ポリジメチルシロキサン70乃至9
0重量部、 b)ウイリアムズ可塑度が25以上であり、 98モルパーセントのジメチルシロキサン単位と2モル
パーセントのメチルビニルシロキサン単位とを有するジ
メチルビニルシロキシ末端封鎖ポリジオルガノシロキサ
ン10乃至30重量部、 c)50m2/g以上の表面積を有しかつ上記(a)及
び(b)の反応を抑制する表面処理を施したヒュームシ
リカ13乃至17重量部 d)メチル基及びビニル基を有し、かつ約10重量パー
セントのビニル基と約16重量パーセントの水酸基を有
する水酸基で末端封鎖されたポリジオルガノシロキサン
1.5乃至2.5重量部及び e)アルミニウム三水化物90乃至220重量部からなる
混合物から構成される組成物を少くとも100℃の温度で
少なくとも30分間加熱処理せしめて得られる架橋組成
物から構成されていることを特徴とする屋外における対
地電圧が15キロボルト以上の電圧において使用される
高性能高電圧電気絶縁体。 - 【請求項2】2もしくはそれ以上のシェッドが存在する
ことを特徴とする請求項1項記載の絶縁体。 - 【請求項3】シェッドの上部表面と下部表面が平行であ
ることを特徴とする請求項1記載の絶縁体。 - 【請求項4】シェッドの表面が芯部の中心線に対して3
0度乃至90度であることを特徴とする請求項1記載の
絶縁体。 - 【請求項5】a)ウイリアムズ可塑度が50以上である
ジメチルビニルシロキシ末端封鎖ポリジメチルシロキサ
ン70乃至90重量部、 b)ウイリアムズ可塑度が25以上であり、 98モルパーセントのジメチルシロキサン単位と2モル
パーセントのメチルビニルシロキサン単位とを有するジ
メチルビニルシロキシ末端封鎖ポリジオルガノシロキサ
ン10乃至30重量部、 c)50m2/g以上の表面積を有しかつ上記(a)及
び(b)の反応を抑制する表面処理を施したヒュームシ
リカ13乃至17重量部 d)メチル基及びビニル基を有し、かつ約10重量パー
セントのビニル基と約16重量パーセントの水酸基を有
する水酸基で末端封鎖されたポリジオルガノシロキサン
1.5乃至2.5重量部及び e)アルミニウム三水化物90乃至220重量部からなる
混合物から構成されていることを特徴とする高電圧電気
絶縁体用シリコーン弾性体組成物。 - 【請求項6】(a)が80乃至90重量部のウイリアム
ズ可塑度が約80であるジメチルビニルシロキシ末端封
鎖ポリジメチルシロキサンであり、 (b)が1乃至20重量部の98モルパーセントのジメ
チルシロキサン単位と2モルパーセントのメチルビニル
シロキサン単位とからなるウイリアムズ可塑度が約28
であるジメチルビニルシロキシ末端封鎖ポリジオルガノ
シロキサンであり、 (c)が13乃至17重量部の表面積が約250m2/gで
あるヒュームシリカと7乃至9重量部の25℃における
粘度が約0.04Pa・sでシリカ表面を処理するための約4
重量パーセントのシリコーン結合ヒドロキシル基を有す
るヒュームシリカであり、 (d)が1.5乃至2.5重量部のメチル及びビニル基
を有しておりかつ約10重量パーセントのビニル基と約
16重量パーセントのヒドロキシル基とを有するヒドロ
キシル末端封鎖のポリジオルガノシロキサンであり、 (e)が180乃至220重量部のアルミニウム三水化物であ
ることを特徴とする請求項5記載のシリーコン弾性体組
成物。 - 【請求項7】(a)が80乃至90重量部のウイリアム
ズ可塑度が約80であるジメチルビニルシロキシ末端封
鎖ポリジメチルシロキサンであり、 (b)が1乃至20重量部の98モルパーセントのジメ
チルシロキサン単位と2モルパーセントのメチルビニル
シロキサン単位とからなるウイリアムズ可塑度が約28
であるジメチルビニルシロキシ末端封鎖ポリジオルガノ
シロキサンであり、 (c)が13乃至17重量部の表面積が約250m2/gで
あるヒュームシリカと7乃至9重量部の25℃における
粘度が約0.04Pa・sでシリカ表面を処理するための約4
重量パーセントのシリコーン結合ヒドロキシル基を有す
るヒュームシリカであり、 (d)が1.5乃至2.5重量部のメチル及びビニル基
を有しておりかつ約10重量パーセントのビニル基と約
16重量パーセントのヒドロキシル基とを有するヒドロ
キシル末端封鎖ポリジオルガノシロキサンであり、 (e)が180乃至220重量部のアルミニウム三水化物であ
ることを特徴とする請求項1記載の絶縁体。 - 【請求項8】汚染された状況での配電に際し1.0KV/
インチか或はそれ以上の平均ストレスで使用されること
を特徴とする請求項1記載の絶縁体。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US9171 | 1987-01-30 | ||
| US07/009,171 US4749824A (en) | 1987-01-30 | 1987-01-30 | High voltage insulators |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63193413A JPS63193413A (ja) | 1988-08-10 |
| JPH069129B2 true JPH069129B2 (ja) | 1994-02-02 |
Family
ID=21736006
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1275088A Expired - Fee Related JPH069129B2 (ja) | 1987-01-30 | 1988-01-25 | 電気絶縁体および電気絶縁体用シリコーン組成物 |
Country Status (10)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4749824A (ja) |
| EP (1) | EP0278606B1 (ja) |
| JP (1) | JPH069129B2 (ja) |
| KR (1) | KR950005855B1 (ja) |
| BR (1) | BR8800377A (ja) |
| DE (1) | DE3884004T2 (ja) |
| DK (1) | DK163154C (ja) |
| ES (1) | ES2006069A6 (ja) |
| MX (1) | MX166229B (ja) |
| NO (1) | NO168007C (ja) |
Families Citing this family (26)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0221515A (ja) * | 1988-07-07 | 1990-01-24 | Ngk Insulators Ltd | ブッシング用磁器製碍管 |
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