JPH07116155A - スキャングラフ表示装置 - Google Patents
スキャングラフ表示装置Info
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- JPH07116155A JPH07116155A JP5267325A JP26732593A JPH07116155A JP H07116155 A JPH07116155 A JP H07116155A JP 5267325 A JP5267325 A JP 5267325A JP 26732593 A JP26732593 A JP 26732593A JP H07116155 A JPH07116155 A JP H07116155A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title abstract description 6
- 230000012447 hatching Effects 0.000 abstract 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
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- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【目的】 ディレイに比較して相対的に短いスキャンが
行われるような場合であっても、スキャン部分の塗りつ
ぶしの経過状態を視覚的に捕らえることが可能なスキャ
ングラフ表示装置の提供。 【構成】 スキャン計画からグラフのスキャン部分とデ
ィレイ部分の塗りつぶし率を決定するグラフスケール計
算手段１と、この塗りつぶし率に応じてグラフを描画す
るグラフ描画手段２と、スキャン，ディレイの進行状況
に応じて塗りつぶしを実行するグラフ塗りつぶし手段４
とを備え、スキャン部分及びディレイ部分を一定塗りつ
ぶし率で塗りつぶすとした場合のスキャン部分の単位表
示部数と比較し、比較結果が大きい場合には、スキャン
時間の最小時間で予め定められた単位表示部数を塗りつ
ぶすようにスキャン部分の塗りつぶし率を決定すること
を特徴とするスキャングラフ表示装置。
行われるような場合であっても、スキャン部分の塗りつ
ぶしの経過状態を視覚的に捕らえることが可能なスキャ
ングラフ表示装置の提供。 【構成】 スキャン計画からグラフのスキャン部分とデ
ィレイ部分の塗りつぶし率を決定するグラフスケール計
算手段１と、この塗りつぶし率に応じてグラフを描画す
るグラフ描画手段２と、スキャン，ディレイの進行状況
に応じて塗りつぶしを実行するグラフ塗りつぶし手段４
とを備え、スキャン部分及びディレイ部分を一定塗りつ
ぶし率で塗りつぶすとした場合のスキャン部分の単位表
示部数と比較し、比較結果が大きい場合には、スキャン
時間の最小時間で予め定められた単位表示部数を塗りつ
ぶすようにスキャン部分の塗りつぶし率を決定すること
を特徴とするスキャングラフ表示装置。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はスキャングラフ表示装置
の改良に関し、特に、ＣＴ装置等の画像診断装置におけ
るスキャンの進行状況をグラフ表示で示すスキャングラ
フ表示装置に関する。
の改良に関し、特に、ＣＴ装置等の画像診断装置におけ
るスキャンの進行状況をグラフ表示で示すスキャングラ
フ表示装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＣＴ装置等の画像診断装置において、複
数回のスキャンをするとき、操作者により設定されたス
キャン計画に基づいてスキャンとディレイが交互に行わ
れている。このような進行状況を示すために、複数の単
位表示部（単位表示部とは表示の基本単位であり、ドッ
トマトリクスの表示であればドット）から構成されたデ
ィスプレイの画面上で単位表示部を点灯または消灯する
ことによってグラフを描画し、この単位表示部を点灯ま
たは消灯することによりグラフを塗りつぶしてスキャン
の進行状況をスキャングラフとして示すようにしたもの
がある。
数回のスキャンをするとき、操作者により設定されたス
キャン計画に基づいてスキャンとディレイが交互に行わ
れている。このような進行状況を示すために、複数の単
位表示部（単位表示部とは表示の基本単位であり、ドッ
トマトリクスの表示であればドット）から構成されたデ
ィスプレイの画面上で単位表示部を点灯または消灯する
ことによってグラフを描画し、この単位表示部を点灯ま
たは消灯することによりグラフを塗りつぶしてスキャン
の進行状況をスキャングラフとして示すようにしたもの
がある。
【０００３】図６はディスプレイに描画されるグラフを
示す説明図である。この図６において、例えば、スキャ
ン時間ｔs を 2秒，図６（ａ）でのディレイ時間ｔd1を
180 秒，図６（ｂ）でのディレイ時間ｔd2を90秒，最大
ドット数Ｄmax を 200ドットとする。
示す説明図である。この図６において、例えば、スキャ
ン時間ｔs を 2秒，図６（ａ）でのディレイ時間ｔd1を
180 秒，図６（ｂ）でのディレイ時間ｔd2を90秒，最大
ドット数Ｄmax を 200ドットとする。
【０００４】この場合、ドットピッチpitch をＤmax ／
