JPH07107604B2 - レジスト現像方法 - Google Patents

レジスト現像方法

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JPH07107604B2
JPH07107604B2 JP60177498A JP17749885A JPH07107604B2 JP H07107604 B2 JPH07107604 B2 JP H07107604B2 JP 60177498 A JP60177498 A JP 60177498A JP 17749885 A JP17749885 A JP 17749885A JP H07107604 B2 JPH07107604 B2 JP H07107604B2
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resist
substrate
developing
immersed
ultrasonic wave
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JP60177498A
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進 宮部
貴 佐藤
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旭化成工業株式会社
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    • G—PHYSICS
    • G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03C—PHOTOSENSITIVE MATERIALS FOR PHOTOGRAPHIC PURPOSES; PHOTOGRAPHIC PROCESSES, e.g. CINE, X-RAY, COLOUR, STEREO-PHOTOGRAPHIC PROCESSES; AUXILIARY PROCESSES IN PHOTOGRAPHY
    • G03C5/00—Photographic processes or agents therefor; Regeneration of such processing agents
    • G03C5/18—Diazo-type processes, e.g. thermal development, or agents therefor

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、レジストパターンの現像残りを少なくして良
好に現像を行うレジストの現像方法に関するものであ
る。
[従来の技術] 一般に、基板上にレジストパターンを形成するにあた
り、基板上にレジストを一様に被着し、その上にパター
ンマスクをあてて露光を行い、レジストをパターンに従
って硬化させ、ついで、現像処理において、硬化したレ
ジストを残し、未硬化部分のレジストを除去し、以て、
レジストパターンを形成している。
このような現像工程において、レジストパターンの現像
残りを少なくして良好に現像を行うべく、従来は現像液
に超音波をかけたり、レジストパターンの形成されてい
る基板を揺動したりすることが行われている。超音波は
有効ではあるが、現像むら、すなわち現像の不十分な個
所ができやすいので、超音波を長時間かける必要があ
り、その結果、硬化部分のレジストが剥離することがあ
った。揺動を行う場合には、揺動だけでは現像残りを皆
無にすることは到底不可能であり、しかも超音波をかけ
たときに比べ現像されたレジスト層のエッジ部に鈍りが
あった。
[発明が解決しようとする問題点] そこで、本発明の目的は、上述したような欠点を除去し
て、現像を良好に行うレジストの現像方法を提供するこ
とにある。
[問題を解決するための手段] このような目的を達成するために、本発明は、露光ずみ
レジスト層の形成されている基板を現像液中に浸漬して
現像処理を施すレジスト現像方法において、前記基板を
前記現像液に浸漬している時間の前半において浸漬して
いる全時間の1/20〜1/2にわたって超音波を前記基板に
かけると共に、前記基板を前記現像液に浸漬している間
にわたって、前記基板を揺動させることを特徴とする。
ここで、超音波印加時間を全浸漬時間のうちの1/20〜1/
2とするのが好ましく、特に1/15〜1/4とするのがより良
好である。また、基板の浸漬後直ちに超音波を印加する
のが好適である。
[作用] 本発明によれば、レジストのうち硬化させた部分が剥離
することなく未硬化部分をほぼ完全に除去でき、以てレ
ジストのエッジ部分をシャープにしてレジストパターン
を形成することができ、良好なレジスト現像を行うこと
ができる。
[実施例] 以下に、図面を参照して本発明を詳細に説明する。
第1図は、本発明により現像を行う場合に、露光ずみレ
ジスト層の形成されている基板1を浸漬する現像液槽2
を示し、この槽2内には超音波振動子3を配設して、基
板1に対して所定方向に超音波を伝播させる。4は基板
1を所定方向に揺動させる揺動装置である。
本発明では、現像中にレジス基板1に超音波振動子3よ
り超音波をかけ、およびその超音波と組合せて、揺動装
置4により基板1を揺動させる。その場合に、超音波を
印加する時間については、現像の後段階で超音波をかけ
ると、レジストの硬化部分の剥離が多くなるので、好ま
しくは、現像工程の時間のうち1/2より前に超音波を印
加する。より好ましくは、前工程の1/4より前、さらに
好ましくは現像の最初の時点から超音波の印加を開始す
る。本発明では、レジストに対して超音波を均一に作用
させるために、超音波の伝わる方向とほぼ同じ方向に基
板1を機械的に揺動する。かかる揺動のピッチは、超音
波の波長より長い範囲で、なるべく小さくすることが層
2の効率上好ましい。好ましくは、 (波長)≦揺動ピッチ≦(波長)×20 とする。より好ましくは、 2×(波長)≦揺動ピッチ≦(波長)×10 とする。たとえば、波長1.3cmに対して揺動ピッチを5cm
とする。
揺動速度は、基板1に負荷をかけない範囲で可及的速い
方がよい。好ましくは、 2cm/sec≦揺動線速度≦50cm/sec とする。より好ましくは、 5cm/sec≦揺動線速度≦25cm/sec とする。
さらにまた、超音波の強さや移動を変えたり、超音波源
3の位置を移動させることなども現像を良好に行うのに
有効であるが、槽2の構造などをも考慮すると、超音波
現像と揺動とを併用するのが最も好ましい。
次に本発明の態様を一層明確にするために実施例をあげ
て説明するが、本発明は以下の実施例にのみ限定される
ものではなく、種々の変形が可能であること勿論であ
る。
厚さ80μmで、寸法650×400の銅箔上に「ナガセネガテ
ィブレジスト747」を、硬化後の厚みが4μmになるよ
うに塗布し、ついでその上をマスクパターンで覆って露
光し、このレジストを硬化させた。その後、上述のレジ
ストについての専用の現像液を用いて3つの槽において
以下の条件で現像した。
第1〜第3槽のいずれにおいても、基板を底面と垂直方
向に固定し、縦方向にストローク10cm、線速度15cm/sec
で揺動しながら3分間浸漬した。第1槽の下部に超音波
発振子を設け、50KHzの超音波を上方向へ伝搬させた。
この超音波の発信時間は、基板を浸漬した直後から実施
例順に0.5、1、3分間とした。液温は25℃とした。パ
ターンとしては線幅30μmで、6本/mmの縞状パターン
を用いた。ここで、第1槽では最初の1分間だけ超音波
をかけ、第1〜第3槽のいずれも3分間全体にわたった
揺動を行った。基板は第1槽から順次に第3槽まで各3
分間浸漬した。
本発明の実施例と共に、比較例として、超音波印加時間
および揺動時間を種々変えた場合および揺動ストローク
を短くした場合の結果を次の第1表に示す。
このように、本発明によれば、レジスト硬化部分の剥離
個所も、レジスト未硬化部分の現像残りの個所もない状
態でレジストパターンが現像された銅箔を得ることがで
きた。ここで、超音波の印加と揺動とを同時に行う時間
は、全浸漬時間1/20〜1/2とするのが好ましく、特に1/1
5〜1/4がよりさらに揺動ピッチは波長より長い方が好ま
しいことがわかった。
[発明の効果] 以上から明らかなように、本発明によれば、レジストの
うち硬化させた部分が剥離することなく未硬化部分をほ
ぼ完全に除去でき、以てレジストのエッジ部分をシャー
プにしてレジストパターンを形成することができ、良好
なレジスト現像を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明を実施する現像液槽を示す線図である。 1……レジスト基板、2……現像液槽、3……超音波振
動子、4……揺動装置。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】露光ずみレジスト層の形成されている基板
    を現像液中に浸漬して現像処理を施すレジスト現像方法
    において、前記基板を前記現像液に浸漬している時間の
    前半において浸漬している全時間の1/20〜1/2の時間に
    わたって超音波を前記基板にかけると共に、前記基板を
    前記現像液に浸漬している間にわたって、前記基板を揺
    動させることを特徴とするレジスト現像方法。
  2. 【請求項2】特許請求の範囲第1項記載のレジスト現像
    方法において、 前記超音波をかける時間が前記基板を前記現像液に浸漬
    している全時間の1/15〜1/4であることを特徴とするレ
    ジスト現像方法。
  3. 【請求項3】特許請求の範囲第1項または第2項に記載
    のレジスト現像方法において、前記基板を前記現像液に
    浸漬した直後から前記超音波を前記基板にかけることを
    特徴とするレジスト現像方法。
  4. 【請求項4】特許請求の範囲第1項ないし第3項のいず
    れかに記載のレジスト現像方法において、前記基板の揺
    動を基板の長手方向に行うと共に、この揺動方向と前記
    超音波の伝達方向をほぼ同じに設定することを特徴とす
    るレジスト現像方法。
JP60177498A 1985-08-14 1985-08-14 レジスト現像方法 Expired - Lifetime JPH07107604B2 (ja)

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JPS6238457A JPS6238457A (ja) 1987-02-19
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