JPH07103909A - 画像検査方法 - Google Patents
画像検査方法Info
- Publication number
- JPH07103909A JPH07103909A JP24442993A JP24442993A JPH07103909A JP H07103909 A JPH07103909 A JP H07103909A JP 24442993 A JP24442993 A JP 24442993A JP 24442993 A JP24442993 A JP 24442993A JP H07103909 A JPH07103909 A JP H07103909A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 28
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 23
- 235000019557 luminance Nutrition 0.000 abstract description 19
- 230000015654 memory Effects 0.000 abstract description 18
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 14
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 均一な面に生じた傷・汚れ等を高精度に検出
する方法を提供する。 【構成】 均一な面の傷・汚れ等を検査する方法であっ
て、面の輝度を測定するカメラ１と、面の輝度を記憶す
るメモリ３と、メモリ３で記憶した面を若干異なる位置
にある面の輝度を記憶するメモリ４を有し、メモリ３・
４で記憶した輝度の差を算出し、算出した値が予め設定
している許容値を越えている箇所を傷・汚れ等であると
判断する。 【効果】 輝度がゆるやかに変化する面の傷・汚れ等を
検出でき、また、基準値を予め設定する必要がなく、傷
・汚れ等の設定値を小さくとることができるので、高精
度に傷・汚れ等を検出できる。
する方法を提供する。 【構成】 均一な面の傷・汚れ等を検査する方法であっ
て、面の輝度を測定するカメラ１と、面の輝度を記憶す
るメモリ３と、メモリ３で記憶した面を若干異なる位置
にある面の輝度を記憶するメモリ４を有し、メモリ３・
４で記憶した輝度の差を算出し、算出した値が予め設定
している許容値を越えている箇所を傷・汚れ等であると
判断する。 【効果】 輝度がゆるやかに変化する面の傷・汚れ等を
検出でき、また、基準値を予め設定する必要がなく、傷
・汚れ等の設定値を小さくとることができるので、高精
度に傷・汚れ等を検出できる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、均一な面にできた傷、
汚れを検査する画像検査方法に関する。
汚れを検査する画像検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、均一な面にできた傷、汚れを検査
する画像検査方法として物体表面の輝度を測定し、測
定値と予め定めた基準値を比較して傷・汚れを検出する
方法、物体表面の輝度を測定し、測定値と予め記憶さ
せている基準値との差を算出して傷・汚れを検出する方
法、物体表面の輝度を測定し、測定値を微分して傷・
汚れを検出する方法がある。
する画像検査方法として物体表面の輝度を測定し、測
定値と予め定めた基準値を比較して傷・汚れを検出する
方法、物体表面の輝度を測定し、測定値と予め記憶さ
せている基準値との差を算出して傷・汚れを検出する方
法、物体表面の輝度を測定し、測定値を微分して傷・
汚れを検出する方法がある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところが、の方法
は、測定する面の輝度が不均一であると傷・汚れを誤検
出するという問題を有しており、の方法は、の方法
の問題点を補う方法として有効であるが、予め基準値を
記憶させておき、この基準値と測定値の差に対する許容
値を設定する必要があり、例えば白い面と黒い面では基
準値及び許容値が異なるので、測定する物体に応じて基
準値及び許容値を設定しなければならないという問題を
有している。
は、測定する面の輝度が不均一であると傷・汚れを誤検
出するという問題を有しており、の方法は、の方法
の問題点を補う方法として有効であるが、予め基準値を
記憶させておき、この基準値と測定値の差に対する許容
値を設定する必要があり、例えば白い面と黒い面では基
準値及び許容値が異なるので、測定する物体に応じて基
準値及び許容値を設定しなければならないという問題を
有している。
【０００４】また、の方法は、傷・汚れ等による輝度
の変化を検出する方法であるので、物体表面に生じた
傷、汚れ等の端部の検出には有効であるが、いずれの部
分が傷・汚れ等であるか判別できない。また、輝度がゆ
るやかに変化している場合には微分値はほぼ一定値を示
すので、傷・汚れ等を検出できないという問題を有して
いる。上記したように、いずれの方法も、傷・汚
れ等の検出に問題を有している。
の変化を検出する方法であるので、物体表面に生じた
傷、汚れ等の端部の検出には有効であるが、いずれの部
分が傷・汚れ等であるか判別できない。また、輝度がゆ
るやかに変化している場合には微分値はほぼ一定値を示
すので、傷・汚れ等を検出できないという問題を有して
いる。上記したように、いずれの方法も、傷・汚
れ等の検出に問題を有している。
【０００５】そこで、本発明は上記した問題に鑑みて成
されたものであり、均一な面に生じた傷・汚れ等を高精
度に検出する方法を提供することを目的とするのであ
る。
されたものであり、均一な面に生じた傷・汚れ等を高精
度に検出する方法を提供することを目的とするのであ
る。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記した目的を達成する
ために、本発明の画像検査方法は、均一な面の傷・汚れ
等を検査する方法であって、面の輝度を測定する撮像手
段と、面の輝度を記憶する第１の記憶手段と、第１の記
憶手段で記憶した面の若干異なる位置にある面の輝度を
記憶する第２の記憶手段を有し、それぞれの記憶手段で
記憶した輝度の差を算出し、算出した値が予め設定して
いる許容値を越えている箇所を傷・汚れ等であると判断
するのである。
ために、本発明の画像検査方法は、均一な面の傷・汚れ
等を検査する方法であって、面の輝度を測定する撮像手
段と、面の輝度を記憶する第１の記憶手段と、第１の記
憶手段で記憶した面の若干異なる位置にある面の輝度を
記憶する第２の記憶手段を有し、それぞれの記憶手段で
記憶した輝度の差を算出し、算出した値が予め設定して
いる許容値を越えている箇所を傷・汚れ等であると判断
するのである。
【０００７】
【作用】本発明の画像検査方法は、面の輝度を測定する
撮像手段と、面の輝度を記憶する第１の記憶手段と、第
１の記憶手段で記憶した面の若干異なる位置にある面の
輝度を記憶する第２の記憶手段を有し、それぞれの記憶
手段で記憶した輝度の差を算出し、算出した値が予め設
定している許容値を越えている箇所を傷・汚れ等である
と判断するので、予め基準値を設定する必要がなく、許
容値を小さく設定でき、高精度に傷・汚れ等を検出でき
る。
撮像手段と、面の輝度を記憶する第１の記憶手段と、第
１の記憶手段で記憶した面の若干異なる位置にある面の
輝度を記憶する第２の記憶手段を有し、それぞれの記憶
手段で記憶した輝度の差を算出し、算出した値が予め設
定している許容値を越えている箇所を傷・汚れ等である
と判断するので、予め基準値を設定する必要がなく、許
容値を小さく設定でき、高精度に傷・汚れ等を検出でき
る。
【０００８】
【実施例】以下、本発明の一実施例を添付した図面に基
づいて説明する。図１は本発明方法に用いる回路ブロッ
クの構成を示す図、図２は本発明方法の説明図で、
（ａ）はカメラで画像を取り込んだ検査領域を示す図、
（ｂ）は検査領域Ａにおけるａ−ａ部分での輝度信号を
示した図、（ｃ）は検査領域Ｂにおけるａ−ａ部分での
輝度信号を示した図、（ｄ）は（ｂ）・（ｃ）に示した
輝度信号の差を示した図である。
づいて説明する。図１は本発明方法に用いる回路ブロッ
クの構成を示す図、図２は本発明方法の説明図で、
（ａ）はカメラで画像を取り込んだ検査領域を示す図、
（ｂ）は検査領域Ａにおけるａ−ａ部分での輝度信号を
示した図、（ｃ）は検査領域Ｂにおけるａ−ａ部分での
輝度信号を示した図、（ｄ）は（ｂ）・（ｃ）に示した
輝度信号の差を示した図である。
【０００９】図１において、１は被測定物の輝度を測定
するカメラであり、このカメラ１より出力されたアナロ
グの輝度信号をＡ−Ｄコンバータ２でデジタル信号に変
換してメモリ３・４に記憶する。そして、メモリ３・４
に記憶している値を演算回路５で演算処理し、判別回路
６で演算処理した信号を傷・汚れ等であるかを判別し、
出力信号として出力する。７はＡ−Ｄコンバータ２、メ
モリ３・４、演算回路５、判別回路６の動作を制御する
ＣＰＵである。
するカメラであり、このカメラ１より出力されたアナロ
グの輝度信号をＡ−Ｄコンバータ２でデジタル信号に変
換してメモリ３・４に記憶する。そして、メモリ３・４
に記憶している値を演算回路５で演算処理し、判別回路
６で演算処理した信号を傷・汚れ等であるかを判別し、
出力信号として出力する。７はＡ−Ｄコンバータ２、メ
モリ３・４、演算回路５、判別回路６の動作を制御する
ＣＰＵである。
【００１０】本発明は上記したような構成をした回路を
用いて行うのであるが、先ず被測定物をカメラ１で測定
し、Ａ−Ｄコンバータ２でデジタル信号に変換された測
定領域Ａの輝度信号をメモリ３に記憶し、検査領域Ａを