（ｔs ＋ｔd1）とすると、pitch ＝1.1 となり、ｄs ＝
2.2[ ドット] ，ｄd1＝ 198[ ドット] ，ｄs ＝ 2.2[
ドット] ，ｄd2＝99[ ドット] ，のグラフが描かれるこ
とになる。
（ｔs ＋ｔd1）とすると、pitch ＝1.1 となり、ｄs ＝
2.2[ ドット] ，ｄd1＝ 198[ ドット] ，ｄs ＝ 2.2[
ドット] ，ｄd2＝99[ ドット] ，のグラフが描かれるこ
とになる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】図７は描画されたグラ
フの塗りつぶしを行う場合の説明図である。この図にお
いて、グラフは一定周期（例えば、0.5 秒毎）に視認可
能な所定のドットずつ（例えば、 2ドットずつ）塗りつ
ぶされる。従って、塗りつぶすべきドットが 2ドット
未満である場合は、塗りつぶしを行わずに次回に繰り越
される。上記の例（ｄs ＝ 2.2[ ドット] ，ｄd ＝99[
ドット] ）であると、図７（ａ）〜（ｆ）に示すよう
に、1.5 秒までは塗りつぶしは行われず、 2秒経過した
時点（図７（ｅ））で 2ドット（＝ｄs ）分が一度に塗
りつぶされる。
フの塗りつぶしを行う場合の説明図である。この図にお
いて、グラフは一定周期（例えば、0.5 秒毎）に視認可
能な所定のドットずつ（例えば、 2ドットずつ）塗りつ
ぶされる。従って、塗りつぶすべきドットが 2ドット
未満である場合は、塗りつぶしを行わずに次回に繰り越
される。上記の例（ｄs ＝ 2.2[ ドット] ，ｄd ＝99[
ドット] ）であると、図７（ａ）〜（ｆ）に示すよう
に、1.5 秒までは塗りつぶしは行われず、 2秒経過した
時点（図７（ｅ））で 2ドット（＝ｄs ）分が一度に塗
りつぶされる。
【０００６】しかし、上記のようなグラフの塗りつぶし
を行ったのでは、スキャン部分の塗りつぶしが一度にま
とめて行われるために、スキャン部分の時間経過（進行
状況）を視覚的に捕らえることができないという問題を
有している。
を行ったのでは、スキャン部分の塗りつぶしが一度にま
とめて行われるために、スキャン部分の時間経過（進行
状況）を視覚的に捕らえることができないという問題を
有している。
【０００７】本発明は上記の点に鑑みてなされたもの
で、その目的は、スキャン時間にかかわらず、スキャン
部分の塗りつぶしの経過状態を視覚的に捕らえることが
可能なスキャングラフ表示装置を実現することである。
で、その目的は、スキャン時間にかかわらず、スキャン
部分の塗りつぶしの経過状態を視覚的に捕らえることが
可能なスキャングラフ表示装置を実現することである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】前記の課題は、第一に、
複数の単位表示部から構成されたディスプレイ上で該単
位表示部を点灯または消灯することによってグラフを描
画し、画像診断装置のスキャン及びディレイの進行状況
に伴い該単位表示部を点灯または消灯することによって
このグラフを塗りつぶしてスキャングラフの表示を行う
スキャングラフ表示装置において、予め設定されたスキ
ャン時間及びディレイ時間のデータからグラフのスキャ
ン部分とディレイ部分の塗りつぶし率を決定するグラフ
スケール計算手段と、決定された塗りつぶし率に応じて
グラフのスキャン部分の単位表示部数及びディレイ部分
の単位表示部数を決定してグラフを描画するグラフ描画
手段と、描画されたグラフを、スキャン部分及びディレ
イ部分のそれぞれの塗りつぶし率に基づいてスキャン，
ディレイの進行状況に応じて塗りつぶしを実行するグラ
フ塗りつぶし手段とを備え、前記グラフスケール計算手
段における塗りつぶし率の決定は、スキャン時間の最小
値でグラフを表示する場合にスキャン進行状況が認識可
能なように予め定められた単位表示部数と、スキャン部
分及びディレイ部分を一定塗りつぶし率で塗りつぶすと
した場合のスキャン部分の単位表示部数とを比較した結
果に基づいて、スキャン部分及びディレイ部分で前記一
定の塗りつぶし率にするのか、あるいは、スキャン部分
とディレイ部分とで塗りつぶし率を変更するのか、を決
定するものであることを特徴とするスキャングラフ表示
装置によって達成され、第二に、複数の単位表示部から
構成されたディスプレイ上で該単位表示部を点灯または
消灯することによってグラフを描画し、画像診断装置の
スキャン及びディレイの進行状況に伴い該単位表示部を
点灯または消灯することによってこのグラフを塗りつぶ
してスキャングラフの表示を行うスキャングラフ表示装
置において、予め設定されたスキャン時間及びディレイ
時間のデータからグラフのスキャン部分とディレイ部分
の塗りつぶし率を決定するグラフスケール計算手段と、
決定された塗りつぶし率に応じてグラフのスキャン部分
の単位表示部数及びディレイ部分の単位表示部数を決定
してグラフを描画するグラフ描画手段と、描画されたグ
ラフを、スキャン部分及びディレイ部分のそれぞれの塗
りつぶし率に基づいてスキャン，ディレイの進行状況に
応じて塗りつぶしを実行するグラフ塗りつぶし手段とを
備え、前記グラフスケール計算手段における塗りつぶし
率の決定は、スキャン時間の最小値でグラフを表示する
場合にスキャン進行状況が認識可能なように予め定めら
れた単位表示部数と、スキャン部分及びディレイ部分を
一定塗りつぶし率で塗りつぶすとした場合のスキャン部
分の単位表示部数とを比較し、前者の単位表示部数が後
者の単位表示部数より小さいか等しい場合には、スキャ
ン部分及びディレイ部分で前記一定の塗りつぶし率に決
定し、前者の単位表示部数が後者の単位表示部数より大
きい場合には、スキャン部分とディレイ部分とで塗りつ
ぶし率を変更し、スキャン時間の最小時間で前記予め定
められた単位表示部数を塗りつぶすようにスキャン部分
の塗りつぶし率を決定するものであることを特徴とする
スキャングラフ表示装置により達成される。
複数の単位表示部から構成されたディスプレイ上で該単
位表示部を点灯または消灯することによってグラフを描
画し、画像診断装置のスキャン及びディレイの進行状況
に伴い該単位表示部を点灯または消灯することによって
このグラフを塗りつぶしてスキャングラフの表示を行う
スキャングラフ表示装置において、予め設定されたスキ
ャン時間及びディレイ時間のデータからグラフのスキャ
ン部分とディレイ部分の塗りつぶし率を決定するグラフ
スケール計算手段と、決定された塗りつぶし率に応じて
グラフのスキャン部分の単位表示部数及びディレイ部分
の単位表示部数を決定してグラフを描画するグラフ描画
手段と、描画されたグラフを、スキャン部分及びディレ
イ部分のそれぞれの塗りつぶし率に基づいてスキャン，
ディレイの進行状況に応じて塗りつぶしを実行するグラ
フ塗りつぶし手段とを備え、前記グラフスケール計算手
段における塗りつぶし率の決定は、スキャン時間の最小
値でグラフを表示する場合にスキャン進行状況が認識可
能なように予め定められた単位表示部数と、スキャン部
分及びディレイ部分を一定塗りつぶし率で塗りつぶすと
した場合のスキャン部分の単位表示部数とを比較した結
果に基づいて、スキャン部分及びディレイ部分で前記一
定の塗りつぶし率にするのか、あるいは、スキャン部分
とディレイ部分とで塗りつぶし率を変更するのか、を決
定するものであることを特徴とするスキャングラフ表示
装置によって達成され、第二に、複数の単位表示部から
構成されたディスプレイ上で該単位表示部を点灯または
消灯することによってグラフを描画し、画像診断装置の
スキャン及びディレイの進行状況に伴い該単位表示部を
点灯または消灯することによってこのグラフを塗りつぶ
してスキャングラフの表示を行うスキャングラフ表示装
置において、予め設定されたスキャン時間及びディレイ
時間のデータからグラフのスキャン部分とディレイ部分
の塗りつぶし率を決定するグラフスケール計算手段と、
決定された塗りつぶし率に応じてグラフのスキャン部分
の単位表示部数及びディレイ部分の単位表示部数を決定
してグラフを描画するグラフ描画手段と、描画されたグ
ラフを、スキャン部分及びディレイ部分のそれぞれの塗
りつぶし率に基づいてスキャン，ディレイの進行状況に
応じて塗りつぶしを実行するグラフ塗りつぶし手段とを
備え、前記グラフスケール計算手段における塗りつぶし
率の決定は、スキャン時間の最小値でグラフを表示する
場合にスキャン進行状況が認識可能なように予め定めら
れた単位表示部数と、スキャン部分及びディレイ部分を
一定塗りつぶし率で塗りつぶすとした場合のスキャン部
分の単位表示部数とを比較し、前者の単位表示部数が後
者の単位表示部数より小さいか等しい場合には、スキャ
ン部分及びディレイ部分で前記一定の塗りつぶし率に決
定し、前者の単位表示部数が後者の単位表示部数より大
きい場合には、スキャン部分とディレイ部分とで塗りつ
ぶし率を変更し、スキャン時間の最小時間で前記予め定
められた単位表示部数を塗りつぶすようにスキャン部分
の塗りつぶし率を決定するものであることを特徴とする
スキャングラフ表示装置により達成される。
【０００９】
【作用】課題を解決する第一の手段のスキャングラフ表
示装置において、スキャン時間の最小値でグラフ表示す
る場合にスキャン進行状況が認識可能なように予め定め
られた単位表示部数と、スキャン部分及びディレイ部分
を一定塗りつぶし率で塗りつぶした場合のスキャン部分
の単位表示部数とが比較された結果に基づいて、スキャ
ン部分及びディレイ部分で前記一定の塗りつぶし率にす
るのか、あるいは、スキャン部分とディレイ部分とで塗
りつぶし率を変更するのか、が決定される。
示装置において、スキャン時間の最小値でグラフ表示す
る場合にスキャン進行状況が認識可能なように予め定め
られた単位表示部数と、スキャン部分及びディレイ部分
を一定塗りつぶし率で塗りつぶした場合のスキャン部分
の単位表示部数とが比較された結果に基づいて、スキャ
ン部分及びディレイ部分で前記一定の塗りつぶし率にす
るのか、あるいは、スキャン部分とディレイ部分とで塗
りつぶし率を変更するのか、が決定される。
【００１０】課題を解決する第二の手段のスキャングラ
フ表示装置において、スキャン時間の最小値でグラフ表
示する場合にスキャン進行状況が認識可能なように予め
定められた単位表示部数と、スキャン部分及びディレイ
部分を一定塗りつぶし率で塗りつぶした場合のスキャン
部分の単位表示部数とが比較された結果に基づいて、前
者の単位表示部数が後者の単位表示部数より小さいか等
しい場合には、スキャン部分及びディレイ部分で前記一
定の塗りつぶし率に決定され、前者の単位表示部数が後
者の単位表示部数より大きい場合には、スキャン部分と
ディレイ部分とで塗りつぶし率が変更され、かつ、スキ
ャン時間の最小時間で前記予め定められた単位表示部数
を塗りつぶすようにスキャン部分の塗りつぶし率を決定
される。
フ表示装置において、スキャン時間の最小値でグラフ表
示する場合にスキャン進行状況が認識可能なように予め
定められた単位表示部数と、スキャン部分及びディレイ
部分を一定塗りつぶし率で塗りつぶした場合のスキャン
部分の単位表示部数とが比較された結果に基づいて、前
者の単位表示部数が後者の単位表示部数より小さいか等
しい場合には、スキャン部分及びディレイ部分で前記一
定の塗りつぶし率に決定され、前者の単位表示部数が後
者の単位表示部数より大きい場合には、スキャン部分と
ディレイ部分とで塗りつぶし率が変更され、かつ、スキ
ャン時間の最小時間で前記予め定められた単位表示部数
を塗りつぶすようにスキャン部分の塗りつぶし率を決定
される。
【００１１】このように決定された塗りつぶし率により
グラフの塗りつぶしが実行されることにより、スキャン
時間の最小値であっても、スキャン部分の塗りつぶしが
スキャン進行状況に従って実行される。
グラフの塗りつぶしが実行されることにより、スキャン
時間の最小値であっても、スキャン部分の塗りつぶしが
スキャン進行状況に従って実行される。
【００１２】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細
に説明する。図１は本発明の一実施例のスキャングラフ
表示装置の構成を示す構成図である。この図１に示すス
キャングラフ表示装置には、予め設定されたスキャン計
画に基づいてグラフのスキャン及びディレイの長さ，グ
ラフの塗りつぶし率を計算するグラフスケール計算装置
１と、計算されたグラフの長さに従ってグラフを描画す
るグラフ描画装置２と、予め決められたスキャンの動作
タイミング（スキャン計画）が格納されたスキャン計画
データベース３と、計算された塗りつぶし率に従って描
画されたグラフの塗りつぶしを実行するグラフ塗りつぶ
し装置４と、各部を統括制御することによりスキャン及
びスキャングラフ表示を制御するスキャン制御装置５と
から構成されている。尚、ＣＴ装置や表示のためのグラ
フィックメモリ及びＣＲＴ表示装置等が必要となるが、
ここでは省略する。
に説明する。図１は本発明の一実施例のスキャングラフ
表示装置の構成を示す構成図である。この図１に示すス
キャングラフ表示装置には、予め設定されたスキャン計
画に基づいてグラフのスキャン及びディレイの長さ，グ
ラフの塗りつぶし率を計算するグラフスケール計算装置
１と、計算されたグラフの長さに従ってグラフを描画す
るグラフ描画装置２と、予め決められたスキャンの動作
タイミング（スキャン計画）が格納されたスキャン計画
データベース３と、計算された塗りつぶし率に従って描
画されたグラフの塗りつぶしを実行するグラフ塗りつぶ
し装置４と、各部を統括制御することによりスキャン及
びスキャングラフ表示を制御するスキャン制御装置５と
から構成されている。尚、ＣＴ装置や表示のためのグラ
フィックメモリ及びＣＲＴ表示装置等が必要となるが、
ここでは省略する。
【００１３】このように構成された本実施例装置の動作
を図２以下のフローチャートをも参照して説明する。ま
ず、スキャン制御装置５は、図２に示したようにスキャ
ン開始前にグラフスケール計算装置１にグラフのスキャ
ン部分及びディレイ部分の長さを計算させる。このと
き、スキャン計画データベース３に格納されているスキ
ャン計画のデータを参照する。ここでスキャン計画のデ
ータには、各スキャンにおけるスキャンタイムＳＴn ，
ディレイタイムＤＬn などが含まれている。
を図２以下のフローチャートをも参照して説明する。ま
ず、スキャン制御装置５は、図２に示したようにスキャ
ン開始前にグラフスケール計算装置１にグラフのスキャ
ン部分及びディレイ部分の長さを計算させる。このと
き、スキャン計画データベース３に格納されているスキ
ャン計画のデータを参照する。ここでスキャン計画のデ
ータには、各スキャンにおけるスキャンタイムＳＴn ，
ディレイタイムＤＬn などが含まれている。
【００１４】このとき、スキャン計画データベースのス
キャン計画中のＳＴn ＋ＤＬn の最大値Ｔを求める（図
２ステップ（１））。更に、スキャン計画データベース
のスキャン計画中のスキャン部ＳＴn の最小値ＳＴmin
を求める（図２ステップ（２））。次に、スキャン部分
及びディレイ部分を一定塗りつぶし率で塗りつぶした場
合のスキャン部分のドット数（ＳＴmin ×Ｄmax ／Ｔ）
が、予め定めたスキャン部分の最低ドット数Ｄs より小
さいか否かを調べる（図２ステップ（３））。尚、ここ
でドット数Ｄs は、スキャン部分のグラフとして表示さ
れる最低のドット数のことであり、任意のドット数を定
めることができる。すなわち、短時間のスキャンであっ
てもスキャン経過の様子を十分認識できるように、スキ
ャン部分の表示部分がディレイ部分より相対的に大きく
なるようされた状態（以下、この状態を本明細書ではデ
フォルメと呼ぶ）で表示するようにするためのドット数
である。但し、このドット数Ｄs をあまり大きくし過ぎ
ると、ディレイ部分の進行状況が認識しずらくなること
があるので注意を要する。従って、一度に塗りつぶす最
低ドット数の数倍程度が望ましい。例えば本実施例で
は、一度に 2ドットずつの塗りつぶしを行うとして、Ｄ
s を10ドットとして説明する。
キャン計画中のＳＴn ＋ＤＬn の最大値Ｔを求める（図
２ステップ（１））。更に、スキャン計画データベース
のスキャン計画中のスキャン部ＳＴn の最小値ＳＴmin
を求める（図２ステップ（２））。次に、スキャン部分
及びディレイ部分を一定塗りつぶし率で塗りつぶした場
合のスキャン部分のドット数（ＳＴmin ×Ｄmax ／Ｔ）
が、予め定めたスキャン部分の最低ドット数Ｄs より小
さいか否かを調べる（図２ステップ（３））。尚、ここ
でドット数Ｄs は、スキャン部分のグラフとして表示さ
れる最低のドット数のことであり、任意のドット数を定
めることができる。すなわち、短時間のスキャンであっ
てもスキャン経過の様子を十分認識できるように、スキ
ャン部分の表示部分がディレイ部分より相対的に大きく
なるようされた状態（以下、この状態を本明細書ではデ
フォルメと呼ぶ）で表示するようにするためのドット数
である。但し、このドット数Ｄs をあまり大きくし過ぎ
ると、ディレイ部分の進行状況が認識しずらくなること
があるので注意を要する。従って、一度に塗りつぶす最
低ドット数の数倍程度が望ましい。例えば本実施例で
は、一度に 2ドットずつの塗りつぶしを行うとして、Ｄ
s を10ドットとして説明する。
【００１５】これにより、スキャン部分及びディレイ部
分を一定塗りつぶし率で塗りつぶした場合のスキャン部
分のドット数が最低ドット数Ｄs より大きければ、通常
の塗りつぶし率 dps(s) ，dps(D) によりグラフスケー
ルを求めて終了する（図２ステップ（４））。
分を一定塗りつぶし率で塗りつぶした場合のスキャン部
分のドット数が最低ドット数Ｄs より大きければ、通常
の塗りつぶし率 dps(s) ，dps(D) によりグラフスケー
ルを求めて終了する（図２ステップ（４））。
【００１６】また、グラフのスキャン部分がディスプレ
イ上において最低ドット数Ｄs より小さければ、通常の
塗りつぶし率に代えて、スキャン部分をデフォルメした
塗りつぶし率dps(s) [dots/sec] ＝Ｄs ／ＳＴmin ，dp
s(D)＝（Ｄmax −Ｄs ）／（Ｔ−ＳＴmin ）によりグラ
フスケールを求めて終了する（図２ステップ（５））。
イ上において最低ドット数Ｄs より小さければ、通常の
塗りつぶし率に代えて、スキャン部分をデフォルメした
塗りつぶし率dps(s) [dots/sec] ＝Ｄs ／ＳＴmin ，dp
s(D)＝（Ｄmax −Ｄs ）／（Ｔ−ＳＴmin ）によりグラ
フスケールを求めて終了する（図２ステップ（５））。
【００１７】次に、スキャン制御装置５は、図３に示す
ルーチンに従ってグラフ描画装置２に対してグラフ描画
を命令する。まず、スキャン部のドット数ｄs について
は、先に求めたdps(s)を参照して、ｄs ＝dps(s)×ＳＴ
n として求める。また、ディレイ部のドット数ｄd につ
いては、先に求めたdps(D)を参照して、ｄd ＝dps(D)×
ＤＬn として求める。このようにして求められたドット
数ｄs 及びｄd に応じてグラフ描画装置２が描画を行
う。
ルーチンに従ってグラフ描画装置２に対してグラフ描画
を命令する。まず、スキャン部のドット数ｄs について
は、先に求めたdps(s)を参照して、ｄs ＝dps(s)×ＳＴ
n として求める。また、ディレイ部のドット数ｄd につ
いては、先に求めたdps(D)を参照して、ｄd ＝dps(D)×
ＤＬn として求める。このようにして求められたドット
数ｄs 及びｄd に応じてグラフ描画装置２が描画を行
う。
【００１８】そして、図外のＣＴ装置が実際にスキャン
を開始した時点で、スキャン制御装置５は図４に示すル
ーチンに従ってグラフ塗りつぶし装置４に対してグラフ
塗りつぶしを命令する。
を開始した時点で、スキャン制御装置５は図４に示すル
ーチンに従ってグラフ塗りつぶし装置４に対してグラフ
塗りつぶしを命令する。
【００１９】まず、スキャン中は、先に求めた（dps(s)
×0.5 ）ドットずつの塗りつぶしを描画されているグラ
フ上で0.5 秒毎に実行する。また、ディレイ期間中は、
先に求めた（dps(D)×0.5 ）ドットずつの塗りつぶしを
描画されているグラフ上で実行する。
×0.5 ）ドットずつの塗りつぶしを描画されているグラ
フ上で0.5 秒毎に実行する。また、ディレイ期間中は、
先に求めた（dps(D)×0.5 ）ドットずつの塗りつぶしを
描画されているグラフ上で実行する。
【００２０】ここで、具体例を用いて更に詳しく説明す
る。既に従来の技術で説明したのと同じ条件（スキャン
時間ｔs を 2秒，ディレイ時間ｔd1を 180秒，最大ドッ
ト数Ｄmax を 200ドット）を用いて説明する。
る。既に従来の技術で説明したのと同じ条件（スキャン
時間ｔs を 2秒，ディレイ時間ｔd1を 180秒，最大ドッ
ト数Ｄmax を 200ドット）を用いて説明する。
【００２１】また、スキャン計画データベースのスキャ
ン計画中のＳＴn ＋ＤＬn の最大値Ｔが 182 (2+180)
秒、スキャン計画データベースのスキャン計画中のスキ
ャン部ＳＴn の最小値ＳＴmin が 2秒であるとする。
ン計画中のＳＴn ＋ＤＬn の最大値Ｔが 182 (2+180)
秒、スキャン計画データベースのスキャン計画中のスキ
ャン部ＳＴn の最小値ＳＴmin が 2秒であるとする。
【００２２】次に、スキャン部分及びディレイ部分を一
定塗りつぶし率で塗りつぶした場合のスキャン部分のド
ット数（ＳＴmin ×Ｄmax ／Ｔ）が、予め定めたスキャ
ン部分の最低ドット数Ｄs （=10 ）より小さいか否かを
調べる（図２ステップ（３））。この場合は、（ＳＴmi
n ×Ｄmax ／Ｔ）＝（400 ／182 ）＜Ｄs ＝10となり、
明らかにＤs より小さいので、ステップ（５）に進む。
従って、スキャン部分をデフォルメした塗りつぶし率dp
s(s)及びこれに対応したディレイ部分の塗りつぶし率dp
s(D)を決定する。
定塗りつぶし率で塗りつぶした場合のスキャン部分のド
ット数（ＳＴmin ×Ｄmax ／Ｔ）が、予め定めたスキャ
ン部分の最低ドット数Ｄs （=10 ）より小さいか否かを
調べる（図２ステップ（３））。この場合は、（ＳＴmi
n ×Ｄmax ／Ｔ）＝（400 ／182 ）＜Ｄs ＝10となり、
明らかにＤs より小さいので、ステップ（５）に進む。
従って、スキャン部分をデフォルメした塗りつぶし率dp
s(s)及びこれに対応したディレイ部分の塗りつぶし率dp
s(D)を決定する。
【００２３】この場合、与えられた条件より、 dps(s)＝ 10 ／2 ＝5 [dots/sec] dps(D)＝ (200-10) ／(180-2) ＝190 ／178 ＝1.06 [do
ts/sec] となる。
ts/sec] となる。
【００２４】そして、このようにして求められた塗りつ
ぶし率に基づいてスキャン制御装置５は、グラフ描画装
置２に対してグラフ描画を命令する。スキャン部のドッ
ト数ｄs については、先に求めた 5[dots/sec] を参照
して、ｄs ＝dps(s)×ＳＴn ＝5 ×2 ＝10[dots]として
求める。また、ディレイ部のドット数ｄd については、
先に求めたdps(D)を参照して、ｄd ＝dps(D)×ＤＬn＝
1.06 × 180 ＝190 [dots]として求める。このように
して求められたドット数ｄs 及びｄd に応じてグラフ描
画装置２が描画を行う。
ぶし率に基づいてスキャン制御装置５は、グラフ描画装
置２に対してグラフ描画を命令する。スキャン部のドッ
ト数ｄs については、先に求めた 5[dots/sec] を参照
して、ｄs ＝dps(s)×ＳＴn ＝5 ×2 ＝10[dots]として
求める。また、ディレイ部のドット数ｄd については、
先に求めたdps(D)を参照して、ｄd ＝dps(D)×ＤＬn＝
1.06 × 180 ＝190 [dots]として求める。このように
して求められたドット数ｄs 及びｄd に応じてグラフ描
画装置２が描画を行う。
【００２５】そして、図外のＣＴ装置が実際にスキャン
を開始した時点で、スキャン制御装置５は図４に示すル
ーチンに従ってグラフ塗りつぶし装置４に対してグラフ
塗りつぶしを命令する。
を開始した時点で、スキャン制御装置５は図４に示すル
ーチンに従ってグラフ塗りつぶし装置４に対してグラフ
塗りつぶしを命令する。
【００２６】まず、スキャン中は、先に求めた塗りつぶ
しを描画されているグラフ上で0.5 秒毎に実行する。こ
の様子を図５に示す。この図５では従来と同じ 2ドット
ずつの塗りつぶしを行うものとしてある。このように、
グラフのスキャン部分とディレイ部分とのスケールを変
更して描画し、それぞれの塗りつぶし率に応じた塗りつ
ぶしを実行するようにすることで、短いスキャンの様子
をも確実に認識できるようになる。
しを描画されているグラフ上で0.5 秒毎に実行する。こ
の様子を図５に示す。この図５では従来と同じ 2ドット
ずつの塗りつぶしを行うものとしてある。このように、
グラフのスキャン部分とディレイ部分とのスケールを変
更して描画し、それぞれの塗りつぶし率に応じた塗りつ
ぶしを実行するようにすることで、短いスキャンの様子
をも確実に認識できるようになる。
【００２７】尚、上記の条件（スキャン時間ｔs を 2
秒，ディレイ時間ｔd1を 180秒，最大ドット数Ｄmax を
200ドット）で、スキャン計画データベースのスキャン
計画中のスキャン部ＳＴn の最小値ＳＴmin が10秒以上
になると、塗りつぶし率の変更を行わずにdps(s)，dps
(D)共に一定塗りつぶし率による従来同様なグラフ描画
及び塗りつぶしを行うようになる。
秒，ディレイ時間ｔd1を 180秒，最大ドット数Ｄmax を
200ドット）で、スキャン計画データベースのスキャン
計画中のスキャン部ＳＴn の最小値ＳＴmin が10秒以上
になると、塗りつぶし率の変更を行わずにdps(s)，dps
(D)共に一定塗りつぶし率による従来同様なグラフ描画
及び塗りつぶしを行うようになる。
【００２８】以上のように、スキャングラフを表示する
場合において、グラフスケール検出装置における塗りつ
ぶし率の決定は、スキャン時間の最小値でグラフ表示す
る場合にスキャン進行状況が認識可能なように予め定め
られたドット数Ｄs を、スキャン部分及びディレイ部分
を一定塗りつぶし率で塗りつぶした場合のスキャン部分
のドット数と比較し、比較結果が小さいか等しい場合に
は、スキャン部分及びディレイ部分で一定の塗りつぶし
率であるように決定し、比較結果が大きい場合には、ス
キャン部分とディレイ部分とで塗りつぶし率を変更し、
スキャン時間の最小時間で前記予め定められたドット数
を塗りつぶすようにスキャン部分の塗りつぶし率を決定
するようにしたことで、ディレイに比較して相対的に短
いスキャンが行われるような場合であっても、スキャン
部分の塗りつぶしの経過状態を視覚的に捕らえることが
可能なスキャングラフ表示装置を実現できるようになっ
た。
場合において、グラフスケール検出装置における塗りつ
ぶし率の決定は、スキャン時間の最小値でグラフ表示す
る場合にスキャン進行状況が認識可能なように予め定め
られたドット数Ｄs を、スキャン部分及びディレイ部分
を一定塗りつぶし率で塗りつぶした場合のスキャン部分
のドット数と比較し、比較結果が小さいか等しい場合に
は、スキャン部分及びディレイ部分で一定の塗りつぶし
率であるように決定し、比較結果が大きい場合には、ス
キャン部分とディレイ部分とで塗りつぶし率を変更し、
スキャン時間の最小時間で前記予め定められたドット数
を塗りつぶすようにスキャン部分の塗りつぶし率を決定
するようにしたことで、ディレイに比較して相対的に短
いスキャンが行われるような場合であっても、スキャン
部分の塗りつぶしの経過状態を視覚的に捕らえることが
可能なスキャングラフ表示装置を実現できるようになっ
た。
【００２９】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明で
は、スキャングラフを表示する場合におけるスキャン部
分とディレイ部分との塗りつぶし率を必要に応じて変え
るようにしたことで、ディレイに比較して相対的に短い
スキャンが行われるような場合であっても、スキャン部
分の塗りつぶしの経過状態を視覚的に捕らえることが可
能なスキャングラフ表示装置が実現できる。
は、スキャングラフを表示する場合におけるスキャン部
分とディレイ部分との塗りつぶし率を必要に応じて変え
るようにしたことで、ディレイに比較して相対的に短い
スキャンが行われるような場合であっても、スキャン部
分の塗りつぶしの経過状態を視覚的に捕らえることが可
能なスキャングラフ表示装置が実現できる。
【図１】本発明の一実施例のスキャングラフ表示装置の
送受信に関する構成の概略を示す構成図である。
送受信に関する構成の概略を示す構成図である。
【図２】本発明の一実施例のスキャングラフ表示装置の
処理の概要を示すフローチャートである。
処理の概要を示すフローチャートである。
【図３】本発明の一実施例のスキャングラフ表示装置の
処理の概要を示すフローチャートである。
処理の概要を示すフローチャートである。
【図４】本発明の一実施例のスキャングラフ表示装置の
処理の概要を示すフローチャートである。
処理の概要を示すフローチャートである。
【図５】本発明の一実施例のスキャングラフの表示の様
子を示す説明図である。
子を示す説明図である。
【図６】従来のスキャングラフの様子を示す説明図であ
る。
る。
【図７】従来のスキャングラフの表示の様子を示す説明
図である。
図である。
１ グラフスケール計算装置 ２ グラフ描画装置 ３ スキャン計画データベース ４ グラフ塗りつぶし装置 ５ スキャン制御装置
Claims (2)
- 【請求項１】 複数の単位表示部から構成されたディス
プレイ上で該単位表示部を点灯または消灯することによ
ってグラフを描画し、画像診断装置のスキャン及びディ
レイの進行状況に伴い該単位表示部を点灯または消灯す
ることによってこのグラフを塗りつぶしてスキャングラ
フの表示を行うスキャングラフ表示装置において、 予め設定されたスキャン時間及びディレイ時間のデータ
からグラフのスキャン部分とディレイ部分の塗りつぶし
率を決定するグラフスケール計算手段と、 決定された塗りつぶし率に応じてグラフのスキャン部分
の単位表示部数及びディレイ部分の単位表示部数を決定
してグラフを描画するグラフ描画手段と、 描画されたグラフを、スキャン部分及びディレイ部分の
それぞれの塗りつぶし率に基づいてスキャン，ディレイ
の進行状況に応じて塗りつぶしを実行するグラフ塗りつ
ぶし手段とを備え、 前記グラフスケール計算手段における塗りつぶし率の決
定は、スキャン時間の最小値でグラフを表示する場合に
スキャン進行状況が認識可能なように予め定められた単
位表示部数と、スキャン部分及びディレイ部分を一定塗
りつぶし率で塗りつぶすとした場合のスキャン部分の単
位表示部数とを比較した結果に基づいて、スキャン部分
及びディレイ部分で前記一定の塗りつぶし率にするの
か、あるいは、スキャン部分とディレイ部分とで塗りつ
ぶし率を変更するのか、を決定するものであることを特
徴とするスキャングラフ表示装置。 - 【請求項２】 複数の単位表示部から構成されたディス
プレイ上で該単位表示部を点灯または消灯することによ
ってグラフを描画し、画像診断装置のスキャン及びディ
レイの進行状況に伴い該単位表示部を点灯または消灯す
ることによってこのグラフを塗りつぶしてスキャングラ
フの表示を行うスキャングラフ表示装置において、 予め設定されたスキャン時間及びディレイ時間のデータ
からグラフのスキャン部分とディレイ部分の塗りつぶし
率を決定するグラフスケール計算手段と、 決定された塗りつぶし率に応じてグラフのスキャン部分
の単位表示部数及びディレイ部分の単位表示部数を決定
してグラフを描画するグラフ描画手段と、 描画されたグラフを、スキャン部分及びディレイ部分の
それぞれの塗りつぶし率に基づいてスキャン，ディレイ
の進行状況に応じて塗りつぶしを実行するグラフ塗りつ
ぶし手段とを備え、 前記グラフスケール計算手段における塗りつぶし率の決
定は、スキャン時間の最小値でグラフを表示する場合に
スキャン進行状況が認識可能なように予め定められた単
位表示部数と、スキャン部分及びディレイ部分を一定塗
りつぶし率で塗りつぶすとした場合のスキャン部分の単
位表示部数とを比較し、 前者の単位表示部数が後者の単位表示部数より小さいか
等しい場合には、スキャン部分及びディレイ部分で前記
一定の塗りつぶし率に決定し、 前者の単位表示部数が後者の単位表示部数より大きい場
合には、スキャン部分とディレイ部分とで塗りつぶし率
を変更し、スキャン時間の最小時間で前記予め定められ
た単位表示部数を塗りつぶすようにスキャン部分の塗り
つぶし率を決定するものであることを特徴とするスキャ
ングラフ表示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26732593A JP3304561B2 (ja) | 1993-10-26 | 1993-10-26 | スキャングラフ表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26732593A JP3304561B2 (ja) | 1993-10-26 | 1993-10-26 | スキャングラフ表示装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07116155A true JPH07116155A (ja) | 1995-05-09 |
| JP3304561B2 JP3304561B2 (ja) | 2002-07-22 |
Family
ID=17443257
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26732593A Expired - Fee Related JP3304561B2 (ja) | 1993-10-26 | 1993-10-26 | スキャングラフ表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3304561B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002165783A (ja) * | 2000-11-17 | 2002-06-11 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2008048956A (ja) * | 2006-08-25 | 2008-03-06 | Toshiba Corp | Ｘ線コンピュータ断層撮影装置、スキャン計画支援装置及びプログラム |
| JP2010194358A (ja) * | 2010-06-15 | 2010-09-09 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2010194357A (ja) * | 2010-06-15 | 2010-09-09 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2012024621A (ja) * | 2011-11-07 | 2012-02-09 | Toshiba Corp | Ｘ線コンピュータ断層撮影装置、スキャン計画支援装置及びプログラム |
-
1993
- 1993-10-26 JP JP26732593A patent/JP3304561B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002165783A (ja) * | 2000-11-17 | 2002-06-11 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2008048956A (ja) * | 2006-08-25 | 2008-03-06 | Toshiba Corp | Ｘ線コンピュータ断層撮影装置、スキャン計画支援装置及びプログラム |
| JP2010194358A (ja) * | 2010-06-15 | 2010-09-09 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2010194357A (ja) * | 2010-06-15 | 2010-09-09 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2012024621A (ja) * | 2011-11-07 | 2012-02-09 | Toshiba Corp | Ｘ線コンピュータ断層撮影装置、スキャン計画支援装置及びプログラム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3304561B2 (ja) | 2002-07-22 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |