JPH0695120B2 - 電子部品測定装置 - Google Patents
電子部品測定装置Info
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- JPH0695120B2 JPH0695120B2 JP33440888A JP33440888A JPH0695120B2 JP H0695120 B2 JPH0695120 B2 JP H0695120B2 JP 33440888 A JP33440888 A JP 33440888A JP 33440888 A JP33440888 A JP 33440888A JP H0695120 B2 JPH0695120 B2 JP H0695120B2
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 29
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 11
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims description 5
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は４端子抵抗測定において４端子の測定端子のい
ずれが接触不良になった場合でも、測定値がオーバーフ
ロー、又は零の異常値として確実に不良検出させる電子
部品測定装置に関するものである。
ずれが接触不良になった場合でも、測定値がオーバーフ
ロー、又は零の異常値として確実に不良検出させる電子
部品測定装置に関するものである。
従来の技術 従来の４端子抵抗の測定装置の測定回路を第３図に示
す。この４端子抵抗の測定回路は、測定端子接触抵抗の
測定値への影響をなくする手段としてよく使われる。
す。この４端子抵抗の測定回路は、測定端子接触抵抗の
測定値への影響をなくする手段としてよく使われる。
１は測定電流源、２は被測定抵抗、３と４は被測定抵抗
２に電流を流すためのHI,LI端子、5,6は被測定抵抗２の
両端の電圧をセンシングするためのHV,LV端子である。H
V端子５とLV端子６に現われる出力は高入力インピーダ
ンスのバッファアンプ7,8を通して差動アンプ９に入力
され、HVとLVとの電位差が差動アンプ９に接続されたA/
D変換器10で抵抗値として直続される。従来の測定装置
は３〜６の測定端子が被測定抵抗２に接触した状態での
みA/D変換器10の測定値が真の値を示し、HI,LIが接触不
良の場合は測定値は零になるが、HV,LVが接触不良の場
合は測定値が定まらない。
２に電流を流すためのHI,LI端子、5,6は被測定抵抗２の
両端の電圧をセンシングするためのHV,LV端子である。H
V端子５とLV端子６に現われる出力は高入力インピーダ
ンスのバッファアンプ7,8を通して差動アンプ９に入力
され、HVとLVとの電位差が差動アンプ９に接続されたA/
D変換器10で抵抗値として直続される。従来の測定装置
は３〜６の測定端子が被測定抵抗２に接触した状態での
みA/D変換器10の測定値が真の値を示し、HI,LIが接触不
良の場合は測定値は零になるが、HV,LVが接触不良の場
合は測定値が定まらない。
発明が解決しようとする課題 抵抗測定時において３〜６の測定端子との被測定抵抗２
のリード線との接触が常に保たれているという保証はな
い。特に高速機械などによる抵抗の自動測定選別機では
機械側測定端子、及び被測定抵抗２の端子接触面の汚
れ、酸化皮膜などにより接触不良が発生しやすい。接触
不良が発生すると４端子のどの端子が接触不良になるか
によって測定値は大きく変わる。
のリード線との接触が常に保たれているという保証はな
い。特に高速機械などによる抵抗の自動測定選別機では
機械側測定端子、及び被測定抵抗２の端子接触面の汚
れ、酸化皮膜などにより接触不良が発生しやすい。接触
不良が発生すると４端子のどの端子が接触不良になるか
によって測定値は大きく変わる。
第３図において、HI端子3,LI端子４のいずれかが接触不
良になると電流が流れないため、HV端子５とLV端子６の
電位が等しくなりA/D変換器10の測定値は零となる。HV
端子５とLV端子６が接触不良になると、バッファアンプ
7,8は1010Ω以上の高入力インピーダンスであるため、
ノイズなどの誘導を受けやすくバッファアンプ7,8の出
力レベルは一定しない。
良になると電流が流れないため、HV端子５とLV端子６の
電位が等しくなりA/D変換器10の測定値は零となる。HV
端子５とLV端子６が接触不良になると、バッファアンプ
7,8は1010Ω以上の高入力インピーダンスであるため、
ノイズなどの誘導を受けやすくバッファアンプ7,8の出
力レベルは一定しない。
このため、自動測定選別機などにおいては被測定抵抗２
が規格外の不良品であっても、場合によっては測定値が
良品の値を示して良品と選別してしまうことがあり得
る。これは良品中に不良品が混入するという重大な問題
を発生させる。
が規格外の不良品であっても、場合によっては測定値が
良品の値を示して良品と選別してしまうことがあり得
る。これは良品中に不良品が混入するという重大な問題
を発生させる。
本発明は、４端子のどの測定端子が接触不良になっても
測定値が明確な異常値（零又はオーバーフロー）を示す
ようにしたものである。
測定値が明確な異常値（零又はオーバーフロー）を示す
ようにしたものである。
課題を解決するための手段 HVとLVのバッファアンプの入力と対アース間に充電用の
小容量コンデンサを設け、測定していないタイミングで
HV側に＋の電源電圧、LV側に−の電源電圧を充電し、測
定する直前に充電をOFFすると被測定抵抗がHV端子,LV端
子に接触している場合は瞬時に放電されて正常な測定電
圧となり、接触不良の場合は充電電圧がそのまま残り、
測定値がオーバーフローとなるように構成したものであ
る。
小容量コンデンサを設け、測定していないタイミングで
HV側に＋の電源電圧、LV側に−の電源電圧を充電し、測
定する直前に充電をOFFすると被測定抵抗がHV端子,LV端
子に接触している場合は瞬時に放電されて正常な測定電
圧となり、接触不良の場合は充電電圧がそのまま残り、
測定値がオーバーフローとなるように構成したものであ
る。
作用 上記構成とすることによりHV,LVの測定端子が接触不良
の場合の測定値は充電用コンデンサの充電電圧によりオ
ーバーフローし、HI,LIの測定端子の接触不良の場合は
電流が流れないため零と、いずれの接触不良の場合でも
測定値が異常値となるため、通常の抵抗の良品範囲に入
ることがなく、測定端子の接触不良による良品中への不
良品混入といった事故の防止ができる。
の場合の測定値は充電用コンデンサの充電電圧によりオ
ーバーフローし、HI,LIの測定端子の接触不良の場合は
電流が流れないため零と、いずれの接触不良の場合でも
測定値が異常値となるため、通常の抵抗の良品範囲に入
ることがなく、測定端子の接触不良による良品中への不
良品混入といった事故の防止ができる。
実施例 以下、本発明の実施例を第１図のブロック図を用いて説
明する。
明する。
図面において、11は測定電流源、12は被測定抵抗、13〜
16は測定端子（HI,LI,HV,LV）である。17,18はHVとLVの
バッファアンプで、19は差動アンプ、20はA/D変換器、2
1,22は被測定抵抗12のリード線である。従来と違うとこ
ろはそれぞれのバッファアンプの入力に電源電圧充電用
のスイッチ23,24と数10PF程度の小容量コンデンサ25,26
を付加していることである。
16は測定端子（HI,LI,HV,LV）である。17,18はHVとLVの
バッファアンプで、19は差動アンプ、20はA/D変換器、2
1,22は被測定抵抗12のリード線である。従来と違うとこ
ろはそれぞれのバッファアンプの入力に電源電圧充電用
のスイッチ23,24と数10PF程度の小容量コンデンサ25,26
を付加していることである。
第２図のタイミングに示すように測定するまではスイッ
チ23とスイッチ24はそれぞれONしており、コンデンサ25
にはバッファアンプ17の電源電圧と同じ＋電圧、コンデ
ンサ26には−電圧が充電されている。測定スタートの信
号でスイッチ23とスイッチ24はOFFされる。測定端子13
〜16がリード線21,22と接触している場合は、測定電流
源11,被測定抵抗12により瞬時に放電されて正常な測定
ができる。HV測定端子15がリード線21と接触不良の場合
はコンデンサ25の充電電圧がそのまま残り、差動アンプ
19の出力は＋電圧のオーバーフローになる。LV測定端子
16がリード線22と接触不良の場合はコンデンサ26の−電
圧がそのまま残り、差動アンプ19の−入力に入り出力は
同様に＋電圧のオーバーフローとなる。
チ23とスイッチ24はそれぞれONしており、コンデンサ25
にはバッファアンプ17の電源電圧と同じ＋電圧、コンデ
ンサ26には−電圧が充電されている。測定スタートの信
号でスイッチ23とスイッチ24はOFFされる。測定端子13
〜16がリード線21,22と接触している場合は、測定電流
源11,被測定抵抗12により瞬時に放電されて正常な測定
ができる。HV測定端子15がリード線21と接触不良の場合
はコンデンサ25の充電電圧がそのまま残り、差動アンプ
19の出力は＋電圧のオーバーフローになる。LV測定端子
16がリード線22と接触不良の場合はコンデンサ26の−電
圧がそのまま残り、差動アンプ19の−入力に入り出力は
