JPH0696646B2 - Biaxially oriented polyetheretherketone film - Google Patents

Biaxially oriented polyetheretherketone film

Info

Publication number
JPH0696646B2
JPH0696646B2 JP25743387A JP25743387A JPH0696646B2 JP H0696646 B2 JPH0696646 B2 JP H0696646B2 JP 25743387 A JP25743387 A JP 25743387A JP 25743387 A JP25743387 A JP 25743387A JP H0696646 B2 JPH0696646 B2 JP H0696646B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film
particles
particle size
polyetheretherketone
average particle
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP25743387A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH01101336A (en
Inventor
欣治 長谷川
慶弘 能美
久 浜野
秀雄 加藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Teijin Ltd
Original Assignee
Teijin Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Teijin Ltd filed Critical Teijin Ltd
Priority to JP25743387A priority Critical patent/JPH0696646B2/en
Publication of JPH01101336A publication Critical patent/JPH01101336A/en
Publication of JPH0696646B2 publication Critical patent/JPH0696646B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/03Use of materials for the substrate
    • H05K1/0313Organic insulating material
    • H05K1/0353Organic insulating material consisting of two or more materials, e.g. two or more polymers, polymer + filler, + reinforcement
    • H05K1/0373Organic insulating material consisting of two or more materials, e.g. two or more polymers, polymer + filler, + reinforcement containing additives, e.g. fillers

Landscapes

  • Manufacture Of Macromolecular Shaped Articles (AREA)
  • Shaping By String And By Release Of Stress In Plastics And The Like (AREA)
  • Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は二軸配向ポリエーテルエーテルケトンフイルム
に関し、更に詳しくはシリコン樹脂微粒子を含有し、表
面が平坦で滑り性,走行耐久性,絶縁性特性等に優れ、
かつ耐熱性に優れた二軸配向ポリエーテルエーテルケト
ンフイルムに関する。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to a biaxially oriented polyetheretherketone film, and more specifically, it contains fine particles of silicone resin and has a flat surface, slipperiness, running durability, and insulation properties. Excellent characteristics,
The present invention also relates to a biaxially oriented polyetheretherketone film having excellent heat resistance.

[従来技術] 従来から、二軸配向ポリエチレンテレフタレートフイル
ムは、その機械的性質,電気的性質,耐熱性,耐薬品性
等に優れていることから、工業用途に広く用いられてい
る。
[Prior Art] Conventionally, a biaxially oriented polyethylene terephthalate film has been widely used for industrial applications because of its excellent mechanical properties, electrical properties, heat resistance, chemical resistance and the like.

しかしながら、近年、用途によってはフイルムの要求特
性が高まり、また二軸配向ポリエチレンテレフタレート
フイルムの特性にも限界があることから、より特性の優
れたフイルムが求められている。例えば、二軸配向ポリ
エチレンテレフタレートフイルムは、長期耐熱性がE種
(長期耐熱温度:125℃)ないしB種(同:130℃)であ
り、モーター絶縁,断線被覆材料として用いる場合この
長期耐熱性の点からモーターの小型化が制限されるとい
う問題が生じている。また、上記フイルムをコンデンサ
ーを用途に用いる場合、85℃近くから誘電正接が増大
し、使用温度の制限をもたらしている。更にまた、上記
フイルムをフレキシブルプリント回路基盤として用いる
場合、ハンダ耐熱性が問題となり、その展開が制限され
ている。このようなことから、より耐熱性の優れたフイ
ルムが求められている。
However, in recent years, the required properties of the film have been increased depending on the application, and the properties of the biaxially oriented polyethylene terephthalate film are also limited. Therefore, a film having more excellent properties is required. For example, biaxially oriented polyethylene terephthalate film has long-term heat resistance of Class E (long-term heat resistance temperature: 125 ° C) to Class B (the same: 130 ° C), and when used as a material for motor insulation and wire breakage coating, this long-term heat resistance From this point, there is a problem that miniaturization of the motor is limited. Further, when the above film is used for a capacitor, the dielectric loss tangent increases from around 85 ° C., which limits the operating temperature. Furthermore, when the above film is used as a flexible printed circuit board, solder heat resistance becomes a problem, and its development is limited. Therefore, there is a demand for a film having more excellent heat resistance.

ところで、強靭で優れた耐熱性を有する結晶性熱可塑性
ポリマーとして、熱可塑性ポリエーテルエーテルケトン
が知られ(特公昭60−32642号,特公昭61−10486号)、
このフイルム化の検討,提案がされている。例えば、特
開昭57−137116号公報には、熱可塑性ポリエーテルエー
テルケトンフイルムは耐熱性を活かした用途分野、すな
わちモーター用絶縁フイルム,トランス用絶縁フイル
ム,コンデンサー用絶縁フイルム,フレキシブルプリン
ト回路基板などへの展開が期待されるとして、圧延法で
一軸方向に配向したフイルムを製造する方法が記載さ
れ、そして用途によっては炭酸カルシウム,微粒子ケイ
酸塩,タルク,塩基性炭酸マグネシウム,アルミナ,ア
ルミナ水和物,硫酸バリウム,硫酸カルシウム、雲母
粉,亜鉛華,酸化チタン,カーボンブラックなどの無機
充填材を加えても良いことが説明されている。
By the way, a thermoplastic polyetheretherketone is known as a crystalline thermoplastic polymer which is tough and has excellent heat resistance (Japanese Patent Publication No. 60-32642, Japanese Patent Publication No. 61-10486),
Studies and proposals for making this film have been made. For example, in Japanese Patent Laid-Open No. 57-137116, thermoplastic polyetheretherketone films are used in fields of application utilizing heat resistance, that is, insulating films for motors, insulating films for transformers, insulating films for capacitors, flexible printed circuit boards, etc. A method for producing a uniaxially oriented film by a rolling method is described as expected to be applied to the above, and depending on the application, calcium carbonate, fine particle silicate, talc, basic magnesium carbonate, alumina, hydrated alumina. It is described that an inorganic filler such as a substance, barium sulfate, calcium sulfate, mica powder, zinc white, titanium oxide or carbon black may be added.

特開昭58−63417号公報には、等方性二軸配向ポリエー
テルエーテルケトンフイルムの製造方法が記載されてい
る。
JP-A-58-63417 describes a method for producing an isotropic biaxially oriented polyetheretherketone film.

特開昭60−93625号公報には、圧延法で二軸配向した垂
直磁化用ポリエーテルエーテルケトンフイルムが記載さ
れている。
JP-A-60-93625 discloses a polyetheretherketone film for perpendicular magnetization which is biaxially oriented by a rolling method.

特開昭60−187928号公報には、その長さ方向及びそれと
直角方向の5%伸長時応力が共に13kg/mm2以上、少くと
も一方向の初期弾性率が600kg/mm2以上,並びに180℃に
おける長さ方向及びそれと直角方向の熱収縮率が4%以
下である二軸配向ポリエーテルケトン(又はポリエーテ
ルエーテルケトン)フイルムをベースとする磁気記録材
料が記載され、そしてポリマー中に二酸化チタンのつや
消剤,微粒子シリカ,チャイナクレイなどの滑剤を含有
させてよいことが説明されている。
JP-A-60-187928 discloses that the stress at 5% elongation in the longitudinal direction and the direction perpendicular thereto is 13 kg / mm 2 or more, and the initial elastic modulus in at least one direction is 600 kg / mm 2 or more, and 180 A magnetic recording material based on a biaxially oriented polyetherketone (or polyetheretherketone) film having a thermal shrinkage of 4% or less in the lengthwise direction and the direction perpendicular thereto at 0 ° C is described, and titanium dioxide in a polymer is described. It is described that a lubricant such as a matting agent, fine particle silica, and China clay may be contained.

特開昭60−189421号公報には、無機粒子含有のポリエー
テルケトン(又はポリエーテルエーテルケトン)からな
り、表面粗さRaが0.008〜0.090でかつ動摩擦係数μdが
0.12〜0.50である二軸配向フイルムが記載され、この無
機粒子として酸化マグネシウム,酸化亜鉛,炭酸マグネ
シウム,燐酸マグネシウム,硫酸カルシウム,硫酸バリ
ウム,酸化アルミニウム,二酸化ケイ素,酸化チタン,
カオリン,ケイ藻土等の無機酸化物、無機塩類、アルミ
ノ珪酸塩等やカーボンブラック等が挙げられると説明さ
れている。
Japanese Unexamined Patent Publication No. 60-189421 discloses an inorganic particle-containing polyetherketone (or polyetheretherketone) having a surface roughness Ra of 0.008 to 0.090 and a dynamic friction coefficient μd.
A biaxially oriented film having a thickness of 0.12 to 0.50 is described, and as the inorganic particles, magnesium oxide, zinc oxide, magnesium carbonate, magnesium phosphate, calcium sulfate, barium sulfate, aluminum oxide, silicon dioxide, titanium oxide,
It is described that examples thereof include inorganic oxides such as kaolin and diatomaceous earth, inorganic salts, aluminosilicates and carbon black.

特開昭61−37418号公報には、ポリエーテルエーテルケ
トン100重量部に無機質充填剤0.01〜10重量部を配合し
た組成物を製膜し二軸配向させた易滑性熱可塑性ポリエ
ーテルエーテルケトンフイルムが記載され、この無機質
充填剤はタルク,シリカ,カオリン,焼成カオリン,マ
イカ,アエロジル,サイロイド,炭酸カルシウム,チタ
ン酸カリウム繊維等の1種又は2種以上を適宜選択して
用いるが、特に平均粒径5μ以下の粒径の細かいものが
好ましいと説明されている。
JP-A-61-37418 discloses a slippery thermoplastic polyetheretherketone in which a composition prepared by mixing 0.01 to 10 parts by weight of an inorganic filler with 100 parts by weight of polyetheretherketone is biaxially oriented. A film is described, and as this inorganic filler, one kind or two or more kinds of talc, silica, kaolin, calcined kaolin, mica, aerosil, siloid, calcium carbonate, potassium titanate fiber, etc. are appropriately selected and used, but particularly average It is described that fine particles having a particle diameter of 5 μ or less are preferable.

しかしながら、本発明者らの研究結果によると、これら
二軸配向ポリエーテルエーテルケトンフイルムは、該フ
イルム中の無機粒子の囲りにボイドが生じており、走行
耐久性,絶縁欠陥異常率,絶縁破壊率等に改善すべき課
題の在ることが明らかとなった。また、無機粒子はフイ
ルム中での分散が悪いことが明らかとなった。
However, according to the research results of the present inventors, in these biaxially oriented polyetheretherketone films, voids are generated around the inorganic particles in the film, and the running durability, the insulation defect abnormality rate, and the dielectric breakdown occur. It became clear that there are issues that need to be improved, such as the rate. It was also found that the inorganic particles were poorly dispersed in the film.

[発明の目的] 本発明の目的は、表面が平坦で滑り性,走行耐久性,絶
縁特性等に優れ、かつ耐熱性に優れた二軸配向ポリエー
テルエーテルケトンフイルムを提供することにある。
[Object of the Invention] An object of the present invention is to provide a biaxially oriented polyetheretherketone film which has a flat surface and is excellent in slipperiness, running durability, insulation properties and the like, and is also excellent in heat resistance.

本発明の他の目的は、フイルム表面にシリコン樹脂微粒
子に由来する多数の微細な突起を有し、かつ表面が平坦
で滑り性,走行耐久性,絶縁特性等に優れた二軸配向ポ
リエーテルエーテルケトンフイルムを提供することにあ
る。
Another object of the present invention is to provide a biaxially oriented polyether ether having a large number of fine projections derived from silicon resin fine particles on the surface of the film and having a flat surface and excellent in slipperiness, running durability, insulation properties and the like. To provide a ketone film.

本発明のさらに他の目的及び利点は、以下の説明から明
らかとなろう。
Further objects and advantages of the present invention will be apparent from the following description.

発明の構成・効果] 本発明によれば、本発明の上記目的及び利点は第1に、 (I)熱可塑性ポリエーテルエーテルケトン、及び (II)(a)下記式(A) RxSiO2−x/2 …(A) ここで、Rは炭素数1〜7の炭化水素基であり、そして
xは1〜1.2の数である で表わされる組成を有し、 (b)下記式(B) f=V/D3 …(B) ここで、Vは粒子1個当りの平均体積(μm3)でありそ
してDは粒子の平均最大粒径(μm)である で定義される体積形状係数(f)が0.4より大きくそし
てπ/6以下であり、そして (c)0.01〜4μmの平均粒径を有するシリコン樹脂微
粒子0.005〜3.0重量%(熱可塑性ポリエーテルエーテル
ケトンに対し) から成る緊密な混合物から形成された二軸配向ポリエー
テルエーテルケトンフイルムによって達成される。
Structure / Effects of the Invention] According to the present invention, firstly, the above objects and advantages of the present invention are (I) a thermoplastic polyether ether ketone, and (II) (a) the following formula (A) RxSiO 2 -x / 2 (A) Here, R is a hydrocarbon group having 1 to 7 carbon atoms, and x is a number of 1 to 1.2. (B) The following formula (B) f = V / D 3 (B) where V is the average volume per particle (μm 3 ) and D is the average maximum particle size (μm) of the particles. Volume shape factor (f ) Is greater than 0.4 and not more than π / 6, and (c) 0.005 to 3.0% by weight (based on thermoplastic polyetheretherketone) of silicone resin particles having an average particle size of 0.01 to 4 μm, from an intimate mixture. This is accomplished by the biaxially oriented polyetheretherketone film formed.

本発明における熱可塑性ポリエーテルエーテルケトン
は、構成単位 を単独で、または該単位と他の構成単位からなるポリマ
ーである。
The thermoplastic polyether ether ketone in the present invention is a constitutional unit. Is a polymer alone or consisting of this unit and other constitutional units.

この他の構成単位としては、例えば 等が挙げられる。上記構成単位において、Aは着接結
合、酸素,−SO2−,−CO−または二価の低級脂肪族炭
化水素基であり、QおよびQ′は同一であっても相違し
てもよく−CO−または−SO2−であり、nは0又は1で
ある。これらポリマーは、特公昭60−32642号公報,特
公昭61−10486号公報,特開昭57−137116号公報等に記
載されている。
As other structural units, for example, Etc. In the above structural unit, A is a covalent bond, oxygen, --SO 2- , --CO-- or a divalent lower aliphatic hydrocarbon group, and Q and Q'may be the same or different. CO- or -SO 2 - and is, n is 0 or 1. These polymers are described in JP-B-60-32642, JP-B-61-10486 and JP-A-57-137116.

熱可塑性ポリエーテルエーテルケトンには、流動性改良
などの目的でポリアリーレンポリエーテル,ポリスルホ
ン,ポリアリレート,ポリエステル,ポリカーボネート
等の樹脂をブレンドしても良く、また安定剤,酸化防止
剤,紫外線吸収剤等の如き添加剤を含有しせても良い。
The thermoplastic polyether ether ketone may be blended with a resin such as polyarylene polyether, polysulfone, polyarylate, polyester, or polycarbonate for the purpose of improving fluidity, or may be a stabilizer, an antioxidant, an ultraviolet absorber. You may include the additive like the above.

熱可塑性ポリエーテルエーテルケトンは、上述の通り、
それ自体公知であり、且つそれ自体公知の方法で製造す
ることができる。
The thermoplastic polyether ether ketone, as described above,
It is known per se and can be produced by a method known per se.

上記熱可塑性ポリエーテルエーテルケトンは、見かけの
溶融粘度が380℃,見かけの剪断速度1000sec-1の条件
で、500ポイズ〜10000ポイズ、更には1000ポイズ〜5000
ポイズの範囲にあるものが、製膜性,フイルム特性の点
から好ましい。
The above-mentioned thermoplastic polyetheretherketone has an apparent melt viscosity of 380 ° C. and an apparent shear rate of 1000 sec −1 , 500 poises to 10000 poises, and further 1000 poises to 5000 poises.
Those in the poise range are preferable from the viewpoint of film-forming property and film property.

本発明の二軸配向ポリエーテルエーテルケトンフイルム
はそのフイルム表面の平坦性を定義するRaの後記説明か
ら明らかとなり、フイルム表面に多数の微細な突起を有
している。
The biaxially oriented polyetheretherketone film of the present invention becomes clear from the following description of Ra which defines the flatness of the film surface, and has many fine projections on the film surface.

それらの多数の微細な突起は本発明によれば熱可塑性ポ
リエーテルエーテルケトン中に分散して含有される多数
の実質的に不活性な固体微粒子に由来する。
The large number of fine projections originates from the large number of substantially inert solid microparticles contained according to the invention dispersed in a thermoplastic polyetheretherketone.

本発明において、シリコン樹脂微粒子(II)は、 下記式(A) RxSiO2−x/2 …(A) ここで、Rは炭素数1〜7の炭化水素基であり、そして
xは1〜1.2である で表わされる組成を有する。
In the present invention, the silicon resin fine particles (II) have the following formula (A) RxSiO 2 -x / 2 (A) where R is a hydrocarbon group having 1 to 7 carbon atoms, and x is 1 to 1.2. It has a composition represented by.

上記式(A)におけるRは炭素数1〜7の炭化水素基で
あり、例えば炭素数1〜7のアルキル基,フェニル基あ
るいはトリル基が好ましい。炭素数1〜7のアルキル基
は直鎖状であっても分岐鎖状であってもよく、例えばメ
チル,エチル,n−プロピル,iso−プロピル,n−ブチル,i
so−ブチル,tert−ブチル,n−ペンチル,n−ヘプチル等
をあげることができる。
R in the above formula (A) is a hydrocarbon group having 1 to 7 carbon atoms, and for example, an alkyl group having 1 to 7 carbon atoms, a phenyl group or a tolyl group is preferable. The alkyl group having 1 to 7 carbon atoms may be linear or branched, and examples thereof include methyl, ethyl, n-propyl, iso-propyl, n-butyl, i.
Examples include so-butyl, tert-butyl, n-pentyl, n-heptyl and the like.

