JPH07112372A - 内外側測定装置の測定体取付治具 - Google Patents
内外側測定装置の測定体取付治具Info
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- JPH07112372A JPH07112372A JP26097493A JP26097493A JPH07112372A JP H07112372 A JPH07112372 A JP H07112372A JP 26097493 A JP26097493 A JP 26097493A JP 26097493 A JP26097493 A JP 26097493A JP H07112372 A JPH07112372 A JP H07112372A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 15
- 238000003754 machining Methods 0.000 abstract description 3
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 241001422033 Thestylus Species 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 測定体の接続部分の加工を簡単にするととも
に長さにかかわらず測定体を測定装置本体９に適正に取
り付ける内外側測定装置の測定体取付治具を提供するこ
と。 【構成】 測定体３，４の測定体側基準面３Ｂ，４Ｂに
適合する位置決め基準面１２Ｂ，１３Ｂが所定の位置関
係で設けられた治具本体１１と、この治具本体１１の位
置決め基準面１２Ｂ，１３Ｂに測定体側基準面３Ｂ，４
Ｂを合わせて測定体３，４を仮止めする固定具１４とを
備え、測定体３，４の長さや接続部分の加工精度にかか
わらず、測定体３，４の交換を適正に行い、測定体３，
４と測定装置本体９との接続部分の加工を簡単にする。
に長さにかかわらず測定体を測定装置本体９に適正に取
り付ける内外側測定装置の測定体取付治具を提供するこ
と。 【構成】 測定体３，４の測定体側基準面３Ｂ，４Ｂに
適合する位置決め基準面１２Ｂ，１３Ｂが所定の位置関
係で設けられた治具本体１１と、この治具本体１１の位
置決め基準面１２Ｂ，１３Ｂに測定体側基準面３Ｂ，４
Ｂを合わせて測定体３，４を仮止めする固定具１４とを
備え、測定体３，４の長さや接続部分の加工精度にかか
わらず、測定体３，４の交換を適正に行い、測定体３，
４と測定装置本体９との接続部分の加工を簡単にする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、一対の測定子やこれら
の測定子を被測定物の測定部位間に案内するガイド等の
複数の測定体を測定装置本体に突出した状態で取り付け
る内外側測定装置の測定体取付治具に関する。
の測定子を被測定物の測定部位間に案内するガイド等の
複数の測定体を測定装置本体に突出した状態で取り付け
る内外側測定装置の測定体取付治具に関する。
【０００２】
【背景技術】従来より、一対の測定子を被測定物の測定
部位間に接触させ、その時の測定子間の寸法から被測定
物の内側寸法や外側寸法を測定する内外側測定装置が知
られている。この内外側測定装置には、測定に際して、
一対の測定子を被測定物の測定部位間に案内する一対の
ガイドが備えられており、これらのガイドや測定子は測
定装置本体に突出した状態で互いに平行に取り付けられ
ている。この内外側測定装置では、前記ガイドや測定子
からなる測定体を新しいものに交換することがある。交
換した測定体は正しく位置決めされて測定装置本体に取
り付けられる必要があるが、そのため、従来では、測定
体と測定装置本体との接続部分をアリ溝やＶ溝等の２次
元あるいは３次元に位置規制する形状としている。
部位間に接触させ、その時の測定子間の寸法から被測定
物の内側寸法や外側寸法を測定する内外側測定装置が知
られている。この内外側測定装置には、測定に際して、
一対の測定子を被測定物の測定部位間に案内する一対の
ガイドが備えられており、これらのガイドや測定子は測
定装置本体に突出した状態で互いに平行に取り付けられ
ている。この内外側測定装置では、前記ガイドや測定子
からなる測定体を新しいものに交換することがある。交
換した測定体は正しく位置決めされて測定装置本体に取
り付けられる必要があるが、そのため、従来では、測定
体と測定装置本体との接続部分をアリ溝やＶ溝等の２次
元あるいは３次元に位置規制する形状としている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述の
従来例では、測定体の正しい位置決めのために、位置規
制する形状の加工が高精度になりコストがかかるという
問題点がある。また、短いものから長いものに測定体を
交換する場合、接続部分の加工精度を向上させても、測
定体の先端の位置精度が悪くなるという問題点がある。
従来例では、測定体の正しい位置決めのために、位置規
制する形状の加工が高精度になりコストがかかるという
問題点がある。また、短いものから長いものに測定体を
交換する場合、接続部分の加工精度を向上させても、測
定体の先端の位置精度が悪くなるという問題点がある。
【０００４】ここに、本発明の目的は、測定体と測定装
置本体との接続部分の加工を簡単に行えるとともに測定
体の長さに関係なく測定体を適正に測定装置本体に取り
付けることができる内外側測定装置の測定体取付治具を
提供することにある。
置本体との接続部分の加工を簡単に行えるとともに測定
体の長さに関係なく測定体を適正に測定装置本体に取り
付けることができる内外側測定装置の測定体取付治具を
提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】そのため、本発明の内外
側測定装置の測定体取付治具は、複数の測定体を測定装
置本体に突出した状態で互いに平行に取り付ける内外側
測定装置の測定体取付治具であって、前記測定体の測定
体側基準面に適合する位置決め基準面が所定の位置関係
で設けられた治具本体と、この治具本体の位置決め基準
面に測定体側基準面を合わせて測定体を仮止めするクラ
ンプねじ等の固定具とを備えたことを特徴とする。ここ
で、測定体は、測定子やこの測定子を被測定物の測定部
位間に案内するガイドである。
側測定装置の測定体取付治具は、複数の測定体を測定装
置本体に突出した状態で互いに平行に取り付ける内外側
測定装置の測定体取付治具であって、前記測定体の測定
体側基準面に適合する位置決め基準面が所定の位置関係
で設けられた治具本体と、この治具本体の位置決め基準
面に測定体側基準面を合わせて測定体を仮止めするクラ
ンプねじ等の固定具とを備えたことを特徴とする。ここ
で、測定体は、測定子やこの測定子を被測定物の測定部
位間に案内するガイドである。
【０００６】
【作用】測定体を交換するには、位置決め基準面に測定
体側基準面を適合させた状態で固定具により新しい測定
体を測定体取付治具に仮止めする。この状態で測定体が
既に取り外された測定装置本体に新しい測定体を取り付
け、この作業が終了したら固定具を緩めて新しい測定体
を測定体取付治具から外す。
体側基準面を適合させた状態で固定具により新しい測定
体を測定体取付治具に仮止めする。この状態で測定体が
既に取り外された測定装置本体に新しい測定体を取り付
け、この作業が終了したら固定具を緩めて新しい測定体
を測定体取付治具から外す。
【０００７】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて詳
細に説明する。本実施例は、被測定物の孔を測定する内
外側測定装置に使用される測定体取付治具である。図１
及び図２には内外側測定装置が示されている。図１にお
いて、内外側測定装置１は、略円筒状のケーシング２を
備え、このケーシング２の一端部には４個の孔部２Ａが
形成されている。これらの孔部２Ａから突出するように
被測定物に接触する一対の測定子３と、これらの一対の
測定子３を被測定物の測定部位間に案内する一対のガイ
ド４とが配置されている。一対の測定子３と一対のガイ
ド４とは互いに平行に配置されている。これらの測定子
３及びガイド４は測定体を構成する。
細に説明する。本実施例は、被測定物の孔を測定する内
外側測定装置に使用される測定体取付治具である。図１
及び図２には内外側測定装置が示されている。図１にお
いて、内外側測定装置１は、略円筒状のケーシング２を
備え、このケーシング２の一端部には４個の孔部２Ａが
形成されている。これらの孔部２Ａから突出するように
被測定物に接触する一対の測定子３と、これらの一対の
測定子３を被測定物の測定部位間に案内する一対のガイ
ド４とが配置されている。一対の測定子３と一対のガイ
ド４とは互いに平行に配置されている。これらの測定子
３及びガイド４は測定体を構成する。
【０００８】前記一対の測定子３は、それぞれ略角柱状
に形成されるとともに、その先端側側面に測定球３Ａが
設けられている。一対の測定子３の基端部は、それぞれ
止めねじ５でアーム６に取り付けられている。これらの
測定子３は、測定球３Ａが設けられた側面と隣合う一側
面３Ｂと、測定球３Ａが設けられた側面と反対側の側面
３Ｃと、先端面３Ｄが測定体側基準面とされる。これら
のアーム６を測定子３の近接離隔方向に往復移動する図
示しない測定子駆動機構と測定子３の相対移動量を検出
する図示しない検出器とがケーシング２内に設けられて
いる。前記一対のガイド４は、それぞれ略角柱状に形成
されるとともに、その先端部にガイド球４Ａが設けられ
ている。一対のガイド４の基端部は、それぞれ止めねじ
７でアーム８に取り付けられている。これらのガイド４
は、ガイド球４Ａが設けられた側面と隣合う一側面４Ｂ
と、測定球４Ａが設けられた側面と反対側の側面４Ｃ
と、先端面４Ｄが測定体側基準面とされる。これらのア
ーム８を駆動する図示しない調芯機構がケーシング２内
に設けられている。ここで、前記ケーシング２、アーム
６，８、検出器、測定子駆動機構及び調芯機構から測定
装置本体９が構成される。
に形成されるとともに、その先端側側面に測定球３Ａが
設けられている。一対の測定子３の基端部は、それぞれ
止めねじ５でアーム６に取り付けられている。これらの
測定子３は、測定球３Ａが設けられた側面と隣合う一側
面３Ｂと、測定球３Ａが設けられた側面と反対側の側面
３Ｃと、先端面３Ｄが測定体側基準面とされる。これら
のアーム６を測定子３の近接離隔方向に往復移動する図
示しない測定子駆動機構と測定子３の相対移動量を検出
する図示しない検出器とがケーシング２内に設けられて
いる。前記一対のガイド４は、それぞれ略角柱状に形成
されるとともに、その先端部にガイド球４Ａが設けられ
ている。一対のガイド４の基端部は、それぞれ止めねじ
７でアーム８に取り付けられている。これらのガイド４
は、ガイド球４Ａが設けられた側面と隣合う一側面４Ｂ
と、測定球４Ａが設けられた側面と反対側の側面４Ｃ
と、先端面４Ｄが測定体側基準面とされる。これらのア
ーム８を駆動する図示しない調芯機構がケーシング２内
に設けられている。ここで、前記ケーシング２、アーム
６，８、検出器、測定子駆動機構及び調芯機構から測定
装置本体９が構成される。
【０００９】図２に示される通り、測定に際して、内外
側測定装置１の軸芯Ｌを被測定物の孔Ｈの軸芯Ｍに対し
偏芯させた状態で、測定子３及びガイド４を孔Ｈ内に挿
入しても、一対のガイド４のうち１つのガイド４のみが
被測定物に接触した時には、調芯機構によって、ガイド
４及び測定子３が回動され、一対の測定子３が被測定物
の孔Ｈの軸芯Ｍに案内される。
側測定装置１の軸芯Ｌを被測定物の孔Ｈの軸芯Ｍに対し
偏芯させた状態で、測定子３及びガイド４を孔Ｈ内に挿
入しても、一対のガイド４のうち１つのガイド４のみが
被測定物に接触した時には、調芯機構によって、ガイド
４及び測定子３が回動され、一対の測定子３が被測定物
の孔Ｈの軸芯Ｍに案内される。
【００１０】次に、本実施例の測定体取付治具を図３乃
至図５に基づいて説明する。図３は測定体取付治具の正
面図であり、図４はその側面図であり、図５はその斜視
図である。これらの図において、測定体取付治具１０
は、略円柱状の治具本体１１を備え、この治具本体１１
の外周部には測定子用の位置決め凹部１２とガイド用の
位置決め凹部１３とがそれぞれ２個形成されている。位
置決め凹部１２同士及び位置決め凹部１３同士はそれぞ
れ対向配置され、位置決め凹部１２を結ぶ直線と位置決
め凹部１３を結ぶ直線とは直交している。位置決め凹部
１２には前記測定子３の測定体側基準面３Ｂ，３Ｃ，３
Ｄと一致する位置決め基準面１２Ｂ，１２Ｃ，１２Ｄが
形成されている。位置決め凹部１３には前記ガイド４の
測定体側基準面４Ｂ，４Ｃ，４Ｄと一致する位置決め基
準面１３Ｂ，１３Ｃ，１３Ｄが形成されている。
至図５に基づいて説明する。図３は測定体取付治具の正
面図であり、図４はその側面図であり、図５はその斜視
図である。これらの図において、測定体取付治具１０
は、略円柱状の治具本体１１を備え、この治具本体１１
の外周部には測定子用の位置決め凹部１２とガイド用の
位置決め凹部１３とがそれぞれ２個形成されている。位
置決め凹部１２同士及び位置決め凹部１３同士はそれぞ
れ対向配置され、位置決め凹部１２を結ぶ直線と位置決
め凹部１３を結ぶ直線とは直交している。位置決め凹部
１２には前記測定子３の測定体側基準面３Ｂ，３Ｃ，３
Ｄと一致する位置決め基準面１２Ｂ，１２Ｃ，１２Ｄが
形成されている。位置決め凹部１３には前記ガイド４の
測定体側基準面４Ｂ，４Ｃ，４Ｄと一致する位置決め基
準面１３Ｂ，１３Ｃ，１３Ｄが形成されている。
【００１１】治具本体１１には前記位置決め基準面１２
Ｂ，１２Ｃ，１２Ｄ，１３Ｂ，１３Ｃ，１３Ｄに測定体
側基準面３Ｂ，３Ｃ，３Ｄ，４Ｂ，４Ｃ，４Ｄを合わせ
て測定子３及びガイド４を仮止めする固定具としてのク
ランプねじ１４が４個取り付けられている。このクラン
プねじ１４は、ねじ部１４Ａと撮み部１４Ｂとから構成
され、ねじ部１４Ａは測定体側基準面３Ｂを位置決め基
準面１２Ｂに押す方向に延びて形成されている。
Ｂ，１２Ｃ，１２Ｄ，１３Ｂ，１３Ｃ，１３Ｄに測定体
側基準面３Ｂ，３Ｃ，３Ｄ，４Ｂ，４Ｃ，４Ｄを合わせ
て測定子３及びガイド４を仮止めする固定具としてのク
ランプねじ１４が４個取り付けられている。このクラン
プねじ１４は、ねじ部１４Ａと撮み部１４Ｂとから構成
され、ねじ部１４Ａは測定体側基準面３Ｂを位置決め基
準面１２Ｂに押す方向に延びて形成されている。
【００１２】このような構成の測定体取付治具１０を用
いて測定体である測定子３及びガイド４を交換するに
は、位置決め基準面１２Ｂ，１２Ｃ，１２Ｄ，１３Ｂ，
１３Ｃ，１３Ｄに測定体側基準面３Ｂ，３Ｃ，３Ｄ，４
Ｂ，４Ｃ，４Ｄを適合させた状態でクランプねじ１４に
より新しい測定子３及びガイド４を測定体取付治具１０
に仮止めする。この状態で測定子３及びガイド４が既に
取り外された測定装置本体９のアーム６，８に新しい測
定子３及びガイド４を止めねじ５，７で取り付ける。こ
の作業が終了したらクランプねじ１４を緩めて新しい測
定子３及びガイド４を測定体取付治具１０から外す。
いて測定体である測定子３及びガイド４を交換するに
は、位置決め基準面１２Ｂ，１２Ｃ，１２Ｄ，１３Ｂ，
１３Ｃ，１３Ｄに測定体側基準面３Ｂ，３Ｃ，３Ｄ，４
Ｂ，４Ｃ，４Ｄを適合させた状態でクランプねじ１４に
より新しい測定子３及びガイド４を測定体取付治具１０
に仮止めする。この状態で測定子３及びガイド４が既に
取り外された測定装置本体９のアーム６，８に新しい測
定子３及びガイド４を止めねじ５，７で取り付ける。こ
の作業が終了したらクランプねじ１４を緩めて新しい測
定子３及びガイド４を測定体取付治具１０から外す。
【００１３】従って、本実施例によれば、測定子３及び
ガイド４を交換するために、測定子３及びガイド４の測
定体側基準面３Ｂ，３Ｃ，３Ｄ，４Ｂ，４Ｃ，４Ｄに適
合する位置決め基準面１２Ｂ，１２Ｃ，１２Ｄ，１３
Ｂ，１３Ｃ，１３Ｄが所定の位置関係で設けられた治具
本体１１と、この治具本体１１の位置決め基準面１２
Ｂ，１２Ｃ，１２Ｄ，１３Ｂ，１３Ｃ，１３Ｄに測定体
側基準面３Ｂ，３Ｃ，３Ｄ，４Ｂ，４Ｃ，４Ｄを合わせ
て測定子３及びガイド４を仮止めするクランプねじ１４
とを備えた測定体取付治具１０を用いたから、測定子３
及びガイド４の長さや接続部分の加工精度にかかわら
ず、測定子３及びガイド４の交換が適正に行える。従っ
て、測定子３及びガイド４と測定装置本体９との接続部
分の加工を必ずしも高精度にする必要がないから、その
加工が簡単に行え、しかも、取付後の測定子３及びガイ
ド４の先端の位置精度も低下することがない。また、本
実施例では、固定具をクランプねじ１４としたから、測
定子３及びガイド４を確実に仮止めできるとともに測定
体取付治具１０の構造を簡単なものにできる。
ガイド４を交換するために、測定子３及びガイド４の測
定体側基準面３Ｂ，３Ｃ，３Ｄ，４Ｂ，４Ｃ，４Ｄに適
合する位置決め基準面１２Ｂ，１２Ｃ，１２Ｄ，１３
Ｂ，１３Ｃ，１３Ｄが所定の位置関係で設けられた治具
本体１１と、この治具本体１１の位置決め基準面１２
Ｂ，１２Ｃ，１２Ｄ，１３Ｂ，１３Ｃ，１３Ｄに測定体
側基準面３Ｂ，３Ｃ，３Ｄ，４Ｂ，４Ｃ，４Ｄを合わせ
て測定子３及びガイド４を仮止めするクランプねじ１４
とを備えた測定体取付治具１０を用いたから、測定子３
及びガイド４の長さや接続部分の加工精度にかかわら
ず、測定子３及びガイド４の交換が適正に行える。従っ
て、測定子３及びガイド４と測定装置本体９との接続部
分の加工を必ずしも高精度にする必要がないから、その
加工が簡単に行え、しかも、取付後の測定子３及びガイ
ド４の先端の位置精度も低下することがない。また、本
実施例では、固定具をクランプねじ１４としたから、測
定子３及びガイド４を確実に仮止めできるとともに測定
体取付治具１０の構造を簡単なものにできる。
【００１４】なお。前記実施例では、測定体を一対の測
定子３及び一対のガイド４とし、これらに合わせて位置
決め凹部１２，１３を設けたが、本発明の測定体取付治
具を用いて取り付ける測定体は、複数であるならば、そ
の種類や数は限定されず、位置決め凹部１２，１３の数
も限定されない。また、位置決め凹部１２，１３には、
それぞれ３か所の位置決め基準面１２Ｂ，１２Ｃ，１２
Ｄ，１３Ｂ，１３Ｃ，１３Ｄが形成されたが、位置決め
基準面は、各位置決め凹部に少なくとも１個形成されて
いればよい。さらに、固定具をクランプねじ１４とした
が、測定体を仮止めする構造であれば、その具体的構成
は問わない。例えば、固定具をトグル式の止め具等とし
てもよい。
定子３及び一対のガイド４とし、これらに合わせて位置
決め凹部１２，１３を設けたが、本発明の測定体取付治
具を用いて取り付ける測定体は、複数であるならば、そ
の種類や数は限定されず、位置決め凹部１２，１３の数
も限定されない。また、位置決め凹部１２，１３には、
それぞれ３か所の位置決め基準面１２Ｂ，１２Ｃ，１２
Ｄ，１３Ｂ，１３Ｃ，１３Ｄが形成されたが、位置決め
基準面は、各位置決め凹部に少なくとも１個形成されて
いればよい。さらに、固定具をクランプねじ１４とした
が、測定体を仮止めする構造であれば、その具体的構成
は問わない。例えば、固定具をトグル式の止め具等とし
てもよい。
【００１５】
【発明の効果】以上の通り、本発明によれば、測定体と
測定装置本体との接続部分の加工を簡単に行えるととも
に測定体の長さに関係なく測定体を適正に測定装置本体
に取り付けることができるという効果がある。
測定装置本体との接続部分の加工を簡単に行えるととも
に測定体の長さに関係なく測定体を適正に測定装置本体
に取り付けることができるという効果がある。
【図１】測定体が取り付けられた状態の内外側測定装置
の斜視図である。
の斜視図である。
【図２】前記内外側測定装置の動作を説明する正面図で
ある。
ある。
【図３】本発明の一実施例にかかる測定体取付治具を示
す正面図である。
す正面図である。
【図４】その側面図である。
【図５】その斜視図である。
１ 内外側測定装置 ３，４ 測定体である測定子及びガイド 3B〜3D, 4B〜4D 測定体側基準面 ９ 測定装置本体 １１ 治具本体 12B 〜12D,13B 〜13B 位置決め基準面 １４ 固定具であるクランプねじ
Claims (1)
- 【請求項１】複数の測定体を測定装置本体に突出した状
態で互いに平行に取り付ける内外側測定装置の測定体取
付治具であって、前記測定体の測定体側基準面に適合す
る位置決め基準面が所定の位置関係で設けられた治具本
体と、この治具本体の位置決め基準面に測定体側基準面
を合わせて測定体を仮止めする固定具とを備えたことを
特徴とする内外側測定装置の測定体取付治具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5260974A JP3069225B2 (ja) | 1993-10-19 | 1993-10-19 | 内外側測定装置の測定体取付治具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5260974A JP3069225B2 (ja) | 1993-10-19 | 1993-10-19 | 内外側測定装置の測定体取付治具 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07112372A true JPH07112372A (ja) | 1995-05-02 |
| JP3069225B2 JP3069225B2 (ja) | 2000-07-24 |
Family
ID=17355338
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5260974A Expired - Fee Related JP3069225B2 (ja) | 1993-10-19 | 1993-10-19 | 内外側測定装置の測定体取付治具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3069225B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106514520A (zh) * | 2016-11-07 | 2017-03-22 | 中国电子科技集团公司第四十四研究所 | 用于光电编码器狭缝片对准操作的校准盘 |
-
1993
- 1993-10-19 JP JP5260974A patent/JP3069225B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106514520A (zh) * | 2016-11-07 | 2017-03-22 | 中国电子科技集团公司第四十四研究所 | 用于光电编码器狭缝片对准操作的校准盘 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3069225B2 (ja) | 2000-07-24 |
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