同様に＋電圧のオーバーフローとなる。
このようにHV,LVの測定端子15,16と被測定抵抗12のリー
ド線21,22との接触不良に対しては常に測定値をオーバ
ーフローにすることができる。
ド線21,22との接触不良に対しては常に測定値をオーバ
ーフローにすることができる。
発明の効果 以上のように本発明により、測定精度を損うことなく比
較的簡単な方法で測定端子のいかなる接触不良に対して
も測定値をオーバーフロー又は零の明確な異常値にし
て、不良品の良品中への混入を防止できる。これは、電
子部品測定選別機の選別品質保証のための重要なフェー
ルセーフ機能である。
較的簡単な方法で測定端子のいかなる接触不良に対して
も測定値をオーバーフロー又は零の明確な異常値にし
て、不良品の良品中への混入を防止できる。これは、電
子部品測定選別機の選別品質保証のための重要なフェー
ルセーフ機能である。
又、この方法は抵抗のみならず、コイルなどの他の４端
子測定にも応用することができる用途の広いものであ
る。
子測定にも応用することができる用途の広いものであ
る。
第１図は本発明による電子部品測定装置の一実施例を示
すブロック図、第２図は本発明の測定タイミング図、第
３図は従来の４端子抵抗測定回路のブロック図である。 11……測定電流源、12……被測定抵抗、 13……HI測定端子、14……LI測定端子、 15……HV測定端子、16……LV測定端子、 17……HVバッファアンプ、18……LVバッファアンプ、19
……差動アンプ、20……A/D変換器、21,22……リード
線、23……スイッチ、24……スイッチ、25……コンデン
サ、26……コンデンサ。
すブロック図、第２図は本発明の測定タイミング図、第
３図は従来の４端子抵抗測定回路のブロック図である。 11……測定電流源、12……被測定抵抗、 13……HI測定端子、14……LI測定端子、 15……HV測定端子、16……LV測定端子、 17……HVバッファアンプ、18……LVバッファアンプ、19
……差動アンプ、20……A/D変換器、21,22……リード
線、23……スイッチ、24……スイッチ、25……コンデン
サ、26……コンデンサ。
Claims (1)
- 【請求項１】被測定部品に電流を流して両端の電圧を測
定する測定端子とアース間にコンデンサを設け、このコ
ンデンサに測定していないタイミングで電源電圧を充電
し、測定端子に接触不良があると測定中でもこの充電電
圧が残り、測定値がオーバーフローの異常値になるよう
に構成した電子部品測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33440888A JPH0695120B2 (ja) | 1988-12-28 | 1988-12-28 | 電子部品測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33440888A JPH0695120B2 (ja) | 1988-12-28 | 1988-12-28 | 電子部品測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02176574A JPH02176574A (ja) | 1990-07-09 |
| JPH0695120B2 true JPH0695120B2 (ja) | 1994-11-24 |
Family
ID=18277037
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33440888A Expired - Fee Related JPH0695120B2 (ja) | 1988-12-28 | 1988-12-28 | 電子部品測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0695120B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2580064Y2 (ja) * | 1991-10-15 | 1998-09-03 | 日置電機株式会社 | 四端子測定回路 |
| JP5638293B2 (ja) * | 2010-07-02 | 2014-12-10 | 日置電機株式会社 | 四端子型インピーダンス測定装置 |
-
1988
- 1988-12-28 JP JP33440888A patent/JPH0695120B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02176574A (ja) | 1990-07-09 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |