JPH0699151A - Tray cleaning device for loading semiconductor devices - Google Patents

Tray cleaning device for loading semiconductor devices

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JPH0699151A
JPH0699151A JP27682492A JP27682492A JPH0699151A JP H0699151 A JPH0699151 A JP H0699151A JP 27682492 A JP27682492 A JP 27682492A JP 27682492 A JP27682492 A JP 27682492A JP H0699151 A JPH0699151 A JP H0699151A
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JP
Japan
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tray
semiconductor device
loading
gas
cleaning
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JP27682492A
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Japanese (ja)
Inventor
Seiji Tawara
誠二 田原
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
  • Cleaning In General (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 手間を要さず簡単に効率よく塵埃を除去し、
しかもトレーの変形を生じない半導体装置積載用トレー
の洗浄装置を提供する。 【構成】 洗浄すべきトレー3を保持する保持手段4
と、該トレー3に気体を吹付けるための複数の噴出ノズ
ル10を有する気体吹付け手段10,12,14と、該
トレー3の気体吹付け面側から塵埃を吸引排出するため
の複数の吸引ノズル11を有する真空排気手段11,1
3,15と、前記保持手段4に振動を与える振動手段
7,8とを具備する。
(57) [Abstract] [Purpose] Dust can be removed easily and efficiently without the need for labor.
Moreover, there is provided a semiconductor device loading tray cleaning device that does not cause deformation of the tray. [Structure] Holding means 4 for holding a tray 3 to be cleaned
And gas spraying means 10, 12, and 14 having a plurality of spray nozzles 10 for spraying gas onto the tray 3, and a plurality of suctions for sucking and discharging dust from the gas spraying surface side of the tray 3. Evacuation means 11, 1 having a nozzle 11
3, 15 and vibrating means 7, 8 for vibrating the holding means 4.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、半導体デバイス製造工
程におけるモールド終了後の半導体装置積載用トレーの
洗浄方法および装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method and apparatus for cleaning a semiconductor device loading tray after completion of molding in a semiconductor device manufacturing process.

【0002】[0002]

【従来の技術】LSIその他の半導体集積回路の製造工
程において、半導体素子(ICチップ)形成後に各素子
とリード線とを一体パッケージ化して樹脂モールドによ
り半導体装置を形成する。このような半導体装置はモー
ルド終了後にトレー上に搭載され検査工程に移送されて
各種検査や試験等が行なわれる。
2. Description of the Related Art In a process of manufacturing an LSI or other semiconductor integrated circuit, after forming a semiconductor element (IC chip), each element and a lead wire are integrally packaged to form a semiconductor device by resin molding. After the completion of molding, such a semiconductor device is mounted on a tray and transferred to an inspection process for various inspections and tests.

【0003】このようなトレーの一例を図2に示す。ト
レー3は、帯電防止のためカーボン入り樹脂等の導電性
材料からなるモールド成形体である。トレー3には、搭
載すべき半導体装置(図示しない)の形状に応じた穴2
1を有する多数の凹所20が形成される。パッケージ化
された半導体装置はトレー3の各凹所20に装着され各
検査装置あるいは試験装置まで搬送される。このような
トレー3は半導体装置を搭載したまま検査装置等にロー
ディングされるためトレー寸法は常に高精度に保たれて
いなければならない。また半導体素子は微細な塵埃粒子
によっても機能に影響が及ぶため、トレー上の塵埃は完
全に除去しておかなければならない。
An example of such a tray is shown in FIG. The tray 3 is a molded body made of a conductive material such as a resin containing carbon for preventing static electricity. The tray 3 has holes 2 corresponding to the shape of a semiconductor device (not shown) to be mounted.
A number of recesses 20 with 1 are formed. The packaged semiconductor device is mounted in each recess 20 of the tray 3 and conveyed to each inspection device or test device. Since such a tray 3 is loaded into an inspection device or the like while the semiconductor device is mounted, the tray size must always be maintained with high accuracy. The function of the semiconductor element is also affected by fine dust particles, so the dust on the tray must be completely removed.