これらのうち、Rとしてはメチルおよびフェニルが好ま
しく、就中メチルが特に好ましい。
Of these, methyl and phenyl are preferable as R, and methyl is particularly preferable.

上記式(A)におけるxは1〜1.2数である。上記式
(A)においてxが1であるとき、上記式(A)は、下
記式(A)−1 RSiO1.5 …(A)−1 ここで、Rの定義は上記に同じである で表わすことができる。
X in the above formula (A) is 1 to 1.2. When x is 1 in the above formula (A), the above formula (A) is represented by the following formula (A) -1 RSiO 1.5 (A) -1 where R is defined as above. You can

上記式(A)−1の組成は、シリコン樹脂の三次元重合
体鎖構造における下記構造部分; に由来するものである。
The composition of the above formula (A) -1 has the following structural portion in the three-dimensional polymer chain structure of a silicone resin; It is derived from.

また、上記式(A)においてxが1.2であるとき、上記
式(A)は下記式(A)−2 R1.2SiO1.4 …(A)−2 ここで、Rの定義は上記に同じである で表わすことができる。
Further, when x is 1.2 in the above formula (A), the above formula (A) is the following formula (A) -2 R 1.2 SiO 1.4 ... (A) -2 where R is the same as above. Can be expressed as

上記式(A)−2の組成は、(A)−1の構造0.8モル
と下記式(A)′ R2SiO …(A)′ ここで、Rの定義は上記と同じである で表わされる構造0.2モルとから成ると理解することが
できる。
The composition of the above formula (A) -2 is represented by the following formula (A) ′ R 2 SiO ... (A) ′ in which 0.8 mol of the structure of (A) -1 is used and the definition of R is the same as above. It can be understood that the structure consists of 0.2 mol.

上記式(A)′はシリコン樹脂の三次元重合体鎖におけ
る下記構造部分; に由来する。
The above formula (A) 'represents the following structural portion in the three-dimensional polymer chain of silicone resin; Derived from.

以上の説明から理解されるように、本発明の上記式
(A)の組成は、例えば上記式(A)−1構造のみから
実質的になるか、あるいは上記式(A)−1の構造と上
記式(A)−2の構造が適当な割合でランダムに結合し
た状態で共存する構造から成ることがわかる。
As can be understood from the above description, the composition of the above formula (A) of the present invention consists essentially of, for example, only the above formula (A) -1 structure or the above formula (A) -1 structure. It can be seen that the structure of the above formula (A) -2 is composed of coexisting structures in a state where they are randomly bonded at an appropriate ratio.

本発明のシリコン樹脂粒子は、好ましくは上記式(A)
において、xが1〜1.1の間の値を有する。
The silicone resin particles of the present invention preferably have the above formula (A)
In, x has a value between 1 and 1.1.

また、本発明のシリコン樹脂粒子(II)は、下記式
(B) f=V/D3 …(B) ここで、Vは粒子1ケ当りの平均体積(μm3)でありそ
してDは粒子の平均最大粒径(μm)である で定義される体積形状係数(f)が0.4より大きくそし
てπ/6以下であるものである。
The silicone resin particles (II) of the present invention have the following formula (B) f = V / D 3 (B) where V is the average volume per particle (μm 3 ) and D is the particle Is the average maximum particle size (μm) of which the volume shape factor (f) is larger than 0.4 and is π / 6 or less.

上記定義において、Dの粒子の平均最大粒径は粒子を横
切る任意の直線が粒子の周囲と交叉する2点間の距離の
うち最大の長さを持つ距離を云うものと理解すべきであ
る。
In the above definition, the average maximum particle size of the particles of D should be understood to mean the distance having the maximum length of the distance between any two points where any straight line across the particle intersects the perimeter of the particle.

本発明のシリコン樹脂粒子の好ましいfの値は0.44〜π
/6であり、より好ましいfの値は0.48〜π/6である。f
の値がπ/6である粒子は真球である。下限よりも小さい
f値を持つシリコン樹脂粒子の使用ではフイルム表面諸
特性の制御が極めて困難となる。
The preferred f value of the silicone resin particles of the present invention is 0.44 to π
/ 6, and a more preferable value of f is 0.48 to π / 6. f
A particle with a value of π / 6 is a true sphere. The use of silicon resin particles having an f value smaller than the lower limit makes it extremely difficult to control various film surface characteristics.

本発明で用いられるシリコン樹脂粒子は、さらに、0.01
〜4μmの平均粒径を有している。平均粒径が0.01μm
よりも小さい粒子を使用した場合には滑り性や耐削れ性
の向上効果が不充分であり、一方平均粒径が4μmより
大きい粒子を使用した場合には平面平坦性の十分でない
フイルムしか得られない。
The silicone resin particles used in the present invention further have 0.01
It has an average particle size of ˜4 μm. Average particle size is 0.01 μm
If the particles smaller than this are used, the effect of improving the slidability and abrasion resistance is insufficient, whereas if the particles having an average particle size larger than 4 μm are used, only a film having insufficient flatness in plane is obtained. Absent.

平均粒径は好ましくは0.05〜3μmの値にある。The average particle size is preferably between 0.05 and 3 μm.

ここに言う平均粒径とは、ストークスの式に基づいて算
出された等価球径粒度分布の積算50%点における径であ
ると理解される。
The average particle size referred to here is understood to be the diameter at the cumulative 50% point of the equivalent spherical particle size distribution calculated based on the Stokes equation.

本発明で用いられるシリコン樹脂粒子は、例えば、下記
式 RSi(OR′) ここで、Rは炭素数1〜7の炭化水素基でありそして
R′は低級アルキル基である で表われるトリアルコキシシランまたはこの部分加水分
解縮合物を、アンモニアあるいはメチルアミン,ジメチ
ルアミン,エチレンジアミン等の如きアミンの存在下、
攪拌下に、加水分解および縮合せしめることによつて製
造できる。上記出発原料を使用する上記方法によれば、
上記式(A)−1で表される組成を持つシリコン樹脂粒
子を製造することができる。
The silicone resin particles used in the present invention are represented by the following formula RSi (OR ') 3, wherein R is a hydrocarbon group having 1 to 7 carbon atoms and R'is a lower alkyl group. Silane or its partially hydrolyzed condensate, in the presence of ammonia or amines such as methylamine, dimethylamine, ethylenediamine,
It can be produced by hydrolysis and condensation with stirring. According to the method using the starting material,
Silicon resin particles having a composition represented by the above formula (A) -1 can be produced.

R2Si(OR′) ここで、RおよびR′の定義は上記に同じである で表わされるジアルコキシシランを上記トリアルコキシ
シランと一緒に併用し、上記方法に従えば、上記式
(A)−2で表わされる組成を持つシリコン樹脂粒子を
製造することができる。
R 2 Si (OR ′) 2 wherein R and R ′ are the same as defined above. A dialkoxysilane represented by the above is used together with the above trialkoxysilane, and according to the above method, the above formula (A It is possible to produce silicon resin particles having a composition represented by) -2.

本発明で用いられるシリコン樹脂粒子は、下記式 γ=D25/D75 ここで、γは粒径比であり、D25は微粒子の積算重量が
全体の重量の25%であるときの粒径であり、そしてD75
は微粒子は積算重量が全体の重量の75%であるときの粒
径である、但し積算重量の割合は大きい粒径の方から測
定するものとする で表わされる粒径比(γ)が好ましくは1〜1.4の範囲
にあるものである。この粒径比は更に好ましく1〜1.3
の範囲にあり、特に好ましくは1〜1.3の範囲にあり、
特に好ましくは1〜1.15の範囲にある。
The silicone resin particles used in the present invention have the following formula γ = D 25 / D 75, where γ is the particle size ratio, and D 25 is the particle size when the cumulative weight of the fine particles is 25% of the total weight. And then D 75
Is the particle size when the integrated weight is 75% of the total weight, but the ratio of the integrated weight is measured from the larger particle size. The particle size ratio (γ) is preferably It is in the range of 1 to 1.4. This particle size ratio is more preferably 1 to 1.3
, Particularly preferably in the range of 1 to 1.3,
It is particularly preferably in the range of 1-1.15.

本発明のフイルムを形成する熱可塑性ポリエーテルエー
テルケトン(I)とシリコン樹脂微粒子(II)との緊密
な混合物は、該微粒子(II)との緊密な混合物は、該微
粒子(II)を0.005〜3.0重量%(熱可塑性ポリエーテル
エーテルケトンに対し)を含有している。
The intimate mixture of the thermoplastic polyetheretherketone (I) and the silicone resin fine particles (II) forming the film of the present invention is the intimate mixture of the fine particles (II) and the fine particles (II) of 0.005 to It contains 3.0% by weight (based on the thermoplastic polyetheretherketone).

