JPH069129U - 遠心乾燥装置 - Google Patents
遠心乾燥装置Info
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- JPH069129U JPH069129U JP5315592U JP5315592U JPH069129U JP H069129 U JPH069129 U JP H069129U JP 5315592 U JP5315592 U JP 5315592U JP 5315592 U JP5315592 U JP 5315592U JP H069129 U JPH069129 U JP H069129U
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 大径化した半導体基板に対しても十分に小型
であると共に、回転ムラ防止のための枚数調整を不要と
し、しかも乾燥時間の短縮を達成した遠心乾燥装置を提
供すること。 【構成】 洗浄後の複数枚の半導体基板3を整列して且
つ直接収容する基板保持手段4を設け、該基板保持手段
4の回転中心を該基板保持手段上の半導体基板3の中心
と略一致するようになし、上記の効果を得た。
であると共に、回転ムラ防止のための枚数調整を不要と
し、しかも乾燥時間の短縮を達成した遠心乾燥装置を提
供すること。 【構成】 洗浄後の複数枚の半導体基板3を整列して且
つ直接収容する基板保持手段4を設け、該基板保持手段
4の回転中心を該基板保持手段上の半導体基板3の中心
と略一致するようになし、上記の効果を得た。
Description
【0001】
本考案は遠心乾燥装置、詳しくは洗浄後のシリコンウエハー等半導体基板の表 面に付着している水分を遠心力により飛散させることにより半導体基板を乾燥す る遠心乾燥装置に関する。
【0002】
従来、この種の遠心乾燥装置として、図11に示すものが知られている。
【0003】 この従来の遠心乾燥装置は、水平面に沿って回転駆動されるターンテーブル1 01と、該ターンテーブル101の外周部適宜位置に取り付けられた複数個のク レードル102とを備え、洗浄後のシリコンウエハー等半導体基板103がその 主面同士が平行となるように整列して複数枚収納されたカセット104を各クレ ードル102に上方からセットし、各クレードル102を支軸105を中心とし て鉛直面に沿って90°下方へ回動して各半導体基板103を水平状態に保ち、 その後ターンテーブル101を回転させるように構成されている。
【0004】
しかしながら、上記した従来の遠心乾燥装置においては、上述したような占有 スペースが比較的大きいカセット104及びクレードル102を使用し、しかも これらを大径のターンテーブル101上に分散して配置しているため、大径化し てきたシリコンウエハー例えば8インチサイズのシリコンウエハーの乾燥用とし て利用するためには装置全体を大型化しなればならないという問題が生じている 。
【0005】 また、ターンテーブル101の回転ムラを防止するためには、各クレードル1 02に加わる荷重を均等にすることが望ましく、そのためには各カセット104 に収容される半導体基板103の枚数を同数とする必要があり、枚数の調整が煩 雑であるという欠点もある。なお、図11における他の参照符号106は回転軸 を、107はプーリーを、108はモータをそれぞれ表わしている。
【0006】 本考案は上記従来技術の欠点に鑑みてなされたものであって、大径の半導体基 板に対する乾燥用としても十分に小型であると共に、洗浄後の半導体基板をセッ トする際に上記のような半導体基板の枚数調整を行う必要がなく、しかも乾燥時 間の短縮を達成した遠心乾燥装置を提供することを目的とする。
【0007】
本考案による遠心乾燥装置は、複数枚の半導体基板をその主面同士が平行とな るように整列して保持する基板保持手段と、前記基板保持手段を回転自在に支持 し且つ回転させる回転駆動機構とを備え、前記基板保持手段の回転中心が前記基 板保持手段により保持された半導体基板の中心に略一致するように構成されたも のである。
【0008】
以下、本考案の一実施例を図1乃至図10に基づいて説明する。
【0009】 この実施例に係る遠心乾燥装置は、シリコンウエハー等の半導体基板を洗浄し た後の乾燥工程で使用されるものである。
【0010】 図1に示すように、当該遠心乾燥装置1は、矢印a1 ,a2 ,a3 ,a4 にて 示す経路を移動する搬送手段2の移動ルートの下方に設置されている。ここで、 搬送手段2は、前工程である洗浄工程で洗浄された複数枚の半導体基板3をその 主面同士が平行となるように整列して把持しながら遠心乾燥装置1の上方位置ま で矢印a1 で示すように接近移動し、次に遠心乾燥装置1に向かって矢印a2 で 示すように下降し、半導体基板3を基板保持手段4に受け渡した後、元の位置ま で矢印a3 で示すように上昇し、次に矢印a4 で示すように離間移動する。なお 、基板保持手段4は、上記搬送手段2より受け渡された各半導体基板3を、整列 状態を維持して保持する。
【0011】 図2乃至図4にも示すように、遠心乾燥装置1は、床面上に設置される架台5 と、該架台5上に取り付けられた乾燥室6とを備えている。乾燥室6の下部は開 口しており、該開口部には排水及び排気ダクト7が連結されている。
【0012】 乾燥室6の上部は開口しており、該開口部の上方には開閉蓋8が配置され且つ 架台5に対してヒンジ結合されており、通常時、開閉蓋8は乾燥室6の開口部を 閉状態にする。図3及び図4に示すように、開閉蓋8のヒンジ部近傍の下方には 、開閉蓋8を開閉するための開閉蓋駆動機構9が配置されている。開閉蓋駆動機 構9は、架台5に取り付けられたシリンダ10により上下方向へ前進、後退する プッシュロッド11を備える。
【0013】 図5乃至図8から特に明らかなように、乾燥室6の内部には、前述の基板保持 手段4が配置されている。この基板保持手段4は、基体部としての一対の側板1 2,13と、各々棒状に形成された3本の基板保持部材14と、2本のチャック アーム15と、ロックピン16とを備えている。
【0014】 各側板12及び13は、それぞれ円形に形成され、鉛直状態で互いに対向して 配置されている。
【0015】 一方の側板12の外面には、回転軸心が側板12の中心位置と直交するように シャフト17が、また他方の側板13の外面には、該シャフト17と同様な他の シャフト18が、それぞれ固着されている。両シャフト17及び18の軸心は互 いに一致しており、また、後述するように基板保持手段4により保持された半導 体基板3の中心と略一致している。両シャフト17,18は基板保持手段4を回 転自在に支持し且つ回転させる回転駆動機構19の一部を構成しており、前者の シャフト17は、架台5に取り付けられた軸受20により回転可能に支持されて いる。図3及び図4に示すように、前者のシャフト17の先端部はカップリング 21を介してサーボモータ22の出力軸23に連結されている。前者のシャフト 17は、シールパッキン24により乾燥室6のシール性が確保されるようにして 、乾燥室6の穴25に挿通されている。後者のシャフト18は架台5に取り付け られた軸受26により回転可能に支持されている。後者のシャフト18は、前者 のシャフト17と同様に乾燥室6の他の穴27に挿通されている。図3に示すよ うに、前者のシャフト17の下方には架台5に取り付けられた位置決めシリンダ 28が配置されている。位置決めシリンダ28は、サーボモータ22の運転停止 後、基板保持手段4を図3に示すような状態、即ち、基板保持部材14が下方に 、チャックアーム15が上方に相対的に位置して初期状態に位置決めするもので ある。
【0016】 図5から明らかなように、上記他方の側板13の内面には、チャックアーム1 5の先端部の下方への移動を規制するストッパー29が2つ形成されている。
【0017】 ここで、基板保持手段4の各構成部材について詳述する。
【0018】 まず、3本設けられた基板保持部材14は、各半導体基板3の整列方向におい て延在すべく互いに平行に配置され、且つ両側板12、13間に架設されている 。なお、両側板12及び13は、山形鋼などよりなる連結部材(参照符号は付し ていない)によって相互連結されている。
【0019】 図7及び図8から明らかなように、上記各基板保持部材14は各々その断面形 状が例えば矩形であるように形成されており、その長手方向において等間隔にて 複数の受け溝(図では明瞭に表していない)が並設されている。これら受け溝は 、半導体基板3の外周部を収容してこれらを受けるものであり、3本の基板保持 部材14についてそれら相互間における長手方向の同一位置に形成されている。 なお、本実施例においては基板保持部材14が3本設けられているが、その本数 について限定するものではない。
【0020】 一方、図6から明らかなように、チャックアーム15は、各半導体基板3を挾 んで上記基板保持部材14とは反対側に配置されて該各半導体基板3を基板保持 部材14に向けて押圧するための押え部材として作用する2本の主平行棒31と 、これらの主平行棒31に対し直交する2本の副平行棒32とから略井桁状に形 成されている。各主平行棒31の基部31aはL字状に形成されている。基部3 1aは一方の側板12に形成された穴33を通って側板12の外側に一部突出し ている。基部31aは水平軸34に固定されている。この水平軸34は、側板1 2の外面に固定された複数のホールダー35により回動可能に保持されている。 該水平軸34はチャックアーム15を開閉するチャックアーム駆動機構36の一 部を構成している。各主平行棒31の先端部は、ストッパー29と当接可能とさ れ、下方への移動が規制されている。チャックアーム15は、通常、図5におい て実線で示すような状態(以下閉状態という。)にある。
【0021】 図4乃至図8から明らかなように、上記水平軸34の一方の端部には垂直にレ バー37が延設されている。レバー37の先端部の前方には、プッシュロッド3 8が配されている。プッシュロッド38は、図10に示すように、架台5に取り 付けられたシリンダ39により水平方向へ前進、後退する。シリンダ39が引き 戻し状態にある時、プッシュロッド38とレバー37の先端部との間は所定間隔 に保たれている。
【0022】 なお、図5乃至図7に示すように、上記の各主平行棒31は、チャックアーム 15の閉状態時に半導体基板3を損傷することなく押圧できるよう表面にラバー 40が被覆されている。
【0023】 一方、図6から明らかなように、ロックピン16は全体として略コ字状に形成 されており、2つの互いに平行なロック部41と両ロック部41を連結する連結 部42とからなる。
【0024】 各ロック部41の先端には、主平行棒31の先端部の段差部43(図5参照) に侵入可能なローラ44が設けられている。各ロック部41は、側板13に固設 されたストッパー29の上方近傍に形成された穴45を覆うようにして側板13 の外面に取り付けられたホールダー46により、上記穴45を通って側板13の 内外にシャフト17,18の軸心と平行に前進、後退をすることができるよう保 持されている。図5に示すように、各ロック部41には円周方向に沿って溝47 が形成されており、また、各ホールダー46の内部には、この溝47に係合し得 るボール(参照符号は付さない)と該ボールを溝47に向けて付勢する圧縮ばね 48が配設されており、ロック部41が前端位置に来たとき、圧縮ばね48の付 勢力により該ボールが溝47内に侵入してロック部41をロック状態に保持し、 チャックアーム15の主平行棒31の先端部をストッパー29に押圧した状態と してチャックアーム15をロックする。
【0025】 図4乃至図6並びに図8に示すように、上記した連結部42にはL字状のハン ドル部49が設けられている。
【0026】 ロックピン16のこのハンドル部49と対向する水平方向の位置には、ロック ピン16を前進、後退させるロックピン駆動機構50が配されている。図9から 明らかな如く、ロックピン駆動機構50は、ロックピン16のハンドル部49と 対向し、先端にL字状のフック部51を有する可動アーム52を備える。可動ア ーム52は、乾燥室6に形成された穴53を覆うようにして取り付けられた軸受 54により、上記穴53を通ってシャフト17,18の軸心と平行に前進、後退 をすることができるよう保持されている。可動アーム52の基部52aはシリン ダ55のロッド56と連結されている。シリンダ55は架台5に取り付けられて いる。可動アーム52の基部52aには、ギヤ57が固定されている。ギヤ57 はロータリーアクチュエータ58のギヤ59と噛み合っている。ロータリーアク チュエータ58は、シリンダ55のロッド56に固定されたプレート60に取り 付けられている。
【0027】 次に、上記のように構成された遠心乾燥装置1の動作の一例を順に説明する。
【0028】 (1) 第1回目の遠心乾燥 半導体基板搬入 洗浄後の半導体基板3を初めて遠心乾燥させる場合には、開閉蓋8は閉状態に あり、チャックアーム15はアンロックされた閉状態にあり、また、基板保持手 段4は、図5に示すような初期状態にある。 このような状態において、半導体基板3を搬入するにあたっては、まず、開閉 蓋駆動機構9のシリンダ10を突出動作させる。シリンダ10が突出動作を開始 すると、プッシュロッド11が上方へ前進し、それまで閉状態にあった開閉蓋8 がヒンジ部を支点に押し上げられ、開閉蓋8が開く。開閉蓋8が開いた後は、シ リンダ10を突出状態に維持し、開閉蓋8を開状態に保持する。 開閉蓋8が開いた後、チャックアーム駆動機構36のシリンダ39を突出動作 させる。シリンダ39が突出動作を開始すると、プッシュロッド38が水平方向 へ前進し、レバー37の先端部を押圧し、水平軸34が回動し、それまで閉状態 にあったチャックアーム15が上方へ回動し、チャックアーム15は開く。チャ ックアーム15が開いた後は、シリンダ39を突出状態に維持し、チャックアー ム15を開状態に保持する。 上記のように開閉蓋8及びチャックアーム15を共に開状態に保持した状態で 、搬送手段2を図1に示す矢印a1 のように接近移動させ、次に矢印a2 のよう に下降させ、半導体基板3を各基板保持部材14上にセットする。半導体基板3 を基板保持部材14上にセットした後は、搬送手段2を矢印a3 のように上昇さ せ、次に矢印a4 のように離間移動させる。
【0029】 半導体基板固定 次に、チャックアーム駆動機構36のシリンダ39を引き戻し動作させる。シ リンダ39が引き戻し動作を開始すると、プッシュロッド38が後退し、チャッ クアーム15は閉じ、主平行棒31の先端部がストッパー29と当接する。 次に、ロックピン駆動機構50のシリンダ55を突出動作させる。シリンダ5 5が突出動作を開始すると、可動アーム52は前進し、ロックピン16の連結部 42を押圧し、ロックピン16のロック部41が前進し、圧縮ばね48の付勢力 によってボール(参照符号は付していない)がロック部41の溝47内に侵入し 、ロックピン16のローラ44が主平行棒31の先端部の段差部43に侵入し、 主平行棒31の先端部をストッパー29に押圧し、チャックアーム15はロック される。チャックアーム15がロックされると、シリンダ55を引き戻し動作さ せ、可動アーム52を元の位置まで戻す。 次に、開閉蓋駆動機構9のシリンダ10を引き戻し動作させる。シリンダ10 が引き戻し動作を開始すると、プッシュロッド11が下方へ後退し、開閉蓋8は 閉じる。
【0030】 半導体基板回転 次に、サーボモータ22を始動する。サーボモータ22が始動されると、シャ フト17,18が回転し、基板保持手段4は回転する。基板保持手段4の回転中 心と半導体基板3の中心が略一致せられており、この回転時、半導体基板3は略 その中心を軸心として回転する。半導体基板3の回転により、半導体基板3に遠 心力が作用し、半導体基板3の表面に付着している水分が飛散する。 なお、図7に示すように、基板保持手段4の回転中心62と半導体基板3の中 心63とは極く僅かの距離eを隔てられており、これによって半導体基板3の中 心部に水分が残存することが防止される。但し、これら回転中心62及び中心6 3を互いに完全に一致させてもよい。
【0031】 半導体基板搬出 半導体基板3の表面から水分が十分に取り除かれたとき、サーボモータ22を 停止する。そして、サーボモータ22が完全に停止した後、位置決めシリンダ2 8により、基板保持手段4を初期状態に位置決めする。 次に、ロックピン駆動機構50のシリンダ55を突出動作させ、可動アーム5 2を前端位置まで前進させた後、ロータリーアクチュエータ58を所定角度だけ 正転させ、可動アーム52のフック部51をロックピン16のハンドル部49に 係合させ、シリンダ55を引き戻し動作させ、可動アーム52を元の位置まで後 退させる。この可動アーム52の後退に従いロックピン16は後退し、チャック アーム15はアンロックされる。そして、ロータリーアクチュエータ58を同一 角度だけ逆転させ、可動アーム52とロックピン16との係合を解除する。 次に、上述した半導体基板搬入工程と同様、開閉蓋8及びチャックアーム15 をそれぞれ開いて開状態に維持し、搬送手段2により基板保持部材14上の乾燥 後の半導体基板3を搬出する。
【0032】 (2) 第2回目以降の遠心乾燥 開閉蓋8及びチャックアーム15を共に開状態に維持した状態で、洗浄後の半 導体基板3を搬送手段2により基板保持部材14上に搬入させる。そして、上述 した第1回目の遠心乾燥における上記〜に記載した動作を行なう。以後、同 様な動作を繰り返し行なう。 なお、これまでの説明から明らかなように、上記基板保持手段4は、夫々棒状 の形態を有する基板保持部材14及びチャックアーム15から成る。このように 棒状の部材によって半導体基板3を保持して回転させる故に、水分はこれら棒状 部材の間隙を通じて有効に飛散する。また、かかる構成を採用することによって 基板保持手段4の重量を軽くすることが出来る。
【0033】
以上説明したように、本考案によれば、各半導体基板を基板保持手段により直 接保持し、しかも該基板保持手段の回転中心が該基板保持手段上の半導体基板の 中心に略一致せられている。かかる構成の故、従来用いられている基板収納用の カセットが不要になるなどの点から大径の半導体基板に対する乾燥用としても十 分に小型であり、しかも洗浄後の半導体基板をセットする際に従来のような半導 体基板の枚数調整をしなくても回転ムラを防止することが可能になるという効果 がある。 また、従来要していたカセットの乾燥時間分が短縮されることから、半導体基 板の乾燥が迅速に行われるという効果がある。
【図1】図1は、本考案の実施例としての遠心乾燥装置
と搬送手段を示す一部断面図を含む正面図である。
と搬送手段を示す一部断面図を含む正面図である。
【図2】図2は、図1に示した遠心乾燥装置の一部断面
を含む正面図である。
を含む正面図である。
【図3】図3は、図1及び図2に示した遠心乾燥装置の
一部断面を含む右側面図である。
一部断面を含む右側面図である。
【図4】図4は、図1乃至図3に示した遠心乾燥装置の
一部断面を含む平面図である。
一部断面を含む平面図である。
【図5】図5は、図3に示した構成の一部の拡大図であ
る。
る。
【図6】図6は、図4に示した構成の一部の拡大図であ
る。
る。
【図7】図7は、図4に関するA−A矢視図である。
【図8】図8は、図4に関するB−B矢視図である。
【図9】図9は、図5に関するC−C矢視図である。
【図10】図10は、図4に関するD−D矢視図であ
る。
る。
【図11】図11は、従来の遠心乾燥装置の正面図であ
る。
る。
3 半導体基板 4 基板保持手段 14 基板保持部材 15 チャックアーム 22 サーボモータ
Claims (3)
- 【請求項1】 複数枚の半導体基板をその主面同士が平
行となるように整列して保持する基板保持手段と、前記
基板保持手段を回転自在に支持し且つ回転させる回転駆
動機構とを備え、前記基板保持手段の回転中心が前記基
板保持手段により保持された半導体基板の中心に略一致
せられていることを特徴とする遠心乾燥装置。 - 【請求項2】 前記回転中心と前記半導体基板の中心と
が、極く僅かの距離を隔てられていることを特徴とする
請求項1記載の遠心乾燥装置。 - 【請求項3】 前記基板保持手段は、前記回転駆動機構
により支えられた基体部と、略棒状に形成されて前記半
導体基板の整列方向において延在すべく前記基体部に取
り付けられて前記半導体基板の外周部に係合してこれら
を受ける複数の受け溝が長手方向に並設された少なくと
も1の基板保持部材と、略棒状にして前記半導体基板を
挾んで前記基板保持部材とは反対側に配置されて前記基
体部に対して可動に取り付けられ、前記半導体基板を前
記基板保持部材に向けて押圧するための押え部材とを有
することを特徴とする請求項1又は請求項2記載の遠心
乾燥装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5315592U JPH069129U (ja) | 1992-07-07 | 1992-07-07 | 遠心乾燥装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5315592U JPH069129U (ja) | 1992-07-07 | 1992-07-07 | 遠心乾燥装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH069129U true JPH069129U (ja) | 1994-02-04 |
Family
ID=12934961
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5315592U Pending JPH069129U (ja) | 1992-07-07 | 1992-07-07 | 遠心乾燥装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH069129U (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01225227A (ja) * | 1988-03-03 | 1989-09-08 | Mitsubishi Electric Corp | ビタビ復号器 |
| JPH03125429A (ja) * | 1989-10-11 | 1991-05-28 | Hitachi Ltd | 半導体ウエハ処理方法およびそれに使用される回転乾燥装置 |
-
1992
- 1992-07-07 JP JP5315592U patent/JPH069129U/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01225227A (ja) * | 1988-03-03 | 1989-09-08 | Mitsubishi Electric Corp | ビタビ復号器 |
| JPH03125429A (ja) * | 1989-10-11 | 1991-05-28 | Hitachi Ltd | 半導体ウエハ処理方法およびそれに使用される回転乾燥装置 |
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