【0004】このようなトレーは検査終了後あるいは定
期的に洗浄される。従来のICチップ積載用トレーは超
純水中で超音波振動を用いて洗浄され、洗浄後のトレー
を乾燥させるため50℃で約30分間加熱していた。
Such a tray is washed after the inspection is completed or periodically. The conventional IC chip loading tray was washed in ultrapure water using ultrasonic vibration, and was heated at 50 ° C. for about 30 minutes to dry the washed tray.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来の超純水中での半導体装置積載用トレーの洗浄方法で
は、洗浄後に加熱乾燥工程を必要とするため作業の手間
を多く要し処理時間が長くかかるものであった。また加
熱乾燥工程を繰り返す内にトレー寸法に狂いを生じる場
合があり、このようなトレーを検査装置にローディング
して半導体装置の検査を行なえば、所定の高精度なトレ
ーの位置決めが達成されないため、検査の信頼性を低下
させるという問題があった。この場合、温度を低くして
トレーの乾燥を行えば処理時間がさらに長引きスループ
ットの低下を来すという問題を生ずる。
However, in the conventional method for cleaning a semiconductor device loading tray in the above ultrapure water, a heating and drying step is required after cleaning, which requires a lot of labor and processing time. It took a long time. In addition, the tray dimensions may be misaligned while the heating and drying process is repeated, and if such a tray is loaded into the inspection device and the semiconductor device is inspected, the predetermined highly accurate positioning of the tray cannot be achieved. There is a problem that the reliability of the inspection is reduced. In this case, if the temperature is lowered and the tray is dried, the processing time is further extended and the throughput is lowered.

【0006】本発明は上記従来技術の欠点に鑑みなされ
たものであって、手間を要さず簡単に効率よく塵埃を除
去し、しかもトレーの変形を生じない半導体装置積載用
トレーの洗浄装置の提供を目的とする。
The present invention has been made in view of the above-mentioned drawbacks of the prior art. It is an apparatus for cleaning a tray for loading semiconductor devices, which is capable of easily and efficiently removing dust without a trouble and without causing deformation of the tray. For the purpose of provision.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明に係る半導体装置積載用トレー洗浄装置は、
洗浄すべきトレーを保持する保持手段と、該トレーに気
体を吹付けるための複数の噴出ノズルを有する気体吹付
け手段と、該トレーの気体吹付け面側から塵埃を吸引排
出するための複数の吸引ノズルを有する真空排気手段
と、前記保持手段に振動を与える振動手段とを具備して
いる。
In order to achieve the above object, a semiconductor device loading tray cleaning apparatus according to the present invention comprises:
Holding means for holding the tray to be cleaned, gas blowing means having a plurality of ejection nozzles for blowing gas to the tray, and a plurality of gas suction means for sucking and discharging dust from the gas blowing surface side of the tray. It is provided with a vacuum evacuation means having a suction nozzle and a vibrating means for vibrating the holding means.

【0008】好ましい実施例においては、前記複数の噴
出ノズルと複数の吸引ノズルとを同じ基枠体に装着し、
該基枠体と前記トレーとを相対的に移動可能に構成して
いる。さらに好ましい実施例においては、前記トレーの
洗浄面に平行および直角な両方向に対し前記基枠体とト
レーとを相対的に移動可能に構成している。別の好まし
い実施例においては、前記噴出ノズルは、気体吹付け方
向が可変である。
In a preferred embodiment, the plurality of ejection nozzles and the plurality of suction nozzles are mounted on the same base frame,
The base frame and the tray are configured to be relatively movable. In a further preferred embodiment, the base frame and the tray are movable relative to each other in both directions parallel and perpendicular to the cleaning surface of the tray. In another preferred embodiment, the jet nozzle has a variable gas spraying direction.

【0009】[0009]

【作用】洗浄すべきトレーを振動させながら該トレーに
気体が吹付けられる。同時にトレーの気体吹付け面から
発生した塵埃を真空吸引して集塵する。
The gas is blown onto the tray to be cleaned while vibrating the tray. At the same time, the dust generated from the gas blowing surface of the tray is vacuumed and collected.

【0010】[0010]

【実施例】図1は、本発明の実施例に係る半導体装置積
載用トレー洗浄装置の斜視図である。この洗浄装置全体
は基台1上に搭載され、アクリル等からなるカバー2で
覆われる。洗浄すべきトレー3(図2参照)は、ホルダ
4に保持される。ホルダ4は第1リニアテーブル5上に
固定される。この第1リニアテーブル5は、手動ハンド
ル19の操作により、直線ガイドレール6に沿って、矢
印Aのように、トレー前面に対し平行な左右方向に摺動
可能である。手動ハンドル19に代えてモータ駆動とす
ることもできる。
1 is a perspective view of a semiconductor device loading tray cleaning apparatus according to an embodiment of the present invention. The entire cleaning device is mounted on a base 1 and covered with a cover 2 made of acrylic or the like. The tray 3 (see FIG. 2) to be cleaned is held by the holder 4. The holder 4 is fixed on the first linear table 5. The first linear table 5 can be slid in the left-right direction parallel to the front surface of the tray along the straight guide rail 6 as indicated by an arrow A by operating the manual handle 19. A motor drive may be used instead of the manual handle 19.

【0011】ガイドレール6は第2リニアテーブル7上
に固定されている。この第2リニアテーブル7は直線ガ
イドレール8に沿って、矢印Bのように、トレー前面に
対し直角な前後方向に摺動可能である。この実施例にお
いては、第2リニアテーブル7は、図示しないモータ駆
動の回転カムに連結され、前後方向に振動してホルダ4
およびこれに保持されたトレー3を振動させる。
The guide rail 6 is fixed on the second linear table 7. The second linear table 7 is slidable along the straight guide rail 8 in the front-rear direction perpendicular to the front surface of the tray as indicated by arrow B. In this embodiment, the second linear table 7 is connected to a motor-driven rotating cam (not shown) and vibrates in the front-rear direction to vibrate the holder 4
And, the tray 3 held by this is vibrated.

【0012】洗浄すべきトレー3に対向する位置に、高
圧エアを吹き付け塵埃を除去するための多数のノズルを
有する基枠体9が設けられる。基枠体9には、左右方向
に水平に並べて両端部に高圧エアブロー用の噴出ノズル
10と中央部に集塵排気用の吸引ノズル11が設けら
れ、これらの噴出ノズル10および吸引ノズル11が基
枠体9の全面に上下に多数段に設けられる。各噴出ノズ
ル10および吸引ノズル11はエアチューブ12,13
を介してそれぞれ給気マニホルド14および排気マニホ
ルド15に接続される。給気マニホルド14は、図示し
ない圧縮空気アキュムレータまたはコンプレッサーに接
続される。排気マニホルド15は、図示しない真空ポン
プに接続される。
A base frame 9 having a large number of nozzles for blowing high pressure air to remove dust is provided at a position facing the tray 3 to be cleaned. The base frame body 9 is arranged horizontally in the left-right direction and is provided with jet nozzles 10 for high-pressure air blow at both ends and a suction nozzle 11 for collecting and exhausting dust at the center, and these jet nozzles 10 and suction nozzles 11 are used as bases. A large number of upper and lower stages are provided on the entire surface of the frame body 9. The ejection nozzles 10 and the suction nozzles 11 are air tubes 12, 13
Are connected to the air supply manifold 14 and the exhaust manifold 15 respectively. The air supply manifold 14 is connected to a compressed air accumulator or compressor (not shown). The exhaust manifold 15 is connected to a vacuum pump (not shown).

【0013】左右の噴出ノズル10の噴出方向は、水平
左右方向に対称的に逆向きに傾斜して設けることが望ま
しい。これにより、トレーの各凹所の左右内壁面および
隅部を確実にエア吹付けにより洗浄することができる。
この噴出ノズルの噴出方向は可変であって、洗浄すべき
トレーに応じて調整可能であることが望ましい。ノズル
の噴出方向は左右方向に可変なだけでなく、上下方向あ
るいは自在回転式に方向変更可能な構成としてもよい。
It is desirable that the jetting directions of the jet nozzles 10 on the left and right sides are symmetrically inclined in the opposite horizontal directions in the horizontal direction. As a result, the left and right inner wall surfaces and the corners of each recess of the tray can be reliably cleaned by blowing air.
It is desirable that the ejection direction of the ejection nozzle is variable and that it can be adjusted according to the tray to be cleaned. The jetting direction of the nozzle is not limited to be variable in the left-right direction, but may be configured to be changeable in the vertical direction or in the freely rotatable type.

【0014】これら多数の噴出ノズル10および吸引ノ
ズル11が取付けられた基枠体9は第3リニアテーブル
16上に搭載される。第3リニアテーブル16は、ボー
ルネジ18の手動回転操作により、直線ガイドレール1
7に沿って、矢印Cのように、トレー3の前面に対し直
角な前後方向に摺動可能である。ボールネジ18はモー
タにより回転駆動してもよい。
The base frame 9 to which the large number of jet nozzles 10 and suction nozzles 11 are attached is mounted on the third linear table 16. The third linear table 16 is operated by manually rotating the ball screw 18 so that the linear guide rail 1
As shown by an arrow C, it can slide in the front-rear direction at right angles to the front surface of the tray 3. The ball screw 18 may be rotationally driven by a motor.

【0015】上記構成の洗浄装置を使用する場合、ハン
ドル19を操作して第1リニアテーブル5を移動させ、
洗浄すべきトレー3を基枠体9に対面する位置に配置す
る。さらにボールネジ18の操作により基枠体9をトレ
ー3から洗浄に最適な距離の位置に配置する。ここで第
2リニアテーブル7を振動させ、ホルダ4およびこれに
保持されたトレー3を振動させる。トレー3が振動して
いる状態でこのトレー3に噴出ノズル10より圧縮エア
を吹付けトレーに付着した塵埃を飛散させる。これと同
時に吸引ノズル11によりトレー前面側から真空排気
し、トレー前面に飛散した塵埃を排出する。
When using the cleaning apparatus having the above-mentioned structure, the handle 19 is operated to move the first linear table 5,
The tray 3 to be cleaned is arranged at a position facing the base frame 9. Further, by operating the ball screw 18, the base frame body 9 is arranged at a position of the optimum distance from the tray 3 for cleaning. Here, the second linear table 7 is vibrated to vibrate the holder 4 and the tray 3 held by the holder 4. While the tray 3 is vibrating, compressed air is blown onto the tray 3 from the ejection nozzle 10 to scatter dust adhering to the tray. At the same time, the suction nozzle 11 evacuates the front side of the tray to discharge the dust scattered on the front side of the tray.

【0016】トレー3を左右方向に移動可能とする代り
に、基枠体9を左右方向にも移動可能な構成として、基
枠体9を左右に移動させながらエアブローを行なっても
よい。また、基枠体9はトレー3に対しトレー前面と平
行および直角な方向に移動可能とするだけだなく上下方
向にも相対的に移動可能な構成とすることもできる。ま
た振動方向は前後方向だけに限定されず、左右方向およ
び上下方向にも振動可能な構成としてもよい。さらに回
転振動や各振動を組合せた振動を与えてもよい。このよ
うな構成によりさらに効率のよい洗浄効果が得られる。
また、トレー3の振動と左右移動とを時間をずらせて交
互に行ない、トレー3を左右に移動させながらエアブロ
ーを行なってもよい。
Instead of moving the tray 3 in the left-right direction, the base frame 9 may be moved in the left-right direction, and air blowing may be performed while moving the base frame 9 in the left-right direction. Further, the base frame body 9 can be configured not only to be movable in the direction parallel to and perpendicular to the tray front surface with respect to the tray 3, but also to be relatively movable in the vertical direction. Further, the vibration direction is not limited to the front-back direction, and may be a structure capable of vibrating in the left-right direction and the vertical direction. Further, rotation vibration or vibration in which each vibration is combined may be applied. With such a structure, a more efficient cleaning effect can be obtained.
Further, the vibration and the horizontal movement of the tray 3 may be alternately performed at different times, and the air blow may be performed while moving the tray 3 left and right.

【0017】噴出ノズル10および吸引ノズル11の各
エアチューブ12,13上またはマニホルド14,15
にバルブを設けエアの吹付けを場所的にオンオフ制御し
てもよい。また、噴出ノズル10および吸引ノズル11
の数や配置場所は図示した実施例に限定されず、使用条
件に応じて各種の配置が可能である。
On the air tubes 12, 13 of the jet nozzle 10 and the suction nozzle 11 or on the manifolds 14, 15 respectively.
A valve may be provided to control the air blowing on and off locally. In addition, the jet nozzle 10 and the suction nozzle 11
The number and the place of arrangement are not limited to the illustrated embodiment, and various arrangements can be made according to the use conditions.

【0018】[0018]

【発明の効果】以上説明したように、本発明において
は、洗浄すべき半導体積載用トレーを振動させながら圧
縮空気等の気体を吹付けて真空吸引により塵埃を除去し
ているため、簡単で安価な構成により効率よく確実に塵
埃の除去ができる。また、従来の超音波振動による洗浄
方法のように加熱乾燥工程を必要としないため、作業工
程数が減少し処理時間の短縮が図られスループットが向
上する。さらに、薬液処理や加熱乾燥を行わないため、
薬液や加熱によるトレーの変形が防止され、半導体装置
の検査や試験の信頼性を常に高く保つことができる。
As described above, in the present invention, dust is removed by vacuum suction by blowing gas such as compressed air while vibrating the semiconductor loading tray to be cleaned, so that it is simple and inexpensive. With this configuration, dust can be removed efficiently and reliably. Further, unlike the conventional cleaning method using ultrasonic vibration, a heating and drying step is not required, so that the number of working steps is reduced, the processing time is shortened, and the throughput is improved. Furthermore, since it does not perform chemical solution treatment or heat drying,
The deformation of the tray due to the chemical solution or heating is prevented, and the reliability of the inspection and test of the semiconductor device can be always kept high.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の実施例に係る半導体装置積載用トレ
ー洗浄装置の斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view of a semiconductor device loading tray cleaning device according to an embodiment of the present invention.

【図2】 本発明が適用される洗浄すべき半導体装置積
載用トレーの一例を示す斜視図である。
FIG. 2 is a perspective view showing an example of a semiconductor device loading tray to which the present invention is applied and which is to be cleaned.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

3;半導体装置積載用トレー、4;ホルダ、5;第1リ
ニアテーブル、6,8,17;ガイドレール、7;第2
リニアテーブル、9;基枠体、10;噴出ノズル、11
吸引ノズル、16;第3リニアテーブル。
3; semiconductor device loading tray, 4; holder, 5; first linear table, 6, 8, 17; guide rail, 7; second
Linear table, 9; base frame, 10; jet nozzle, 11
Suction nozzle, 16; third linear table.

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 洗浄すべきトレーを保持する保持手段
と、該トレーに気体を吹付けるための複数の噴出ノズル
を有する気体吹付け手段と、該トレーの気体吹付け面側
から塵埃を吸引排出するための複数の吸引ノズルを有す
る真空排気手段と、前記保持手段に振動を与える振動手
段とを具備したことを特徴とする半導体装置積載用トレ
ー洗浄装置。
1. A holding means for holding a tray to be cleaned, a gas spraying means having a plurality of spray nozzles for spraying gas onto the tray, and suction and discharge of dust from the gas spraying surface side of the tray. A semiconductor device loading tray cleaning apparatus, comprising: a vacuum exhausting unit having a plurality of suction nozzles for performing the operation, and a vibrating unit for vibrating the holding unit.
【請求項2】 前記複数の噴出ノズルと複数の吸引ノズ
ルとを同じ基枠体に装着し、該基枠体と前記トレーとを
相対的に移動可能に構成したことを特徴とする請求項1
に記載の半導体装置積載用トレー洗浄装置。
2. The plurality of ejection nozzles and the plurality of suction nozzles are mounted on the same base frame, and the base frame and the tray are movable relative to each other.
A tray cleaning device for loading a semiconductor device according to item 1.
【請求項3】 前記トレーの洗浄面に平行および直角な
両方向に対し前記基枠体とトレーとを相対的に移動可能
に構成したことを特徴とする請求項2に記載の半導体装
置積載用トレー洗浄装置。
3. The tray for loading a semiconductor device according to claim 2, wherein the base frame and the tray are movable relative to each other in both directions parallel and perpendicular to the cleaning surface of the tray. Cleaning device.
【請求項4】 前記噴出ノズルは、気体吹付け方向が可
変であること特徴とする請求項1、2、または3に記載
の半導体装置積載用トレー洗浄装置。
4. The semiconductor device loading tray cleaning device according to claim 1, wherein the jet nozzle has a variable gas spraying direction.
【請求項5】 洗浄すべきトレーを振動させながら該ト
レーに気体を吹付け、同時にトレーの気体吹付け面から
発生した塵埃を真空吸引して集塵することを特徴とする
半導体装置積載用トレー洗浄方法。
5. A tray for loading a semiconductor device, characterized in that a tray to be cleaned is vibrated while being blown with a gas, and at the same time, dust generated from a gas blowing surface of the tray is vacuumed and collected. Cleaning method.
JP27682492A 1992-09-22 1992-09-22 Tray cleaning device for loading semiconductor devices Pending JPH0699151A (en)

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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007227821A (en) * 2006-02-27 2007-09-06 Denso Corp Foreign matter removing apparatus and foreign matter removing method for semiconductor device
KR100806378B1 (en) * 2006-11-21 2008-02-27 세크론 주식회사 Tray cleaning apparatus and tray cleaning method using the same
KR100917023B1 (en) * 2007-08-20 2009-09-10 세크론 주식회사 Tray cleaning method and apparatus
CN108188066A (en) * 2017-12-28 2018-06-22 苏州富强科技有限公司 A kind of charging tray cleaning plant for CNC production lines
WO2018131921A1 (en) * 2017-01-13 2018-07-19 (주)제이티 Device handler
CN119076510A (en) * 2024-09-02 2024-12-06 深圳市博硕科技股份有限公司 Automatic membrane cleaning device

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007227821A (en) * 2006-02-27 2007-09-06 Denso Corp Foreign matter removing apparatus and foreign matter removing method for semiconductor device
DE102007008223B4 (en) * 2006-02-27 2011-11-10 Denso Corporation System and method for removing foreign particles from a semiconductor device
US8141570B2 (en) 2006-02-27 2012-03-27 Denso Corporation System and method for removing foreign particles from semiconductor device
KR100806378B1 (en) * 2006-11-21 2008-02-27 세크론 주식회사 Tray cleaning apparatus and tray cleaning method using the same
KR100917023B1 (en) * 2007-08-20 2009-09-10 세크론 주식회사 Tray cleaning method and apparatus
WO2018131921A1 (en) * 2017-01-13 2018-07-19 (주)제이티 Device handler
CN108188066A (en) * 2017-12-28 2018-06-22 苏州富强科技有限公司 A kind of charging tray cleaning plant for CNC production lines
CN119076510A (en) * 2024-09-02 2024-12-06 深圳市博硕科技股份有限公司 Automatic membrane cleaning device

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