該微粒子(II)の量が0.005重量%未満では、フイルム
の滑り性や耐削れ性の向上効果が不充分であり、一方3.
0重量%を超えるとフイルムの平坦性が低下する。
If the amount of the fine particles (II) is less than 0.005% by weight, the effect of improving the slipperiness and abrasion resistance of the film is insufficient, while 3.
If it exceeds 0% by weight, the flatness of the film is deteriorated.

該微粒子(II)の量は0.01〜0.5重量%(熱可塑性ポリ
エーテルエーテルケトンに対し)が好ましい。
The amount of the fine particles (II) is preferably 0.01 to 0.5% by weight (based on the thermoplastic polyetheretherketone).

本発明で使用される上記シリコン樹脂微粒子は、上記の
如く、ポリエーテルエーテルケトンフイルムに表面平坦
性,滑り性および耐削れ性を付与する。特に、優れた耐
削れ性を与える理由として、本発明者の研究によれば
は、該シリコン樹脂微粒子がそれか混合されているポリ
エーテルエーテルケトンと非常に親和性が大きいことに
よることが明らかとされた。
As described above, the above-mentioned silicon resin fine particles used in the present invention impart surface flatness, slipperiness and abrasion resistance to the polyetheretherketone film. In particular, as a reason for giving excellent abrasion resistance, according to the research of the present inventors, it is clear that the silicone resin fine particles have a very large affinity with the polyether ether ketone mixed therein. Was done.

すなわち、該シリコン樹脂微粒子を含有する本発明のフ
イルム表面をイオンエッチングしてフイルム中のシリコ
ン樹脂微粒子を暴露させ、走査型電子顕微鏡にて表面を
観察すると、シリコン樹脂微粒子の周囲表面がポリエー
テルエーテルケトン基質と実質的に接触している状態、
換言すれは該周囲表面とポリエーテルエーテルケトン基
質との間にボイドが殆んどあるいは全く看られない状態
が観察されるのである。
That is, the film surface of the present invention containing the silicon resin particles is subjected to ion etching to expose the silicon resin particles in the film, and the surface is observed with a scanning electron microscope. In substantial contact with a ketone substrate,
In other words, a state is observed in which almost or no void is observed between the peripheral surface and the polyetheretherketone substrate.

また、本発明のフイルムの上記シリコン樹脂微粒子がポ
リエーテルエーテルケトン基質と大きい親和性を有する
ことを、別の尺度である後に定義するボイド比(粒子の
長径対ボイドの長径の比)で評価すると、本発明のフイ
ルムはボイド比が1.0〜1.5であるものが実質的に全てで
あり、1.0〜1.3であるものはその大部分であり、さらに
1.0〜1.5であるものはその主たる部分を占めることが明
らかとなった。
Further, the fact that the silicon resin fine particles of the film of the present invention have a high affinity with the polyether ether ketone substrate is evaluated by a void ratio (ratio of the long diameter of the particle to the long diameter of the void) defined later as another measure. The film of the present invention has substantially all void ratios of 1.0 to 1.5, and most of them have 1.0 to 1.3.
It became clear that the thing of 1.0-1.5 occupies the main part.

ボイドが少なくい、そしてボイド比が1.0に近い本発明
は二軸配向ポリエーテルエーテルケトンフイルムは特に
耐削れ性及び絶縁破壊電圧市に優れている。
The biaxially oriented polyetheretherketone film of the present invention, which has few voids and has a void ratio close to 1.0, is particularly excellent in abrasion resistance and dielectric breakdown voltage.

一般的に熱可塑性ポリエーテルエーテルケトンと不活性
粒子(滑剤)とは親和性がない。このため溶融製膜した
ポリエーテルエーテルケトン未延伸フイルムを二軸延伸
すると、該微粒子とポリエーテルエーテルケトンの境界
に剥離が生じ、該比粒子の囲りにボイドが形成されるの
が普通である。このボイドは、微粒子が大きいほど、形
状が球形に近いほど、また微粒子が単一粒子で変形しに
くいほど、そしてまた未延伸フイルムを延伸する際に延
伸面積倍率が大きいほど、また低温で行うほど大きくな
る傾向がある。このボイドは、大きくなればなる程突起
の形状がゆるやかな形となるので摩擦係数を高くするこ
ととなり、それと共に繰り返し使用時に生じた二軸配向
ポリエーテルエーテルケトンフイルムのボイドの脱落を
起し、耐久性を低下させる、また削れ粉発生の原因とな
っている。
Generally, thermoplastic polyether ether ketone and inert particles (lubricant) have no affinity. For this reason, when the melt-cast unstretched polyetheretherketone film is biaxially stretched, peeling occurs at the boundary between the fine particles and the polyetheretherketone, and a void is usually formed around the specific particles. . This void is, the larger the fine particles, the closer the shape is to a sphere, the more difficult the fine particles are deformed by a single particle, and the larger the stretching area ratio when stretching the unstretched film, and the lower the temperature is. Tends to grow. The larger the void, the more gradually the shape of the protrusion becomes so that the friction coefficient becomes high, and with that, the void of the biaxially oriented polyetheretherketone film that occurs during repeated use comes off, It reduces durability and causes shavings.

このように従来の無機不活性滑剤の場合には、該滑剤周
辺のボイド量は、かなり大きく、高強力ポリエーテルエ
ーテルケトンフイルムにおいてはこのボイドは更に大き
くなり、その結果磁気テープのカレンダー工程等、加工
工程で耐削れ性が劣るのが常である。またコンデンサー
においては絶縁破壊電圧の低下に結びつく。
As described above, in the case of the conventional inorganic inert lubricant, the void amount around the lubricant is considerably large, and in the high-strength polyetheretherketone film, the void becomes larger, and as a result, the calendering step of the magnetic tape, etc. In general, the abrasion resistance is poor in the working process. In addition, in the case of capacitors, this leads to a decrease in dielectric breakdown voltage.

本発明で用いられる上記シリコン樹脂微粒子は上記の如
くポリエーテルエーテルケトン基質との親和性が大き
く、このため粒子周辺にボイドが発生する頻度が少な
い。そのため、粒子が大きくなるにつれて一般に大きく
なるボイドを発生する頻度を、上記シリコン樹脂微粒子
を使用する場合には小さく抑えることができるため、本
発明によれば比較的大粒子としてシリコン樹脂微粒子を
用い、それと一緒にボイドの発生する割合が少ない比較
的小粒子を併用して、2種類の粒子を用いる利点を有し
つつ、走行性,耐摩耗性,耐疲労性,電気絶縁性および
透明性等に優れたフイルムを提供しうることが明らかと
なった。
The silicon resin fine particles used in the present invention have a high affinity with the polyether ether ketone substrate as described above, and therefore, voids are less likely to occur around the particles. Therefore, the frequency of generating voids that generally become larger as the particles become larger can be suppressed to a low level when the above-mentioned silicon resin particles are used. Therefore, according to the present invention, the silicon resin particles are used as relatively large particles. In addition to that, it has the advantage of using two types of particles in combination with relatively small particles with a low void generation rate, and also has good running properties, wear resistance, fatigue resistance, electrical insulation and transparency. It has been revealed that it can provide an excellent film.

すなわち、かかる二軸配向ポリエーテルエーテルケトン
フィルムは (I)熱可塑性ポリエーテルエーテルケトン、 (II)(a) 上記式(A)で表わされる組成を有し、 (b) 上記式(B)で定義される体積形状係数(f)
が0.4より大きくπ/6以下であり、そして (c) 0.3〜4μmの平均粒径を有する、シリコン樹
脂微粒子0.005〜1重量%(熱可塑性ポリエーテルエー
テルケトンに対し)及び (III) 0.01〜1μmの平均粒径を有し、そして該平
均粒径が上記シリコン樹脂微粒子の平均粒径よりも小さ
い不活性微粒子0.005〜1重量%(熱可塑性ポリエーテ
ルエーテルケトンに対し) から成る緊密な混合物から形成された二軸配向フイルム
である。
That is, such a biaxially oriented polyether ether ketone film has (I) a thermoplastic polyether ether ketone, (II) (a) has a composition represented by the above formula (A), and (b) has the above formula (B). Defined volume shape factor (f)
Of more than 0.4 and π / 6 or less, and (c) 0.005 to 1% by weight of silicon resin fine particles (based on thermoplastic polyetheretherketone) and (III) 0.01 to 1 μm having an average particle diameter of 0.3 to 4 μm. Formed from an intimate mixture of 0.005 to 1% by weight (based on thermoplastic polyetheretherketone) of inert particles having an average particle size of less than the average particle size of the silicone resin particles. It is a biaxially oriented film that has been processed.

熱可塑性ポリエーテルエーテルケトン(I)とシリコン
樹脂微粒子(II)について前述したとおりである。た
だ、シリコン樹脂微粒子としては、この場合、平均粒径
0.3〜4μmの比較的大きい粒子が使用される。
The thermoplastic polyether ether ketone (I) and the silicone resin fine particles (II) are as described above. However, in this case, the average particle size of the silicone resin particles is
Larger particles of 0.3-4 μm are used.

