JPH069134U - 斜め直線状のプローブを備えたプローブ基板 - Google Patents
斜め直線状のプローブを備えたプローブ基板Info
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- JPH069134U JPH069134U JP5313592U JP5313592U JPH069134U JP H069134 U JPH069134 U JP H069134U JP 5313592 U JP5313592 U JP 5313592U JP 5313592 U JP5313592 U JP 5313592U JP H069134 U JPH069134 U JP H069134U
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- probe
- probes
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 プローブの組立精度を容易に向上させ、全プ
ローブを被検査半導体集積回路の端子に確実にほぼ一定
の圧力で接触させ、かつ、任意の端子配置に対するプロ
ーブの高密度配置を可能にする。 【構成】 各プローブ5を直線状のものとし、直線状の
多数のプローブ5を、プリント基板7に対して斜め下方
に延びるように、かつ、互いに平行になるように、絶縁
体6によって保持し、絶縁体6をプリント基板7に対し
て固定された位置に取りつけ、以て、プローブ5を、折
り曲げ加工せずに、直線状のままで組み立て、使用する
ようにしている。
ローブを被検査半導体集積回路の端子に確実にほぼ一定
の圧力で接触させ、かつ、任意の端子配置に対するプロ
ーブの高密度配置を可能にする。 【構成】 各プローブ5を直線状のものとし、直線状の
多数のプローブ5を、プリント基板7に対して斜め下方
に延びるように、かつ、互いに平行になるように、絶縁
体6によって保持し、絶縁体6をプリント基板7に対し
て固定された位置に取りつけ、以て、プローブ5を、折
り曲げ加工せずに、直線状のままで組み立て、使用する
ようにしている。
Description
【0001】
本考案は、大規模半導体集積回路(LSI)の製造工程などにおいて、集積回 路チップの検査などに使用されるプローブ基板の改良に関するものである。
【0002】
近年における半導体集積回路の集積度の著しい進展により、プローブ基板に設 けられるプローブ数も多数が必要とされるようになり、かつ、その配列も様々な 種類のものが要求されるようになってきている。
【0003】 プローブ基板は、一般に円形あるいは略正方形の、スルーホールを有するプリ ント基板の中央部下面に、セラミックあるいはアルミニウムにより形成される環 状のプローブ支持部材を介して、多数のプローブを、絶縁材のモールド加工など により固定するようにして構成されている。
【0004】 図4は、従来のプローブ基板の一例を示す断面図であり、何れもプローブを含 む断面図として示されている。
【0005】 図4(a)の断面図は、従来のプローブ基板21の中心から右半分の断面とし て示しているが、プローブ基板21では、プローブ22が先端22aに近づくに したがって次第にその径が細くなるようにテーパー状に形成され、プローブ22 全体がプローブ基板21の基板23に対して斜め(一般に基板23の面に対して 約10度程度の角度)に、絶縁材24にモールド加工などにより固定され、絶縁 材24は、プローブ支持部材25を介して、基板23の中央部下面に固定されて いる。プローブ支持部材25は、セラミックあるいはアルミニウムなどにより形 成され、スペーサの機能をも果たすものである。
【0006】 プローブ22の先端22aは、基板22を水平に置いたとき、先端22aが略 垂直方向を向くように、先端22aの近傍において折り曲げ加工されている。
【0007】 半導体集積回路の検査に当たっては、集積回路チップ26を載せた検査台27 を下方からプローブ基板21に向かって上昇させると、プローブ22の先端22 aが、被検査半導体集積回路の端子28にそれぞれ接触する。
【0008】 また、図4(b)に示す従来のプローブ基板29では、プローブ30は基板3 1に対して直角に、したがって、基板31を水平に置いたとき、プローブ30が すべて垂直方向を向くように絶縁材32にモールド加工などにより固定され、絶 縁材32がプローブ支持部材33を介して基板31に固定されている。
【0009】
