JPH02176574A - 電子部品測定装置 - Google Patents
電子部品測定装置Info
- Publication number
- JPH02176574A JPH02176574A JP63334408A JP33440888A JPH02176574A JP H02176574 A JPH02176574 A JP H02176574A JP 63334408 A JP63334408 A JP 63334408A JP 33440888 A JP33440888 A JP 33440888A JP H02176574 A JPH02176574 A JP H02176574A
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- Japan
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- capacitor
- measurement
- measured
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は４端子抵抗測定において４端子の測定端子のい
ずれが接触不良になった場合でも、測定直がオーバーフ
ロー、又は零の異常１直として確実に不良検出させる電
子部品測定装置に関するものである。
ずれが接触不良になった場合でも、測定直がオーバーフ
ロー、又は零の異常１直として確実に不良検出させる電
子部品測定装置に関するものである。
従来の技術
従来の４端子抵抗の測定装置の測定回路を第３図に示す
。この４瑞子抵抗の−ｊ１１Ｉ定回゛洛は、測定端子啜
触低抗の測定實への影１をなくする手段としてよく使わ
れる。
。この４瑞子抵抗の−ｊ１１Ｉ定回゛洛は、測定端子啜
触低抗の測定實への影１をなくする手段としてよく使わ
れる。
１は測定電流源、２け被測定駄抗、３と４は被測定抵抗
２に電流分流すためのＨＩ、ＬＩ端子、６゜６は被測定
抵抗２の両端の電圧をセンシングするためのＨＶ、ＬＶ
瑞子である。ＨＶ端子６とＬＶ端子６に現われる出力は
高入力インピーダンスのバッファアンプ７．８を貞して
差動アンプ９に入力され、ＨＶとＬＶとの電位差が差動
アンプ９に接続されたム／Ｄ変臭器１ｏで代抗笹として
直続される。従来の測定装＠は３〜らの測定鴻子が被測
定抵抗２に接触した状、態でのみム／Ｄ変換器１ｏの測
定値が真の１直を示し、ＨＩ、ＬＩが接触不良の場合は
測定適は零になるが、Ｈ”／、ＬＶが妾触不良の場合は
測定１直が定まらない。
２に電流分流すためのＨＩ、ＬＩ端子、６゜６は被測定
抵抗２の両端の電圧をセンシングするためのＨＶ、ＬＶ
瑞子である。ＨＶ端子６とＬＶ端子６に現われる出力は
高入力インピーダンスのバッファアンプ７．８を貞して
差動アンプ９に入力され、ＨＶとＬＶとの電位差が差動
アンプ９に接続されたム／Ｄ変臭器１ｏで代抗笹として
直続される。従来の測定装＠は３〜らの測定鴻子が被測
定抵抗２に接触した状、態でのみム／Ｄ変換器１ｏの測
定値が真の１直を示し、ＨＩ、ＬＩが接触不良の場合は
測定適は零になるが、Ｈ”／、ＬＶが妾触不良の場合は
測定１直が定まらない。
発明が塀決しようとする課題
抵抗測定時において３〜６の測定端子との被測定抵抗２
のリード線との接触が常に保たれているという保証はな
い。特に高速機械などによる低抗の自動測定選別機では
既成側測定端子、及び被測定抵抗２の端子接触面の汚れ
、酸叱皮漠などにより接触不良が発生しやすい。接触不
良が発生すると４４子のどの端子が接触不良になるかに
よって測定′ｉｉは大きく変わる。
のリード線との接触が常に保たれているという保証はな
い。特に高速機械などによる低抗の自動測定選別機では
既成側測定端子、及び被測定抵抗２の端子接触面の汚れ
、酸叱皮漠などにより接触不良が発生しやすい。接触不
良が発生すると４４子のどの端子が接触不良になるかに
よって測定′ｉｉは大きく変わる。
第３図において、ＩＩ端子ａ、ＬＩ端子４のいずれかが
接触不良になると電流が流れないだめ。
接触不良になると電流が流れないだめ。
ＨＶ端子６とＬＭ端子６の電流が等しくなりム／Ｄ変漠
器１０の測定管は零となる。Ｈ”／端子５とＬｖｖ子６
が接触不良になると、バッファアンプ７．１！ｄ、１０
Ω以上の高入力インピーダンスであるだめ、ノイズ
などの誘導を受けやすくバッファアンプ７．８の出力レ
ベルは一定シない。
器１０の測定管は零となる。Ｈ”／端子５とＬｖｖ子６
が接触不良になると、バッファアンプ７．１！ｄ、１０
Ω以上の高入力インピーダンスであるだめ、ノイズ
などの誘導を受けやすくバッファアンプ７．８の出力レ
ベルは一定シない。
このため、自動測定選別機などにおいては被測定抵抗２
が硯洛外の不良品であっても、場合によっては測定値が
良品の質を示して良品と選別してしまうことがあり得る
。これは良品中に不良品が混入するという重大な間頂を
発生させる。
が硯洛外の不良品であっても、場合によっては測定値が
良品の質を示して良品と選別してしまうことがあり得る
。これは良品中に不良品が混入するという重大な間頂を
発生させる。
本発明は、４端子のどの１１１３端子が接触不良になっ
ても測定！ｆＬが明達な異常値（零又はオーバーフロー
）を示すようにしだものである。
ても測定！ｆＬが明達な異常値（零又はオーバーフロー
）を示すようにしだものである。
課須を解決するための手段
Ｈ’／とＬＶのバッファアンプの入力と対アース間に充
電用の小容龜コンデンサを設け、測定していないタイミ
ングでＨｖ＠Ｕ′／Ｃ＋ｔｙｙｔ源ＴＬ圧、Ｌ”／側に
−の電源電圧を充直し、測定する直前に充電をＯＦＦす
ると被測定抵抗がＭＹ端子、 Ｌｖ端子に接触している
場合は瞬時に放電されて正常な」１］定五圧となり、妾
強不良の場合は充ＩＥ實圧がそのまま残り、測定値がオ
ーバーフローとなるように構成したものである。
電用の小容龜コンデンサを設け、測定していないタイミ
ングでＨｖ＠Ｕ′／Ｃ＋ｔｙｙｔ源ＴＬ圧、Ｌ”／側に
−の電源電圧を充直し、測定する直前に充電をＯＦＦす
ると被測定抵抗がＭＹ端子、 Ｌｖ端子に接触している
場合は瞬時に放電されて正常な」１］定五圧となり、妾
強不良の場合は充ＩＥ實圧がそのまま残り、測定値がオ
ーバーフローとなるように構成したものである。
作用
上記構成とすることによりＨＶ、Ｉ、Ｖの測定端子が妾
、触不良の局舎の測定値は充電用コンデンサの充電［圧
によりオーバーフロー１．−ＨＩ、ＬＩの測定端子の妾
独不良の場合は電流が流れないため零と、いずれの妾触
不良の場合でも測定値が異常直となるため、希潜の・氏
抗の良品範囲に入ることがなく、ｆｆ１ｌＪ を端子り
接触不良による良品中への不良品混入といった事故の防
止ができる。
、触不良の局舎の測定値は充電用コンデンサの充電［圧
によりオーバーフロー１．−ＨＩ、ＬＩの測定端子の妾
独不良の場合は電流が流れないため零と、いずれの妾触
不良の場合でも測定値が異常直となるため、希潜の・氏
抗の良品範囲に入ることがなく、ｆｆ１ｌＪ を端子り
接触不良による良品中への不良品混入といった事故の防
止ができる。
実施例
以下１本発明の実施例を第１図のブロック図を用いて説
明する。
明する。
図面に、ひいて、１１は測定混流源、１２は彼測定低抗
、１３〜１６ｕ測定端子（ＨＩ、ＬＩ、ＨＶ。
、１３〜１６ｕ測定端子（ＨＩ、ＬＩ、ＨＶ。
Ｌｖ）である。１了、１８°、ＩａｖとＬｖのバッファ
アンプで、１９Ｉ！、差動アンプ、２０ばム／Ｄ変換器
、２１．２２は被測定抵抗１２のリード線である。従来
と違うところはそれぞれのバッフ１アンプの入力に電椋
准圧充電用のスイッチ２３．２４と改１ｏＰＦ１度の小
容骨コンデンサ２５．２６を付加していることである。
アンプで、１９Ｉ！、差動アンプ、２０ばム／Ｄ変換器
、２１．２２は被測定抵抗１２のリード線である。従来
と違うところはそれぞれのバッフ１アンプの入力に電椋
准圧充電用のスイッチ２３．２４と改１ｏＰＦ１度の小
容骨コンデンサ２５．２６を付加していることである。
第２図のタイミングに示すように測定するまではスイッ
チ２３とスイッチ２４ばそれぞれＯＷしており、コンデ
ンサ２６にはバッファアンプ１７の電源（圧と同じ十電
圧、コンデンサ２６には一電圧が充電されている。測定
スタートの信号でスイッチ２３とスイッチ２４はＯＦＦ
される。測定端子１３〜１６がリード線２１．２２と接
触している場合は、測定電流源１１．被測定抵抗１２に
よ、！７Ａ４に放電されて正常な測定ができる。ＭＶ測
定端子１６がリード１ｓ２１と：妾融不良の場合はコン
デンサ２６の充１直圧がそのまま残り、差動アンプ１９
の出力は十置圧のオーバーフローになる。
チ２３とスイッチ２４ばそれぞれＯＷしており、コンデ
ンサ２６にはバッファアンプ１７の電源（圧と同じ十電
圧、コンデンサ２６には一電圧が充電されている。測定
スタートの信号でスイッチ２３とスイッチ２４はＯＦＦ
される。測定端子１３〜１６がリード線２１．２２と接
触している場合は、測定電流源１１．被測定抵抗１２に
よ、！７Ａ４に放電されて正常な測定ができる。ＭＶ測
定端子１６がリード１ｓ２１と：妾融不良の場合はコン
デンサ２６の充１直圧がそのまま残り、差動アンプ１９
の出力は十置圧のオーバーフローになる。
Ｌｖ測測定壬子１６リード、腺２２と接触不良の場合は
コンデンサ２６の一電圧がそのまま残り、差動アンプ１
９／）−人力に入り出力は間諜に十戒圧のオーバーフロ
ーとなる。
コンデンサ２６の一電圧がそのまま残り、差動アンプ１
９／）−人力に入り出力は間諜に十戒圧のオーバーフロ
ーとなる。
このようにｆ（ｖ、ＬＶの測定端子１６．１６と被測定
氏抗１２のリード線２１．２２との接触不良に対しては
常に！ 定、直をオーバーフローにすることができる。
氏抗１２のリード線２１．２２との接触不良に対しては
常に！ 定、直をオーバーフローにすることができる。
発明の効果
以上のように本発明により、４１［定情妾を損うことな
く比較的面単な方法で測定端子のい！５１なる接触不良
に対しても４１Ｊ定直をオーバーフロー又は零の明確な
異常直にして、不良品の良品中への混入を防止できる。
く比較的面単な方法で測定端子のい！５１なる接触不良
に対しても４１Ｊ定直をオーバーフロー又は零の明確な
異常直にして、不良品の良品中への混入を防止できる。
これは、電子部品測定選別機の選別品質保証のだめＯ重
要なフェールセーフ５機能である。
要なフェールセーフ５機能である。
又、この方法は抵抗のみならず、コイルなどの他の４端
子測定にも応用することができる用途の広いものである
。
子測定にも応用することができる用途の広いものである
。
第１図は本発明による電子部品測定装置の一実施例を示
すブロック図、第２図は本発明の測定タイミング図、第
３図は従来の４端子抵抗測定回路のブロック図である。 １１・・・・測定電流源、１２・・・・・・被測定抵抗
、１３・・・・ＨＩ測定端子、１４・・・・・・ＬＩ測
定端子。 １６・・・・・ＨＶ測定端子、１６・・・・・・Ｌｖ測
定端子。 １７・・・・・ＭＶバッファアンプ、１８・・・・・・
ＬＶバッファアンプ、１９・・・・・・差動アンプ、２
０・・・・・・〜１変換器、２１．２２・・・・・リー
ド線、２３・・・・・・スイッチ、２４・・・・・スイ
ッチ、２６・・・・・・コンデンサ。 ２８・・・・・・コンデンサ。 代理人の氏名 弁理士 粟 野 重 孝 ほか１各部２
１！１ 第３図 ３−・・Ｈ１ｍπ纒チ 苓−Ｌ Ｉ １！定煽子 ５−ＨＶＩＩＩ’ｌｌ’ｌｋ子 ７９−１勧アンプ
すブロック図、第２図は本発明の測定タイミング図、第
３図は従来の４端子抵抗測定回路のブロック図である。 １１・・・・測定電流源、１２・・・・・・被測定抵抗
、１３・・・・ＨＩ測定端子、１４・・・・・・ＬＩ測
定端子。 １６・・・・・ＨＶ測定端子、１６・・・・・・Ｌｖ測
定端子。 １７・・・・・ＭＶバッファアンプ、１８・・・・・・
ＬＶバッファアンプ、１９・・・・・・差動アンプ、２
０・・・・・・〜１変換器、２１．２２・・・・・リー
ド線、２３・・・・・・スイッチ、２４・・・・・スイ
ッチ、２６・・・・・・コンデンサ。 ２８・・・・・・コンデンサ。 代理人の氏名 弁理士 粟 野 重 孝 ほか１各部２
１！１ 第３図 ３−・・Ｈ１ｍπ纒チ 苓−Ｌ Ｉ １！定煽子 ５−ＨＶＩＩＩ’ｌｌ’ｌｋ子 ７９−１勧アンプ
Claims (1)
- 被測定部品に電流を流して両端の電圧を測定する測定端
子とアース間にコンデンサを設け、このコンデンサに測
定していないタイミングで電源電圧を充電し、測定端子
に接触不良があると測定中でもこの充電電圧が残り、測
定値がオーバーフローの異常値になるように構成した電
子部品測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33440888A JPH0695120B2 (ja) | 1988-12-28 | 1988-12-28 | 電子部品測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33440888A JPH0695120B2 (ja) | 1988-12-28 | 1988-12-28 | 電子部品測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02176574A true JPH02176574A (ja) | 1990-07-09 |
| JPH0695120B2 JPH0695120B2 (ja) | 1994-11-24 |
Family
ID=18277037
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33440888A Expired - Fee Related JPH0695120B2 (ja) | 1988-12-28 | 1988-12-28 | 電子部品測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0695120B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0534583U (ja) * | 1991-10-15 | 1993-05-07 | 日置電機株式会社 | 四端子測定回路 |
| JP2012013588A (ja) * | 2010-07-02 | 2012-01-19 | Hioki Ee Corp | 四端子型インピーダンス測定装置 |
-
1988
- 1988-12-28 JP JP33440888A patent/JPH0695120B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0534583U (ja) * | 1991-10-15 | 1993-05-07 | 日置電機株式会社 | 四端子測定回路 |
| JP2012013588A (ja) * | 2010-07-02 | 2012-01-19 | Hioki Ee Corp | 四端子型インピーダンス測定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0695120B2 (ja) | 1994-11-24 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |