JPH07111490A - Transmission line test support device - Google Patents

Transmission line test support device

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JPH07111490A
JPH07111490A JP5254194A JP25419493A JPH07111490A JP H07111490 A JPH07111490 A JP H07111490A JP 5254194 A JP5254194 A JP 5254194A JP 25419493 A JP25419493 A JP 25419493A JP H07111490 A JPH07111490 A JP H07111490A
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JP
Japan
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transmission
transmission line
test
switch
tester
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP5254194A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Atsushi Sato
篤志 佐藤
Shinichi Tsuchida
伸一 土田
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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  • Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は、伝送路の特定区間の両端に配置さ
れて、その区間における伝送特性の確認に供される伝送
路試験支援装置に関し、伝送方式が異なり直列に接続さ
れた複数の伝送路からなる伝送区間について、その区間
の両端間で総合的な伝送特性に基づくチャネル単位の確
認試験を行うことを目的とする。 【構成】 伝送情報の切替えを行うスイッチ11と、異
なる伝送方式で伝送情報を伝送する2つの伝送路1
1 、132 の連結点に配置され、これらの伝送路とス
イッチ11との間のインタフェースを個別にとる伝送路
インタフェース手段151 、152 と、伝送路131
132 に形成される個々のチャネルで擬似伝送情報を送
受し、予め決められた基準に基づきこれらの伝送路の試
験を行う試験器17と、スイッチ11との間のインタフ
ェースをとる試験インタフェース手段19とを備えて構
成される。
(57) [Abstract] [Object] The present invention relates to a transmission path test support device which is provided at both ends of a specific section of a transmission path and is used for confirmation of transmission characteristics in the section. The purpose of this is to conduct a confirmation test on a channel-by-channel basis based on comprehensive transmission characteristics between the two ends of the transmission section consisting of a plurality of transmission lines. [Structure] A switch 11 for switching transmission information and two transmission lines 1 for transmitting transmission information by different transmission methods.
Transmission line interface means 15 1 and 15 2, which are arranged at the connection points of 3 1 and 13 2 and individually take an interface between these transmission lines and the switch 11, and transmission lines 13 1 and
Test interface means 19 which acts as an interface between the switch 11 and the tester 17 which transmits and receives the pseudo transmission information through the individual channels formed on the transmission line 13 2 and tests these transmission lines based on a predetermined standard. And is configured.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、伝送路の特定区間の両
端に配置されて、その区間における伝送特性の確認に供
される伝送路試験支援装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a transmission line test support device which is arranged at both ends of a specific section of a transmission line and is used for confirmation of transmission characteristics in the section.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、多くの通信網にはディジタル伝送
方式が採用され、既設のアナログ方式の伝送路は次々と
新たなディジタル伝送路に改修されつつある。このよう
な改修によりアナログ方式の伝送路が残存する区間につ
いては、運用開始に先行して改修前のアナログ方式の伝
送路と同等以上の伝送品質が得られることを確認するた
めに、種々の項目について試験が行われる。
2. Description of the Related Art In recent years, digital transmission systems have been adopted in many communication networks, and existing analog transmission lines are being remodeled into new digital transmission lines one after another. As for the section where the analog transmission line remains due to such renovation, various items are checked prior to the start of operation to confirm that the transmission quality equal to or higher than that of the analog transmission line before the renovation can be obtained. Will be tested.

【0003】図10は、従来の伝送路確認試験の方法を
示す図である。図において、アナログ方式の端末101
1 とデータ端末1021 とを収容する時分割多重装置
(TDM)1031 は、ディジタル伝送路(以下、単に
「伝送路」という。)104を介して時分割多重装置1
032 (TDM)に接続される。時分割多重装置103
2 は、アナログ方式の端末1012 とデータ端末102
2 とを収容する。時分割多重装置1031 、103
2 は、それぞれビット誤り率測定器1051 、1052
に接続される。
FIG. 10 is a diagram showing a conventional transmission line confirmation test method. In the figure, an analog type terminal 101
1 and data terminal 102 1
The (TDM) 103 1 is connected via a digital transmission line (hereinafter, simply referred to as “transmission line”) 104 to the time division multiplexer 1.
03 2 (TDM). Time division multiplexer 103
2 is an analog type terminal 101 2 and a data terminal 102
Accommodates 2 and. Time Division Multiplexers 103 1 , 103
2 is the bit error rate measuring devices 105 1 and 105 2 respectively.
Connected to.

【0004】時分割多重装置1031 では、端末101
1 およびデータ端末1021 は、端末インタフェース部
(CHIF)1061 、時間スイッチ(TSI)107
1 および伝送路インタフェース部(LIF)1081
介して伝送路104に接続される。さらに、時間スイッ
チ1071 の所定のポートは、テスト盤(TEST)1
091 を介してビット誤り率測定器1051 に接続され
る。なお、時分割多重装置1032 については、時分割
多重装置1031 と構成が同じであるから、個々の対応
する構成要素に添え番号を「2 」とする同じ参照番号を
付与して示し、ここではその説明を省略する。
In the time division multiplexer 103 1 , the terminal 101
1 and the data terminal 102 1 are a terminal interface unit (CHIF) 106 1 and a time switch (TSI) 107.
1 and a transmission line interface (LIF) 108 1 to connect to the transmission line 104. Further, a predetermined port of the time switch 107 1 is connected to the test board (TEST) 1
09 1 is connected to the bit error rate measuring device 105 1 . Since the time-division multiplex device 103 2 has the same configuration as the time-division multiplex device 103 1 , the same reference number with the subscript “ 2 ” is given to each corresponding constituent element. Then, the explanation is omitted.

【0005】このような構成の試験回路を用いた伝送路
確認試験では、伝送路104の両端間がアナログ方式の
伝送路から改修された区間であるとすると、その伝送路
104の両端は、伝送路インタフェース部1081、1
082および時間スイッチ1071、1072を介してビ
ット誤り率測定器1051、1052に接続される。
In the transmission line confirmation test using the test circuit having such a configuration, if it is assumed that both ends of the transmission line 104 are sections modified from the analog type transmission line, both ends of the transmission line 104 are transmitted. Road interface unit 108 1 , 1
08 2 and time switches 107 1 and 107 2 are connected to bit error rate measuring devices 105 1 and 105 2 .

【0006】このような状態では、ビット誤り率測定器
1051、1052は、それぞれ予め決められた系列のビ
ット列(例えば、PN符号)を生成して互いに対向する
ビット誤り率測定器に送出する。ビット誤り率測定器1
051、1052は、このようなビット列を取り込んで予
め設定された既知のビット列と比較し、その比較の結果
に基づいてビット誤り率を測定する。
In such a state, the bit error rate measuring devices 105 1 and 105 2 generate bit strings (for example, PN code) of a predetermined series and send them to the bit error rate measuring devices facing each other. . Bit error rate measuring instrument 1
05 1 and 105 2 take in such a bit string, compare it with a preset known bit string, and measure the bit error rate based on the result of the comparison.

【0007】また、このようなディジタル伝送路に接続
される残存のアナログ伝送路については、伝送路104
との接続点で折り返しそのアナログ伝送路の接続点に所
定の測定器(図示されない。)を接続することにより、
群帯域レベルやSN比の測定が行われ、その測定の結果
に基づいて伝送品質の確認や保守が行われる。
Regarding the remaining analog transmission line connected to such a digital transmission line, the transmission line 104
By turning back at the connection point with and connecting a predetermined measuring device (not shown) to the connection point of the analog transmission line,
The group band level and the SN ratio are measured, and the transmission quality is confirmed and maintained based on the measurement result.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】しかし、このような従
来の伝送路確認試験は、伝送方式が異なる区間毎に分離
して個別に行われていたために、試験工程が複数に分割
されて作業効率が悪く、かつその区間の総合的な伝送路
特性を把握することはできなかった。また、特に、ディ
ジタル伝送路とアナログ伝送路とが複雑に直列接続され
て構成された通信網については、保守や運用に多くの工
数を要し、その工数を大幅に削減できる試験方法や機器
が要望されていた。
However, since such a conventional transmission line confirmation test is performed separately for each section having a different transmission method, the test process is divided into a plurality of steps and the work efficiency is improved. However, it was not possible to grasp the comprehensive transmission line characteristics of that section. Further, especially for a communication network that is configured by complicatedly connecting a digital transmission line and an analog transmission line in series, a lot of man-hours are required for maintenance and operation, and there are test methods and devices that can significantly reduce the man-hours. It was requested.

【0009】本発明は、伝送方式が異なり直列に接続さ
れた複数の伝送路からなる伝送区間について、その両端
間で総合的な伝送特性に基づくチャネル単位の確認試験
を可能とする伝送路試験支援装置を提供することを目的
とする。
The present invention provides a transmission line test support that enables a channel unit confirmation test based on comprehensive transmission characteristics between both ends of a transmission section consisting of a plurality of transmission lines which are different in transmission system and are connected in series. The purpose is to provide a device.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】図1は、請求項1に記載
の発明の原理ブロック図である。本発明は、伝送情報の
伝達先を切り換えるスイッチ11と、異なる伝送方式で
伝送情報を伝送する2つの伝送路131、132の連結点
に配置され、これらの伝送路とスイッチ11との間のチ
ャネル毎のインタフェースを個別にとる伝送路インタフ
ェース手段151、152と、伝送情報に相当する擬似伝
送情報を送受して監視し、その監視の結果に基づき伝送
路131、132をチャネル毎に試験する試験器17と、
スイッチ11との間のインタフェースをとる試験インタ
フェース手段19とを備えたことを特徴とする。
FIG. 1 is a block diagram showing the principle of the invention described in claim 1. In FIG. The present invention is arranged at a connection point between a switch 11 that switches a transmission destination of transmission information and two transmission paths 13 1 and 13 2 that transmit transmission information by different transmission methods, and between the transmission path and the switch 11. The transmission line interface means 15 1 and 15 2 for individually taking an interface for each channel and the pseudo transmission information corresponding to the transmission information are transmitted and received to be monitored, and the transmission lines 13 1 and 13 2 are channeled based on the result of the monitoring. A tester 17 that tests each time,
And a test interface means 19 for interfacing with the switch 11.

【0011】図2は、請求項2に記載の発明の原理ブロ
ック図である。本発明は、伝送情報の伝達先を切り換え
るスイッチ21と、所定の伝送方式で伝送情報を伝送す
る伝送路23の末端に接続され、その伝送路とスイッチ
21との間のチャネル毎のインタフェースをとる伝送路
インタフェース手段25と、伝送情報に相当する擬似伝
送情報を送受して監視し、その監視の結果に基づき伝送
路23をチャネル毎に試験する試験器17と、スイッチ
21との間のインタフェースをとる試験インタフェース
手段27とを備えたことを特徴とする。
FIG. 2 is a block diagram showing the principle of the invention described in claim 2. According to the present invention, the switch 21 for switching the transmission destination of the transmission information and the end of the transmission path 23 for transmitting the transmission information by a predetermined transmission method are connected to each other to form an interface for each channel between the transmission path and the switch 21. An interface is provided between the switch 21 and the transmission line interface means 25, a tester 17 that sends and receives pseudo transmission information corresponding to the transmission information to monitor, and tests the transmission line 23 for each channel based on the result of the monitoring. And a test interface means 27.

【0012】[0012]

【作用】請求項1に記載の発明にかかわる伝送路試験支
援装置は、伝送路131、132の連結点と、その連結点
を一端とする試験区間の他端とに個別に配置される。こ
れらの伝送路試験支援装置では、伝送路インタフェース
手段151 、152 は、それぞれ上述した試験区間の各
端における伝送方式に適合させてその試験区間とスイッ
チ11との間のインタフェースをとる。スイッチ11
は、試験の対象となるチャネルについて、上述した試験
区間と試験インタフェース手段19との間に伝送情報の
パスを形成する。
The transmission line test support apparatus according to the present invention is individually arranged at the connection point of the transmission lines 13 1 and 13 2 and the other end of the test section having the connection point as one end. . In these transmission line test support devices, the transmission line interface means 15 1 and 15 2 serve as an interface between the test section and the switch 11 in conformity with the transmission method at each end of the test section described above. Switch 11
Forms a transmission information path between the test section and the test interface means 19 for the channel to be tested.

【0013】すなわち、試験区間の両端では、それぞれ
試験インタフェース手段19、スイッチ11および伝送
インタフェース手段151 、152(152 、151)を介
して2つの試験器17が対向する。
That is, at both ends of the test section, the two testers 17 face each other via the test interface means 19, the switch 11 and the transmission interface means 15 1 , 15 2 (15 2 , 15 1 ), respectively.

【0014】したがって、これらの試験器を用いること
により、伝送方式が異なる複数の伝送路を直列に接続し
て構成された試験区間の両端で相互に擬似伝送情報を送
受して監視し、総合的な伝達特性に基づく試験を行うこ
とができる。
Therefore, by using these testers, pseudo transmission information is mutually transmitted and received at both ends of a test section constituted by connecting a plurality of transmission lines having different transmission systems in series, and comprehensive monitoring is performed. A test based on various transfer characteristics can be performed.

【0015】請求項2に記載の発明にかかわる伝送路試
験支援装置は、伝送路23の末端に配置され、その末端
を一端とする試験区間の他端には請求項1に記載の発明
あるいは請求項2に記載の本発明にかかわる伝送路試験
支援装置が配置される。
The transmission line test support device according to the invention of claim 2 is arranged at the end of the transmission line 23, and the invention or claim of claim 1 is provided at the other end of the test section having the end as one end. The transmission line test support device according to the present invention according to item 2 is arranged.

【0016】請求項2に記載の発明にかかわる伝送試験
装置では、伝送路インタフェース手段25は、上述した
試験区間の末端における伝送方式に適合させてその試験
区間とスイッチ21との間のインタフェースをとる。ス
イッチ21は、試験の対象となるチャネルについて、上
述した試験区間と試験インタフェース手段27との間に
伝送情報のパスを形成する。
In the transmission test apparatus according to the second aspect of the present invention, the transmission line interface means 25 takes an interface between the test section and the switch 21 in conformity with the transmission method at the end of the test section. . The switch 21 forms a transmission information path between the test section and the test interface means 27 for the channel to be tested.

【0017】すなわち、試験区間の両端では、それぞれ
試験インタフェース手段27、スイッチ21、伝送路イ
ンタフェース手段25、伝送路23に設定された試験区
間、伝送路インタフェース手段151(152 、25)、
スイッチ11(21)および試験インタフェース手段1
9(27)を介して2つの試験器17が対向する。
That is, at both ends of the test section, the test interface means 27, the switch 21, the transmission path interface means 25, the test section set in the transmission path 23, the transmission path interface means 15 1 (15 2 , 25),
Switch 11 (21) and test interface means 1
Two testers 17 face each other through 9 (27).

【0018】したがって、これらの試験器を用いること
により、伝送方式が異なる複数の伝送路を直列接続して
構成された試験区間の両端で相互に擬似伝送情報を送受
して監視し、総合的な伝達特性に基づく試験を行うこと
ができる。
Therefore, by using these testers, pseudo transmission information is mutually transmitted and received at both ends of a test section constituted by connecting a plurality of transmission lines having different transmission systems in series, and comprehensive monitoring is performed. Testing based on transfer characteristics can be performed.

【0019】[0019]

【実施例】以下、図面に基づいて本発明の実施例につい
て詳細に説明する。図3は、請求項1に記載の発明に対
応した第一の実施例を示す図である。
Embodiments of the present invention will now be described in detail with reference to the drawings. FIG. 3 is a diagram showing a first embodiment corresponding to the invention described in claim 1.

【0020】本実施例と図10に示す従来例との相違点
は、時分割多重装置1031 、1032 に代えて後述の
点で構成が異なる時分割多重装置(TDM)301 、3
2を備え、ビット誤り率測定器1051 に代えて低周
波試験器(OSC/LM)311 およびシグナリング試
験器321 を備え、ビット誤り率測定器1052 に代え
て低周波試験器(OSC/LM)312 およびシグナリ
ング試験器322 を備えた点にある。
The difference between this embodiment and the conventional example shown in FIG. 10, time-division multiplexing apparatus 103 1, 103 2 division multiplexing apparatus when the configuration in terms of later differs instead (TDM) 30 1, 3
0 2 comprises a, in place of the bit error rate measuring unit 105 first low-frequency tester (OSC / LM) 31 1 and provided with a signaling tester 32 1, instead of the bit error rate measuring unit 105 second low-frequency tester ( The OSC / LM) 31 2 and the signaling tester 32 2 are provided.

【0021】時分割多重装置301 はテスト盤1091
に代えてPCMコーデック331 、ADPCMコーデッ
ク341 およびシグナリングテスト盤351 を備え、P
CMコーデック331 およびADPCMコーデック34
1 には低周波試験器311 が接続される。シグナリング
テスト盤351 には、シグナリング試験器322 が接続
される。なお、時分割多重装置302 については、時分
割多重装置301 と構成が同じであるから、対応する構
成要素に添え番号を「2 」とする同じ参照番号を付与し
て示し、ここではその説明を省略する。
The time division multiplexer 30 1 is a test board 109 1
In place of PCM codec 33 1 , ADPCM codec 34 1 and signaling test board 35 1 ,
CM codec 33 1 and ADPCM codec 34
A low frequency tester 31 1 is connected to 1 . A signaling tester 32 2 is connected to the signaling test board 35 1 . Since the time-division multiplexing device 30 2 has the same configuration as the time-division multiplexing device 30 1 , the same reference numeral with the subscript “ 2 ” is given to the corresponding component, The description is omitted.

【0022】なお、本実施例と図1に示すブロック図と
の対応関係については、スイッチ107はスイッチ11
に対応し、伝送路104は伝送路131 、132 に対応
し、端末インタフェース部106および伝送路インタフ
ェース部108は伝送路インタフェース手段151 、1
2 に対応し、低周波試験器31およびシグナリング試
験器32は試験器17に対応し、PCMコーデック3
3、ADPCMコーデック34およびシグナリングテス
ト盤35は試験インタフェース手段19に対応する。
Regarding the correspondence between this embodiment and the block diagram shown in FIG. 1, the switch 107 is the switch 11
The transmission line 104 corresponds to the transmission lines 13 1 and 13 2 , and the terminal interface unit 106 and the transmission line interface unit 108 correspond to the transmission line interface units 15 1 and 1 1.
5 2 corresponds, the low-frequency tester 31 and signaling tester 32 corresponds to the tester 17, PCM codec 3
3, ADPCM codec 34 and signaling test board 35 correspond to the test interface means 19.

【0023】以下、本実施例の動作を説明する。低周波
試験器311、312はそれぞれ伝送路104のレベルダ
イヤグラムに応じた規定レベルでアナログのテスト信号
を発生し、シグナリング試験器321 、322 はそれぞ
れ規定のパターンからなるシグナリング信号(ライン信
号)を時系列の順に発生する。伝送路104の両端に
は、確認試験の対象とすべきチャネルについて、それぞ
れ伝送路インタフェース部1081 、1082 および時
間スイッチ1071 、1072 を介してPCMコーデッ
ク331 、332 (または、ADPCMコーデック34
1 、342 )とシグナリングテスト盤351 、352
が接続される。なお、時間スイッチ1071 、1072
内では、通過するPCM信号のフォーマットに基づい
て、通話信号(伝送情報)とシグナリング信号との分離
および合成が行われる。
The operation of this embodiment will be described below. The low-frequency testers 31 1 and 31 2 each generate an analog test signal at a specified level according to the level diagram of the transmission line 104, and the signaling testers 32 1 and 32 2 each include a signaling signal (line) having a specified pattern. Signals) in chronological order. At both ends of the transmission path 104, the PCM codecs 33 1 , 33 2 (or ADPCM) for the channels to be subjected to the confirmation test are respectively transmitted via the transmission path interface units 108 1 , 108 2 and the time switches 107 1 , 107 2. Codec 34
1 , 34 2 ) and the signaling test boards 35 1 , 35 2 are connected. The time switches 107 1 and 107 2
In the inside, the call signal (transmission information) and the signaling signal are separated and combined based on the format of the passing PCM signal.

【0024】このような状態では、低周波試験器311
から送出されるテスト信号はPCMコーデック331
介してPCM信号に変換され、並行してシグナリング試
験器321 から発生されるシグナリング信号はシグナリ
ングテスト盤351 を介して上述したフォーマットのP
CM信号に変換される。タイムスイッチ1071 は、こ
のようにして与えられるPCM信号を多重化し、伝送路
インタフェース部1081 、伝送路104および伝送路
インタフェース部1082 を介して時間スイッチ107
2 に与える。
In such a state, the low frequency tester 31 1
The test signal sent from the PCM codec 33 1 is converted into a PCM signal, and the signaling signal generated from the signaling tester 32 1 in parallel is sent through the signaling test board 35 1 to the P format of the above-mentioned format.
It is converted into a CM signal. The time switch 107 1 multiplexes the PCM signal applied in this way, and passes the time switch 107 1 via the transmission line interface unit 108 1 , the transmission line 104, and the transmission line interface unit 108 2.
Give to two .

【0025】時間スイッチ1072 は、このようにして
与えられるPCM信号に上述した多重化の処理と反対の
処理を施すことにより通話信号とシグナリング信号に分
離する。PCMコーデック332 (または、ADPCM
コーデック342 )はこのようにして分離された通話信
号を復号化し、低周波試験器312 はこのような復号化
により復元されたテスト信号のレベルおよびSN比を測
定してその測定の結果を出力する。さらに、シグナリン
グテスト盤352 は、上述した通話信号と分離されたシ
グナリング信号をシグナリング試験器322 に与える。
シグナリング試験器322 は、このようなシグナリング
信号が上述した規定のパターンで得られるか否かを判定
し、その判定の結果を出力する。
The time switch 107 2 separates the call signal and the signaling signal by performing the processing opposite to the above-described multiplexing processing on the PCM signal thus provided. PCM codec 33 2 (or ADPCM
The codec 34 2 ) decodes the speech signal separated in this way, and the low-frequency tester 31 2 measures the level and SNR of the test signal restored by such decoding and outputs the result of the measurement. Output. Further, the signaling test board 35 2 supplies the signaling tester 32 2 with a signaling signal separated from the above-mentioned call signal.
The signaling tester 32 2 determines whether or not such a signaling signal is obtained in the above-described prescribed pattern, and outputs the result of the determination.

【0026】さらに、時分割多重装置301 、302
間では、伝送路104を介して上述した動作が並行して
あるいは交互に行われる。したがって、低周波試験器3
1およびシグナリング試験器321 には伝送路104
の反対方向の総合的な伝送特性に基づき同様の測定およ
び判定の結果が得られる。
Further, between the time division multiplexers 30 1 and 30 2 , the above-mentioned operations are performed in parallel or alternately via the transmission line 104. Therefore, the low frequency tester 3
1 1 and the signaling tester 32 1 have a transmission line 104.
Similar measurement and judgment results can be obtained based on the total transmission characteristics in the opposite directions.

【0027】このように本実施例によれば、時分割多重
装置に、その内部でチャネル毎にPCM信号のインサー
ト・ディベロップを行って低周波試験器等とのインタフ
ェースをとる手段を付加することにより、伝送路104
の両端間における総合的な伝送特性に基づく確認試験を
行うことができる。
As described above, according to this embodiment, the time-division multiplexer is provided with a means for internally inserting and developing the PCM signal for each channel to interface with the low-frequency tester or the like. , Transmission line 104
It is possible to perform a confirmation test based on comprehensive transmission characteristics between both ends of the.

【0028】なお、本実施例では、PCMコーデック3
1(332)およびADPCMコーデック341(342)の
一方を用いて確認試験が行われているが、本発明では、
このような方法に限定されず、例えば、伝送路の伝送方
式や試験対象のチャネルにアクセスする端末の伝送方式
に適合させて適宜選択して用いてもよい。
In this embodiment, the PCM codec 3
The confirmation test has been performed using one of 3 1 (33 2 ) and ADPCM codec 34 1 (34 2 ).
The method is not limited to such a method, and may be appropriately selected and used according to the transmission method of the transmission path or the transmission method of the terminal that accesses the channel to be tested.

【0029】また、本実施例では、時分割多重装置に上
述した手段を付加しているが、本発明では、このような
構成に限定されず、例えば、時分割多重装置の構成に変
更を加えずにその時分割多重装置に直列に等化な手段か
らなる伝送路試験支援装置を配置してもよい。
Further, in the present embodiment, the above-mentioned means is added to the time division multiplexer, but the present invention is not limited to such a constitution, and for example, the constitution of the time division multiplexer is modified. Instead, a transmission line test support device composed of equalizing means may be arranged in series with the time division multiplexer.

【0030】図4は、請求項1に記載の発明に対応した
第二の実施例を示す図である。図において、図3に示す
実施例との相違点は、2MHzのPCMインタフェース
(一次群(例えば、PCM24、PCM30))に適合し
た伝送路41とのインタフェースをとる時分割多重装置
(TDM)42を時分割多重装置302 に代えて備え、
その時分割多重装置42と低周波試験器312 およびシ
グナリング試験器322 との間にテスタ43を備えた点
にある。
FIG. 4 is a diagram showing a second embodiment corresponding to the invention described in claim 1. In FIG. In the figure, the difference from the embodiment shown in FIG. 3 is that a time division multiplexer (TDM) 42 that interfaces with a transmission line 41 adapted to a 2 MHz PCM interface (primary group (eg, PCM 24, PCM 30)). It is provided in place of the time division multiplexer 30 2 .
The point is that a tester 43 is provided between the time division multiplexer 42 and the low frequency tester 31 2 and the signaling tester 32 2 .

【0031】また、時分割多重装置42と図10に示す
時分割多重装置1032 との相違点は、上述したPCM
インタフェースに適合する端末インタフェース部(CH
IF)442 を端末インタフェース部1062 に代えて
備え、テスタ43とのインタフェースをとるテスト盤4
2 をテスト盤1092 に代えて備えた点にある。な
お、時分割多重装置42は、伝送路41を介して他局に
収容されたディジタルトランクに接続される。
Further, time division multiplexing apparatus 42 and the difference between division multiplexing apparatus 103 2 when shown in FIG. 10, PCM described above
Terminal interface part (CH
IF) 44 2 in place of the terminal interface unit 106 2 to provide an interface with the tester 43.
5 2 is provided in place of the test panel 109 2 . The time division multiplexer 42 is connected via a transmission line 41 to a digital trunk accommodated in another station.

【0032】なお、本実施例と図1に示すブロック図と
の対応関係については、テスト盤452 およびテスタ4
3は試験インタフェース手段19に対応し、その他は図
3に示す実施例と同じである。
Regarding the correspondence between this embodiment and the block diagram shown in FIG. 1, the test board 45 2 and the tester 4
Reference numeral 3 corresponds to the test interface means 19, and the rest is the same as the embodiment shown in FIG.

【0033】以下、本実施例の動作を説明する。時分割
多重装置301 側の動作については、図3に示す実施例
と同じであるから、ここではその説明を省略する。
The operation of this embodiment will be described below. The operation on the side of the time division multiplexer 30 1 is the same as that of the embodiment shown in FIG. 3, and therefore its explanation is omitted here.

【0034】時分割多重装置42では、時間スイッチ1
072 は、伝送路104を介して時分割多重装置301
との間に形成される複数のチャネルの内、確認試験の対
象となる単一のチャネルについてインサート・ディベロ
ップの処理を行し、その単一のチャネルに対してテスタ
43がテスト盤452 を介してアクセス可能とする。
In the time division multiplexer 42, the time switch 1
07 2 is a time division multiplexer 30 1 via the transmission line 104.
The insert / develop process is performed on a single channel, which is the target of the confirmation test, among the plurality of channels formed between the test channel 43 and the test channel 45 2 . Accessible.

【0035】このような状態では、テスタ43は、低周
波試験器312 から送出されるアナログのテスト信号を
上述したPCMインタフェースに適合したディジタル信
号に変換し、さらに、シグナリング試験器322 から送
出されるシグリナング信号と合成した後に、テスト盤4
2 、時間スイッチ1072 、伝送路インタフェース部
1082 および伝送路104を介して時分割多重装置3
1 に伝送する。また、テスタ43は、伝送路104を
介して受信されるテスト信号およびシグナリング信号を
取り込み、テスト信号についてはアナログのテスト信号
に変換して低周波試験器312 に与え、シグナリング信
号についてはシグナリング試験器322に与える。
In such a state, the tester 43 converts the analog test signal sent from the low frequency tester 31 2 into a digital signal suitable for the above-mentioned PCM interface, and further sends it from the signaling tester 32 2. Test board 4 after being combined with the signal
5 2 , the time switch 107 2 , the transmission line interface unit 108 2 and the transmission line 104, and the time division multiplexer 3
0 1 is transmitted. Further, the tester 43 takes in the test signal and the signaling signal received via the transmission path 104, converts the test signal into an analog test signal and gives the analog test signal to the low-frequency tester 31 2, and the signaling test for the signaling signal. To the vessel 32 2 .

【0036】このように本実施例によれば、伝送路10
4の伝送方式の如何にかかわらずその伝送路と一次群に
適合した伝送路41との中継点において、テスト信号と
シグナリング信号の送受を行い、これらの信号について
信号レベル、SN比その他の予め決められた判断基準に
基づく確認試験を行うことができる。
As described above, according to this embodiment, the transmission line 10
No. 4, the test signal and the signaling signal are transmitted and received at a relay point between the transmission line and the transmission line 41 suitable for the primary group, and the signal level, the SN ratio, and other predetermined values are determined for these signals. A confirmation test can be performed based on the determined criteria.

【0037】図5は、請求項1に記載の発明に対応した
第三の実施例を示す図である。図において、図4に示す
従来例との相違点は、時分割多重装置42が伝送路41
およびA/D変換装置(A/DTR)51を介して既設の
FDM回線に適合した伝送路52に接続され、低周波試
験器312 がA/D変換装置51のテスト端子に接続さ
れた点にある。なお、テスタ43およびシグナリング試
験器322 は、用いられない。
FIG. 5 is a diagram showing a third embodiment corresponding to the invention described in claim 1. In FIG. In the figure, the difference from the conventional example shown in FIG.
And A / D converter via the (A / DTR) 51 is connected to the transmission path 52 adapted to existing FDM channel, that the low-frequency tester 31 2 is connected to a test terminal of the A / D converter 51 It is in. The tester 43 and the signaling tester 32 2 are not used.

【0038】A/D変換装置51では、伝送路41はP
CMインタフェース部(PCMINF)53を介して変
換部(CONV)54の入力に接続され、その出力は分
岐挿入部(D/I)55の第一の入出力に接続される。
分岐挿入部55の第二の入出力はFDMインタフェース
部(FDMINF)56を介して伝送路52に接続さ
れ、分岐挿入部55の第三の入出力は、上述したテスト
端子を介して低周波試験器312 に接続される。
In the A / D converter 51, the transmission line 41 is P
It is connected to the input of the conversion unit (CONV) 54 via the CM interface unit (PCMINF) 53, and its output is connected to the first input / output of the add / drop unit (D / I) 55.
The second input / output of the add / drop unit 55 is connected to the transmission line 52 via the FDM interface unit (FDMINF) 56, and the third input / output of the add / drop unit 55 is a low frequency test via the test terminal described above. Connected to the container 31 2 .

【0039】なお、本実施例と図3に示すブロック図と
の対応関係については、分岐挿入部55はスイッチ11
および試験インタフェース手段19に対応し、伝送路1
04、時分割多重装置42および伝送路41は伝送路1
1 に対応し、伝送路52は伝送路132 に対応し、P
CMインタフェース部53および変換部54は伝送路イ
ンタフェース手段151 に対応し、FDMインタフェー
ス部56は伝送路インタフェース手段152 に対応し、
低周波試験器312 は試験器17に対応する。
Regarding the correspondence relationship between this embodiment and the block diagram shown in FIG. 3, the add / drop unit 55 has the switch 11
Corresponding to the test interface means 19 and the transmission line 1
04, the time division multiplexer 42 and the transmission line 41 are the transmission line 1
3 1 , the transmission path 52 corresponds to the transmission path 13 2 , P
The CM interface section 53 and the conversion section 54 correspond to the transmission path interface means 15 1 , the FDM interface section 56 corresponds to the transmission path interface means 15 2 .
The low frequency tester 31 2 corresponds to the tester 17.

【0040】以下、本実施例の動作を説明する。時分割
多重装置301 側の動作については、図3に示す実施例
と同じであるから、ここではその説明を省略する。
The operation of this embodiment will be described below. The operation on the side of the time division multiplexer 30 1 is the same as that of the embodiment shown in FIG. 3, and therefore its explanation is omitted here.

【0041】時分割多重装置42は、伝送路104、4
1の伝送方式に適合した多重分離処理を行い、これらの
伝送路相互間における中継を行う。A/D変換装置51
では、PCMインタフェース部53は、伝送路41を介
して送受されるPCM信号について、その信号のフォー
マットに基づきチャネル毎に分離・合成する。変換部5
4は、このようにして分離されたPCM信号について、
並行してA/D変換処理およびD/A変換処理を施す。
分岐挿入部55は、変換部54によってアナログ変換さ
れたチャネルの内、確認試験の対象外のチャネルについ
てはFDMインタフェース部56および伝送路52を介
して中継を行い、反対に確認試験の対象となるチャネル
の信号については分離抽出を行って低周波試験器312
に迂回する。
The time division multiplex device 42 includes transmission lines 104, 4 and 4.
A demultiplexing process suitable for the first transmission method is performed, and relay between these transmission lines is performed. A / D converter 51
Then, the PCM interface unit 53 separates / combines the PCM signal transmitted / received via the transmission line 41 for each channel based on the format of the signal. Converter 5
4 is for the PCM signal separated in this way,
A / D conversion processing and D / A conversion processing are performed in parallel.
The add / drop unit 55 relays, through the FDM interface unit 56 and the transmission path 52, the channels that are not subjected to the confirmation test among the channels converted into analog by the conversion unit 54, and are the target of the confirmation test. The low-frequency tester 31 2
Detour to.

【0042】このように本実施例によれば、一次群に適
合した伝送路41とFDM回線の群帯域に適合した伝送
路52との中継点において、図3に示す時分割多重装置
30 2 と同様にテスト信号の送受を行い、これらの信号
について信号レベル、SN比その他の予め決められた判
断基準に基づく確認試験を伝送路104、41の区間に
ついて行うことができる。
As described above, according to this embodiment, it is suitable for the primary group.
Transmission adapted to the group band of the combined transmission line 41 and FDM line
At the relay point with the path 52, the time division multiplexer shown in FIG.
Thirty 2Send and receive test signals in the same manner as
About signal level, signal-to-noise ratio and other predetermined
Confirmation test based on disconnection criteria for transmission lines 104 and 41
You can do it.

【0043】図6は、請求項2に記載の発明に対応した
実施例を示す図である。図において、図3に示す実施例
との相違点は、伝送路確認試験の試験区間が伝送路10
4の一端と中間点との間に設定されるために、そのディ
ジタル伝送路の中間点に分配フレーム(IDF)61が
設けられ、その分配フレームを介して伝送路試験支援装
置62が接続された点にある。伝送路試験支援装置62
は、記述の時分割多重装置302 から端末インタフェー
ス部1062 を削除して構成される。
FIG. 6 is a diagram showing an embodiment corresponding to the invention described in claim 2. In FIG. In the figure, the difference from the embodiment shown in FIG. 3 is that the test section of the transmission line confirmation test is the transmission line 10
4 is provided between one end and the intermediate point, the distribution frame (IDF) 61 is provided at the intermediate point of the digital transmission path, and the transmission path test support device 62 is connected through the distribution frame. In point. Transmission line test support device 62
Is configured by deleting the terminal interface unit 106 2 from the described time division multiplexing device 30 2 .

【0044】したがって、本実施例における伝送路確認
試験の動作は、図3に示す実施例と同じであるから、こ
こではその説明を省略する。なお、本実施例は、伝送路
104の延長の起点となる末端において、その延長に先
行して既設区間に関する伝送路確認試験にも同様に供さ
れる。また、このような伝送路確認試験では、伝送路試
験支援装置62に代えて、例えば、図6に点線で示すよ
うに端末インタフェース部1062 を含む時分割多重装
置302 を用いてもよい。
Therefore, the operation of the transmission line confirmation test in this embodiment is the same as that of the embodiment shown in FIG. 3, and therefore its explanation is omitted here. It should be noted that the present embodiment is similarly subjected to the transmission line confirmation test regarding the existing section prior to the extension at the terminal end of the extension of the transmission line 104. Further, in such a transmission line confirmation test, instead of the transmission line test support device 62, for example, a time division multiplexer 30 2 including a terminal interface unit 106 2 as shown by a dotted line in FIG. 6 may be used.

【0045】したがって、上述した各実施例を適用する
ことにより、例えば、図7に示すように、電話端末10
1 がアクセスするアナログ伝送路71から通話路変換
装置(CHTR)72、群変換装置(GTR)731
超群変換装置(SGTR)741 、伝送路75、超群変
換装置(SGTR)742 、群変換装置(GTR)73
2 および群通過濾波装置(GTHF)76を介して後続
区間の群変換装置(GTR)733 に至るアナログ方式
の伝送路については、ディジタル方式の伝送路に改修す
る場合には、アナログ伝送路71に縦続接続された時分
割多重装置30 1 、スタッフ多重装置771 、伝送路1
04、スタッフ多重装置772 、時分割多重装置42お
よびA/D変換装置51で置換することにより、時分割
多重装置301 とA/D変換装置51との間に形成され
る個々のチャネルについて、実際にパスが設定された状
態で確認試験を行うことができる。
Therefore, the above-mentioned embodiments are applied.
As a result, for example, as shown in FIG.
11Channel conversion from the analog transmission line 71 accessed by
Device (CHTR) 72, Group conversion device (GTR) 731,
Supergroup conversion device (SGTR) 741, Transmission line 75, supergroup change
Exchange device (SGTR) 742, Group conversion device (GTR) 73
2And through a group pass filter (GTHF) 76
Group conversion device (GTR) 733Analog method
For the transmission line of, renovate to the digital transmission line
If the analog transmission line 71 is connected in cascade,
Split multiplexer 30 1, Staff multiplexing device 771, Transmission line 1
04, staff multiplexing device 772, Time division multiplexer 42
And time-division by replacing with A / D converter 51
Multiplexer 301And the A / D conversion device 51
The actual path is set for each individual channel.
A confirmation test can be performed in the state.

【0046】また、上述した各実施例を組み合わせるこ
とにより、例えば、両端がアナログの伝送路に接続され
る伝送区間については、アナログの任意のチャネルCH
についてその区間における伝送方式の組合せの如何にか
かわらず確認試験を行ったり(図8(a)〜)、その区
間の一方または双方が一次群に適合した伝送路41であ
る場合にも同様にして確認試験を行うことができる(図
8(b)〜、(c)〜))。
By combining the above-described embodiments, for example, for a transmission section whose both ends are connected to an analog transmission path, an arbitrary channel CH
For the section, a confirmation test is performed regardless of the combination of transmission methods in the section (Fig. 8 (a)-), and the same applies to the case where one or both of the sections is the transmission line 41 suitable for the primary group. A confirmation test can be performed (FIGS. 8B to 8C).

【0047】さらに、このような伝送路の確認試験につ
いては、伝送路104がその末端や中間点から延長され
る場合には、その延長される区間の伝送方式がアナログ
方式であっても(図9(a)、)、一次群によるディジ
タル方式であっても(図9(b)、) 同様にして確実に
行うことができる。
Further, regarding such a transmission line confirmation test, when the transmission line 104 is extended from its end or intermediate point, even if the transmission system of the extended section is an analog system (see FIG. 9 (a),) and a digital method using a primary group (FIG. 9 (b)) can be surely performed in the same manner.

【0048】[0048]

【発明の効果】以上説明したように本発明では、伝送方
式が異なる複数の伝送路を直列に接続して構成された伝
送区間について、両端間に実際にパスを設定して伝送情
報を送受し、かつ監視することにより、その伝送区間の
総合的な伝送特性に基づく確認試験が行なわれる。
As described above, according to the present invention, with respect to a transmission section constituted by connecting a plurality of transmission lines having different transmission systems in series, a path is actually set between both ends to transmit and receive transmission information. , And monitoring, a confirmation test is performed based on the overall transmission characteristics of the transmission section.

【0049】したがって、伝送路の改修や保守・運用で
は、伝送方式が同じ区間毎に分割して伝送路確認試験が
行なわれていた従来例に比べて、作業の簡略化と所要工
数の削減とが大幅にはかられ、試験の精度を高めつつ作
業環境の向上と低廉化とがはかられる。
Therefore, in the repair, maintenance, and operation of the transmission line, the work is simplified and the required man-hours are reduced as compared with the conventional example in which the transmission line confirmation test is performed by dividing the sections having the same transmission method. Therefore, the working environment can be improved and the cost can be reduced while improving the accuracy of the test.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】請求項1に記載の発明の原理ブロック図であ
る。
FIG. 1 is a principle block diagram of the invention according to claim 1.

【図2】請求項2に記載の発明の原理ブロック図であ
る。
FIG. 2 is a principle block diagram of the invention described in claim 2.

【図3】請求項1に記載の発明に対応した第一の実施例
を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing a first embodiment corresponding to the invention described in claim 1.

【図4】請求項1に記載の発明に対応した第二の実施例
を示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing a second embodiment corresponding to the invention described in claim 1.

【図5】請求項1に記載の発明に対応した第三の実施例
を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing a third embodiment corresponding to the invention described in claim 1.

【図6】請求項2に記載の発明に対応した実施例を示す
図である。
FIG. 6 is a diagram showing an embodiment corresponding to the invention described in claim 2.

【図7】本発明を適用した回線の改修方法を説明する図
である。
FIG. 7 is a diagram illustrating a line repairing method to which the present invention is applied.

【図8】本発明を応用した伝送路確認試験の方法を示す
図(1)である。
FIG. 8 is a diagram (1) showing a method of a transmission line confirmation test to which the present invention is applied.

【図9】本発明を応用した伝送路確認試験の方法を示す
図(2)である。
FIG. 9 is a diagram (2) showing a method of a transmission line confirmation test to which the present invention is applied.

【図10】従来の伝送路確認試験の方法を示す図であ
る。
FIG. 10 is a diagram showing a conventional transmission line confirmation test method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11,21 スイッチ 13,23,41,52,71,75 伝送路 15,25 伝送路インタフェース手段 17 試験器 19,27 試験インタフェース手段 30,42,103 時分割多重装置(TDM) 31 低周波試験器(OSC/LM) 32 シリナリング試験器 33 PCMコーデック 34 ADPCMコーデック 35 シグナリングテスト盤 43 テスタ 44,106 端末インタフェース部(CHIF) 45,109 テスト盤(TEST) 51 A/D変換装置(A/DTR) 53 PCMインタフェース部(PCMINF) 54 変換部(CONV) 55 分離抽出部(D/I) 56 FDMインタフェース部(FDMINF) 61 分配フレーム(IDF) 62 伝送路試験支援装置 72 通話路変換装置(CHTR) 73 群変換装置(GTR) 74 超群変換装置(SGTR) 76 群通過濾波装置(GTHF) 77 スタッフ多重装置 101 電話端末 102 データ端末 104 ディジタル伝送路 105 ビット誤り率測定器 107 時間スイッチ(TSI) 108 伝送路インタフェース部(LIF) 11,21 switch 13,23,41,52,71,75 transmission line 15,25 transmission line interface means 17 tester 19,27 test interface means 30,42,103 time division multiplexer (TDM) 31 low frequency tester (OSC / LM) 32 Serialing tester 33 PCM codec 34 ADPCM codec 35 Signaling test board 43 Tester 44, 106 Terminal interface unit (CHIF) 45, 109 Test board (TEST) 51 A / D converter (A / DTR) 53 PCM interface unit (PCMINF) 54 conversion unit (CONV) 55 separation / extraction unit (D / I) 56 FDM interface unit (FDMINF) 61 distribution frame (IDF) 62 transmission path test support device 72 speech path conversion device (CHTR) 73 group Conversion equipment (GTR) 74 Super-group converter (SGTR) 76 Group-pass filter (GTHF) 77 Staff multiplexer 101 Telephone terminal 102 Data terminal 104 Digital transmission line 105 Bit error rate measuring instrument 107 Time switch (TSI) 108 Transmission line interface unit ( LIF)

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 伝送情報の伝達先を切り換えるスイッチ
(11)と、 異なる伝送方式で前記伝送情報を伝送する2つの伝送路
(131、132)の連結点に配置され、これらの伝送路と
前記スイッチ(11)との間のチャネル毎のインタフェー
スを個別にとる伝送路インタフェース手段(151、15
2)と、 前記伝送情報に相当する擬似伝送情報を送受して監視
し、その監視の結果に基づき前記伝送路(131、132)
を前記チャネル毎に試験する試験器(17)と、前記スイ
ッチ(11)との間のインタフェースをとる試験インタフ
ェース手段(19)とを備えたことを特徴とする伝送路試
験支援装置。
1. A switch for switching a transmission destination of transmission information.
(11) and two transmission paths for transmitting the transmission information by different transmission methods
Transmission line interface means (15 1 , 15) arranged at connection points of (13 1 , 13 2 ) and individually taking an interface for each channel between these transmission lines and the switch (11).
2 ) and pseudo transmission information corresponding to the transmission information are transmitted and received for monitoring, and the transmission path (13 1 , 13 2 ) is based on the result of the monitoring.
A transmission line test support device, comprising: a tester (17) for testing each channel for each channel; and a test interface means (19) for interfacing with the switch (11).
【請求項2】 伝送情報の伝達先を切り換えるスイッチ
(21)と、 所定の伝送方式で前記伝送情報を伝送する伝送路(23)
の末端に接続され、その伝送路と前記スイッチ(21)と
の間のチャネル毎のインタフェースをとる伝送路インタ
フェース手段(25)と、 前記伝送情報に相当する擬似伝送情報を送受して監視
し、その監視の結果に基づき前記伝送路(23)を前記チ
ャネル毎に試験する試験器(17)と、前記スイッチ(2
1)との間のインタフェースをとる試験インタフェース
手段(27)とを備えたことを特徴とする伝送路試験支援
装置。
2. A switch for switching a transmission destination of transmission information.
(21) and a transmission path (23) for transmitting the transmission information by a predetermined transmission method
A transmission line interface means (25) connected to the end of the transmission line and serving as an interface for each channel between the transmission line and the switch (21), and transmitting and receiving pseudo transmission information corresponding to the transmission information for monitoring. A tester (17) for testing the transmission path (23) for each channel based on the result of the monitoring, and a switch (2)
1) A transmission line test support device, comprising: a test interface means (27) for interfacing with 1).
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