プローブ22,30の先端22a,30aの配置には精度が要求され、すべて のプローブ22,30の先端22a,30aは正確に同一平面上にある必要があ るが、図4(a)に示すような構造のプローブ22では、先端22aの折り曲げ 加工が必要であり、プローブ22の組立精度を保つために、従来は作業員がピン セットなどにより位置調整を行っていた。また、図4(b)に示すような構造の プローブ30では、プローブ30がすべて垂直に並べられていることから高密度 配列には適するが、集積回路チップ34の端子35との接触時に、プローブ30 自体の弾性を利用することができないため、先端30aの配置に不整がある場合 は、先端30aが先に集積回路チップ34の端子35に当たったプローブ30の 力により、全プローブ30の先端30aが集積回路チップ34の所定の端子35 にそれぞれ一定の圧力で接触せず、仮に強い力をもって集積回路チップ34を載 せた検査台36を下方からプローブ基板29に向かって上昇させると、図4(c )の2点鎖線で示すように、先に先端30aが端子35に当たったプローブ30 が途中で曲がってしまい、隣接するプローブ30と接触する可能性がある。
【0010】 本考案の目的は、プローブの組立精度が容易に向上し、全プローブが被検査半 導体集積回路の端子に確実にほぼ一定の圧力で接触し、かつ、任意の端子配置に 対するプローブの高密度配置が可能となるプローブ基板を提供することである。
【0011】
本考案は、各プローブを直線状のものとし、該直線状の多数のプローブを、プ リント基板に対して斜め下方に延びるように、かつ、互いに平行になるように、 絶縁体によって保持し、該絶縁体をプリント基板に対して固定された位置に取り つけている。
【0012】
本考案では、直線状のプローブの斜め平行配置により、組立精度が著しく向上 した高密度配置のプローブの先端が被検査半導体集積回路の端子に斜めに弾性的 に接触する。
【0013】
図1は、本考案の一実施例である、プローブ基板の下面図であり、図2は同じ く上面図、図3は図1におけるA−A′拡大断面図である。
【0014】 プローブ基板1は、表面が絶縁処理されたアルマイト材などにより形成される ベースプレート2の中央部に正方形の穴3が開口され(図3)、穴3の周辺部の ベースプレート2の下面に環状の方形のプローブ支持部材4が固定され、プロー ブ5を一体的に保持した絶縁体6がプローブ支持部材4の内径部分に嵌め込み固 定されている。
【0015】 図3に示すように、直線状に成形されたプローブ5が、上下両面が平行な絶縁 体6に、全プローブ5が絶縁体6に対して斜め一定角度をなし、かつ、その先端 5aが正確に同一平面上に配列されるように保持され、プローブ5の出力端5b はベースプレート2の上面に固定されているプリント基板7のスルーホール8に それぞれ挿入され、半田付け接続されている。
【0016】 このように、プローブ5が折り曲げ加工されずに直線状にモールド加工などに よって絶縁体6に保持されることで、作業者によるプローブ5の先端5aの調整 を必要とすることなく、不図示の集積回路チップの各端子がそれぞれプローブ5 の先端5aに当接するとき、各プローブ5の先端5aが、対応する各端子にそれ ぞれ一定の圧力で確実に接触する。
【0017】 また、プローブ5の先端5aの中に同一平面よりやや上下にずれたものが発生 した場合においても、プローブ5が有する弾性により、各プローブ5の先端5a がそれぞれ対応する所定の端子に確実に接触する。
【0018】 図2に示すように、プリント基板7の上面には、各プローブ5の出力端5bが 接続されているスルーホール8の端子9から、プリント基板7の周縁部に向かっ てプリントパターン10が形成されており、プリント基板7の周辺部の出力端子 11が、接地および電源、電子回路部品、試験・検査装置などに接続される。な お、図2においては、プリントパターン10の一部のみが示されている。
【0019】 また、プローブ基板1では、図3に示すように、プローブ5に折り曲げ部分が なく、プローブ5が斜め一定角度に重ね合わせられるように平行に高密度に配列 可能となることから、図3に示すような縦方向の列配置のプローブ5を、何行も 重ねて横方向に配置することにより、集積回路チップの周辺部のみならず、チッ プの任意の位置に端子が存在する集積回路チップに対しても、柔軟にプローブ5 を配置することができる。
【0020】 (変形例) ベースプレート2は必ずしも必要ではない。例えば、プリント基板の厚さを厚 くし、強度を強くすれば、ベースプレート2を省いて、プリント基板の下面に絶 縁体6を直接固定してもよい。また、プローブ支持部材4を省略し、絶縁体6を ベースプレート2あるいはプリント基板の下面に固定してもよい。
【0021】
以上説明したように、本考案によれば、各プローブを直線状のものとし、該直 線状の多数のプローブを、プリント基板に対して斜め下方に延びるように、かつ 、互いに平行になるように、絶縁体によって保持し、該絶縁体をプリント基板に 対して固定された位置に取りつけ、以て、プローブを、折り曲げ加工せずに、直 線状のままで組み立て、使用するようにしたから、プローブの組立精度を容易に 向上させることができ、全プローブが被検査半導体集積回路の端子に確実にほぼ 一定の圧力で接触させることができ、かつ、任意の端子配置に対してプローブを 高密度に配置することができる。
【図1】本考案の一実施例である、プローブ基板の下面
図である。
図である。
【図2】同じく、プローブ基板の上面図である。
【図3】図1における、A−A′断面図である。
【図4】従来のプローブ基板の一例を示す断面図であ
る。
る。
1 プローブ基板 2 ベースプレート 3 穴 4 プローブ支持部材 5 プローブ 5a 先端 5b 出力端 6 絶縁体 7 プリント基板 8 スルーホール 9 端子 10 プリントパターン 11 出力端子
Claims (1)
- 【請求項1】 プリントパターンを有するプリント基板
と、該プリント基板のプリントパターンに電気的に接続
される多数のプローブとを備えたプローブ基板におい
て、前記各プローブを直線状のものとし、該直線状の多
数のプローブを、前記プリント基板に対して斜め下方に
延びるように、かつ、互いに平行になるように、絶縁体
によって保持し、該絶縁体を前記プリント基板に対して
固定された位置に取りつけたことを特徴とする斜め直線
状のプローブを備えたプローブ基板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5313592U JPH069134U (ja) | 1992-07-07 | 1992-07-07 | 斜め直線状のプローブを備えたプローブ基板 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5313592U JPH069134U (ja) | 1992-07-07 | 1992-07-07 | 斜め直線状のプローブを備えたプローブ基板 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH069134U true JPH069134U (ja) | 1994-02-04 |
Family
ID=12934383
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5313592U Pending JPH069134U (ja) | 1992-07-07 | 1992-07-07 | 斜め直線状のプローブを備えたプローブ基板 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH069134U (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005195523A (ja) * | 2004-01-09 | 2005-07-21 | Japan Electronic Materials Corp | プローブカード |
| KR101037974B1 (ko) * | 2009-05-20 | 2011-05-30 | 주식회사 메디오션 | 프로브 지지체 및 그 제조방법 |
| KR102331204B1 (ko) * | 2020-06-12 | 2021-11-25 | 가오 티엔-싱 | 전기 시험용 전기 전도 장치 |
-
1992
- 1992-07-07 JP JP5313592U patent/JPH069134U/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005195523A (ja) * | 2004-01-09 | 2005-07-21 | Japan Electronic Materials Corp | プローブカード |
| KR101037974B1 (ko) * | 2009-05-20 | 2011-05-30 | 주식회사 메디오션 | 프로브 지지체 및 그 제조방법 |
| KR102331204B1 (ko) * | 2020-06-12 | 2021-11-25 | 가오 티엔-싱 | 전기 시험용 전기 전도 장치 |
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