僅かにずらして異なる位置にある検査領域Ｂの輝度信号
をメモリ４に記憶する。このとき、検査領域Ａ・Ｂ上に
おけるａ−ａ部分での輝度信号はそれぞれ傷αの箇所で
低い値を示し、図２（ｂ）・（ｃ）に示すような波形を
表示する。
用いて行うのであるが、先ず被測定物をカメラ１で測定
し、Ａ−Ｄコンバータ２でデジタル信号に変換された測
定領域Ａの輝度信号をメモリ３に記憶し、検査領域Ａを
僅かにずらして異なる位置にある検査領域Ｂの輝度信号
をメモリ４に記憶する。このとき、検査領域Ａ・Ｂ上に
おけるａ−ａ部分での輝度信号はそれぞれ傷αの箇所で
低い値を示し、図２（ｂ）・（ｃ）に示すような波形を
表示する。
【００１１】そして、演算回路５でメモリ３・４それぞ
れが記憶している検査領域Ａ・Ｂの輝度信号の差を計算
し、判別回路６で演算回路５で計算した値が設定値と比
較して大きいと傷、汚れ等であると判断して信号を出力
する。検査領域Ａ・Ｂ上におけるａ−ａ部分での輝度信
号の差を計算すると図２（ｄ）に示すような波形を表示
する。ここで、傷・汚れ等の許容設定値より大きい値を
示した箇所を傷・汚れと判断する。さらに、傷・汚れ等
を示す箇所は＋側・−側共に値を示すので、＋側・−側
いずれかで許容設定値より大きい値を示す箇所を検出す
ればよい。
れが記憶している検査領域Ａ・Ｂの輝度信号の差を計算
し、判別回路６で演算回路５で計算した値が設定値と比
較して大きいと傷、汚れ等であると判断して信号を出力
する。検査領域Ａ・Ｂ上におけるａ−ａ部分での輝度信
号の差を計算すると図２（ｄ）に示すような波形を表示
する。ここで、傷・汚れ等の許容設定値より大きい値を
示した箇所を傷・汚れと判断する。さらに、傷・汚れ等
を示す箇所は＋側・−側共に値を示すので、＋側・−側
いずれかで許容設定値より大きい値を示す箇所を検出す
ればよい。
【００１２】なお、本発明方法は、被測定物自身の輝度
を比較しているので、傷・汚れ等を判別する値は小さく
てよいので、輝度がゆるやかに変化している場合即ち輪
郭が不鮮明な傷・汚れ等を検出できる。
を比較しているので、傷・汚れ等を判別する値は小さく
てよいので、輝度がゆるやかに変化している場合即ち輪
郭が不鮮明な傷・汚れ等を検出できる。
【００１３】例えば、本発明方法を用いてピアノの鍵盤
１１の傷・汚れ等を検査する場合は、図３に示すように
カメラ１を鍵盤１１の長手方向に移動させながら、画像
を取り込む。カメラ１の移動によって位置を変化させて
取り込み、メモリ３・４に記憶した検査領域Ｃ・Ｄでの
輝度信号を演算回路５、判別回路６で処理し、鍵盤１１
上の傷・汚れ等を検出する。
１１の傷・汚れ等を検査する場合は、図３に示すように
カメラ１を鍵盤１１の長手方向に移動させながら、画像
を取り込む。カメラ１の移動によって位置を変化させて
取り込み、メモリ３・４に記憶した検査領域Ｃ・Ｄでの
輝度信号を演算回路５、判別回路６で処理し、鍵盤１１
上の傷・汚れ等を検出する。
【００１４】また、円形状をした物体例えばゴムリング
１２上の傷・汚れ等を検査する場合は、図４に示すよう
に、そのままの状態で取り込んだ画像とゴムリング１２
の中心を回転中心として例えば時計方向に１０O 回転し
て取り込んだ画像をそれぞれメモリ３・４に記憶した後
に、演算回路５、判別回路６で処理して傷・汚れ等を検
出する。このとき、ゴムリング１２の中心を軸に回転し
て取り込む画像はカメラ１を回転させて取り込んでも、
取り込んだ画像をＣＰＵ７によって回転処理して作成し
たものでもよい。
１２上の傷・汚れ等を検査する場合は、図４に示すよう
に、そのままの状態で取り込んだ画像とゴムリング１２
の中心を回転中心として例えば時計方向に１０O 回転し
て取り込んだ画像をそれぞれメモリ３・４に記憶した後
に、演算回路５、判別回路６で処理して傷・汚れ等を検
出する。このとき、ゴムリング１２の中心を軸に回転し
て取り込む画像はカメラ１を回転させて取り込んでも、
取り込んだ画像をＣＰＵ７によって回転処理して作成し
たものでもよい。
【００１５】本実施例では均一な面における傷・汚れ等
の検出を説明したが、ある一定の規則で変化する模様を
有する面例えばチェック柄の面での傷・汚れ等を検出す
る場合は、模様のピッチ分だけずらした画像を取り込む
ようにすれば検査が可能である。
の検出を説明したが、ある一定の規則で変化する模様を
有する面例えばチェック柄の面での傷・汚れ等を検出す
る場合は、模様のピッチ分だけずらした画像を取り込む
ようにすれば検査が可能である。
【００１６】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の画像検査
方法は、微分による画像検査方法で検出できない輝度が
ゆるやかに変化する面の傷・汚れ等を検出できる。ま
た、測定する面自体の輝度を比較しているので、基準値
を予め設定する必要がない。さらには、傷・汚れ等の設
定値を小さくとることができるので、設定値を被測定物
に応じて変化させる必要がなく、高精度に傷・汚れ等を
検出できる。
方法は、微分による画像検査方法で検出できない輝度が
ゆるやかに変化する面の傷・汚れ等を検出できる。ま
た、測定する面自体の輝度を比較しているので、基準値
を予め設定する必要がない。さらには、傷・汚れ等の設
定値を小さくとることができるので、設定値を被測定物
に応じて変化させる必要がなく、高精度に傷・汚れ等を
検出できる。
【図１】本発明方法に用いる回路ブロックの構成を示す
図である。
図である。
【図２】本発明方法の説明図で、（ａ）はカメラで画像
を取り込んだ検査領域を示す図、（ｂ）は検査領域Ａに
おけるａ−ａ部分での輝度信号を示した図、（ｃ）は検
査領域Ｂにおけるａ−ａ部分での輝度信号を示した図、
（ｄ）は（ｂ）・（ｃ）に示した輝度信号の差を示した
図である。
を取り込んだ検査領域を示す図、（ｂ）は検査領域Ａに
おけるａ−ａ部分での輝度信号を示した図、（ｃ）は検
査領域Ｂにおけるａ−ａ部分での輝度信号を示した図、
（ｄ）は（ｂ）・（ｃ）に示した輝度信号の差を示した
図である。
【図３】ピアノの鍵盤上の傷・汚れ等を検査している状
態を示した図で、（ａ）はカメラが鍵盤上方を移動する
状態を示した図、（ｂ）はカメラが取り込む検査領域を
示す図である。
態を示した図で、（ａ）はカメラが鍵盤上方を移動する
状態を示した図、（ｂ）はカメラが取り込む検査領域を
示す図である。
【図４】第１・第２のメモリに記憶したゴムリングの像
を示す図で、（ａ）は第１のメモリに記憶させたゴムリ
ングの像を示す図、（ｂ）は第２のメモリに記憶させた
ゴムリングの像を示す図である。
を示す図で、（ａ）は第１のメモリに記憶させたゴムリ
ングの像を示す図、（ｂ）は第２のメモリに記憶させた
ゴムリングの像を示す図である。
１ カメラ ２ Ａ−Ｄコンバータ ３ メモリ ４ メモリ ５ 演算回路 ６ 判別回路 ７ ＣＰＵ Ａ 検査領域 Ｂ 検査領域 α 傷
Claims (1)
- 【請求項１】 均一な面の傷・汚れ等を検査する方法で
あって、面の輝度を測定する撮像手段と、面の輝度を記
憶する第１の記憶手段と、第１の記憶手段で記憶した面
の若干異なる位置にある面の輝度を記憶する第２の記憶
手段を有し、それぞれの記憶手段で記憶した輝度の差を
算出し、算出した値が予め設定している許容値を越えて
いる箇所を傷・汚れ等であると判断することを特徴とす
る画像検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24442993A JPH07103909A (ja) | 1993-09-30 | 1993-09-30 | 画像検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24442993A JPH07103909A (ja) | 1993-09-30 | 1993-09-30 | 画像検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07103909A true JPH07103909A (ja) | 1995-04-21 |
Family
ID=17118530
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24442993A Pending JPH07103909A (ja) | 1993-09-30 | 1993-09-30 | 画像検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07103909A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007271487A (ja) * | 2006-03-31 | 2007-10-18 | Nok Corp | 画像による欠陥検出方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03140848A (ja) * | 1989-10-27 | 1991-06-14 | Kubota Corp | 欠陥検出方法 |
-
1993
- 1993-09-30 JP JP24442993A patent/JPH07103909A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03140848A (ja) * | 1989-10-27 | 1991-06-14 | Kubota Corp | 欠陥検出方法 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007271487A (ja) * | 2006-03-31 | 2007-10-18 | Nok Corp | 画像による欠陥検出方法 |
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