平均粒径がシリコン樹脂微粒子のそれよりも小さい不活
性微粒子(III)としては、熱可塑性ポリエーテルエー
テルケトンに不活性で不溶性であり、そして常温で固体
のものが使用される。これらは外部添加粒子でも内部生
成粒子でもよい。また、例えば有機酸の金属塩でもよ
く、また無機物でもよい。好ましい不活性粒子(A)と
しては、炭酸カルシウム、二酸化ケイ素(水和物,
ケイ藻土,ケイ砂,石英等を含む)、アルミナ、SiO2
分を30重量%以上含有するケイ酸塩(例えば非晶質或は
結晶質の粘度鉱物,アルミノシリケート化合物(焼成物
や水和物を含む),温石綿,ジルコン,フライアッシュ
等)、Mg,Zn,Zr及びTiの酸化物、Ca及びBaの硫酸
塩、Li,Na及びCaのリン酸塩(1水素塩や2水素塩を
含む)、Li,Na及びKの安息香酸塩、Ca,Ba,Zn及びM
nのテレフタル酸塩、Mg,Ca,Ba,Zn,Cd,Pb,Sr,Mn,Fe,Co
及びNiのチタン酸塩、Ba及びPbのクロム酸塩、炭素
(例えばカーボンブラック,グラファイト等)、ガラ
ス(例えばガラス粉,ガラスビーズ等)、MgCO3
ホタル石、及びZnSが例示される。特に好ましいもの
として、無水ケイ酸,含水ケイ酸,酸化アルミニウム,
ケイ酸アルミニウム(焼成物,水和物等を含む),燐酸
1リチウム,燐酸3リチウム,燐酸ナトリウム,燐酸カ
ルシウム,硫酸バリウム,酸化チタン,安息香酸リチウ
ム,これらの化合物の複塩(水和物を含む),ガラス
粉,粘土(カオリン,ベントナイト,白土等を含む),
タルク,ケイ藻土等が例示される。かかる不活性微粒子
(III)の中でも特に外部添加粒子が好ましい。
As the inert fine particles (III) having an average particle diameter smaller than that of the silicon resin fine particles, those which are inert and insoluble in the thermoplastic polyetheretherketone and which are solid at room temperature are used. These may be externally added particles or internally generated particles. Further, for example, it may be a metal salt of an organic acid or an inorganic substance. Preferred inert particles (A) include calcium carbonate, silicon dioxide (hydrate,
Diatomaceous earth, silica sand, quartz etc.), alumina, SiO 2
Silicates containing 30% by weight or more (eg, amorphous or crystalline clay minerals, aluminosilicate compounds (including calcined products and hydrates), warm asbestos, zircon, fly ash, etc., Mg, Zn, Zr and Ti oxides, Ca and Ba sulfates, Li, Na and Ca phosphates (including monohydrogen and dihydrogen salts), Li, Na and K benzoates, Ca, Ba , Zn and M
n terephthalate, Mg, Ca, Ba, Zn, Cd, Pb, Sr, Mn, Fe, Co
And titanates of Ni, chromates of Ba and Pb, carbon (eg carbon black, graphite etc.), glass (eg glass powder, glass beads etc.), MgCO 3 ,
Fluorite and ZnS are exemplified. Particularly preferred are silicic acid anhydride, hydrous silicic acid, aluminum oxide,
Aluminum silicate (including calcined products, hydrates, etc.), 1 lithium phosphate, 3 lithium phosphate, sodium phosphate, calcium phosphate, barium sulfate, titanium oxide, lithium benzoate, double salts of these compounds (hydrates ), Glass powder, clay (including kaolin, bentonite, clay etc.),
Examples are talc and diatomaceous earth. Of these inert fine particles (III), externally added particles are particularly preferable.

シリコン樹脂微粒子(II)は0.3〜4μm平均粒径を有
している。好ましくは0.3〜2μm、特に好ましくは0.5
〜1.5μmの平均粒径を有している。
The silicon resin fine particles (II) have an average particle size of 0.3 to 4 μm. Preferably 0.3 to 2 μm, particularly preferably 0.5
It has an average particle size of ˜1.5 μm.

また、不活性粒子(III)は0.01〜1μmの平均粒径を
有するが上記シリコン樹脂微粒子(II)の平均粒径より
も小さい平均粒径のものとして、併用される。
Further, the inert particles (III) have an average particle diameter of 0.01 to 1 μm, and are used in combination as an average particle diameter smaller than the average particle diameter of the above-mentioned silicon resin fine particles (II).

不活性微粒子(III)は、好ましくは0.05〜0.8μmの平
均粒径、より好ましくは0.1〜0.5μmの平均粒径を有し
ている。
The inert fine particles (III) preferably have an average particle size of 0.05 to 0.8 μm, more preferably 0.1 to 0.5 μm.

不活性微粒子(III)の含有量は熱可塑性ポリエーテル
エーテルケトンに対し0.005〜1重量%であるが、0.01
〜1重量%、更には0.01〜0.5重量%、特に0.05〜0.3重
量%が好ましい。一方シリコン樹脂微粒子(II)の含有
量は熱可塑性ポリエーテルエーテルケトンに対し0.005
〜1重量%であるが、0.01〜1重量%、更には0.04〜0.
5、特に0.1〜0.5重量%が好ましい。
The content of the inert fine particles (III) is 0.005 to 1% by weight based on the thermoplastic polyetheretherketone, but 0.01
-1% by weight, more preferably 0.01-0.5% by weight, especially 0.05-0.3% by weight. On the other hand, the content of silicone resin particles (II) is 0.005 with respect to thermoplastic polyether ether ketone.
~ 1% by weight, but 0.01 to 1% by weight, and further 0.04 to 0.
5, especially 0.1 to 0.5% by weight is preferred.

不活性微粒子(III)或はシリコン樹脂微粒子(II)の
含有量が少なすぎると、大小2種の粒子を用いる相乗効
果が得られず、走行性,耐摩耗性,耐疲労性,つぶれ
性,端面揃い性等の特性が低下するので好ましくない。
一方不活性粒子(III)の含有量が多すぎると、ポリマ
ー中の小さい粒子に起因するボイドの発生する頻度が多
くなる傾向になり、耐摩耗性,耐疲労性,つぶれ性,絶
縁電圧,透明性等が低下する。
If the content of the inert fine particles (III) or the silicone resin fine particles (II) is too small, the synergistic effect of using two kinds of particles, large and small, cannot be obtained, and the running property, wear resistance, fatigue resistance, crushing property, It is not preferable because characteristics such as end face uniformity are deteriorated.
On the other hand, if the content of the inert particles (III) is too large, the frequency of occurrence of voids due to small particles in the polymer tends to increase, resulting in wear resistance, fatigue resistance, crush resistance, insulation voltage, and transparency. Sex and so on.

またシリコン樹脂微粒子(II)の含有量が多すぎると、
フイルム表面が粗れすぎ、例えば磁気テープにおける電
磁変換特性が低下するので、好ましくない。
If the content of the silicone resin fine particles (II) is too large,
The film surface is too rough and, for example, the electromagnetic conversion characteristics of the magnetic tape are deteriorated, which is not preferable.

本発明の二軸配向フイルムを製造する際に、シリコン樹
脂微粒子あるいはそれと不活性微粒子をポリエーテルエ
ーテルケトンと緊密に混合するにはこれらの微粒子を、
ポリエーテルエーテルケトンの重合前又は重合中に重合
釜中で、重合終了後ペレタイズするとき押出機中で、あ
るいはシート状に溶融押出しする際押出機中で、該ポリ
エーテルエーテルケトンと十分に混練すればよい。
In producing the biaxially oriented film of the present invention, these fine particles are used for intimately mixing the silicone resin fine particles or the inert fine particles with polyether ether ketone,
Before or during the polymerization of the polyetheretherketone, in a polymerization kettle, in the extruder when pelletizing after the completion of the polymerization, or in the extruder when melt-extruding into a sheet form, thoroughly knead with the polyetheretherketone. Good.

本発明のポリエーテルエーテルケトンフイルムは、例え
ば、融点(Tm:℃)+30℃ないし(Tm+90)℃の温度で
熱可塑性ポリエーテルエーテルケトンを溶融押出して未
延伸フイルムを得、該未延伸フイルムを一軸方向(縦方
向又は横方向)に(Tg−10)〜(Tg+45)℃の温度(但
し、Tg:ポリエーテルエーテルケトンのガラス転移温
度)で1.5倍以上、特に2.5倍以上で延伸し、次いで上記
延伸方向と直角方向(一段目延伸が縦方向の場合には、
二段目延伸は横方向となる)に(Tg+10)〜(Tg+40)
℃の温度で2.5〜5.0倍の倍率で延伸することで製造でき
る。この場合、面積延伸倍率は4倍以上、更には6倍以
上にするのが好ましい。延伸手段は同時二軸延伸、逐次
二軸延伸のいずれでも良い。
The polyetheretherketone film of the present invention is obtained, for example, by melt-extruding a thermoplastic polyetheretherketone at a temperature of melting point (Tm: ° C.) + 30 ° C. to (Tm + 90) ° C. to obtain an unstretched film, and the unstretched film is uniaxially stretched. Direction (longitudinal direction or transverse direction) at a temperature of (Tg-10) to (Tg + 45) ° C (however, Tg: the glass transition temperature of polyetheretherketone) by 1.5 times or more, particularly 2.5 times or more, and then the above Direction perpendicular to the stretching direction (when the first stage stretching is in the longitudinal direction,
(Tg + 10) to (Tg + 40) in the second stage stretching is in the lateral direction
It can be produced by stretching at a temperature of ° C at a draw ratio of 2.5 to 5.0 times. In this case, the area draw ratio is preferably 4 times or more, more preferably 6 times or more. The stretching means may be simultaneous biaxial stretching or sequential biaxial stretching.

更に、二軸配向フイルムは(Tg+70)℃〜Tm(℃)の温
度で熱固定することができる。例えばポリエーテルエー
テルケトンフイルムについては200〜350℃で熱固定する
ことが好ましい。熱固定時間は例えば1〜120秒であ
る。
Further, the biaxially oriented film can be heat set at a temperature of (Tg + 70) ° C. to Tm (° C.). For example, it is preferable to heat-set the polyether ether ketone film at 200 to 350 ° C. The heat setting time is, for example, 1 to 120 seconds.

ポリエーテルエーテルケトンフイルムの厚みは、1〜25
0μm、更には1〜125μm、特に1〜75μmが好まし
い。
The thickness of polyetheretherketone film is 1-25
0 μm, more preferably 1 to 125 μm, and particularly preferably 1 to 75 μm.

本発明の二軸配向ポリエーテルエーテルケトンフイルム
は、均一な凹凸表面特性,すぐれた滑り性,耐熱性及び
耐削れ性を有し、すりきず,白粉等の発生量が著しく少
ないという特徴を有する。この二軸配向ポリエーテルエ
ーテルケトンフイルムはこれらの特性を活かして各種の
用途に広く用いることができる。例えば、電絶材料用
途,モーター絶縁,電線被覆用として用いると、優れた
耐熱性及び加工性等が得られる。また、コンデンサー用
途に用いると、低い摩擦係数,すぐれた巻回性,低いつ
ぶれ荷重及びそのすぐれた耐熱性故に、使用温度の高い
高品位のコンデンサーを得ることができる。また、FPC
(フレキシブルプリントサーキット)用途に用いると、
耐ハンダ性に優れたFPCを得ることが可能である。ま
た、磁気記録用例えばビデオ用,オーディオ用,コンピ
ューター用などのベースフィルムとして用いると、優れ
た電磁変換性,滑り性,走行耐久性等が得られる。特
に、金属薄膜をベースフイルムに付与してなる、真空蒸
着又はスパッター用のベースフイルムとしてはその耐熱
性により好適である。
The biaxially oriented polyetheretherketone film of the present invention is characterized in that it has uniform uneven surface characteristics, excellent slipperiness, heat resistance and abrasion resistance, and the generation of scratches, white powder, etc. is extremely small. This biaxially oriented polyetheretherketone film can be widely used for various applications by utilizing these characteristics. For example, when it is used as an electrical insulation material, motor insulation, and wire coating, excellent heat resistance and workability can be obtained. Further, when used for capacitors, a high-grade capacitor having a high operating temperature can be obtained due to its low friction coefficient, excellent winding property, low crush load and its excellent heat resistance. Also, FPC
When used for (flexible printed circuit) applications,
It is possible to obtain FPC with excellent solder resistance. Further, when it is used as a base film for magnetic recording such as video, audio, computer, etc., excellent electromagnetic conversion, slipperiness, running durability, etc. can be obtained. In particular, it is suitable as a base film for vacuum deposition or sputtering in which a metal thin film is applied to the base film because of its heat resistance.

二軸配向ポリエーテルエーテルケトンフイルムは、電絶
用,コンデンサー用,FPC用,金属薄膜磁気記録媒体用と
して好ましいが、塗布型磁気記録媒体用,蒸着用,乾燥
転写等のベースフイルムとしても広く適用することがで
きる。
Biaxially oriented polyetheretherketone film is preferable for electric shock, capacitor, FPC, metal thin film magnetic recording medium, but also widely used as a base film for coating type magnetic recording medium, vapor deposition, dry transfer, etc. can do.

なお、本発明における種々の物性値および特性は以下の
如くして測定されたものであり且つ定義される。
Various physical properties and characteristics in the present invention are measured and defined as follows.

(1) 粒子の平均粒径(DP) 島津製作所製CP−50型セントリフュグルパーティクル
サイズ アナライザー(Centrifugal Particle Size An
alyser)を用いて測定した。得られた遠心沈降曲線を基
に算出した各粒径の粒子とその存在量との積算曲線か
ら、50マスパーセントに相当する粒径を読み取り、この
値を上記平均粒径とした(Book「粒度測定技術」日刊工
業新聞社発行,1975年,頁242〜247参照)。
(1) Average particle size (DP) Shimadzu CP-50 Centrifugal particles
Size Analyzer (Centrifugal Particle Size An
alyser). The particle diameter corresponding to 50 mass% was read from the integrated curve of the particles of each particle diameter calculated based on the obtained centrifugal sedimentation curve and the abundance thereof, and this value was used as the average particle diameter (Book Measurement technology ", published by Nikkan Kogyo Shimbun, 1975, pp. 242-247).

(2) 粒子の粒度分布比(γ) 粒子の平均粒径の測定において得られた遠心沈降曲線を
基に、各粒径の粒子とその存在量との積算曲線を算出し
て描き、粒径の大きい方から積算した粒子の積算重量が
25マスパーセントに相当する粒径(D25)と、粒子の積
算重量が75マスパーセントに相当する粒径(D75)を読
みとり、前者の値を後者の値で除し(D25/D75)各々の
粒子の粒度分布比(γ)を算出する。
(2) Particle size distribution ratio (γ) Based on the centrifugal sedimentation curve obtained in the measurement of the average particle size, an integrated curve of particles of each particle size and their abundance is calculated and drawn, The cumulative weight of particles accumulated from the larger
Read the particle size corresponding to 25 mass percent (D 25 ) and the particle size corresponding to the cumulative mass of particles of 75 mass percent (D 75 ) and divide the former value by the latter value (D 25 / D 75 ) Calculate the particle size distribution ratio (γ) of each particle.

(3) フイルムの摩擦係数(μk) 温度20℃、湿度60%の環境で、巾1/2インチに裁断した
フイルムを、固定棒(表面粗さ0.3μm)に角度θ=152
/180πラジアン(152゜)で接触させて毎分200cmの速さ
で移動(摩擦)させる。入口テンションT1が35gとなる
ようにテンションコントローラを調整した時の出口テン
ション(T1:g)をフイルムが90m走行したのち出口テン
ション検出機で検出し、次式で走行摩擦係数μkを算出
する。
(3) Frictional coefficient of film (μk) A film cut into 1/2 inch width at a temperature of 20 ° C and a humidity of 60% is attached to a fixed rod (surface roughness 0.3 μm) at an angle θ = 152.
Contact at / 180π radian (152 °) and move (rub) at a speed of 200 cm per minute. When the tension controller is adjusted so that the inlet tension T 1 is 35g, the outlet tension (T 1 : g) is detected by the outlet tension detector after the film has run 90m, and the running friction coefficient μk is calculated by the following formula. .

μk=(2.303/θ)log(T2/T1) (4)フイルム表面の平坦性 CLA(Center Line Averag・中心線平均粗さ)JIS B
0601に準じて測定した。東京精密社(株)製の触針式表
面粗さ計(SURFCOM3b)を用いて、針の半径2μ,荷重
0.07gの条件下にチャート(フイルム表面粗さ曲線)を
かかせた。フイルム表面粗さ曲線からその中心線の方向
に測定長さLの部分を抜き取り、この抜き取り部分の中
心線をX軸とし、縦倍率の方向をY軸として、粗さ曲線
Y=f(x)で表わしたとき、次の式で与えられる値
(Ra:μm)をフイルム表面の平坦性として定義する。
μk = (2.303 / θ) log (T 2 / T 1 ) (4) Film surface flatness CLA (Center Line Averag) JIS B
It measured according to 0601. Using a stylus type surface roughness meter (SURFCOM3b) manufactured by Tokyo Seimitsu Co., Ltd., the radius of the needle is 2μ and the load is
A chart (film surface roughness curve) was drawn under the condition of 0.07 g. A roughness curve Y = f (x) is obtained by extracting a portion having a measurement length L from the film surface roughness curve in the direction of the center line, and defining the center line of the extracted portion as the X axis and the direction of longitudinal magnification as the Y axis. The value (Ra: μm) given by the following equation is defined as the flatness of the film surface.

本発明では、基準長を0.25mmとして8個測定し、値の大
きい方から3個除いた5個の平均値としてRaを表わし
た。
In the present invention, 8 pieces were measured with a reference length of 0.25 mm, and Ra was expressed as an average value of 5 pieces excluding 3 pieces having the larger values.

(5) ボイド比 試料フイルム小片を走査型電子顕微鏡用試料台に固定
し、日本電子(株)製スパッタリング装置(JFC−1100
型イオンスパッタリング装置)用いて、フイルム表面を
下記条件にてイオンエッチング処理を施した。ベルジャ
ー内に上記試料台を設置し、約10-3Torrの真空状態まで
真空度を上げ、電圧0.25KV,電流12.5mAにて約10分間イ
オンエッチングを実施した。更に同装置にてフイルム表
面に金スパッターを施し、約200Å程度の金薄膜層を形
成し走査型電子顕微鏡1万〜3万倍にて測定を行った。
尚、ボイドは粒径0.3μm以上の滑剤についてのみ測定
を行った。
(5) Void ratio A small piece of sample film is fixed on a sample stand for a scanning electron microscope, and a sputtering device manufactured by JEOL Ltd. (JFC-1100) is used.
Type ion sputtering apparatus), the film surface was subjected to ion etching treatment under the following conditions. The sample stage was set in the bell jar, the degree of vacuum was raised to a vacuum state of about 10 −3 Torr, and ion etching was performed at a voltage of 0.25 KV and a current of 12.5 mA for about 10 minutes. Further, gold sputtering was applied to the film surface with the same apparatus to form a gold thin film layer of about 200 liters, and the measurement was performed with a scanning electron microscope 10,000 to 30,000 times.
The voids were measured only for lubricants having a particle size of 0.3 μm or more.

(6) ヘーズ(曇り度) JIS−K 674に準じ、日本精密光学社製,積分球式HTR
メーターによりフイルムのヘーズを求めた。
(6) Haze According to JIS-K 674, Nippon Seimitsu Optical Co., Ltd., integrating sphere type HTR
The haze of the film was measured with a meter.

(7) 体積形状係数(f) 走査型電子顕微鏡により粒子の写真を例えば5000倍で10
視野撮影し、例えば画像解析処理装置ルーゼックス500
(日本レギュレーター製)を用い、最大径の平均値を各
視野毎に測定し、更に、10視野の平均値を求め、Dとし
た。
(7) Volumetric shape factor (f) Photographs of particles by a scanning electron microscope, for example, 5000 times 10
Field-of-view photography, for example, image analysis processor Luzex 500
(Manufactured by Nippon Regulator Co., Ltd.), the average value of the maximum diameters was measured for each visual field, and the average value of 10 visual fields was calculated and designated as D.

測定法の上記(1)項で求めた、粒子の平均粒径dよ
り、粒子の平均体積(V=(π/6)d3)を求め、形状係
数fを次式により算出した。
The average volume (V = (π / 6) d 3 ) of the particles was obtained from the average particle diameter d of the particles obtained in the item (1) of the measurement method, and the shape factor f was calculated by the following equation.

f=V/D3 式中、Vは粒子の平均体積(μm3),Dは粒子の平均最大
粒径(μm)を表わす。
In the formula f = V / D 3 , V represents the average volume (μm 3 ) of the particles, and D represents the average maximum particle size (μm) of the particles.

(8) 絶縁破壊電圧及び絶縁破壊異常率 絶縁破壊電圧はJIS−C−2318に示される方法で測定す
る。n=100の平均値を採用し、この平均値の1/3以下の
値を示すものの割合(%)を絶縁破壊異常率とする。
(8) Dielectric breakdown voltage and abnormal dielectric breakdown rate Dielectric breakdown voltage is measured by the method specified in JIS-C-2318. The average value of n = 100 is adopted, and the ratio (%) of those showing a value of 1/3 or less of this average value is taken as the dielectric breakdown abnormality rate.

(9) 素子端面不揃い、及び偏平化後の素子端面形状
の評価 10μのフイルムをアルミニウム蒸着し、20mm巾にスリッ
トしたものを、外径3mmの巻芯に巻張力40g,巻取速度30c
m/secで4mの長さを巻回した素子を作り、素子端面不揃
いについては、端面が全て完全に揃っているものを○と
し、一部にやや不揃いのものもあるがその程度も小で、
実用上何ら差支えないものを△,使用できないものを×
とする。
(9) Evaluation of the element end face shape after the element end face is not uniform and flattened A film of 10μ is vapor-deposited on aluminum and slit into a width of 20mm. A winding core with an outer diameter of 3mm has a winding tension of 40g and a winding speed of 30c.
An element wound with a length of 4 m at m / sec was made, and regarding the unevenness of the element end faces, the one where all the end faces were perfectly aligned was marked with ○, and some of them were slightly uneven, but the degree was also small. ,
The ones that make no difference in practical use are △, and those that cannot be used are ×
And

該素子をプレスにより偏平につぶした時の偏平化後の素
子端面形状評価は、フイルム層間が一直線で均一につぶ
れて隙間のないものを○、一部に僅かに隙間が認められ
るが実用上何ら問題のないものを△,つぶるが不均一で
フイルム層間に隙間ができて使用できないのを×とす
る。
When the element was flattened by a press, the element end face shape after flattening was evaluated as follows: the film layers were flattened in a straight line with no gaps, and there were no gaps. If there is no problem, it is indicated as △, and if it is crushed but not uniform and there are gaps between the film layers, it cannot be used.

(10) 滑剤の凝集 フイルムを偏光下で20倍に拡大し、偏光板を直交させ暗
視野中で光るもののうち、25μ以上の凝集滑剤の個数を
測定することで評価した。測定面積は10cm2とし、1cm2
当りの個数0〜10個のものを○,10〜30個のものを△,30
個以上を×とした。
(10) The aggregation film of the lubricant was magnified 20 times under polarized light and evaluated by measuring the number of aggregate lubricants of 25 μ or more among those that shine in a dark field with the polarizing plate orthogonal. The measuring area is 10 cm 2 and 1 cm 2
Number of pieces per piece is 0-10, ○, 10-30 pieces is △, 30
More than one was marked as x.

(11) コンデンサー総合評価 つぶれ性,巻回性等の取扱い作業性,蒸着加工性,絶縁
破壊電圧及び絶縁破壊異常率等の電気特性について総合
的に評価して、いれも良好なものを◎,若干劣る面を有
するが実用上問題ないものを○,実用上問題のあるもの
を△,使用に耐えないものを×とする。
(11) Comprehensive evaluation of capacitors Comprehensively evaluated electrical characteristics such as crushability, winding workability, handling workability, vapor deposition processability, dielectric breakdown voltage, and dielectric breakdown anomaly rate. A sample having a slightly inferior surface but having no problem in practical use is rated as O, a sample having practical problems as Δ, and a sample that cannot be used as X.

[実施例] 以下、実施例を掲げて本発明を更に説明する。[Examples] Hereinafter, the present invention will be further described with reference to Examples.

実施例1〜7 熱可塑性ポリエーテルエーテルケトン(ICI社製:ポリ
エーテルエーテルケトン380G)にシリコン樹脂微粒子及
び不活性粒子を表−1に示す割合で混合し、ブレンド
後、押出機により380℃で押出し、80℃の温度に保持し
たキャスティングドラム上へキャストし、90μの未延伸
フイルムを作成し、これを縦方向へ160℃で2.7倍延伸
し、更にテンターに供給し横方向へ160℃で3.5倍延伸
し、250℃で30秒間熱固定した。これらフイルムの特性
について、表−1に示す。
Examples 1 to 7 Thermoplastic polyetheretherketone (manufactured by ICI: polyetheretherketone 380G) was mixed with silicon resin fine particles and inert particles in the proportions shown in Table-1, and after blending, at 380 ° C. by an extruder. It is extruded and cast on a casting drum kept at a temperature of 80 ° C to make a 90μ unstretched film, which is stretched 2.7 times in the longitudinal direction at 160 ° C and further fed to a tenter to 3.5 ° C at 160 ° C in the transverse direction. The film was double-stretched and heat set at 250 ° C. for 30 seconds. The characteristics of these films are shown in Table-1.

比較例1〜3 実施例1と同じポリマーを用い、滑剤のみを表−1に示
すものに変更する以外は、実施例1と同様に行った。
Comparative Examples 1 to 3 The same polymer as in Example 1 was used, and the same procedure as in Example 1 was carried out except that only the lubricant was changed to those shown in Table 1.

これらフイルムの特性を表−1に示す。The characteristics of these films are shown in Table-1.

なお、表−1に示すシリコン樹脂微粒子は表−1に示さ
れた平均粒径を市し、体積形状係数が0.52〜0.48であ、
かつ粒度分布比(γ)が1.1〜2.0のものである。(組成
はCH3Si O1.5) 表−1の結果により、本発明のフイルムは表面が平坦
で、かつくり返しの摩擦係数も小さく、滑り性の優れた
フイルムであることが分る。また、本発明のフイルムは
滑剤の凝集も少なく、コンデンサー用フイルムとして見
た場居、非常に優れたものであることが分る。
The silicon resin fine particles shown in Table-1 have the average particle diameter shown in Table-1 and have a volumetric shape factor of 0.52 to 0.48.
Moreover, the particle size distribution ratio (γ) is 1.1 to 2.0. (Composition: CH 3 Si O 1.5 ) From the results shown in Table 1, it can be seen that the film of the present invention has a flat surface, a small coefficient of repeated friction, and excellent slipperiness. Further, the film of the present invention shows little aggregation of the lubricant, and it is found that it is very excellent as a film for capacitors.

フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 B29K 73:00 B29L 7:00 4F Continuation of the front page (51) Int.Cl. 5 Identification code Office reference number FI Technical display location B29K 73:00 B29L 7:00 4F

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】(I)熱可塑性ポリエーテルエーテルケト
ン、及び (II)(a)下記式(A) RxSiO2−x/2 …(A) ここで、Rは炭素数1〜7の炭化水素基であり、そして
xは1〜1.2の数である で表わされる組成を有し、 (b)下記式(B) f=V/D3 …(B) ここで、Vは粒子1個当りの平均体積(μm3)でありそ
してDは粒子の平均最大粒径(μm)である で定義される体積形状係数(f)が0.4より大きくそし
てπ/6以下であり、そして (c)0.01〜4μmの平均粒径を有するシリコン樹脂微
粒子0.005〜3.0重量%(熱可塑性ポリエーテルエーテル
ケトンに対し) から成る緊密な混合物から形成された二軸配向ポリエー
テルエーテルケトンフイルム。
1. (I) Thermoplastic polyether ether ketone, and (II) (a) The following formula (A) RxSiO 2 -x / 2 (A) where R is a hydrocarbon having 1 to 7 carbon atoms. Is a group, and x is a number of 1 to 1.2. (B) The following formula (B) f = V / D 3 (B) where V is per particle the average is the volume ([mu] m 3) and D is less large and [pi / 6 volume shape factor (f) is from 0.4 defined by is the average maximum particle diameter of the particles ([mu] m), and (c) 0.01 to A biaxially oriented polyetheretherketone film formed from an intimate mixture of 0.005 to 3.0% by weight (based on thermoplastic polyetheretherketone) of silicone resin particles having an average particle size of 4 .mu.m.
【請求項2】上記式(A)において、Rが炭素数1〜7
の直鎖状もしくは分岐鎖状のアルキル基,フェニル基又
はトリル基である特許請求の範囲第1項記載のフイル
ム。
2. In the above formula (A), R has 1 to 7 carbon atoms.
The film according to claim 1, which is a linear or branched alkyl group, a phenyl group or a tolyl group.
【請求項3】上記式(A)において、xが1〜1.1の数
である特許請求の範囲第1項記載のフイルム。
3. The film according to claim 1, wherein in the formula (A), x is a number from 1 to 1.1.
【請求項4】体積形状係数(f)が0.44〜π/6の間にあ
る特許請求の範囲第1項記載のフイルム。
4. The film according to claim 1, having a volume shape factor (f) of 0.44 to π / 6.
【請求項5】平均粒径が0.05〜3μmの間にある特許請
求の範囲第1項記載のフイルム。
5. The film according to claim 1, wherein the average particle size is between 0.05 and 3 μm.
【請求項6】シリコン樹脂微粒子の量が0.01〜1.5重量
%(熱可塑性ポリエーテルエーテルケトンに対し)であ
る特許請求の範囲第1項記載のフイルム。
6. A film according to claim 1, wherein the amount of the silicone resin fine particles is 0.01 to 1.5% by weight (based on the thermoplastic polyetheretherketone).
【請求項7】上記シリコン樹脂微粒子が下記式(C) γ=D25/D75 …(C) ここで、D25は粒子の積算重量が25%のときの平均粒径
(μm)でありそしてD75は粒子の積算重量が75%のと
きの平均粒径(μm)である で定義される粒度分布比(γ)として1〜1.4の間の値
を有する特許請求の範囲第1項記載のフイルム。
7. The silicone resin fine particles are represented by the following formula (C) γ = D 25 / D 75 (C) where D 25 is an average particle diameter (μm) when the cumulative weight of the particles is 25%. The particle size distribution ratio (γ) defined by D 75 is the average particle size (μm) when the cumulative weight of the particles is 75%. The value is between 1 and 1.4. Film.
【請求項8】(I)熱可塑性ポリエーテルエーテルケト
ン、 (II)(a)下記式(A) RxSiO2−x/2 …(A) ここで、Rは炭素数1〜7の炭化水素基であり、そして
xは1〜1.2の数である で表わされる組成を有し、 (b)下記式(B) f=V/D3 …(B) ここで、Vは粒子1個当りの平均体積(μm3)でありそ
してDは粒子の平均最大粒径(μm)である で定義される体積形状係数(f)が0.4より大きくπ/6
以下であり、そして (c)0.3〜4μmの平均粒径を有する、シリコン樹脂
微粒子0.005〜3.0重量%(熱可塑性ポリエーテルエーテ
ルケトンに対し)及び (III)0.01〜1μmの平均粒径を有しそして該平均粒
径が上記シリコン樹脂微粒子の平均粒径よりも小さい不
活性微粒子0.005〜3.0重量%(熱可塑性ポリエーテルエ
ーテルケトンに対し) からなる緊密な混合物から形成された特許請求の範囲第
1項記載のフイルム。
8. (I) Thermoplastic polyether ether ketone, (II) (a) The following formula (A) RxSiO 2 -x / 2 (A) where R is a hydrocarbon group having 1 to 7 carbon atoms. And x is a number from 1 to 1.2, (b) the following formula (B) f = V / D 3 (B) where V is the average per particle Volume shape factor (f) is greater than 0.4 and π / 6, where D is the volume (μm 3 ) and D is the average maximum particle size (μm) of the particles.
And (c) 0.005 to 3.0% by weight of silicone resin particles (based on thermoplastic polyetheretherketone) having an average particle size of 0.3 to 4 μm and (III) having an average particle size of 0.01 to 1 μm. Claims 1. Formed from an intimate mixture of 0.005 to 3.0% by weight (based on thermoplastic polyetheretherketone) of inert fine particles having an average particle size smaller than the average particle size of the silicone resin particles. The film described in the item.
JP25743387A 1987-10-14 1987-10-14 Biaxially oriented polyetheretherketone film Expired - Lifetime JPH0696646B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25743387A JPH0696646B2 (en) 1987-10-14 1987-10-14 Biaxially oriented polyetheretherketone film

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25743387A JPH0696646B2 (en) 1987-10-14 1987-10-14 Biaxially oriented polyetheretherketone film

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH01101336A JPH01101336A (en) 1989-04-19
JPH0696646B2 true JPH0696646B2 (en) 1994-11-30

Family

ID=17306296

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP25743387A Expired - Lifetime JPH0696646B2 (en) 1987-10-14 1987-10-14 Biaxially oriented polyetheretherketone film

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0696646B2 (en)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE69829370T2 (en) 1997-06-20 2006-03-09 Nippon Zeon Co., Ltd. Polymer film and layer capacitor
CN101942177B (en) * 2010-08-20 2012-07-04 陈逊 Manufacturing method of polyether-ether-ketone thin film
JP5607496B2 (en) * 2010-10-29 2014-10-15 帝人株式会社 Biaxially stretched film
CN114717464B (en) * 2022-02-25 2023-04-18 温州市海格阀门有限公司 Heat-resistant cast stainless steel and preparation method thereof

Also Published As

Publication number Publication date
JPH01101336A (en) 1989-04-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH04298539A (en) Polyester film
JPWO1996032443A1 (en) Polyester composition and film made thereof
KR100218698B1 (en) Thermoplastic polyester composition and film produced therefrom
JPH0696646B2 (en) Biaxially oriented polyetheretherketone film
JPH0613614B2 (en) Biaxially oriented polyetheretherketone film
JPH0458818B2 (en)
JP2005281644A (en) Resin additive, method for producing the same, and thermoplastic resin film
WO1993015145A1 (en) Thermoplastic polyester composition and film made therefrom
JP3111492B2 (en) Polyester film
JPH0766694B2 (en) Film for electrical insulation materials
JPH01266177A (en) Film for heat-resistant pressure-sensitive adhesive tape
JPH11348210A (en) Laminated polyester film
JPH0747649B2 (en) Biaxially oriented polyester film
JPH0661918B2 (en) Laminated polyester film
JPH0518327B2 (en)
JP3309497B2 (en) Polyester composition and film comprising the same
JPH07165946A (en) Biaxially stretched polyester film
JPH0830117B2 (en) Method for producing polyester
JPH07119293B2 (en) Biaxially oriented polyester film
JP2540644B2 (en) Biaxially oriented polyester film
JPH09188769A (en) Biaxially oriented polyester film
JP4347425B2 (en) Polyester film
JP2000007798A (en) Biaxially oriented polyester film
JPS63141308A (en) Capacitor
JP3053469B2 (en) Composite oriented polyester film

Legal Events

Date Code Title Description
EXPY Cancellation because of completion of term