JPH0695069B2 - 遠心沈降式粒度分布測定方法 - Google Patents
遠心沈降式粒度分布測定方法Info
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- JPH0695069B2 JPH0695069B2 JP60217418A JP21741885A JPH0695069B2 JP H0695069 B2 JPH0695069 B2 JP H0695069B2 JP 60217418 A JP60217418 A JP 60217418A JP 21741885 A JP21741885 A JP 21741885A JP H0695069 B2 JPH0695069 B2 JP H0695069B2
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- Japan
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- particle size
- particles
- size distribution
- measurement
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/04—Investigating sedimentation of particle suspensions
- G01N15/042—Investigating sedimentation of particle suspensions by centrifuging and investigating centrifugates
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 イ.産業上の利用分野 本発明は、沈降式を使用した粒度分布の測定方法に関す
る。
る。
ロ.従来技術 沈降式粒度分布の測定方法は、通常、試料となる粒体を
液体に分散させた状態でセルに収容して遠心力を作用さ
せると粒子径の大きなものほど短時間に沈降するという
現象を利用したもので、溶液中に懸垂している粒子量の
時間的変化をセルを透過する光量から検出するものであ
る。
液体に分散させた状態でセルに収容して遠心力を作用さ
せると粒子径の大きなものほど短時間に沈降するという
現象を利用したもので、溶液中に懸垂している粒子量の
時間的変化をセルを透過する光量から検出するものであ
る。
ところで、粒子による遮光の度合は、一般的に粒子径に
も比例するため、測定終了間際の粒子、つまり相対粒度
の小さい粒子の粒度分布を測定することが不可能である
という問題があった。
も比例するため、測定終了間際の粒子、つまり相対粒度
の小さい粒子の粒度分布を測定することが不可能である
という問題があった。
ハ.目的 本発明はこのような問題に鑑み、相対粒度の小さな領域
までも高い分解能をもって分別することができる沈降式
粒度分布測定方法を提案することを目的とする。
までも高い分解能をもって分別することができる沈降式
粒度分布測定方法を提案することを目的とする。
ニ.発明の構成 すなわち、本発明が特徴とするところは、複数個のセル
にそれぞれ異なる濃度の試料を懸濁させ、粒度分布領域
を分割して測定するようにした点にある。
にそれぞれ異なる濃度の試料を懸濁させ、粒度分布領域
を分割して測定するようにした点にある。
ホ.実施例 そこで、以下に本発明の詳細を図示した実施例に基づい
て説明する。
て説明する。
第1図は、本発明に使用する装置の一例を示すものであ
って、図中符号1は、電動機2からの駆動を受けるセル
ホルダで、回転中心から等距離L(第2図)を置いて複
数個のセル3,3′を固定するとともに、後述する検出器
4の光路と対向する位置に透光窓を形成して構成されて
いる。4は、前述の検出器で、セルホルダ1を挟んで配
設された発光素子4aと受光素子4bからなり、セル3、
3′が検出位置に来た時点で、発光素子4aからの光をセ
ル内の試料に照射して、試料による吸光度を受光素子4b
により検出するように構成されている。5は、マイクロ
コンピュータ5a、ROM5b、RAM5cからなる演算回路で、検
出器4からの光透過度信号と、タイマ8からの遠心力作
用時間信号が入力し、フルイ下率を演算して表示器11や
プリンタ12に出力するとともに、低濃度側のセルの光透
過度が検出器4の測定レンジ外、つまり光透過度が一定
となった時点で、検出タイミングをズラせて入力スイッ
チ7を駆動し、高濃度側のセルを測定対象にするよう構
成されている。なお、図中符号6は、セルの位置を検出
するセル位置検出センサーを、9、10、13はそれぞれ検
出器4からの光透過信号を処理する対数変換器、A/D変
換器、及び前置増幅器を示す。
って、図中符号1は、電動機2からの駆動を受けるセル
ホルダで、回転中心から等距離L(第2図)を置いて複
数個のセル3,3′を固定するとともに、後述する検出器
4の光路と対向する位置に透光窓を形成して構成されて
いる。4は、前述の検出器で、セルホルダ1を挟んで配
設された発光素子4aと受光素子4bからなり、セル3、
3′が検出位置に来た時点で、発光素子4aからの光をセ
ル内の試料に照射して、試料による吸光度を受光素子4b
により検出するように構成されている。5は、マイクロ
コンピュータ5a、ROM5b、RAM5cからなる演算回路で、検
出器4からの光透過度信号と、タイマ8からの遠心力作
用時間信号が入力し、フルイ下率を演算して表示器11や
プリンタ12に出力するとともに、低濃度側のセルの光透
過度が検出器4の測定レンジ外、つまり光透過度が一定
となった時点で、検出タイミングをズラせて入力スイッ
チ7を駆動し、高濃度側のセルを測定対象にするよう構
成されている。なお、図中符号6は、セルの位置を検出
するセル位置検出センサーを、9、10、13はそれぞれ検
出器4からの光透過信号を処理する対数変換器、A/D変
換器、及び前置増幅器を示す。
この実施例において、同一の媒液を収容した2つのビー
カーを用意し、それぞれのビーカーに異なる量の粒体を
懸濁させて試料を調製する。
カーを用意し、それぞれのビーカーに異なる量の粒体を
懸濁させて試料を調製する。
これら粒体の濃度が異なる2種類の試料をそれぞれ別々
のセル3、3′に充填して試料ホルダ1にセットする。
のセル3、3′に充填して試料ホルダ1にセットする。
このようにして準備が終了した段階で装置を作動する
と、セル3,3′に収容されている試料中の粉体P1、P2、P
3、P4は、遠心力を受けて粒度の大きなものP1から徐々
に沈降を開始する(第2図T1)。測定開始当初において
は、沈降量が少ないため、高濃度試料を収容したセル
3′からの透過光が極めて小さく、検出器4の測定領域
外となっている為、粉体濃度の低い方のセル3を対象と
して測定を行なう。
と、セル3,3′に収容されている試料中の粉体P1、P2、P
3、P4は、遠心力を受けて粒度の大きなものP1から徐々
に沈降を開始する(第2図T1)。測定開始当初において
は、沈降量が少ないため、高濃度試料を収容したセル
3′からの透過光が極めて小さく、検出器4の測定領域
外となっている為、粉体濃度の低い方のセル3を対象と
して測定を行なう。
このようにして低濃度側のセル3による測定が時間T2ま
で進行して一定の大きさの粒子、この例では粒子P1、P2
が沈降し終ると(T3)、今測定対象にしている低い方の
セル3に懸濁している粒子の数が少なくなる。このた
め、透過光量が大きくなって検出器4の測定レンジを超
えて測定不可能となる。
で進行して一定の大きさの粒子、この例では粒子P1、P2
が沈降し終ると(T3)、今測定対象にしている低い方の
セル3に懸濁している粒子の数が少なくなる。このた
め、透過光量が大きくなって検出器4の測定レンジを超
えて測定不可能となる。
この時点で、測定対象を高い濃度の試料粉体を収容した
第2のセル3′側に切り換える。云うまでもなく、2つ
のセル3,3′には同じ遠心力が作用していたから、第2
のセル3′内の媒液は前回に測定対象となっていたセル
3と同じ相対粒度分布を維持する一方、測定不可能であ
った小さい粒子P3、P4が高い濃度で懸垂している。この
ため、発光素子4aからの光は、媒液に多数懸垂している
粒子P3、P4により吸収を受けて測定レンジ内に収まる。
これにより、再び測定が可能となって、順次小さい粒径
の粒子P3、P4が測定されいく。
第2のセル3′側に切り換える。云うまでもなく、2つ
のセル3,3′には同じ遠心力が作用していたから、第2
のセル3′内の媒液は前回に測定対象となっていたセル
3と同じ相対粒度分布を維持する一方、測定不可能であ
った小さい粒子P3、P4が高い濃度で懸垂している。この
ため、発光素子4aからの光は、媒液に多数懸垂している
粒子P3、P4により吸収を受けて測定レンジ内に収まる。
これにより、再び測定が可能となって、順次小さい粒径
の粒子P3、P4が測定されいく。
以下、このようにしてセル3′の試料の計測を続けるこ
とにより、粒子径の小さい粒子のフルイ下率の測定が可
能となる。
とにより、粒子径の小さい粒子のフルイ下率の測定が可
能となる。
第3図は、本発明による測定結果の一例を示すものであ
って、低濃度側セルのフルイ下率の測定が粒子径3μm
で不可能となった時点で(同図イ)、高濃度側のセルに
測定対象を切換えることにより粒子径0.2μmまでフル
イ下率測定を拡大することができた(ロ)。
って、低濃度側セルのフルイ下率の測定が粒子径3μm
で不可能となった時点で(同図イ)、高濃度側のセルに
測定対象を切換えることにより粒子径0.2μmまでフル
イ下率測定を拡大することができた(ロ)。
なお、上述した実施例においては、吸光度を測定すべき
セルを選択的に切り換えるようにしているが、2つのセ
ルの光透過度を交互に測定してそのピーク値のエンベロ
ープをもって粒度分布特性図とするようにしてもよいこ
とは云うまでもない。
セルを選択的に切り換えるようにしているが、2つのセ
ルの光透過度を交互に測定してそのピーク値のエンベロ
ープをもって粒度分布特性図とするようにしてもよいこ
とは云うまでもない。
また、上述した実施例においては、2つの試料セルを用
いて高低2つの領域に分けて測定するようにしている
が、3個以上用いて試料濃度を変えることにより一層精
密な粒度分布を測定することができることは云うまでも
ない。
いて高低2つの領域に分けて測定するようにしている
が、3個以上用いて試料濃度を変えることにより一層精
密な粒度分布を測定することができることは云うまでも
ない。
ホ.効果 以上、説明したように本発明においては測定すべき同一
の粒体を異なる濃度で溶媒に懸濁させた複数種類のサン
プルをそれぞれ測定セルに収容するとともに、測定セル
に同一条件で遠心力を作用させ、粒体の濃度が低い順番
に前記サンプルの吸光度の測定を実行し、吸光度が一定
になった時点で粒体の濃度が次ぎに高いサンプルの吸光
度を測定するという工程を繰返すようにしたので、特に
測定が困難な、大きな粒度の粉粒体中に含まれている微
小粒子の粒度分布を正確に測定することができる。
の粒体を異なる濃度で溶媒に懸濁させた複数種類のサン
プルをそれぞれ測定セルに収容するとともに、測定セル
に同一条件で遠心力を作用させ、粒体の濃度が低い順番
に前記サンプルの吸光度の測定を実行し、吸光度が一定
になった時点で粒体の濃度が次ぎに高いサンプルの吸光
度を測定するという工程を繰返すようにしたので、特に
測定が困難な、大きな粒度の粉粒体中に含まれている微
小粒子の粒度分布を正確に測定することができる。
第1図は本発明に使用する装置の一例を示す構成図、第
2図は同上装置の動作を示す説明図、第3図は同上装置
による測定結果の一例を示す粒度測定線図である。
2図は同上装置の動作を示す説明図、第3図は同上装置
による測定結果の一例を示す粒度測定線図である。
Claims (1)
- 【請求項1】測定すべき同一の粒体を異なる濃度で溶媒
に懸濁させた複数種類のサンプルをそれぞれ測定セルに
収容するとともに、前記測定セルに同一条件で遠心力を
作用させ、前記粒体の濃度が低い順番に前記サンプルの
吸光度の測定を実行し、吸光度が一定になった時点で粒
体の濃度が次ぎに高いサンプルの吸光度を測定するとい
う工程を繰返すことを特徴とする遠心沈降式粒度分布測
定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60217418A JPH0695069B2 (ja) | 1985-09-30 | 1985-09-30 | 遠心沈降式粒度分布測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60217418A JPH0695069B2 (ja) | 1985-09-30 | 1985-09-30 | 遠心沈降式粒度分布測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6276431A JPS6276431A (ja) | 1987-04-08 |
| JPH0695069B2 true JPH0695069B2 (ja) | 1994-11-24 |
Family
ID=16703897
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60217418A Expired - Lifetime JPH0695069B2 (ja) | 1985-09-30 | 1985-09-30 | 遠心沈降式粒度分布測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0695069B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105784551A (zh) * | 2014-12-15 | 2016-07-20 | 夏普株式会社 | 检测微小颗粒物的浓度的方法和传感器 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS593350U (ja) * | 1982-06-30 | 1984-01-10 | 株式会社島津製作所 | 粒度分布測定装置 |
-
1985
- 1985-09-30 JP JP60217418A patent/JPH0695069B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6276431A (ja) | 1987-04-08 |
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