JPH0694646A - 円形容器内面検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】ビール缶などの円形容器側面のヘコミの検知能
力を高める。 【構成】図７（Ａ）はビール缶容器１０２の内面を軸方
向から観測した濃淡画像を示し、１０３は口部高輝度
部，１０４は底部高輝度部である。同図（Ｂ）は容器１
０２の断面を示し１１２はこの容器の側面部のヘコミで
ある。本発明では濃淡画像の容器側面に相当する領域を
ＬＫ，Ｌｋ’のようにリング状又は渦巻状のサーキュラ
走査線で順次走査し、このサーキュラ走査線上における
着目画素値Ｐ０とこの着目画素から所定画素間隔ｄだけ
離れた背景画素値Ｐ１との差の絶対値ΔＰ＝｜Ｐ０−Ｐ
１｜をそのサーキュラ走査線の位置に対応する所定のし
きい値ＴＨＰと比較し、ΔＰ＞ＴＨＰであればその着目
画素をヘコミ等の内面不良画素として検出する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は例えばコンベアなどで搬
送されるビール缶などの円形容器内面を検査し、容器の
変形・異物・ゴミ・傷などを検出する画像処理装置とし
ての円形容器内面検査装置に関する。なお以下各図にお
いて同一の符号は同一もしくは相当部分を示す。

【０００２】

【従来の技術】図２は一例としてビール用アルミ缶の容
器を上面より観測した場合の高輝度部の説明図で、同図
（Ａ）は缶容器の上面（画像）図、同図（Ｂ）は側断面
図である。そして１０２は容器、１０１はこの容器１０
２を上方から照らすリング状の照明器、１０３は口部の
高輝度部、１０４は底部の高輝度部である。このように
リング照明器１０１を用いて容器１０２の内面に光線を
照射することにより、容器内面の口部と底部に夫々１０
３，１０４のような高輝度部が発生する。特に缶などの
ように容器内面に金属光沢のある場合は顕著である。

【０００３】図３（Ｂ）は容器１０２の上面画像（図３
（Ａ））に対する走査線Ｑ−Ｑ１上の濃度変化を示した
ものであるが、濃度変化の特徴よりＷ１〜Ｗ５の５つの
領域に分類される。第１の領域Ｗ１は口部高輝度部１０
３であり、第２の領域Ｗ２は濃度変化が比較的小さい容
器側面上中部であり、第３の領域Ｗ３は図２で述べた照
明１０１による光線があまり届かないため、他の領域よ
り暗い容器側面下部であり、第４の領域Ｗ４は底部高輝
度部１０４であり、第５の領域Ｗ５は底部である。

【０００４】従来はこれらの領域Ｗ１〜Ｗ５にそれぞれ
ウィンドウを設け、領域の光学的な特性に応じて黒汚れ
（黒点）や白汚れ（白点）の不良を検出するためのしき
い値を設定していた。不良検出の方法としては例えば対
象画像の走査によって得られたアナログのビデオ信号
（アナログ濃淡画像信号）をＡ／Ｄ変換してなる８ビッ
トなどの多値の濃淡画像信号を所定のしきい値で２値化
する方法や、前記のビデオ信号を微分して欠陥信号を抽
出する微分法などが知られている。この微分法の場合、
対象物の外形の輪郭部でも微分信号が出るが輪郭部では
微分によって正方向パルス，負方向パルスのいずれか一
方が発生するのに対し、微小欠陥部では正方向パルスと
負方向パルスが同時に発生することを利用して欠陥部を
抽出することができる。

【０００５】即ちラスタ走査に基づくアナログ濃淡画像
信号を微分してなる信号Ｐ（Ｘ，Ｙ）についての着目点
（座標値Ｘ＝ｉ，Ｙ＝ｊ）における値Ｐ（ｉ，ｊ）と、
この着目点よりＸ方向走査線上の前，後に夫々所定の微
小のα画素，β画素だけ離れた点における値Ｐ（ｉ−
α，ｊ），Ｐ（ｉ＋β，ｊ）との間に、 Ｐ（ｉ，ｊ）−Ｐ（ｉ−α，ｊ）＞ＴＨ１ であっ
て且つ、 Ｐ（ｉ＋β，ｊ）−Ｐ（ｉ，ｊ）＞ＴＨ１ の関係
があれば、 （但しＴＨ１は所定のしきい値（正値）とする）着目点
における不良検出のための二値化関数値ＰＤ（ｉ，ｊ）
＝１としてこの着目点を黒レベル不良の点とし、それ以
外の場合はＰＤ（ｉ，ｊ）＝０としてこの着目点を正常
の点とするものである。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかし以上のような手
法は微小な黒点のような不良には有利であるものの容器
のヘコミの場合は局所的なコントラストが得られず検出
が困難であった。そこで本発明はこの問題を解消できる
円形容器内面検査装置を提供することを課題とする。

【０００７】

【課題を解決するための手段】前記の課題を解決するた
めに請求項１の円形容器内面検査装置は、軸対称の円形
容器（１０２など）の前記軸方向から（リング照明器１
０１などを介し）この円形容器の内面側を照明したう
え、ＴＶカメラを介しこの軸方向からこの円形容器の照
明面を撮像し、この撮像された画像を解析して前記円形
容器の変形や汚れを検査する円形容器内面検査装置にお
いて、前記円形容器の内面の画像を、この画像の中心を
中心とし、半径が１または所定の複数の画素間隔で１周
ごとに順次変化するリング状または渦巻状の走査線（Ｌ
など、以下サーキュラ走査線という）で順次走査し、こ
のサーキュラ走査線上の１または所定の複数の画素間隔
で並ぶ画素としての着目画素（Ｐ０など）の濃度と、こ
の着目画素からその前後いずれか所定の方向に所定の複
数画素（ｄなど）離れた背景画素（Ｐ１など）の濃度と
の濃度差の絶対値（ΔＰなど）を当該のサーキュラ走査
線の位置に応じて定められたしきい値（ＴＨＰなど）と
比較することを前記着目画素の各々について順次繰返
し、前記しきい値より大きい前記濃度差の絶対値が検出
されたときは容器内面不良であると判定する手段（不良
検出回路１２など）を備えたものとする。

【０００８】また請求項２の円形容器内面検査装置で
は、請求項１に記載の円形容器内面検査装置において、
前記しきい値は前記サーキュラ走査線の１回転ごとに
（走査線カウンタ２２，しきい値テーブル２７などを介
し）設定されるものであるようにする。また請求項３の
円形容器内面検査装置は、請求項１または請求項２に記
載の円形容器内面検査装置において、前記背景画素の濃
度を（平均化回路２６などを介し）この背景画素を中心
とする所定の１次元または２次元の局部領域内の画素の
平均濃度とする。

【０００９】

【作用】軸対称の円形容器（１０２など）の前記軸方向
から（リング照明器１０１などを介し）この円形容器の
内面側を照明したうえ、ＴＶカメラを介し、この軸方向
からこの円形容器の照明面を撮像し、画像を解析する
際、容器内面の濃淡分布が図３に示したように、同心円
上に発生することに着目し、リング状または渦巻状のサ
ーキュラ走査線で容器内面を走査することにより濃淡変
化の小さい画素列を得、ヘコミが発生した場合は走査し
た画素列の濃淡変化として現れるため、走査画素列上の
着目画素の濃度Ｐ０とその前後方向いずれかにｄ画素離
れた背景画素の濃度Ｐ１とから濃度差の絶対値ΔＰを ΔＰ＝｜Ｐ０−Ｐ１｜ として求め、他方、例えば図３に示すような各ウィンド
ウＷ１〜Ｗ５夫々にしきい値ＴＨＰを与え、前記の濃度
差の絶対値ΔＰとこのしきい値ＴＨＰとを比較し、ΔＰ
がＴＨＰより大であればその着目画素をヘコミ等の内面
不良画素として検出する。

【００１０】但し前記しきい値ＴＨＰはサーキュラ走査
線の位置に応じて、例えばこの走査線１回転ごとに設定
してもよい。また背景画素の濃度Ｐ１をこの画素を中心
とする一次元局部領域（つまり走査線上に連続するｎ画
素）または２次元局部領域（ｎ画素×ｎ画素の局部領
域）の画素の平均濃度としてもよい。

【００１１】

【実施例】図１は本発明の１実施例としてのハードウェ
アのブロック図である。同図においてＰＯは図外のＴＶ
カメラの画面をラスタ走査して得られるビデオ信号をＡ
／Ｄ変換してなる（例えば８ｂｉｔ）の濃淡画像信号、
１はこの多値濃淡画像信号ＰＯを入力し、多値画面デー
タとして記憶するフレームメモリ、３はこのフレームメ
モリに対するラスタアドレスを発生するラスタアドレス
発生器である。

【００１２】４はリング状に画像走査を行うためにフレ
ームメモリ１に対してアドレス発生を行うサーキュラア
ドレス発生器、２は図３（Ｂ）に示したようなリング状
のウィンドウ別のマスクパターンが格納されているウィ
ンドウメモリ、５はこのウィンドウメモリ２に対し発生
器３と同様にラスタアドレスを発生するラスタアドレス
発生器、６は同じくこのウィンドウメモリ２に対し発生
器４と同様にリング状走査のためのアドレス発生を行う
サーキュラアドレス発生器である。そしてこれら発生器
３，５と４，６との切替によるラスタアドレスとサーキ
ュラアドレスの発生切替が可能である。

【００１３】７はウィンドウゲート回路であり、多値濃
淡信号ＰＯまたはフレームメモリ１より読み出された画
像信号１ａをウィンドウメモリ２からのマスクパターン
データでマスクし、指定されたウィンドウ領域のみの画
像信号ＰＯまたはフレームメモリ１から読み出された画
像信号１ａを通過させる回路である。８は画像エッジ検
出回路で、画像のエッジ、具体的にはリング状の高輝度
部の外端（外周点）と内端（内周点）を検出する機能を
持ち、この場合、入力した画像信号を対象画像の位置検
出や円形性検査のための所定のしきい値で２値化したう
え、画像エッジとしてのこの２値化信号の立上り点の座
標と立下り点の座標とを自身内のメモリに格納する。９
はこの画像エッジ検出回路８によって検出された外周点
または内周点の座標値に対し円形性検査を行う回路であ
る。

【００１４】１０はフレームメモリ１のラスタ走査によ
ってフレームメモリ１から読出された画像信号１ａをウ
ィンドウゲート回路７を介して入力し、差分などを用い
て黒点などの汚れ不良画素を検出するための不良検出回
路、１１はこの検出された不良画素を集計して不良の判
定を行う不良検出判定回路である。１２は後述のように
フレームメモリ１のリング状の走査によってフレームメ
モリ１から読み出された画像信号１ａをウィンドウゲー
ト回路７を介して入力し、ヘコミ不良画素を検出するた
めの不良検出回路、１３はこの検出された不良画素を集
計して不良の判定を行う不良検出判定回路である。また
１９は円形度判定回路９，不良検出判定回路１１および
１３の判定結果を入力し総合的な判定を行う回路、２０
はこの総合判定回路１９の出力判定信号によって良否の
出力を行う出力回路である。

【００１５】次に１６はウィンドウゲート回路７を通過
した最新の多値画像信号ＰＯを用いて対象画像のＸ方向
投影回路パターンを求めるＸ投影回路、１７は同じく対
象画像のＹ方向投影パターンを求めるＹ投影回路、１８
はこの２つの投影回路１６，１７の出力データを用いて
他の容器画像と連接していない対象容器画像の領域のみ
を求める回路である。

【００１６】即ち検査すべき円形容器が所定の位置を通
過すると、ストロボ発光またはシャッタによる露光制限
により容器上部より、静止化された被検査画像を取り込
む。この取り込み期間にＸ投影回路１６，Ｙ投影回路１
７に画像が送られ、投影の特徴を得る。固定２値画像の
投影算出の場合は、投影回路１６，１７は２値化の機能
を備える。

【００１７】図４は容器の固定２値画像２０１を用いて
そのＸ方向投影量２０３とＹ方向投影量２０４より容器
の外接矩形（つまり斜線部の処理領域）を検出する方法
を示すが、容器が搬送路上を連接したりしながら移動し
てくる場合は、別途処理領域決定回路１８によって連接
分離の処理を行って処理領域２０２を決定する。なおこ
の連接分離は例えば本出願人の先願になる特願平３−２
４９９４６号に述べた処理によって行うことができる。

【００１８】次に１４，１５は対象画像に対して正しい
位置にウィンドウを発生するための画像エッジ検出回
路，位置ズレ量決定回路である。図５はこの画像エッジ
検出回路１４の動作の説明図である。即ちこのエッジ検
出回路１４は前述した投影回路１６，１７と同期間に同
じく最新の多値濃淡画像信号ＰＯを入力してまず対象画
像の中心を検出しやすいように例えば底部高輝部につい
ての固定２値画像２１０を作る。但しこの場合に用いる
しきい値は前述の画像エッジ検出回路８の用いるしきい
値とは一般に異なる。

【００１９】次にこの固定２値画像２１０についての所
定領域内のエッジ（この例では上端エッジ検査領域２１
１内の上端エッジ、および左端エッジ検査領域２１２内
の左端エッジ）の夫々の座標、従って位置基準点２１３
の座標を検出する。位置ズレ量決定回路１５は検出した
位置基準点２１３の座標と、予め設定されている基準座
標とを比較し、そのズレ、従って検出した現実の対象画
像の中心の位置と予め設定されているウィンドウの中心
の位置とのズレを検出する。

【００２０】上述した不良検出回路１２を除く画像エッ
ジ検出回路８，不良検出回路１０，画像エッジ検出回路
１４，Ｘ投影回路１６，Ｙ投影回路１７の各処理はラス
タアドレス発生器３，５を用いて行われ、次にサーキュ
ラアドレス発生器４，６に切換えてサーキュラアドレス
を発生させ、不良検出回路１２の動作が行われる。図６
はサーキュラアドレスの発生方法の説明図である。この
例では容器１０２の側面部、従って図３の口部高輝度部
１０３と底部高輝度部１０４の間の画像領域に対して１
または所定の複数画素の間隔（但しこの画素間隔は検出
するヘコミの大きさに応じて定められる）で同心のリン
グ状の走査線（サーキュラ走査線）Ｌ（Ｌ１〜Ｌｎ）を
発生させ、走査は各サーキュラ走査線Ｌごとに時計まわ
りで一周づつ、Ｌ１→Ｌ２…Ｌｋ…Ｌｎの順にサーキュ
ラ走査線を切換えて行われる。サーキュラアドレスは図
１０で後述するように、このようなサーキュラ走査線Ｌ
上の１または所定の複数画素の間隔で並ぶ画素のＸ，Ｙ
座標を走査順に順次指定する形で発生する。

【００２１】なおサーキュラ走査線としては上述の同心
円状の走査線に代わり、走査円の径が１周の間に順次変
化する（この場合漸減する）渦巻状の走査線を用いるこ
ともできる。図７は（Ａ）は同図（Ｂ）に示す容器１０
２の側面にヘコミ１１２がある場合の濃淡画像の例を示
し、この場合サーキュラ走査線の第ｋ走査線Ｌｋ上の
Ａ，Ｂ間、第ｋ’走査線Ｌｋ’上のＡ’，Ｂ’間にヘコ
ミ１１２が存在している。なお上記走査線Ｌｋ，Ｌｋ’
上の点Ｑ，Ｑ’は夫々そのサーキュラ走査線上における
走査開始点を示す。

【００２２】図８は図１のサーキュラ方式の不良検出回
路１２の原理説明用の図で、同図のＰＬｋは図７（Ａ）
の第ｋ走査線Ｌｋ上の画像データの濃淡変化の例を示
す。なお図８の横軸上のＱ，Ａ，Ｂの符号は夫々図７
（Ａ）上の同符号に対応している。ここでＰ０は着目点
とその画素値、Ｐ１はこの着目点から所定の画素間隔ｄ
だけ離れた背景点とその画素値である。

【００２３】不良検出回路１２は第ｋ走査線Ｌｋが含ま
れるウィンドウについて予め定められたしきい値ＴＨＰ
と、前記画素値Ｐ０，Ｐ１の差の絶対値 ΔＰ＝｜Ｐ０−Ｐ１｜ とを比較し、ΔＰ＞ＴＨＰであればその着目画素Ｐ０は
ヘコミ等の内面不良画素であると判別する。

【００２４】図９は不良検出回路１２の原理説明用の別
の図で、同図ＰＬｋ’は図７（Ａ）の第Ｋ’走査線Ｌ
ｋ’上の画素データの濃淡変化の例を示す。なお図９の
横軸上のＱ’，Ａ’，Ｂ’の符号も夫々図７（Ａ）の同
符号に対応している。図７（Ａ）の第Ｋ’走査線Ｌｋ’
は底部高輝度部１０４の外周部に発生する光の当り難い
低輝度部分にあるが、この部分にヘコミが発生する場合
は、図９のようにヘコミにあたる部分が明るくなり、図
８で述べたと同様な画素の濃度差Ｐ０−Ｐ１の符号は図
８とは反転する。しかし不良検出回路１２は図９の場合
にも図８の場合と同様に第Ｋ’走査線Ｌｋ’が含まれる
ウィンドウについて予め定められたしきい値ＴＨＰと上
記濃度差の絶対値ΔＰ＝｜Ｐ０−Ｐ１｜とを比較し、Δ
Ｐ＞ＴＨＰであれば当該着目画素Ｐ０はヘコミ等の内面
不良画素であると判別する。

【００２５】図１０は図１のサーキュラアドレス発生器
４および不良検出回路１２の構成の実施例を示すブロッ
ク図である。サーキュラアドレス発生器４内のカウンタ
制御回路２１は同発生器４内のＸアドレスカウンタ２
３，Ｙアドレスカウンタ２４を制御して夫々のカウンタ
２３，２４から図６で述べた走査線Ｌ１，Ｌ２，…，Ｌ
ｎの順に各走査対象画素のサーキュラアドレスとしての
Ｘアドレス，Ｙアドレスをフレームメモリ１に順次出力
させる。またこのサーキュラアドレス発生器４内には走
査線カウンタ２２が設けられ、このカウンタ２２の値は
走査１回転が終了するごとに＋１される。

【００２６】一方、不良検出回路１２においては、フレ
ームメモリ１から上記のサーキュラアドレスによって読
出された濃淡画像信号（画素値）１ａを順次、減算回路
２９およびＦｉＦｏ２８に入力する。このＦｉＦｏ２８
は入力した画像信号１ａに図８で述べた画素間隔ｄに相
当する画素分の遅延を行って減算回路２９に出力する。
従って減算回路２９は画像信号１ａを直接、図８で述
べた着目点の画素値Ｐ０として、またＦｉＦｏ２８の出
力画素値を同じく図８で述べた着目点から画素間隔ｄだ
け離れた背景点の画素値Ｐ１として夫々入力し両者の差
Ｐ０−Ｐ１を求める。絶対値変換回路３０はこの差Ｐ０
−Ｐ１の絶対値｜Ｐ０−Ｐ１｜＝ΔＰを求める。

【００２７】ところで不良検出回路１２内のしきい値テ
ーブル２７は前述した走査線カウンタ２２の出力をアド
レスとして（つまり各走査線Ｌ１，Ｌ２，…，Ｌｎ別
の）、しきい値ＴＨＰを出力する。なおこの場合、しき
い値ＴＨＰを、同一のウィンドウ内では等しい値に設定
してもよい。比較回路３１は前記の濃度差絶対値ΔＰと
しきい値ＴＨＰとを比較し、ΔＰ＞ＴＨＰであるか否か
に応じて当該着目画素がヘコミ等の容器内面不良画素で
あるか否かを示す２値化信号を出力する。

【００２８】図１１は図１０のＦｉＦｏ２８の出力画素
値Ｐ１に移動平均を施す平均化回路２６の実施例を示
す。この回路２６は図１０のＦｉＦｏ２８と直列に（但
しこの例ではフレームメモリ１とＦｉＦｏ２８との間
に）設けられる。この平均化回路２６は順次連続して入
力される４画素の移動平均を求める回路であり、この回
路２６では入力された画像信号（画素値）１ａは順次、
ラッチ３２，３３，３４，３５と移動していく間に、加
算器３６にてラッチ３２，３３の画像データが、また加
算器３７にてラッチ３４，３５の画像データが夫々加算
され、さらにその加算結果が加算器３８にて加算されて
４画素の加算が完了し、さらにこの加算値に対しシフタ
３９により右２ビットのシフトを行った（つまり該加算
値を４で除した）値が平均化出力として算出される。

【００２９】図１２は図１のフレームメモリ１およびラ
スタアドレス発生器３を除く回路の機能をＣＰＵ４１が
ソフトウェアで果たす例を示している。この場合、特に
フレームメモリ１にアクセスするハードウェアとしての
サーキュラアドレス発生回路４，６が独立して存在しな
いため、ＣＰＵ４１の処理時間を短縮することが重要で
ある。このためにはサーキュラ走査線Ｌの間隔を適度に
拡げたり、この走査線Ｌ上の演算対象とする画素の間隔
を適度に拡げることが有効である。

【００３０】図１３はこのような短縮処理の例を示し、
最初にサーキュラ走査線Ｌ上にある着目画素Ｐ０のデー
タをリードし、次にＰ０よりｄ画素分だけ離れた背景画
素Ｐ１のデータをリードし、この両画素の濃度差絶対値
｜Ｐ０−Ｐ１｜を演算し、この濃度差絶対値と所定のし
きい値ＴＨＰと比較を行い、着目画素Ｐ０の２値化を行
って良否を判定する。良である場合は、θだけ離れたＰ
０’に着目画素を移し同様の処理を行い、全周を終了す
ることにより、その走査線の処理を終了する。

【００３１】不良検出判定回路１３の良否の判定方法と
しては、１走査線あるいは、ある括まったサーキュラ走
査線を単位として不良画素の数を積算しておき、その不
良画素数を所定の面積しきい値と比較して最終的に容器
内面の良否を判定する。なお本発明で用いる背景画素Ｐ
１の画素値としては、図１１で述べたようなこの背景画
素Ｐ１を中心にサーキュラ走査線Ｌ上に並ぶ（つまり１
次元の局部領域）の所定の複数画素の平均濃度を用いる
代わりに、この背景画素Ｐ１を中心とする所定の２次元
の局部領域（例えば（３画素）×（３画素）の領域な
ど）の画素の平均濃度を用いてもよい。

【００３２】

【発明の効果】本発明によれば、円形容器の画像をリン
グ状または渦巻状のサーキュラ走査線で順次走査し、こ
の走査線上において所定間隔を持つ画素同士の濃度差を
求め、この濃度差の絶対値がこのサーキュラ走査線の位
置に応じて予め定められたしきい値を越えたとき、ヘコ
ミ等の容器内面不良と判別するようにしたので、コント
ラストの低い円形容器側面の局所的なヘコミを精度良く
検出できるようになった。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例としてのハードウェア構成を
示すブロック図

【図２】円形容器内面の高輝度部を示す図

【図３】円形容器内面の水平走査線上の濃度変化と従来
のウィンドウ分割の説明図

【図４】容器処理領域の決定方法の説明図

【図５】容器位置ズレ量の検出方法の説明図

【図６】本発明に基づくサーキュラアドレス発生方法の
説明図

【図７】ヘコミを持つ容器の画像の例を示す図

【図８】図１のサーキュラ方式の不良検出回路の原理説
明用の走査線上濃度変化の実施例を示す図

【図９】図１のサーキュラ方式の不良検出回路の原理説
明用の走査線上濃度変化の別の実施例を示す図

【図１０】図１のサーキュラアドレス発生器およびサー
キュラ方式不良検出回路の構成の実施例を示す図

【図１１】図１０の背景画素値に移動平均を施す回路の
実施例を示す図

【図１２】図１のサーキュラアドレス発生等をソフトウ
ェアで行う構成の実施例を示すブロック図

【図１３】図１２のＣＰＵの処理の実施例の説明図

【符号の説明】

ＰＯ 多値濃淡画像信号 １ａ 多値濃淡画像信号 １ フレームメモリ ２ ウィンドウメモリ ３ ラスタアドレス発生器 ４ サーキュラアドレス発生器 ５ ラスタアドレス発生器 ６ サーキュラアドレス発生器 ７ ウィンドウゲート回路 ８ 画像エッジ検出回路 ９ 円形度判定回路 １０ 不良検出回路 １１ 不良検出判定回路 １２ 不良検出回路 １３ 不良検出判定回路 １４ 画像エッジ検出回路 １５ 位置ズレ量決定回路 １６ Ｘ投影回路 １７ Ｙ投影回路 １８ 処理領域決定回路 １９ 総合判定回路 ２０ 出力回路 ２１ カウンタ制御回路 ２２ 走査線カウンタ ２３ Ｘアドレス用カウンタ ２４ Ｙアドレス用カウンタ ２６ 平均化回路 ２７ しきい値テーブル ２８ ＦｉＦｏ ２９ 減算回路 ３０ 絶対値変換回路 ３１ 比較回路 ３２ ラッチ ３３ ラッチ ３４ ラッチ ３５ ラッチ ３６ 加算器 ３７ 加算器 ３８ 加算器 ３９ シフタ ４１ ＣＰＵ Ｌ（Ｌ１〜Ｌｎ） サーキュラ走査線 Ｐ０ 着目画素（値） Ｐ１ 背景画素（値） ｄ 画素間隔 ΔＰ 濃度差絶対値 ＴＨＰ しきい値 １０１ リング照明器 １０２ 容器 １０３ 口部高輝度部 １０４ 底部高輝度部 １１２ ヘコミ ２０１ 容器の固定２値化画像 ２０２ 処理領域 ２０３ Ｘ方向投影量 ２０４ Ｙ方向投影量 ２１０ 容器の固定２値化画像 ２１１ 上端エッジ検査領域 ２１２ 左端エッジ検査領域 ２１３ 位置基準点

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】軸対称の円形容器の前記軸方向からこの円
   形容器の内面側を照明したうえ、ＴＶカメラを介しこの
   軸方向からこの円形容器の照明面を撮像し、この撮像さ
   れた画像を解析して前記円形容器の変形や汚れを検査す
   る円形容器内面検査装置において、 前記円形容器の内面の画像を、この画像の中心を中心と
   し、半径が１または所定の複数の画素間隔で１周ごとに
   順次変化するリング状または渦巻状の走査線（以下サー
   キュラ走査線という）で順次走査し、このサーキュラ走
   査線上の１または所定の複数の画素間隔で並ぶ画素とし
   ての着目画素の濃度と、この着目画素からその前後いず
   れか所定の方向に所定の複数画素離れた背景画素の濃度
   との濃度差の絶対値を当該のサーキュラ走査線の位置に
   応じて定められたしきい値と比較することを前記着目画
   素の各々について順次繰返し、 前記しきい値より大きい前記濃度差の絶対値が検出され
   たときは容器内面不良であると判定する手段を備えたこ
   とを特徴とする円形容器内面検出装置。
2. 【請求項２】請求項１に記載の円形容器内面検査装置に
   おいて、 前記しきい値は前記サーキュラ走査線の１回転ごとに設
   定されるものであることを特徴とする円形容器内面検査
   装置。
3. 【請求項３】請求項１または請求項２に記載の円形容器
   内面検査装置において、 前記背景画素の濃度をこの背景画素を中心とする所定の
   １次元または２次元の局部領域内の画素の平均濃度とし
   たことを特徴とする円形容器内面検査装置。